測試電容式觸摸屏響應(yīng)時間的方法和裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種測試電容式觸摸屏響應(yīng)時間的方法，包括以下步驟：振動傳感器獲取與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間T1；觸控IC檢測電容式觸摸屏觸屏響應(yīng)的起點(diǎn)時間T2；MCU根據(jù)觸控IC檢測的電容式觸摸屏觸屏響應(yīng)的起點(diǎn)時間T2和振動傳感器獲取的與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間T1，計算出電容式觸摸屏響應(yīng)時間，所述電容式觸摸屏響應(yīng)時間為T2-T1。本發(fā)明還公開一種測試電容式觸摸屏響應(yīng)時間的裝置。本發(fā)明能實(shí)現(xiàn)不需要點(diǎn)亮觸摸屏即可測試、以及對硬件要求和測試成本低的有益效果。
【專利說明】測試電容式觸摸屏響應(yīng)時間的方法和裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及觸摸屏測試領(lǐng)域，尤其涉及測試電容式觸摸屏響應(yīng)時間的方法和裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著手機(jī)行業(yè)的發(fā)展，電容式觸摸屏的應(yīng)用也隨之越來越廣，對電容式觸摸屏性能測試的要求也越來越高，而測試電容式觸摸屏響應(yīng)時間是觸摸屏性能測試中的一項重要指標(biāo)。
[0003]目前對電容式觸摸屏響應(yīng)時間的測試幾乎都是采用高速攝像機(jī)拍攝測試的方法，拍攝記錄筆頭接觸電容式觸摸屏屏幕表面的時間以及電容式觸摸屏響應(yīng)的時間這兩個時間點(diǎn)，然后通過時間差計算出電容觸摸屏的響應(yīng)時間，采用此方法需要點(diǎn)亮觸摸屏才能測試，而且此方法對數(shù)據(jù)存儲空間、通信速度等硬件要求比較高，從而導(dǎo)致成本特別高，因此，對現(xiàn)有的電容式觸摸屏響應(yīng)時間的測試方法亟待改善。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的主要目的在于提供一種測試電容式觸摸屏響應(yīng)時間的方法，旨在解決使用高速攝像機(jī)方法測試時需要點(diǎn)亮觸摸屏、對硬件要求高及高成本的問題。
[0005]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供的一種測試電容式觸摸屏響應(yīng)時間的方法，包括以下步驟:
[0006]步驟A、振動傳感器獲取與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl ；
[0007]步驟B、觸控IC檢測電容式觸摸屏觸屏響應(yīng)的起點(diǎn)時間T2 ；
[0008]步驟C、MCU根據(jù)觸控IC檢測的電容式觸摸屏觸屏響應(yīng)的起點(diǎn)時間T2和振動傳感器獲取的與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間TI，計算出電容式觸摸屏響應(yīng)時間，所述電容式觸摸屏響應(yīng)時間為T2-T1。
[0009]優(yōu)選地，所述步驟C之后還包括:
[0010]步驟D、顯示器顯示電容式觸摸屏響應(yīng)時間。
[0011 ] 優(yōu)選地,所述步驟A具體包括:
[0012]步驟Al、振動傳感器采集筆頭與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl ；
[0013]步驟A2、振動傳感器將采集的筆頭與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl發(fā)送給 MCU。
[0014]優(yōu)選地,所述步驟B具體包括:
[0015]步驟B1、觸控IC檢測電容式觸摸屏觸屏響應(yīng)的起點(diǎn)時間T2 ；
[0016]步驟B2、觸控IC識別電容式觸摸屏觸屏響應(yīng)的起點(diǎn)時間T2，發(fā)出中斷信號給MCU。
[0017]優(yōu)選地,所述步驟C具體包括:
[0018]步驟Cl、當(dāng)MCU接收到振動傳感器發(fā)送的筆頭與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl后，開始計數(shù)；[0019]步驟C2、當(dāng)MCU接收到觸控IC發(fā)送的中斷信號后，停止計數(shù)；
