本發(fā)明是關(guān)于一種電容式觸控技術(shù)，特別是關(guān)于一種電容式感測(cè)裝置的判斷基線值的更新方法及電容式感測(cè)裝置。
背景技術(shù)：
：：為了提升使用上的便利性，越來(lái)越多電子裝置使用觸摸屏(touchscreen)作為操作介面，以讓使用者直接在觸摸屏上點(diǎn)選畫(huà)面來(lái)進(jìn)行操作，以此提供更為便捷且人性化的操作模式。觸摸屏主要由提供顯示功能之顯示器以及提供觸控功能之感測(cè)裝置所組成。一般而言，感測(cè)裝置是利用自電容(self-capacitance)感測(cè)技術(shù)及/或互電容(mutualcapacitance)感測(cè)技術(shù)來(lái)得知面板是否有被使用者觸碰。在感測(cè)過(guò)程中，當(dāng)感測(cè)裝置偵測(cè)到某個(gè)坐標(biāo)位置的電容值的變化時(shí)，感測(cè)裝置判斷此坐標(biāo)位置有被使用者觸碰。因此，在運(yùn)作時(shí)，感測(cè)裝置會(huì)對(duì)每一個(gè)坐標(biāo)位置都儲(chǔ)存有未觸碰的電容值(判斷基線值)，便利后續(xù)接收到最新的電容值(感測(cè)值)時(shí)，將接收到的感測(cè)值與對(duì)應(yīng)的判斷基線值做比對(duì)來(lái)判斷是否某坐標(biāo)位置有被觸碰。然而，感測(cè)裝置上久置的物件(如，水、手、手的余溫或其他導(dǎo)電物件等)常會(huì)造成感測(cè)裝置誤判。舉例來(lái)說(shuō)，當(dāng)在判斷基線值更新之前導(dǎo)電物件已久置于感測(cè)裝置上時(shí)，更新后的判斷基線值則包含了導(dǎo)電物件所引發(fā)的電容值，以致更新后的判斷基線值成為后續(xù)信號(hào)獲取時(shí)的錯(cuò)誤計(jì)算基礎(chǔ)?；蛘?，若久置的導(dǎo)電物件離開(kāi)后判斷基線值未立即更新，原導(dǎo)電物件所余留溫度將造成原導(dǎo)電物件所在區(qū)塊產(chǎn)生導(dǎo)電物件形狀的觸碰假象，以致感測(cè)裝置誤判觸碰存在。因此，如何有效地避免久置導(dǎo)電物件所造成的誤判，以提升電容式感測(cè)裝置之性能才是業(yè)界不斷致力研發(fā)的方向之一。技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：在一實(shí)施例中，一種電容式感測(cè)裝置的判斷基線值的更新方法，其包括：讀出多個(gè)偵測(cè)點(diǎn)的出廠基線值、讀出這些偵測(cè)點(diǎn)的記錄基線值、偵測(cè)這些偵測(cè)點(diǎn)以得到這些偵測(cè)點(diǎn)的第一量測(cè)值、計(jì)算偵測(cè)點(diǎn)的第一量測(cè)值與對(duì)應(yīng)的出廠基線值之間的第一差異值、計(jì)算第一差異值的第一變化量、比較第一變化量與第一閥值、當(dāng)?shù)谝蛔兓啃∮诘谝婚y值時(shí)，以第一量測(cè)值作為偵測(cè)點(diǎn)的判斷基線值并基于判斷基線值進(jìn)行偵測(cè)點(diǎn)的位置信息的感測(cè)過(guò)程、計(jì)算感測(cè)點(diǎn)的第一量測(cè)值與對(duì)應(yīng)的記錄基線值之間的第二差異值、計(jì)算第二差異值的第二變化量、比較第二變化量與第二閥值、當(dāng)?shù)诙兓啃∮诘诙y值時(shí)，以第一量測(cè)值作為偵測(cè)點(diǎn)的判斷基線值并基于判斷基線值進(jìn)行感測(cè)過(guò)程、當(dāng)?shù)谝蛔兓坎恍∮诘谝婚y值且第二變化量不小于第二閥值時(shí)，以出廠基線值作為偵測(cè)點(diǎn)的判斷基線值、禁能偵測(cè)點(diǎn)的驅(qū)動(dòng)以及進(jìn)行各偵測(cè)點(diǎn)的校驗(yàn)過(guò)程、以及于完成所有偵測(cè)點(diǎn)的校驗(yàn)過(guò)程后，基于判斷基線值進(jìn)行感測(cè)過(guò)程。其中，各偵測(cè)點(diǎn)的校驗(yàn)過(guò)程包括：重復(fù)偵測(cè)此偵測(cè)點(diǎn)多次以得到偵測(cè)點(diǎn)的第二量測(cè)值、依序進(jìn)行第二量測(cè)值的多階濾波以產(chǎn)生一濾波數(shù)列、根據(jù)濾波數(shù)列與變化門檻依序判定各第二量測(cè)值的信號(hào)特性為高頻及低頻中之一、計(jì)數(shù)在禁能偵測(cè)點(diǎn)的驅(qū)動(dòng)下第二量測(cè)值的信號(hào)特性連續(xù)判定為低頻的連續(xù)數(shù)量、當(dāng)?shù)诙繙y(cè)值的信號(hào)特性第一次判定為高頻時(shí)，使能偵測(cè)點(diǎn)的驅(qū)動(dòng)、計(jì)數(shù)在使能偵測(cè)點(diǎn)的驅(qū)動(dòng)下第二量測(cè)值的信號(hào)特性中剩余者判定為高頻的累計(jì)次數(shù)、當(dāng)連續(xù)數(shù)量達(dá)第三閥值時(shí)，再次偵測(cè)此偵測(cè)點(diǎn)以得到偵測(cè)點(diǎn)的第三量測(cè)值并以第三量測(cè)值更新此偵測(cè)點(diǎn)的判斷基線值、以及當(dāng)累計(jì)次數(shù)達(dá)第四閥值時(shí)，再次偵測(cè)此偵測(cè)點(diǎn)以得到偵測(cè)點(diǎn)的第四量測(cè)值并以第四量測(cè)值更新偵測(cè)點(diǎn)的判斷基線值。在一些實(shí)施例中，一種電容式感測(cè)裝置，其包括：多條第一電極線、多條第二電極線、一儲(chǔ)存單元以及一感測(cè)控制器。這些第一電極線與這些第二電極線交錯(cuò)，并且第一電極線與第二電極線界定以一矩陣配置的多個(gè)偵測(cè)點(diǎn)。儲(chǔ)存單元用于儲(chǔ)存多個(gè)偵測(cè)點(diǎn)的出廠基線值以及記錄基線值。感測(cè)控制器電性連接第一電極線、第二電極線以及儲(chǔ)存單元，并且用以執(zhí)行前述的更新過(guò)程。綜上，根據(jù)本發(fā)明的電容式感測(cè)裝置的判斷基線值的更新方法及電容式感測(cè)裝置，其得以避免久置的觸碰元件造成誤判，也可避免在觸碰事件發(fā)生或結(jié)束時(shí)立即判斷基線值而造成后續(xù)量測(cè)值錯(cuò)亂，由此快速轉(zhuǎn)換判斷基線值為可用狀態(tài)，進(jìn)而降低判斷基線值的更新次數(shù)并節(jié)省資源。附圖說(shuō)明圖1為應(yīng)用本發(fā)明任一實(shí)施例的感測(cè)裝置的電子裝置的示意圖。圖2為圖1中信號(hào)感測(cè)器的實(shí)施例的示意圖。圖3和圖4為根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的電容式感測(cè)裝置的判斷基線值的更新方法的流程圖。圖5和圖6為圖4中步驟s70的一實(shí)施例的流程圖。圖7至圖10為圖4中步驟s70的另一實(shí)施例的流程圖。