本發(fā)明涉及一種自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)及方法，特別是涉及一種磁卡裝置自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)及方法。

背景技術(shù)：

請(qǐng)參閱圖1，圖1繪示為一種磁卡裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖所示，所述磁卡裝置10的本體11的一側(cè)具有讀卡器12，所述讀卡器12與所述本體11信號(hào)連接。

請(qǐng)?jiān)賲㈤唸D2，圖2繪示為圖1中磁卡裝置刷卡狀態(tài)示意圖。將磁卡20在讀卡器12上進(jìn)行刷卡，可以在本體11上顯示信息。其中，所述本體11例如為筆記本電腦。

然而，對(duì)上述上述磁卡裝置10進(jìn)行測(cè)試時(shí)，通常是操作員將磁卡20在讀卡器12上刷卡，本體11內(nèi)的測(cè)試單元進(jìn)行測(cè)試，并獲得所讀取信息在本體11的顯示單元顯示，由操作員通過顯示結(jié)果，進(jìn)行判斷磁卡裝置10讀卡功能是否正常。

然而，通過上述測(cè)試方法進(jìn)行測(cè)試，由于需要操作員對(duì)所讀取信息進(jìn)行判斷，因此使得測(cè)試麻煩；同時(shí)，由于需要人工判斷，不能確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

有鑒于此，實(shí)有必要開發(fā)一種磁卡裝置自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)及方法，以解決上述問題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

因此，本發(fā)明的目的是提供一種磁卡裝置自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)及方法，解決現(xiàn)有技術(shù)對(duì)磁卡裝置的讀卡功能測(cè)試時(shí)，需要人工觀察所讀取的信息，操作麻煩及測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確的問題。

為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供的磁卡裝置自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，該磁卡裝置包括本體及與所述本體信號(hào)連接的讀卡器，該測(cè)試系統(tǒng)包括：

采集單元，與所述讀卡器連接，該采集單元從所述讀卡器獲取讀卡信息；

數(shù)據(jù)庫，預(yù)存讀卡信息與測(cè)試結(jié)果的映射關(guān)系；

處理單元，與所述采集單元及所述數(shù)據(jù)庫連接，該處理單元依據(jù)所獲取的讀卡信息，從所述數(shù)據(jù)庫中的映射關(guān)系中，查找出對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果；

顯示單元，與所述處理單元連接，該顯示單元顯示測(cè)試結(jié)果。

可選的，該測(cè)試系統(tǒng)還包括關(guān)閉單元，該關(guān)閉單元與所述處理單元連接，當(dāng)接收到的測(cè)試結(jié)果為通過后，該關(guān)閉單元經(jīng)過一段時(shí)間關(guān)閉所述測(cè)試系統(tǒng)。

可選的，所述磁卡為銀行卡。

可選的，所述顯示單元還顯示所述讀卡信息。

可選的，該測(cè)試系統(tǒng)連接現(xiàn)場(chǎng)控制系統(tǒng)(SFCS；shop floor control system)，所述處理單元將測(cè)試結(jié)果傳送給所述現(xiàn)場(chǎng)控制系統(tǒng)。

本發(fā)明還提供磁卡裝置自動(dòng)化測(cè)試方法，該測(cè)試方法包括步驟：

(1)在數(shù)據(jù)庫中建立預(yù)存讀卡信息與測(cè)試結(jié)果的映射關(guān)系；

(2)采集單元從讀卡器獲取讀卡信息；

(3)處理單元依據(jù)所獲取的讀卡信息，從所述數(shù)據(jù)庫的映射關(guān)系中，查找出對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果；

(4)顯示單元顯示所述測(cè)試結(jié)果。

可選的，所述步驟(4)中顯示單元還顯示所述讀卡信息。

可選的，所述(4)后還包括步驟(5)：關(guān)閉單元接收到測(cè)試結(jié)果為通過后，該關(guān)閉單元經(jīng)過一段時(shí)間關(guān)閉所述測(cè)試系統(tǒng)。

可選的，所述步驟(5)中的一段時(shí)間為2秒。

可選的，所述步驟(3)后還包括步驟：將所述測(cè)試結(jié)果上傳至現(xiàn)場(chǎng)控制系統(tǒng)。

相較于現(xiàn)有技術(shù)，利用本發(fā)明的磁卡裝置自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)及方法，由于是將最終測(cè)試結(jié)果在顯示單元上顯示，而無須操作者對(duì)讀卡信息進(jìn)行分析判斷，從而操作簡(jiǎn)單、節(jié)省時(shí)間，并且測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確。同時(shí)，當(dāng)接收到的測(cè)試結(jié)果為通過后，該關(guān)閉單元經(jīng)過一段時(shí)間關(guān)閉所述測(cè)試系統(tǒng)，從而使得測(cè)試更加自動(dòng)化。該測(cè)試系統(tǒng)連接現(xiàn)場(chǎng)控制系統(tǒng)，所述處理單元將測(cè)試結(jié)果傳送給所述現(xiàn)場(chǎng)控制系統(tǒng)，從而方便追蹤測(cè)試結(jié)果。

