本發(fā)明是有關(guān)于一種電子數(shù)據(jù)檢測方法，特別是指一種內(nèi)存數(shù)據(jù)檢測方法。

背景技術(shù)：

常用于服務(wù)器等計算機系統(tǒng)的儲存設(shè)備，如集束磁盤（justabunchofdisks，jbod）中，包含多個硬盤、一電連接服務(wù)器及該等硬盤的擴充處理器（expander），及一電連接該擴充處理器的非揮發(fā)隨機存取內(nèi)存（non-volatilerandomaccessmemory，nvram），該擴充處理器支持串行附接式小型計算機接口（sas），且讀取該非揮發(fā)隨機存取內(nèi)存所儲存的開機組態(tài)、映像文件等物理層設(shè)定數(shù)據(jù)，來執(zhí)行開機初始化，或使服務(wù)器計算機透過其存取該等硬盤的數(shù)據(jù)等。

然而，當該非揮發(fā)隨機存取內(nèi)存的數(shù)據(jù)線（dataline）存在例如開路、短路故障，造成數(shù)據(jù)寫入不全、或是儲存的數(shù)據(jù)損毀時，會導(dǎo)致該擴充處理器功能無法正常執(zhí)行，且使服務(wù)器無法存取該等硬盤等。因此，提供一種內(nèi)存數(shù)據(jù)傳輸檢測方法就成為一個重要的課題。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

因此，本發(fā)明的主要目的在于提供一種內(nèi)存數(shù)據(jù)檢測方法。

為達上述目的，本發(fā)明內(nèi)存數(shù)據(jù)檢測方法，由一處理芯片執(zhí)行，該處理芯片電連接一外部內(nèi)存，且該內(nèi)存數(shù)據(jù)檢測方法包含一步驟（a）、一步驟（b）、一步驟（c）、一步驟（d）、一步驟（e）、一步驟（g），及一步驟（h）。

該步驟（a）是該處理芯片將一測試數(shù)據(jù)寫入該外部內(nèi)存。

該步驟（b）是該處理芯片讀取該外部內(nèi)存的測試數(shù)據(jù)，且檢測該測試數(shù)據(jù)是否正確。

該步驟（c）是若步驟（b）的檢測結(jié)果為不正確，則該處理芯片增加一重傳計數(shù)值。

該步驟（d）是該處理芯片判斷該重傳計數(shù)值是否大于一上限次數(shù)值。

該步驟（e）是若步驟（d）的判斷結(jié)果為否，則該處理芯片清除該外部內(nèi)存的測試數(shù)據(jù)，并返回步驟（a）。

該步驟（g）是若步驟（b）的檢測結(jié)果為正確，則該處理芯片判斷該重傳計數(shù)值是否大于一下限次數(shù)值，且該下限次數(shù)值小于該上限次數(shù)值。

該步驟（h）是若步驟（g）的判斷結(jié)果為是，則該處理芯片記錄一錯誤訊息。

與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明藉由該處理芯片將該測試數(shù)據(jù)寫入該外部內(nèi)存，并驗證該測試數(shù)據(jù)是否正確，并于該測試資料檢測為不正確時，累積該重傳計數(shù)值并重傳該測試數(shù)據(jù)，藉此實現(xiàn)對該外部內(nèi)存的數(shù)據(jù)檢測。

【附圖說明】

本發(fā)明之其他的特征及功效，將于參照圖式的實施方式中清楚地呈現(xiàn)，其中：

圖1是一系統(tǒng)方塊圖，說明執(zhí)行本發(fā)明內(nèi)存數(shù)據(jù)檢測方法的一儲存設(shè)備；

圖2是一流程圖，說明本發(fā)明內(nèi)存數(shù)據(jù)檢測方法的一第一實施例；及

圖3是一流程圖，說明本發(fā)明內(nèi)存數(shù)據(jù)檢測方法的一第二實施例。

【具體實施方式】

在本發(fā)明被詳細描述之前，應(yīng)當注意在以下的說明內(nèi)容中，類似的組件是以相同的編號來表示。

參閱圖1，本發(fā)明內(nèi)存數(shù)據(jù)檢測方法，在如圖1所示的一儲存設(shè)備（storage）1中實施，該儲存設(shè)備1例如應(yīng)用于服務(wù)器等計算機系統(tǒng)的集束磁盤（justabunchofdisks，jbod），且包括一處理芯片11、一外部內(nèi)存12，及一警示單元13。

該處理芯片11包括一預(yù)存一測試數(shù)據(jù)的系統(tǒng)內(nèi)存111，及一用以傳輸該測試數(shù)據(jù)的總線接口112，且該處理芯片11記錄一重傳計數(shù)值，當該測試數(shù)據(jù)傳輸失敗時，該處理芯片11會重新傳送，并在此時累加該重傳次數(shù)值，來計算重傳的次數(shù)。詳言之，該處理芯片11為擴展處理器（expander），支持串行附接式小型計算機接口（sas）的工業(yè)標準，并可與例如硬盤（圖未示出）電連接，以提供例如服務(wù)器計算機存取硬盤的功能，及擴展服務(wù)器計算機的儲存容量。另外，該總線接口112具有多條用以傳輸該測試數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)線（dataline）113，且每條數(shù)據(jù)線113可記錄1位（bit）的數(shù)據(jù)。