圖11為一實(shí)施例的第二量測(cè)值與濾波數(shù)列的關(guān)系示意圖。圖12為另一實(shí)施例的第二量測(cè)值與濾波數(shù)列的關(guān)系示意圖。圖13為又一實(shí)施例的第二量測(cè)值與濾波數(shù)列的關(guān)系示意圖。圖14為根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例的電容式感測(cè)裝置的判斷基線值的更新方法的局部流程圖。實(shí)施方式圖1為應(yīng)用本發(fā)明任一實(shí)施例的感測(cè)裝置的電子裝置的示意圖。圖1為圖1中信號(hào)感測(cè)器的實(shí)施例的示意圖。在下述的說(shuō)明中，雖然以電子裝置為例進(jìn)行說(shuō)明，但本發(fā)明并不以此為限制。參照?qǐng)D1，電子裝置包含電容式感測(cè)裝置、顯示器20、及處理單元30。電容式感測(cè)裝置包含一感測(cè)控制器12、一信號(hào)感測(cè)器14以及一儲(chǔ)存單元16。感測(cè)控制器12連接信號(hào)感測(cè)器14與儲(chǔ)存單元16，并且信號(hào)感測(cè)器14位于顯示器20的顯示面上。處理單元30電性連接感測(cè)控制器12與顯示器20。信號(hào)感測(cè)器14包括交錯(cuò)配置的多條電極線，并且這些電極線電性連接至感測(cè)控制器12。其中，n及m為正整數(shù)。再者，n可等于m，亦可不等于m。從頂視視角來(lái)看，這些電極線包括彼此間隔設(shè)置的第一電極線x1～xn以及彼此間隔設(shè)置的第二電極線y1～ym。第一電極線x1～xn與第二電極線y1～ym相互交錯(cuò)，并且界定以一矩陣配置的多個(gè)偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)(因而提供一感測(cè)區(qū))，如圖2所示。換言之，第一電極線x1～xn與第二電極線y1～ym是構(gòu)成一個(gè)平面坐標(biāo)系統(tǒng)。在一些實(shí)施例中，此平面坐標(biāo)系統(tǒng)可為笛卡爾坐標(biāo)系統(tǒng)(cartesiancoordinatesystem)、極坐標(biāo)系統(tǒng)、非直角坐標(biāo)系統(tǒng)、或是其他平面坐標(biāo)系統(tǒng)。并且，交迭后之第一電極線x1～xn與第二電極線y1～ym的頂視圖呈菱形蜂巢狀、網(wǎng)格狀或柵狀。其中，第一電極線x1～xn與第二電極線y1～ym可為一層或多層的圖案化導(dǎo)電薄膜。在一些實(shí)施例中(例如：在觸摸屏等具有顯示器20的應(yīng)用上)，各圖案化導(dǎo)電薄膜可以為透明或半透明的材質(zhì)，例如：但不限于氧化銦(ito)錫薄膜。在另一些實(shí)施例中(例如：在電子畫(huà)板或手寫板等不具顯示器20的應(yīng)用上)，各圖案化導(dǎo)電薄膜以為不透光的材質(zhì)。在此，感測(cè)控制器12可以采用自電容(self-capacitance)觸控技術(shù)、互電容(mutualcapacitance)觸控技術(shù)或正反讀取觸控技術(shù)來(lái)感測(cè)使用者的觸碰動(dòng)作。感測(cè)控制器12的執(zhí)行過(guò)程包括偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的判斷基線值的更新過(guò)程、偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的位置信息的感測(cè)過(guò)程以及各偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的校驗(yàn)過(guò)程。圖3和4為根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的電容式感測(cè)裝置的判斷基線值的更新方法的流程圖。在開(kāi)機(jī)時(shí)，感測(cè)控制器12接收到一開(kāi)機(jī)信號(hào)。感測(cè)控制器12根據(jù)開(kāi)機(jī)信號(hào)執(zhí)行偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的判斷基線值的更新過(guò)程。在更新過(guò)程中，參照?qǐng)D3，感測(cè)控制器12從儲(chǔ)存單元16讀出偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的出廠基線值(步驟s41)，以及從儲(chǔ)存單元16讀出偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的記錄基線值(步驟s43)。并且，感測(cè)控制器12偵測(cè)所有偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)，以得到偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的量測(cè)值(以下稱之為第一量測(cè)值)(步驟s45)。在得到偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的第一量測(cè)值(步驟s45)后，感測(cè)控制器12計(jì)算多個(gè)第一量測(cè)值與其分別對(duì)應(yīng)的多個(gè)出廠基線值之間的差異值(以下稱之為第一差異值)(步驟s47)。換言之，感測(cè)控制器12計(jì)算偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)的第一量測(cè)值與偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)的出廠基線值之間的第一差異值、計(jì)算偵測(cè)點(diǎn)p(2,1)的第一量測(cè)值與偵測(cè)點(diǎn)p(2,1)的出廠基線值之間的第一差異值……依此類推至計(jì)算偵測(cè)點(diǎn)p(n,m)的第一量測(cè)值與偵測(cè)點(diǎn)p(n,m)的出廠基線值之間的第一差異值。在計(jì)算完所有偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的第一量測(cè)值與其分別對(duì)應(yīng)的出廠基線值之間的第一差異值(步驟s47)后，感測(cè)控制器12計(jì)算所有第一差異值的平均值與變化量(variance)(以下稱之為第一變化量)(步驟s49)。在計(jì)算得第一變化量(步驟s49)后，感測(cè)控制器12比較第一變化量與一第一閥值(步驟s51)，以確認(rèn)第一量測(cè)值與出廠基線值之間是否具有全等差異現(xiàn)象(即，信號(hào)感測(cè)器14的感測(cè)區(qū)當(dāng)前的表面狀態(tài)相似于出廠時(shí)的表面狀態(tài))。在一些實(shí)施例中，出廠基線值與第一閥值可為預(yù)先儲(chǔ)存在儲(chǔ)存單元16中的一預(yù)設(shè)值。