一種spi總線信號測試的發(fā)包方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種SPI總線信號測試的發(fā)包方法，其實現(xiàn)方法如下：找到BIOS中讀寫SPI總線上BIOS芯片的函數(shù)；在讀寫函數(shù)中增加循環(huán)讀寫B(tài)IOS芯片的代碼，循環(huán)次數(shù)根據(jù)需要填寫；通過上述兩條，刷新測試版BIOS，啟動到DOS環(huán)境，使用BIOS刷新工具進行刷新操作，這時刷新過程會停在一個位置，此時SPI總線上會一直存在信號傳輸，上述函數(shù)只有在進行BIOS刷新操作時才會被調(diào)用。本發(fā)明的一種SPI總線信號測試的發(fā)包方法和現(xiàn)有技術(shù)相比，為服務(wù)器主板SPI總線信號測試提供了一個更簡單靈活的方式，可以節(jié)約系統(tǒng)測試成本另外操作更加簡便，只需要刷新測試版BIOS就可完成測試準(zhǔn)備工作。
【專利說明】一種SPI總線信號測試的發(fā)包方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及計算機板卡開發(fā)測試【技術(shù)領(lǐng)域】，具體地說是一種SPI總線信號測試的發(fā)包方法。

【背景技術(shù)】
[0002]隨著IT在全球范圍的不斷推廣和完善，IT產(chǎn)品遍及全球每個角落。IT產(chǎn)品的市場體現(xiàn)不在于技術(shù)本身，而是看產(chǎn)品是否經(jīng)得住用戶的考驗，性價比好的產(chǎn)品始終是用戶心目中的首選。因此在相同技術(shù)的前提下，如何把握好產(chǎn)品的質(zhì)量就成為該產(chǎn)品在市場上是否有強勁體現(xiàn)最為重要的部分。而在服務(wù)器主板開發(fā)過程中，SI信號測試的目的就是針對主板上各種信號進行驗證，來保證產(chǎn)品的可靠性，穩(wěn)定性。其中SPI總線是一種現(xiàn)代服務(wù)器產(chǎn)品中的常用接口，通過用于連接B1S芯片或其它FW芯片，如果SPI總線信號質(zhì)量差，很容易導(dǎo)致系統(tǒng)無法開機，或開機過程異常，因此SPI總線信號的測試在現(xiàn)代服務(wù)器系統(tǒng)開發(fā)過程中必不可少。
[0003]綜上所述，如何快速完成SPI總線的測試是服務(wù)器開發(fā)過程中不可缺少的環(huán)節(jié)，業(yè)界并沒有通用的測試手法來實現(xiàn)這一過程；如果采用第三方冶具，一是增加了測試成本，二是增加測試過程的操作，即耗時又費力。而通過B1S提供一種快速發(fā)包方法，則解決了以上問題，有利于提高測試效率，減輕測試工程師的負(fù)擔(dān)，因此具有很高的推廣價值。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的目的是克服現(xiàn)有技術(shù)中存在的不足，提供一種SPI總線信號測試的發(fā)包方法，提供一種簡單方便的發(fā)包方法，能夠方便的測試SPI總線信號，而不需要其它第三方發(fā)包工具。
[0005]本發(fā)明的技術(shù)方案是按以下方式實現(xiàn)的，其實現(xiàn)方法如下:
Cl)找到B1S中讀寫SPI總線上B1S芯片的函數(shù)；
(2)在讀寫函數(shù)中增加循環(huán)讀寫B(tài)1S芯片的代碼，循環(huán)次數(shù)根據(jù)需要填寫；
(3)通過上述兩條，刷新測試版B10S，啟動到DOS環(huán)境，使用B1S刷新工具進行刷新操作，這時刷新過程會停在一個位置，此時SPI總線上會一直存在信號傳輸，上述函數(shù)只有在進行B1S刷新操作時才會被調(diào)用。