該外部內(nèi)存12電連接該處理芯片11的總線接口112，以經(jīng)由該總線接口112的數(shù)據(jù)線113，來接收該測試數(shù)據(jù)。另外，該外部內(nèi)存12用以儲存開機組態(tài)、映像文件等物理層設(shè)定數(shù)據(jù)，以供該處理芯片11讀取及寫入。該外部內(nèi)存12可以例如非揮發(fā)隨機存取內(nèi)存（non-volatilerandomaccessmemory，nvram）、非揮發(fā)性靜態(tài)隨機存取內(nèi)存（non-volatilestaticrandomaccessmemory，nvsram）、或閃存（flashmemory）來實施。

該警示單元13電連接該處理芯片11，能受該處理芯片11觸發(fā)而發(fā)出一警示，以通知用戶該外部內(nèi)存12發(fā)生記憶功能異常，如數(shù)據(jù)線113故障等。該警示單元13例如為發(fā)光二極管。

參閱圖2，本發(fā)明內(nèi)存數(shù)據(jù)檢測方法的一第一實施例，由該處理芯片11執(zhí)行，以下詳細說明該第一實施例的各個步驟。

在步驟s1，該處理芯片11加載預(yù)存于該系統(tǒng)內(nèi)存111的測試數(shù)據(jù)。

在步驟s2，該處理芯片11清除其所記錄的該重傳計數(shù)值。進一步說，該重傳計數(shù)值是自一下限次數(shù)值累積至一上限次數(shù)值，該下限次數(shù)值（例如0）小于該上限次數(shù)值（例如3），且在此步驟中，該處理芯片11清除該重傳計數(shù)值成該下限次數(shù)值。

在步驟a中，該處理芯片11將該測試數(shù)據(jù)寫入該外部內(nèi)存12。詳言之，該處理芯片11經(jīng)由該總線接口112的數(shù)據(jù)線113，將該測試數(shù)據(jù)的各個位（bit）數(shù)據(jù)記錄于該外部內(nèi)存12中。

在步驟b中，該處理芯片11讀取該外部內(nèi)存12的測試數(shù)據(jù)，且檢測該測試資料是否正確。若檢測結(jié)果為正確，即進到步驟h；若檢測結(jié)果為不正確，進到步驟c。于此步驟中，該處理芯片11比較于步驟s1所加載的該測試數(shù)據(jù)，是否相同于該外部內(nèi)存12的測試數(shù)據(jù)，來判斷該測試數(shù)據(jù)是否正確。更詳細地說，該處理芯片11比較記錄于該系統(tǒng)內(nèi)存111的測試數(shù)據(jù)的所有位，與該總線接口112的數(shù)據(jù)線113上記錄的所有位是否相同，如果其中有任何一個位不同，則判斷該外部內(nèi)存12記錄的測試數(shù)據(jù)不正確。

在步驟c中，若步驟b的檢測結(jié)果為不正確，則該處理芯片11增加該重傳計數(shù)值。在本實施例中，該處理芯片11將該重傳計數(shù)值增加1。

在步驟d中，該處理芯片11判斷該重傳計數(shù)值是否大于該上限次數(shù)值，例如判斷是否大于3次；若判斷結(jié)果為是，進到步驟f，若判斷結(jié)果為否，進到步驟e。

在步驟e中，該處理芯片11清除該外部內(nèi)存12的測試數(shù)據(jù)，并返回步驟a，也就是說，該處理芯片重復(fù)將該測試數(shù)據(jù)寫入該外部內(nèi)存12，并再次判斷該測試數(shù)據(jù)是否正確。

在步驟f中，當該處理芯片11判斷該重傳計數(shù)值大于該上限次數(shù)值，即觸發(fā)該警示單元13發(fā)出該警示，并接著進到步驟h。該警示單元13例如顯示警示燈號，以通知用戶該外部內(nèi)存12發(fā)生異常。

在步驟g中，該處理芯片11判斷該重傳次數(shù)值是否大于該下限次數(shù)值，例如判斷是否大于0次；若判斷結(jié)果為是，則進到步驟h，若判斷結(jié)果為否，直接進到步驟i。

在步驟h中，當該處理芯片11在步驟f判斷該重傳計數(shù)值大于該上限次數(shù)值，以及在步驟g中判斷該重傳計數(shù)值大于該下限次數(shù)值時，該處理芯片11記錄一錯誤訊息于一工作日志（log）中，并接著進到步驟i。換言之，只要該處理芯片11增加該重傳計數(shù)值，或是該重傳計數(shù)值大于該上限次數(shù)值，該處理芯片11即記錄該錯誤訊息告知用戶。其中，該錯誤訊息即記錄數(shù)據(jù)線有錯誤的訊息，供用戶得知該外部內(nèi)存12異常或有損毀的情形。