在一些實(shí)施例中，出廠基線值與第一閥值可通過(guò)同時(shí)制造的相同規(guī)格(如，尺寸相同且玻璃厚度亦相同)的多個(gè)電容式感測(cè)裝置(如，10個(gè)、20個(gè)、30個(gè)或更多個(gè))以相同感測(cè)技術(shù)所量測(cè)及計(jì)算而得。當(dāng)?shù)谝蛔兓啃∮诘谝婚y值(即，具有全等差異現(xiàn)象)時(shí)，感測(cè)控制器12以偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的第一量測(cè)值作為其判斷基線值(步驟s53)，并基于當(dāng)前之判斷基線值(步驟s53所建立的偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的判斷基線值)進(jìn)行偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的位置信息的感測(cè)過(guò)程(步驟s55)。在得到偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的第一量測(cè)值(步驟s45)后，感測(cè)控制器12還計(jì)算多個(gè)第一量測(cè)值與對(duì)應(yīng)的多個(gè)記錄基線值之間的差異值(以下稱之為第二差異值)(步驟s57)。換言之，感測(cè)控制器12計(jì)算偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)的第一量測(cè)值與偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)的記錄基線值之間的第二差異值、計(jì)算偵測(cè)點(diǎn)p(2,1)的第一量測(cè)值與偵測(cè)點(diǎn)p(2,1)的記錄基線值之間的第二差異值……依此類推至計(jì)算偵測(cè)點(diǎn)p(n,m)的第一量測(cè)值與偵測(cè)點(diǎn)p(n,m)的記錄基線值之間的第二差異值。在計(jì)算完所有偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的第二量測(cè)值與其分別對(duì)應(yīng)的記錄基線值之間的第二差異值(步驟s57)后，感測(cè)控制器12計(jì)算所有第二差異值的平均值與變化量(以下稱之為第二變化量)(步驟s59)。在計(jì)算得第二變化量(步驟s59)后，感測(cè)控制器12比較第二變化量與一第二閥值(步驟s61)，以確認(rèn)第一量測(cè)值與記錄基線值之間是否具有全等差異現(xiàn)象(即，信號(hào)感測(cè)器14的感測(cè)區(qū)當(dāng)前的表面狀態(tài)相似于前次關(guān)機(jī)時(shí)的表面狀態(tài))。在一些實(shí)施例中，第二閥值可為預(yù)先儲(chǔ)存在儲(chǔ)存單元16中的另一預(yù)設(shè)值。在一些實(shí)施例中，此第二閥值可通過(guò)同時(shí)制造之相同規(guī)格(如，尺寸相同且玻璃厚度也相同)的多個(gè)電容式感測(cè)裝置(如，10個(gè)、20個(gè)、30個(gè)或更多個(gè))以相同感測(cè)技術(shù)所量測(cè)及計(jì)算而得。當(dāng)?shù)诙兓啃∮诘诙y值時(shí)，感測(cè)控制器12以偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的第二量測(cè)值作為其判斷基線值(步驟s63)，并基于當(dāng)前的判斷基線值(步驟s63所建立的偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的判斷基線值)進(jìn)行偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的位置信息的感測(cè)過(guò)程(步驟s55)。然而，當(dāng)?shù)谝蛔兓坎恍∮诘谝婚y值且第二變化量不小于第二閥值(即，不存在全等差異現(xiàn)象，其表示開(kāi)機(jī)時(shí)可能已有不同觸碰元件在感測(cè)區(qū)上或有新的局部噪聲等影響感測(cè)結(jié)果的因子存在于信號(hào)感測(cè)器14上)時(shí)，感測(cè)控制器12以所有偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的出廠基線值作為其判斷基線值(步驟s65)，并且禁能偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的驅(qū)動(dòng)(步驟s67)。換言之，感測(cè)控制器12不驅(qū)動(dòng)偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)，即不進(jìn)行偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的位置信息的感測(cè)過(guò)程。在步驟s67的一實(shí)施例中，感測(cè)控制器12不提供驅(qū)動(dòng)電壓給偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)。在步驟s67的另一實(shí)施例中，感測(cè)控制器12將偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)接地。在禁能偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的驅(qū)動(dòng)(步驟s67)后，感測(cè)控制器12進(jìn)行各偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的校驗(yàn)過(guò)程(步驟s70)。圖5和6為圖4中步驟s70的一實(shí)施例的流程圖。以一個(gè)偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)的校驗(yàn)過(guò)程為例，在校驗(yàn)過(guò)程中，參照?qǐng)D5，感測(cè)控制器12重復(fù)偵測(cè)偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)多次(連續(xù)偵測(cè)偵測(cè)點(diǎn)p(1,1))以得到偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)的多個(gè)量測(cè)值(以下稱之為第二量測(cè)值)(步驟s71)。在重復(fù)偵測(cè)偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)多次(步驟s71)后，感測(cè)控制器12依序進(jìn)行偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)的多個(gè)第二量測(cè)值的多階濾波以產(chǎn)生一濾波數(shù)列(步驟s73)。