[0006]通過循環(huán)執(zhí)行讀或?qū)懼噶?，讓SPI總線持續(xù)產(chǎn)生信號，方便SI工程師使用示波器抓取SPI總線上的波形用于分析。
[0007]本發(fā)明的優(yōu)點是:
本發(fā)明的一種SPI總線信號測試的發(fā)包方法和現(xiàn)有技術(shù)相比，為服務(wù)器主板SPI總線信號測試提供了一個更簡單靈活的方式，可以節(jié)約系統(tǒng)測試成本(不需要依賴第三方測試冶具)，另外操作更加簡便，只需要刷新測試版B1S就可完成測試準(zhǔn)備工作。本方法靈活簡便，成本低，效率高，因而具有廣闊的發(fā)展前景及極高的技術(shù)價值。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0008]圖1為一種SPI總線信號測試的發(fā)包方法的整體流程示意圖。

【具體實施方式】
[0009]下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的一種SPI總線信號測試的發(fā)包方法作以下詳細(xì)說明。
[0010]如圖1所示，本發(fā)明的一種SPI總線信號測試的發(fā)包方法，其實現(xiàn)方法如下:
(I)找到B1S中讀寫SPI總線上B1S芯片的函數(shù)；
(2)在讀寫函數(shù)中增加循環(huán)讀寫B(tài)1S芯片的代碼，循環(huán)次數(shù)根據(jù)需要填寫；
(3)通過上述兩條，刷新測試版B1S，啟動到DOS環(huán)境，使用B1S刷新工具進行刷新操作，這時刷新過程會停在一個位置，此時SPI總線上會一直存在信號傳輸，上述函數(shù)只有在進行B1S刷新操作時才會被調(diào)用。
[0011]通過循環(huán)執(zhí)行讀或?qū)懼噶?，讓SPI總線持續(xù)產(chǎn)生信號，方便SI工程師使用示波器抓取SPI總線上的波形用于分析。
[0012]正如
【發(fā)明內(nèi)容】
中所描述的，本發(fā)明主要利用B1S設(shè)計來配合完成SI測試。
[0013]比如我們要測試一塊主板SPI總線上的信號質(zhì)量，首先將測試用的B1S更新到此主板上，然后進入DOS環(huán)境，使用B1S更新工具執(zhí)行B1S刷新動作，此時使用示波器可以很方便的抓取CLK和DATA的信號質(zhì)量。
[0014]本發(fā)明的一種SPI總線信號測試的發(fā)包方法其加工制作非常簡單方便，按照說明書附圖所示即可加工。
[0015]除說明書所述的技術(shù)特征外，均為本專業(yè)技術(shù)人員的已知技術(shù)。
【權(quán)利要求】
1.一種SPI總線信號測試的發(fā)包方法，其特征在于: (1)找到B1S中讀寫SPI總線上B1S芯片的函數(shù)； (2)在讀寫函數(shù)中增加循環(huán)讀寫B(tài)1S芯片的代碼，循環(huán)次數(shù)根據(jù)需要填寫； (3)通過上述兩條，刷新測試版B1S，啟動到DOS環(huán)境，使用B1S刷新工具進行刷新操作，這時刷新過程會停在一個位置，此時SPI總線上會一直存在信號傳輸，上述函數(shù)只有在進行B1S刷新操作時才會被調(diào)用。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種SPI總線信號測試的發(fā)包方法，其特征在于通過循環(huán)執(zhí)行讀或?qū)懼噶?，讓SPI總線持續(xù)產(chǎn)生信號，方便SI工程師使用示波器抓取SPI總線上的波形用于分析。
【文檔編號】G06F11/22GK104317687SQ201410552570
【公開日】2015年1月28日 申請日期:2014年10月17日 優(yōu)先權(quán)日:2014年10月17日
【發(fā)明者】顏偉, 賈永濤 申請人:浪潮電子信息產(chǎn)業(yè)股份有限公司