在步驟i中，該處理芯片11清除該外部內(nèi)存12的測試數(shù)據(jù)，以供下次測試時能再次寫入。

在步驟j中，該處理芯片11等候一預(yù)定時間，并返回步驟s2。亦即，該處理芯片11間隔該預(yù)定時間，例如10分鐘之后，清除該重傳計數(shù)值，并重復(fù)執(zhí)行所述數(shù)據(jù)檢測方法，以定期檢測該外部內(nèi)存12的數(shù)據(jù)是否能正常寫入。

因此，本發(fā)明內(nèi)存數(shù)據(jù)檢測方法，藉由每間隔該預(yù)定時間，寫入該測試數(shù)據(jù)至該外部內(nèi)存12，以定期執(zhí)行該外部內(nèi)存12的傳輸檢測，來確保該外部內(nèi)存12能正常運作。并且，于該測試數(shù)據(jù)檢測為不正確，亦即該測試數(shù)據(jù)寫入失敗時，即重傳該測試數(shù)據(jù)，并且累積該重傳計數(shù)值。

此外，在本實施例中，該處理芯片11還根據(jù)該重傳計數(shù)值執(zhí)行相對應(yīng)的動作，以于執(zhí)行傳輸檢測過程中有錯誤發(fā)生時，達到不同程度的提示作用：一、當該處理芯片11判斷該重傳計數(shù)值小于該下限次數(shù)值，即0次時，表示此時未有錯誤發(fā)生，該處理芯片11清除該外部內(nèi)存12的測試數(shù)據(jù)，等候再次寫入測試；二、當該處理芯片11判斷該重傳計數(shù)值大于該下限次數(shù)值時，該處理芯片11會記錄該錯誤訊息于該工作日志，因為實際而言，該等數(shù)據(jù)線113可能因為受到電氣訊號干擾、或是該處理芯片11發(fā)生數(shù)據(jù)寫入異常等程序異常的因素，導(dǎo)致該處理芯片11在寫入和驗證該外部內(nèi)存12的測試數(shù)據(jù)時，發(fā)生重傳1次驗證失敗，但重傳2次驗證成功的情形，故只要增加該重傳計數(shù)值，該處理芯片11便記錄該錯誤訊息，以提醒用戶該等數(shù)據(jù)線113傳輸檢測時曾經(jīng)有錯誤發(fā)生；三、當該處理芯片11判斷該重傳次數(shù)值大于該上限次數(shù)值，即3次時，表示該等資料線113發(fā)生異?；驓p的機率很高，因此該處理芯片11除了記錄該錯誤訊息外，更觸發(fā)該警示單元13發(fā)出該警示通知使用者，如此一來，便能根據(jù)不同的重傳次數(shù)值，分類不同層級的錯誤，并給予使用者不同程度的提示。

參閱圖3，本發(fā)明內(nèi)存數(shù)據(jù)檢測方法的一第二實施例，與該第一實施例的差異在于：該步驟d能于步驟a及步驟b之間實施。也就是說，相較于該第一實施例，該處理芯片11在將該測試數(shù)據(jù)寫入該外部內(nèi)存12之后，先判斷該重傳計數(shù)值是否大于該上限次數(shù)值，若判斷為是，即進到步驟f觸發(fā)該警示單元13發(fā)出該警示；若判斷為否，進到步驟c，將該重傳計數(shù)值增加1，并進到步驟e，清除該外部內(nèi)存12的測試數(shù)據(jù)，且返回步驟a，即重傳該測試數(shù)據(jù)至該外部內(nèi)存12，再次判斷該測試數(shù)據(jù)是否正確。如此，可增加本發(fā)明于實施上的彈性。

綜上所述，本發(fā)明內(nèi)存數(shù)據(jù)檢測方法，藉由該處理芯片11定期檢測該外部內(nèi)存12是否能正常執(zhí)行數(shù)據(jù)寫入，并于發(fā)生異常時，除了重傳該測試數(shù)據(jù)至該外部內(nèi)存12之外，該處理芯片11還根據(jù)該重傳計數(shù)值，執(zhí)行相對應(yīng)的動作，確保該外部內(nèi)存12的正常運作，如此，該處理芯片11也能正確地讀取該外部內(nèi)存12所儲存的開機組態(tài)、映像文件等物理層設(shè)定數(shù)據(jù)，來執(zhí)行開機初始化，以確保例如服務(wù)器計算機經(jīng)由該處理芯片11能夠正確、穩(wěn)定地存取硬盤，故確實能達成本發(fā)明之目的。

上述各實施例及圖示僅為本發(fā)明的較佳實施例而已，但不能以之限定本發(fā)明實施之范圍，即大凡依本發(fā)明權(quán)利要求書所作的均等變化與修飾，皆應(yīng)屬本發(fā)明專利涵蓋的范圍內(nèi)。