在一些實(shí)施例中，多階濾波能以卷積計(jì)算(如下列公式1所示)實(shí)現(xiàn)。其中，y[t]為偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)的卷積值、t為偵測(cè)順序、k為濾波的階數(shù)、x[t-i]為偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)的第二量測(cè)值，以及bi為多階濾波函數(shù)。在此，多階濾波函數(shù)可采用高通濾波(hpf)拓樸或低通濾波(hpf)拓樸。換言之，此多階濾波可為高通濾波或低通濾波。舉例來(lái)說(shuō)，以10階高通濾波函數(shù)為例，每一階的濾波函數(shù)值如下：b1＝-0.025120904、b2＝-0.050093264、b3＝-0.094839125、b4＝-0.191258273、b5＝-0.629379518、b6＝0.629379518、b7＝0.191258273、b8＝0.094839125、b9＝0.050093264、以及b10＝0.025120904。另外，以偵測(cè)18次(步驟s71)、4階高通濾波以及觸碰元件為手為例，產(chǎn)生的濾波數(shù)列如下表一所示。表一在產(chǎn)生偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)的濾波數(shù)列(步驟s73)后，感測(cè)控制器12根據(jù)此濾波數(shù)列與一變化門檻依序判定第二量測(cè)值的信號(hào)特性為高頻及低頻中之一(步驟s75)。在此，感測(cè)控制器12計(jì)數(shù)在禁能多個(gè)偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的驅(qū)動(dòng)下偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)的多個(gè)第二量測(cè)值的信號(hào)特性連續(xù)判定為低頻的數(shù)量(以下稱之為連續(xù)數(shù)量)(步驟s77)。在計(jì)數(shù)連續(xù)數(shù)量(步驟s77)后，感測(cè)控制器12會(huì)確認(rèn)連續(xù)數(shù)量是否達(dá)第三閥值。當(dāng)連續(xù)數(shù)量達(dá)第三閥值時(shí)，感測(cè)控制器12會(huì)再次偵測(cè)此偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)以得到偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)的量測(cè)值(以下稱之為第三量測(cè)值)，并且以再次得到的偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)的第三量測(cè)值更新偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)的判斷基線值(步驟s79)。在一些實(shí)施例中，第三閥值可為預(yù)先儲(chǔ)存在儲(chǔ)存單元16中的一預(yù)設(shè)值。在一些實(shí)施例中，第三閥值為正整數(shù)。在一些實(shí)施例中，第三閥值大于1且小于步驟s71中重復(fù)偵測(cè)偵測(cè)點(diǎn)的次數(shù)。參照第6圖，當(dāng)偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)的多個(gè)第二量測(cè)值的信號(hào)特性第一次判定為高頻時(shí)，感測(cè)控制器12使能多個(gè)偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的驅(qū)動(dòng)(步驟s81)。在此，雖以驅(qū)動(dòng)全部偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)為例，但本發(fā)明不限于此，也可是驅(qū)動(dòng)具有進(jìn)行判定的偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)一定感測(cè)區(qū)域(以a*b為例)的多個(gè)偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(a,b)。其中，a為小于n且大于1的正整數(shù)，而b為小于m且大于1的正整數(shù)。為方便說(shuō)明，以下仍以驅(qū)動(dòng)全部偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)為例進(jìn)行說(shuō)明。在因第一次判定為高頻而驅(qū)動(dòng)偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)(步驟s81)后，感測(cè)控制器12計(jì)數(shù)在使能多個(gè)偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的驅(qū)動(dòng)下偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)的多個(gè)第二量測(cè)值的信號(hào)特性中剩余者判定為高頻的次數(shù)(以下稱之為累計(jì)次數(shù))(步驟s83)。在計(jì)數(shù)累計(jì)次數(shù)(步驟s83)后，感測(cè)控制器12會(huì)確認(rèn)累計(jì)次數(shù)是否達(dá)第四閥值。當(dāng)累計(jì)次數(shù)達(dá)第四閥值時(shí)，感測(cè)控制器12會(huì)再次偵測(cè)此偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)以得到偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)的量測(cè)值(以下稱之為第四量測(cè)值)，并且以再次得到的偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)的第四量測(cè)值更新偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)的判斷基線值(步驟s85)。在一些實(shí)施例中，第四閥值可為預(yù)先儲(chǔ)存在儲(chǔ)存單元16中的一預(yù)設(shè)值。在一些實(shí)施例中，第四閥值為正整數(shù)。在一些實(shí)施例中，第四閥值大于1且小于步驟s71中重復(fù)偵測(cè)偵測(cè)點(diǎn)的次數(shù)。