技術(shù)總結(jié)
存儲(chǔ)器系統(tǒng)的量子態(tài)刷新模塊經(jīng)配置以通過執(zhí)行對(duì)應(yīng)于量子穩(wěn)定子碼的校驗(yàn)子值的冗余測(cè)量來檢測(cè)其中所存儲(chǔ)的糾纏量子位狀態(tài)中的錯(cuò)誤，其中所述冗余測(cè)量是基于塊錯(cuò)誤校正碼。所述量子態(tài)刷新模塊包含多個(gè)測(cè)量子模塊，其各自經(jīng)配置以測(cè)量對(duì)應(yīng)于所述糾纏量子位狀態(tài)的相應(yīng)校驗(yàn)子值或相應(yīng)奇偶值。所述測(cè)量子模塊的總數(shù)目小于所述塊錯(cuò)誤校正碼的碼字長度，且在解碼過程中由擦除值替換刪余校驗(yàn)子值的初始近似。在為了使用擦除值而適當(dāng)?shù)貥?gòu)造所述塊錯(cuò)誤校正碼的情況下，所述量子態(tài)刷新模塊有利地能夠使用比碼字的全長測(cè)量所使用的量子門更少的量子門提供可靠的錯(cuò)誤檢測(cè)。

技術(shù)研發(fā)人員：阿列克謝·阿西赫明
受保護(hù)的技術(shù)使用者：阿爾卡特朗訊
文檔號(hào)碼：201580031325
技術(shù)研發(fā)日：2015.06.03
技術(shù)公布日：2017.03.22