【附圖說明】

圖1繪示為一種磁卡裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2繪示為圖1中磁卡裝置刷卡狀態(tài)示意圖。

圖3繪示為本發(fā)明的磁卡裝置自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)示意圖。

圖4繪示為本發(fā)明的磁卡裝置自動(dòng)化測(cè)試方法示意圖。

【具體實(shí)施方式】

請(qǐng)參閱圖3，圖3繪示為本發(fā)明的磁卡裝置自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)示意圖。

為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供的磁卡裝置自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，該磁卡裝置10包括本體11及與所述本體11信號(hào)連接的讀卡器12，該自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)100包括：

采集單元13，與所述讀卡器12連接，該采集單元13從所述讀卡器12獲取讀卡信息；

數(shù)據(jù)庫14，預(yù)存讀卡信息與測(cè)試結(jié)果的映射關(guān)系；

處理單元15，與所述采集單元13及所述數(shù)據(jù)庫14連接，該處理單元15依據(jù)所獲取的讀卡信息，從所述數(shù)據(jù)庫14中的映射關(guān)系中，查找出對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié) 果；

顯示單元16，與所述處理單元15連接，該顯示單元16顯示測(cè)試結(jié)果(測(cè)試結(jié)果可以為顯示PASS或FAIL)，其中，所述顯示單元16還可以同時(shí)顯示所述讀卡信息，供操作者參考。

其中，該自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)100還可以包括關(guān)閉單元17，該關(guān)閉單元17與所述處理單元15連接，當(dāng)接收到的測(cè)試結(jié)果為通過后，該關(guān)閉單元17經(jīng)過一段時(shí)間關(guān)閉所述自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)100，從而使得測(cè)試更快捷。

其中，所述磁卡20可以為銀行卡，讀取到的讀卡信息例如為19位數(shù)字的銀行卡號(hào)，則測(cè)試通過，若讀取不到，則測(cè)試不通過。

其中，該自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)100連接現(xiàn)場(chǎng)控制系統(tǒng)200(SFCS；shop floor control system)，所述處理單元15將測(cè)試結(jié)果傳送給所述現(xiàn)場(chǎng)控制系統(tǒng)200。

請(qǐng)參閱圖4，圖4繪示為本發(fā)明的磁卡裝置自動(dòng)化測(cè)試方法示意圖。

本發(fā)明還提供磁卡裝置自動(dòng)化測(cè)試方法，該測(cè)試方法包括步驟：

步驟301：在數(shù)據(jù)庫中建立預(yù)存讀卡信息與測(cè)試結(jié)果的映射關(guān)系；

步驟302：采集單元從讀卡器獲取讀卡信息；

步驟303：處理單元依據(jù)所獲取的讀卡信息，從所述數(shù)據(jù)庫的映射關(guān)系中，查找出對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果；

步驟304：顯示單元顯示所述測(cè)試結(jié)果。

其中，所述步驟304中顯示單元還顯示所述讀卡信息。

其中，所述步驟304后還包括步驟305：關(guān)閉單元接收到測(cè)試結(jié)果為通過后，該關(guān)閉單元經(jīng)過一段時(shí)間關(guān)閉所述測(cè)試系統(tǒng)，所述步驟305中的一段時(shí)間為2秒。

其中，所述步驟303后還包括步驟306：將所述測(cè)試結(jié)果上傳至現(xiàn)場(chǎng)控制系統(tǒng)。

相較于現(xiàn)有技術(shù)，利用本發(fā)明的磁卡裝置自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)及方法，由于是將最終測(cè)試結(jié)果在顯示單元16上顯示，而無須操作者對(duì)讀卡信息進(jìn)行分析判斷，從而操作簡(jiǎn)單、節(jié)省時(shí)間，并且測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確。同時(shí)，當(dāng)接收到的測(cè)試結(jié)果為通過后，該關(guān)閉單元17經(jīng)過一段時(shí)間關(guān)閉所述自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)100，從而使得測(cè)試更加自動(dòng)化。該自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)100連接現(xiàn)場(chǎng)控制系統(tǒng)200，所述處理單元15將測(cè)試結(jié)果傳送給所述現(xiàn)場(chǎng)控制系統(tǒng)200，從而方便追蹤測(cè)試結(jié)果。

需指出的是，本發(fā)明不限于上述實(shí)施方式，任何熟悉本專業(yè)的技術(shù)人員基于本發(fā)明技術(shù)方案對(duì)上述實(shí)施例所作的任何簡(jiǎn)單修改、等同變化與修飾，都落入本發(fā)明的保護(hù)范圍內(nèi)。