在完成所有p(1,1)～p(n,m)的校驗(yàn)過(guò)程(步驟s70)后，感測(cè)控制器12則基于當(dāng)前之判斷基線值(步驟s70所檢驗(yàn)后最后得到的偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的判斷基線值)進(jìn)行偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的位置信息的感測(cè)過(guò)程(步驟s55)。圖7至10為圖4中步驟s70的另一實(shí)施例的流程圖。參照?qǐng)D7，在步驟s75的一些實(shí)施例中，感測(cè)控制器12會(huì)逐一判斷各第二量測(cè)值的信號(hào)特性為高頻或低頻(步驟s751)。當(dāng)感測(cè)控制器12判定第二量測(cè)值的信號(hào)特性為低頻時(shí)，感測(cè)控制器12確認(rèn)偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)是否驅(qū)動(dòng)(步驟s753)。參照?qǐng)D7，在步驟s77的一些實(shí)施例中，當(dāng)感測(cè)控制器12判定第二量測(cè)值的信號(hào)特性為低頻且確認(rèn)偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)未驅(qū)動(dòng)時(shí)，感測(cè)控制器12控制一計(jì)數(shù)器(以下稱之為第一計(jì)數(shù)器)將其計(jì)數(shù)值加1以得到連續(xù)數(shù)量(即，第一計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)值)(步驟s771)。參照?qǐng)D7及8，在步驟s83的一些實(shí)施例中，在計(jì)數(shù)連續(xù)數(shù)量(步驟s771)后，感測(cè)控制器12會(huì)比較連續(xù)數(shù)量與第三閥值(步驟s791)，以確認(rèn)連續(xù)數(shù)量是否達(dá)第三閥值(步驟s792)。當(dāng)連續(xù)數(shù)量達(dá)第三閥值時(shí)，感測(cè)控制器12再次偵測(cè)此偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)，以得到偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)的第三量測(cè)值(步驟s793)。然后，感測(cè)控制器12則以得到之偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)的第三量測(cè)值(步驟s793所得到的第三量測(cè)值)更新偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)的判斷基線值(步驟s795)。在更新后，感測(cè)控制器12會(huì)確認(rèn)此偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)是否為最后一偵測(cè)點(diǎn)，即是否還有下一偵測(cè)點(diǎn)未進(jìn)行校驗(yàn)過(guò)程(步驟s710)。當(dāng)還有下一偵測(cè)點(diǎn)未進(jìn)行校驗(yàn)過(guò)程時(shí)，感測(cè)控制器12則進(jìn)行下一偵測(cè)點(diǎn)p(2,1)的校驗(yàn)過(guò)程(即，返回執(zhí)行步驟s71)。當(dāng)無(wú)下一偵測(cè)點(diǎn)未進(jìn)行校驗(yàn)過(guò)程時(shí)，感測(cè)控制器12則基于當(dāng)前之判斷基線值(步驟s70所檢驗(yàn)后最后得到的偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的判斷基線值)進(jìn)行偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的位置信息的感測(cè)過(guò)程(步驟s55)。當(dāng)連續(xù)數(shù)量未達(dá)第三閥值時(shí)，感測(cè)控制器12會(huì)確認(rèn)此偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)是否有下一第二量測(cè)值要判定信號(hào)特性(步驟s750)。當(dāng)有下一第二量測(cè)值時(shí)，感測(cè)控制器12則繼續(xù)判斷下一第二量測(cè)值為高頻或低頻(即，返回執(zhí)行步驟s751)。當(dāng)無(wú)下一第二量測(cè)值時(shí)，感測(cè)控制器12確認(rèn)此偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)是否為最后一偵測(cè)點(diǎn)，即是否還有下一偵測(cè)點(diǎn)未進(jìn)行校驗(yàn)過(guò)程(步驟s710)。當(dāng)感測(cè)控制器12判定第二量測(cè)值的信號(hào)特性為低頻且確認(rèn)偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)驅(qū)動(dòng)時(shí)，感測(cè)控制器12會(huì)確認(rèn)此偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)是否有下一第二量測(cè)值要判定信號(hào)特性(步驟s750)。當(dāng)有下一第二量測(cè)值時(shí)，感測(cè)控制器12則繼續(xù)判斷下一第二量測(cè)值為高頻或低頻(即，返回執(zhí)行步驟s751)。當(dāng)無(wú)下一第二量測(cè)值時(shí)，感測(cè)控制器12確認(rèn)此偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)是否為最后一偵測(cè)點(diǎn)，即是否還有下一偵測(cè)點(diǎn)未進(jìn)行校驗(yàn)過(guò)程(步驟s710)。當(dāng)還有下一偵測(cè)點(diǎn)未進(jìn)行校驗(yàn)過(guò)程時(shí)，感測(cè)控制器12則進(jìn)行下一偵測(cè)點(diǎn)p(2,1)的校驗(yàn)過(guò)程(即，返回執(zhí)行步驟s71)。當(dāng)無(wú)下一偵測(cè)點(diǎn)未進(jìn)行校驗(yàn)過(guò)程時(shí)，感測(cè)控制器12則基于當(dāng)前之判斷基線值(步驟s70所檢驗(yàn)后最后得到的偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的判斷基線值)進(jìn)行偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的位置信息的感測(cè)過(guò)程(步驟s55)。