1.一種系統(tǒng)層級參數(shù)估測方法，其特征在于，包含：
提供一硅智財數(shù)據(jù)庫、一硬件應(yīng)用數(shù)據(jù)庫以及一制程技術(shù)數(shù)據(jù)庫；
根據(jù)該硅智財數(shù)據(jù)庫以及該硬件應(yīng)用數(shù)據(jù)庫產(chǎn)生一層級表；以及
利用該制程技術(shù)數(shù)據(jù)庫，對于對應(yīng)該層級表的一效能值、一功率值、一面積值以及一成本值至少其中之一進行一估測，以輸出一結(jié)果數(shù)據(jù)，作為制造一電子系統(tǒng)的依據(jù)。