參照?qǐng)D7及9，當(dāng)感測(cè)控制器12判定第二量測(cè)值的信號(hào)特性為高頻時(shí)，感測(cè)控制器12確認(rèn)是否有一驅(qū)動(dòng)標(biāo)志，以確認(rèn)此偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)的第二量測(cè)值是否第一次判定為高頻(步驟s755)。參照?qǐng)D9，在步驟s81的一些實(shí)施例中，當(dāng)無(wú)驅(qū)動(dòng)標(biāo)志(表示第一次判定為高頻)時(shí)，感測(cè)控制器12會(huì)使能偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的驅(qū)動(dòng)(步驟s811)并且設(shè)定驅(qū)動(dòng)旗標(biāo)(步驟s813)。除了驅(qū)動(dòng)偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)(步驟s811)，感測(cè)控制器12還會(huì)將第一計(jì)數(shù)器歸零，即將計(jì)數(shù)的連續(xù)數(shù)量歸零(步驟s815)。然后，感測(cè)控制器12確認(rèn)此偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)是否有下一第二量測(cè)值要判定信號(hào)特性(步驟s750)。當(dāng)有下一第二量測(cè)值時(shí)，感測(cè)控制器12則繼續(xù)判斷下一第二量測(cè)值為高頻或低頻(即，返回執(zhí)行步驟s751)。當(dāng)無(wú)下一第二量測(cè)值時(shí)，感測(cè)控制器12確認(rèn)此偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)是否為最后一偵測(cè)點(diǎn)，即是否還有下一偵測(cè)點(diǎn)未進(jìn)行校驗(yàn)過(guò)程(步驟s710)。當(dāng)還有下一偵測(cè)點(diǎn)未進(jìn)行校驗(yàn)過(guò)程時(shí)，感測(cè)控制器12則進(jìn)行下一偵測(cè)點(diǎn)p(2,1)的校驗(yàn)過(guò)程(即，返回執(zhí)行步驟s71)。當(dāng)無(wú)下一偵測(cè)點(diǎn)未進(jìn)行校驗(yàn)過(guò)程時(shí)，感測(cè)控制器12則基于當(dāng)前的判斷基線值(步驟s70所檢驗(yàn)后最后得到的偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的判斷基線值)進(jìn)行偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的位置信息的感測(cè)過(guò)程(步驟s55)。參照?qǐng)D9及10，在步驟s83的一些實(shí)施例中，當(dāng)無(wú)驅(qū)動(dòng)標(biāo)志(表示第一次判定為高頻)時(shí)，感測(cè)控制器12控制另一計(jì)數(shù)器(以下稱之為第二計(jì)數(shù)器)將其計(jì)數(shù)值加1以得到累計(jì)次數(shù)(即，第二計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)值)(步驟s831)。參照?qǐng)D10，在步驟s85的一些實(shí)施例中，在計(jì)數(shù)連續(xù)數(shù)量(步驟s831)后，感測(cè)控制器12會(huì)比較連續(xù)數(shù)量與第四閥值(步驟s851)，以確認(rèn)連續(xù)數(shù)量是否達(dá)第四閥值(步驟s852)。當(dāng)連續(xù)數(shù)量達(dá)第四閥值時(shí)，感測(cè)控制器12再次偵測(cè)此偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)，以得到偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)的第四量測(cè)值(步驟s853)。然后，感測(cè)控制器12則以得到的偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)的第四量測(cè)值(步驟s853所得到的第四量測(cè)值)更新偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)的判斷基線值(步驟s855)。在更新后，感測(cè)控制器12會(huì)確認(rèn)此偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)是否為最后一偵測(cè)點(diǎn)，即是否還有下一偵測(cè)點(diǎn)未進(jìn)行校驗(yàn)過(guò)程(步驟s710)。當(dāng)還有下一偵測(cè)點(diǎn)未進(jìn)行校驗(yàn)過(guò)程時(shí)，感測(cè)控制器12則進(jìn)行下一偵測(cè)點(diǎn)p(2,1)的校驗(yàn)過(guò)程(即，返回執(zhí)行步驟s71)。當(dāng)無(wú)下一偵測(cè)點(diǎn)未進(jìn)行校驗(yàn)過(guò)程時(shí)，感測(cè)控制器12則基于當(dāng)前的判斷基線值(步驟s70所檢驗(yàn)后最后得到的偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的判斷基線值)進(jìn)行偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的位置信息的感測(cè)過(guò)程(步驟s55)。當(dāng)連續(xù)數(shù)量未達(dá)第四閥值時(shí)，感測(cè)控制器12會(huì)確認(rèn)此偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)是否有下一第二量測(cè)值要判定信號(hào)特性(步驟s750)。當(dāng)有下一第二量測(cè)值時(shí)，感測(cè)控制器12則繼續(xù)判斷下一第二量測(cè)值為高頻或低頻(即，返回執(zhí)行步驟s751)。當(dāng)無(wú)下一第二量測(cè)值時(shí)，感測(cè)控制器12確認(rèn)此偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)是否為最后一偵測(cè)點(diǎn)，即是否還有下一偵測(cè)點(diǎn)未進(jìn)行校驗(yàn)過(guò)程(步驟s710)。在一些實(shí)施例中，感測(cè)控制器12能一次掃描全部偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)并重復(fù)掃描多次，以得到全部偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的第二量測(cè)值。然后，感測(cè)控制器12再逐一執(zhí)行各偵測(cè)點(diǎn)的多個(gè)第二量測(cè)值的多階濾波以及后續(xù)信號(hào)特性的判定。應(yīng)當(dāng)可理解的是，各步驟的執(zhí)行順序并不限于前述描述順序，可依據(jù)步驟的執(zhí)行內(nèi)容適當(dāng)?shù)卣{(diào)配執(zhí)行順序。在一些實(shí)施例中，變化門檻包括一上閥值。舉例來(lái)說(shuō)，以觸碰元件為水為例，參照?qǐng)D11，l1為此偵測(cè)點(diǎn)的第二量測(cè)值，而l2為此偵測(cè)點(diǎn)的濾波數(shù)列。在此，上閥值δh可設(shè)定為30，因此第1至12及14至24次偵測(cè)所得的第二量測(cè)值的信號(hào)特性會(huì)判定為低頻，而第13次偵測(cè)所得的第二量測(cè)值的信號(hào)特性會(huì)判定為高頻。此時(shí)，在第12次偵測(cè)所得的第二量測(cè)值的信號(hào)特性的判定后，連續(xù)數(shù)量會(huì)為12。在第13次偵測(cè)所得的第二量測(cè)值的信號(hào)特性的判定后，感測(cè)控制器12驅(qū)動(dòng)偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)。在一些實(shí)施例中，變化門檻包括一下閥值。舉例來(lái)說(shuō)，以觸碰元件為手且觸碰元件久置于信號(hào)感測(cè)器14上不離開(kāi)為例，參照?qǐng)D12，l3為此偵測(cè)點(diǎn)的第二量測(cè)值，而l4為此偵測(cè)點(diǎn)的濾波數(shù)列。在此，下閥值δl可設(shè)定為-30，因此第1至12及14至24次偵測(cè)所得的第二量測(cè)值的信號(hào)特性會(huì)判定為低頻，而第13次偵測(cè)所得的第二量測(cè)值的信號(hào)特性會(huì)判定為高頻。此時(shí)，在第12次偵測(cè)所得的第二量測(cè)值的信號(hào)特性的判定后，連續(xù)數(shù)量會(huì)為12。在第13次偵測(cè)所得的第二量測(cè)值的信號(hào)特性的判定后，感測(cè)控制器12驅(qū)動(dòng)偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)。在一些實(shí)施例中，變化門檻包括一上閥值以及一下閥值。舉例來(lái)說(shuō)，以觸碰元件為手為例，參照?qǐng)D13，l5為此偵測(cè)點(diǎn)的第二量測(cè)值，而l6為此偵測(cè)點(diǎn)的濾波數(shù)列。在此，上閥值δh可設(shè)定為30，并且下閥值δl可設(shè)定為-30，因此第1至12、14至21、23及24次偵測(cè)所得的第二量測(cè)值的信號(hào)特性會(huì)判定為低頻，而第13及22次偵測(cè)所得的第二量測(cè)值的信號(hào)特性會(huì)判定為高頻。此時(shí)，在第12次偵測(cè)所得的第二量測(cè)值的信號(hào)特性的判定后，連續(xù)數(shù)量會(huì)為12。在第13次偵測(cè)所得的第二量測(cè)值的信號(hào)特性的判定后，感測(cè)控制器12驅(qū)動(dòng)偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)。在第24次偵測(cè)所得的第二量測(cè)值的信號(hào)特性的判定后，累計(jì)次數(shù)會(huì)為1。然而，雖然前述是以上閥值為下閥值的相反數(shù)為例，但本發(fā)明不限于此，例如：上閥值也可不為下閥值的相反數(shù)。在上述實(shí)施方式中所描述的“記錄基線值”為感測(cè)裝置前一次關(guān)機(jī)時(shí)所使用的判斷基線值。在一些實(shí)施例中，參照?qǐng)D14，當(dāng)感測(cè)控制器12接收到一關(guān)機(jī)信號(hào)(步驟s91)時(shí)，感測(cè)控制器12根據(jù)關(guān)機(jī)信號(hào)儲(chǔ)存?zhèn)蓽y(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的當(dāng)前的判斷基線值至儲(chǔ)存單元16以作為偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的記錄基線值(步驟s93)，然后再完成關(guān)機(jī)(步驟s95)。在上述實(shí)施方式中雖是描述感測(cè)控制器12是在開(kāi)機(jī)后執(zhí)行偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的判斷基線值的更新過(guò)程，但本發(fā)明不限于此。在一些實(shí)施例中，除開(kāi)機(jī)時(shí)執(zhí)行外，感測(cè)控制器12也會(huì)在執(zhí)行偵測(cè)點(diǎn)p(1,1)～p(n,m)的位置信息的感測(cè)過(guò)程的過(guò)程中每隔一間隔時(shí)間即執(zhí)行一次判斷基線值的更新過(guò)程。并且，每次的間隔時(shí)間可依據(jù)需求設(shè)計(jì)為相同間隔時(shí)間，也設(shè)計(jì)成不同間隔時(shí)間。在上述實(shí)施方式中所描述的“全等差異現(xiàn)象”是表示對(duì)應(yīng)兩值之間的差距均大致上為等距。在上述實(shí)施方式中所描述的“位置信息”可以是但不限于觸碰坐標(biāo)，此觸碰坐標(biāo)可以是但不限于相對(duì)坐標(biāo)、絕對(duì)坐標(biāo)、或其他能表現(xiàn)所輸入位置的信息。再者，此位置信息在觸碰元件觸碰信號(hào)感測(cè)器14時(shí)由處理單元30所獲得的。在一些實(shí)施例中，處理單元30可與電容式感測(cè)裝置設(shè)置在同一殼體，或者與電容式感測(cè)裝置設(shè)置在不同殼體(例如：主機(jī)中的處理器)。在一些實(shí)施例中，電子裝置可以是但不限于智能型手機(jī)(smartphone)、導(dǎo)航機(jī)(pnd)、數(shù)位相框(pdf)、電子書(shū)(e-book)、筆記型電腦(netbook)、平版電腦(tabletorpad)、觸控面板、電子畫(huà)板或手寫板等。若電子裝置為觸控面板或具有觸控面板的裝置，可以是用手指或觸控筆等觸碰元件來(lái)發(fā)生觸碰事件；若電子裝置為電子畫(huà)板，可以是用電子畫(huà)板對(duì)應(yīng)的觸碰元件(如，觸碰畫(huà)筆)來(lái)發(fā)生觸碰事件；若電子裝置為手寫板，可以是用手寫板對(duì)應(yīng)的觸碰元件(如，手寫筆或手指)來(lái)發(fā)生觸碰事件。在一些實(shí)施例中，根據(jù)本發(fā)明的電容式感測(cè)裝置的判斷基線值的更新方法可由一計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)，以致于當(dāng)電腦(即，前述之電子裝置)載入程序并執(zhí)行后可完成根據(jù)本發(fā)明任一實(shí)施例的電容式感測(cè)裝置的判斷基線值的更新方法。在一些實(shí)施例中，計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品可為一可讀取記錄媒體，而上述程序則儲(chǔ)存在可讀取記錄媒體中供計(jì)算機(jī)載入。在一些實(shí)施例中，上述程序本身即可為計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，并且經(jīng)由有線或無(wú)線的方式傳輸至計(jì)算機(jī)中。綜上，在本發(fā)明的實(shí)施例中，通過(guò)確認(rèn)當(dāng)前量測(cè)值(第一量測(cè)值)與出廠基線值之間或與記錄基線值之間是否具有全等差異現(xiàn)象來(lái)決定是否采用當(dāng)前量測(cè)值作為進(jìn)行接續(xù)的感測(cè)過(guò)程所使用的判斷基線值。在具有此現(xiàn)象時(shí)，采用當(dāng)前量測(cè)值作為判斷基線值。在不具有此現(xiàn)象時(shí)，則采用出廠基線值作為判斷基線值并進(jìn)行各偵測(cè)點(diǎn)的判斷基線值的校驗(yàn)過(guò)程。在校驗(yàn)過(guò)程中，透過(guò)偵測(cè)各偵測(cè)點(diǎn)的量測(cè)值(第二量測(cè)值)的信號(hào)特性為高頻或低頻來(lái)決定是否以當(dāng)前量測(cè)值(第三或第四量測(cè)值)更新對(duì)應(yīng)的判斷基線值與更新的時(shí)機(jī)。換言之，對(duì)量測(cè)到信號(hào)(第二量測(cè)值)的變更速率高者，采延遲更新判斷基線值；變更速率低者，則在超過(guò)更新累進(jìn)變化值(第三閥值)時(shí)才做更新。因此，根據(jù)本發(fā)明的電容式感測(cè)裝置的判斷基線值的更新方法及電容式感測(cè)裝置，其得以避免久置之觸碰元件造成誤判，也可避免在觸碰事件發(fā)生或結(jié)束時(shí)立即判斷基線值而造成后續(xù)量測(cè)值錯(cuò)亂，由此快速轉(zhuǎn)換判斷基線值為可用狀態(tài)，進(jìn)而降低判斷基線值的更新次數(shù)并節(jié)省資源。符號(hào)說(shuō)明12感測(cè)控制器14信號(hào)感測(cè)器142第一感測(cè)層144第二感測(cè)層16儲(chǔ)存單元20顯示器30處理單元x1～xn第一電極線y1～ym第二電極線p(1,1)～p(n,m)偵測(cè)點(diǎn)l1、l3、l5第二量測(cè)值l2、l4、l6濾波數(shù)列δh上閥值δl下閥值s41讀出多個(gè)偵測(cè)點(diǎn)的多個(gè)出廠基線值s43讀出多個(gè)偵測(cè)點(diǎn)的多個(gè)記錄基線值s45偵測(cè)多個(gè)偵測(cè)點(diǎn)以得到多個(gè)偵測(cè)點(diǎn)的多個(gè)第一量測(cè)值s47計(jì)算多個(gè)第一量測(cè)值與對(duì)應(yīng)的多個(gè)出廠基線值之間的多個(gè)第一差異值s49計(jì)算多個(gè)第一差異值的一第一變化量s51第一變化量是否小于第一閥值？s53以多個(gè)第一量測(cè)值作為多個(gè)偵測(cè)點(diǎn)的多個(gè)判斷基線值s55基于多個(gè)判斷基線值進(jìn)行多個(gè)偵測(cè)點(diǎn)的位置信息的感測(cè)過(guò)程s57計(jì)算多個(gè)第一量測(cè)值與對(duì)應(yīng)的多個(gè)記錄基線值之間的多個(gè)第二差異值s59計(jì)算多個(gè)第二差異值的一第二變化量s61第二變化量是否小于第二閥值？s63以多個(gè)第一量測(cè)值作為多個(gè)偵測(cè)點(diǎn)的多個(gè)判斷基線值s65以多個(gè)出廠基線值作為多個(gè)偵測(cè)點(diǎn)的多個(gè)判斷基線值s67禁能多個(gè)偵測(cè)點(diǎn)的驅(qū)動(dòng)s70校驗(yàn)過(guò)程s71重復(fù)偵測(cè)一偵測(cè)點(diǎn)多次以得到偵測(cè)點(diǎn)的多個(gè)第二量測(cè)值s73依序進(jìn)行此偵測(cè)點(diǎn)的多個(gè)第二量測(cè)值的多階濾波以產(chǎn)生一濾波數(shù)列s75根據(jù)濾波數(shù)列與變化門檻依序判定此偵測(cè)點(diǎn)的各第二量測(cè)值的信號(hào)特性為高頻及低頻中之一s77計(jì)數(shù)在禁能偵測(cè)點(diǎn)的驅(qū)動(dòng)下此偵測(cè)點(diǎn)的多個(gè)第二量測(cè)值的信號(hào)特性連續(xù)判定為低頻的連續(xù)數(shù)量s79當(dāng)連續(xù)數(shù)量達(dá)第三閥值時(shí)，再次偵測(cè)此偵測(cè)點(diǎn)以得到此偵測(cè)點(diǎn)的第三量測(cè)值，并以第三量測(cè)值更新此偵測(cè)點(diǎn)的判斷基線值s81當(dāng)多個(gè)第二量測(cè)值的信號(hào)特性第一次判定為高頻時(shí)，使能偵測(cè)點(diǎn)的驅(qū)動(dòng)s83計(jì)數(shù)在使能偵測(cè)點(diǎn)的驅(qū)動(dòng)下此偵測(cè)點(diǎn)的第二量測(cè)值的信號(hào)特性中剩余者判定為高頻的累計(jì)次數(shù)s85當(dāng)累計(jì)次數(shù)達(dá)第四閥值時(shí)，再次偵測(cè)此偵測(cè)點(diǎn)以得到此偵測(cè)點(diǎn)的第四量測(cè)值，并以第四量測(cè)值更新此偵測(cè)點(diǎn)的判斷基線值s91接收到關(guān)機(jī)信號(hào)s93根據(jù)關(guān)機(jī)信號(hào)儲(chǔ)存當(dāng)前的判斷基線值至儲(chǔ)存單元以作為記錄基線值s95關(guān)機(jī)s710是否有下一偵測(cè)點(diǎn)？s750是否有下一第二量測(cè)值？s751高頻或低頻？s753偵測(cè)點(diǎn)是否驅(qū)動(dòng)？s755是否為第一次判定？s771計(jì)數(shù)值加1以得到連續(xù)數(shù)量s791比較連續(xù)數(shù)量與第三閥值s792是否達(dá)第三閥值？s793再次偵測(cè)偵測(cè)點(diǎn)以得到偵測(cè)點(diǎn)的第三量測(cè)值s795以第三量測(cè)值更新偵測(cè)點(diǎn)的判斷基線值s811使能偵測(cè)點(diǎn)的驅(qū)動(dòng)s813設(shè)定驅(qū)動(dòng)標(biāo)志s815將計(jì)數(shù)的連續(xù)數(shù)量歸零s831計(jì)數(shù)值加1以得到累計(jì)次數(shù)s851比較累計(jì)次數(shù)與第四閥值s852是否達(dá)第四閥值？s853再次偵測(cè)偵測(cè)點(diǎn)以得到偵測(cè)點(diǎn)的第四量測(cè)值s855以第四量測(cè)值更新偵測(cè)點(diǎn)的判斷基線值當(dāng)前第1頁(yè)12當(dāng)前第1頁(yè)12