[0020]步驟C3、MCU根據(jù)振動傳感器發(fā)送的筆頭與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl和觸控IC發(fā)送的中斷信號之間的計數(shù)值，結(jié)合CPU時鐘頻率，計算出電容式觸摸屏響應(yīng)時間，所述電容式觸摸屏響應(yīng)時間為T2-T1。
[0021]本發(fā)明進(jìn)一步提供一種測試電容式觸摸屏響應(yīng)時間的裝置，包括振動傳感器、觸控IC和MCU，其中，
[0022]所述振動傳感器，用于獲取與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl ；
[0023]所述觸控1C，用于檢測電容式觸摸屏觸屏響應(yīng)的起點(diǎn)時間T2 ；
[0024]所述MCU，與所述振動傳感器和所述觸控IC相連，用于根據(jù)觸控IC檢測的電容式觸摸屏觸屏響應(yīng)的起點(diǎn)時間T2和振動傳感器獲取的與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間TI，計算出電容式觸摸屏響應(yīng)時間，所述電容式觸摸屏響應(yīng)時間為T2-TI。
[0025]優(yōu)選地，所述的測試電容式觸摸屏響應(yīng)時間的裝置，還包括顯示器，
[0026]所述顯示器，與所述MCU相連，用于顯示電容式觸摸屏響應(yīng)時間。
[0027]優(yōu)選地，所述振動傳感器用于采集筆頭與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl ；還用于將采集的筆頭與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl發(fā)送給所述MCU。
[0028]優(yōu)選地，所述觸控IC用于檢測電容式觸摸屏觸屏響應(yīng)的起點(diǎn)時間T2 ;還用于識別電容式觸摸屏觸屏響應(yīng)的起點(diǎn)時間T2，發(fā)出中斷信號給所述MCU。
[0029]優(yōu)選地，所述MCU用于當(dāng)接收到所述振動傳感器發(fā)送的筆頭與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl后，開始計數(shù)；還用于接收所述觸控IC發(fā)送的中斷信號后，停止計數(shù)；還用于根據(jù)所述振動傳感器發(fā)送的筆頭與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl和所述觸控IC發(fā)送的中斷信號兩者時間的計數(shù)值，結(jié)合CPU時鐘頻率，計算出電容式觸摸屏響應(yīng)時間，所述電容式觸摸屏響應(yīng)時間為T2-T1。
[0030]本發(fā)明測試電容式觸摸屏響應(yīng)時間的方法，包括以下步驟:振動傳感器獲取與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl ;觸控IC檢測電容式觸摸屏觸屏響應(yīng)的起點(diǎn)時間T2 ；MCU根據(jù)觸控IC檢測的電容式觸摸屏觸屏響應(yīng)的起點(diǎn)時間T2和振動傳感器獲取的與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl，計算出電容式觸摸屏響應(yīng)時間，所述電容式觸摸屏響應(yīng)時間為T2-T1。本發(fā)明測試電容式觸摸屏響應(yīng)時間的方法所能實(shí)現(xiàn)的有益效果為不需要點(diǎn)亮觸摸屏即可測試、對硬件要求和測試成本低。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0031]圖1為本發(fā)明測試電容式觸摸屏響應(yīng)時間的方法一實(shí)施例的流程示意圖；
[0032]圖2為圖1中SlOO的步驟的細(xì)化流程示意圖；
[0033]圖3為圖1中S200的步驟的細(xì)化流程示意圖；
[0034]圖4為圖1中S300的步驟的細(xì)化流程示意圖；
[0035]圖5為本發(fā)明測試電容式觸摸屏響應(yīng)時間的裝置一實(shí)施例的功能模塊示意圖。
[0036]本發(fā)明目的的實(shí)現(xiàn)、功能特點(diǎn)及優(yōu)點(diǎn)將結(jié)合實(shí)施例，參照附圖做進(jìn)一步說明。
【具體實(shí)施方式】
[0037]應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。[0038]本發(fā)明提供一種測試電容式觸摸屏響應(yīng)時間的方法，參照圖1，在一實(shí)施例中，該測試電容式觸摸屏響應(yīng)時間的方法，包括以下步驟:
[0039]步驟S100、振動傳感器獲取與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl。
[0040]當(dāng)用手按下測試電容式觸摸屏響應(yīng)時間的裝置的下壓按鍵時，筆頭接觸到電容式觸摸屏的屏幕表面的接觸觸點(diǎn)，筆頭可以為金屬筆頭，用于模擬人手的動作，完成電容式觸摸屏的點(diǎn)測、線測、軌跡測試，在此處主要是完成點(diǎn)測的功能，振動傳感器采集到筆頭與電容式觸摸屏的觸點(diǎn)接觸時產(chǎn)生的振動，并轉(zhuǎn)換為感應(yīng)信號，實(shí)現(xiàn)對筆頭接觸電容式觸摸屏的識別，并獲取與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl。其中，振動傳感器感應(yīng)信號延時要小于0.1ms，這樣才能保證測試出來的觸摸屏響應(yīng)時間精度不受影響，所述振動傳感器感應(yīng)信號為低電平信號。
[0041]步驟S200、觸控IC檢測電容式觸摸屏觸屏響應(yīng)的起點(diǎn)時間T2。
[0042]觸控IC檢測到筆頭接觸到電容式觸摸屏觸屏觸點(diǎn)的動作后，迅速做出響應(yīng)，并發(fā)出中斷信號，即將電容式觸摸屏觸屏響應(yīng)的起點(diǎn)時間T2發(fā)送給MCU，所述中斷信號為低電平?目號。
[0043]步驟S300、MCU根據(jù)觸控IC檢測的電容式觸摸屏觸屏響應(yīng)的起點(diǎn)時間Τ2和振動傳感器獲取的與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl，計算出電容式觸摸屏響應(yīng)時間，所述電容式觸摸屏響應(yīng)時間為Τ2-Τ1。
[0044]MCU通過一個GP10(General Purpose Input Output,通用輸入/輸出或總線擴(kuò)展器)來接收觸控IC發(fā)送過來的電容式觸摸屏觸屏響應(yīng)的起點(diǎn)時間T2、通過另外一個GPIO來接收振動傳感器發(fā)送過來的與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl，然后通過這兩者之間的差值，計算出電容式觸摸屏響應(yīng)時間。
[0045]步驟S400、顯示器顯示電容式觸摸屏響應(yīng)時間。
[0046]電容式觸摸屏響應(yīng)時間經(jīng)MCU計算出來后，最終通過顯示器的軟件顯示界面進(jìn)行輸出，以利于測試者直接獲出直觀的測試結(jié)果。
[0047]具體地,參見圖2,所述步驟SlOO具體包括:
[0048]步驟S100A、振動傳感器采集筆頭與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl ；
[0049]所述振動傳感器為加速度傳感器或三軸陀螺儀，用于將筆頭與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的振動信號轉(zhuǎn)化為感應(yīng)信號，此感應(yīng)信號為低電平信號，所述振動傳感器采集到的低電平信號即為筆頭與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl。
[0050]步驟S100B、振動傳感器將采集的筆頭與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl發(fā)送給MCU。
[0051]振動傳感器將采集到的筆頭與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的低電平信號即與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl發(fā)送給MCU，MCU開始計數(shù)。
[0052]具體地,參見圖3,所述步驟S200具體包括:
[0053]步驟S200A、觸控IC檢測電容式觸摸屏觸屏響應(yīng)的起點(diǎn)時間T2 ；
[0054]觸控IC檢測到筆頭接觸到電容式觸摸屏觸屏觸點(diǎn)的動作后，迅速做出響應(yīng)，并發(fā)出中斷信號，所述中斷信號為低電平信號，即將電容式觸摸屏觸屏響應(yīng)的起點(diǎn)時間T2發(fā)送給 MCU。
[0055]步驟S200B、觸控IC識別電容式觸摸屏觸屏響應(yīng)的起點(diǎn)時間T2，發(fā)出中斷信號給MCU。
[0056]觸控IC識別出電容式觸摸屏觸屏響應(yīng)的起點(diǎn)時間T2后，發(fā)出低電平中斷信號給MCU, MCU結(jié)束計數(shù)。
[0057]具體地，參見圖3，所述步驟S300具體包括:
[0058]步驟S300A、當(dāng)MCU接收到振動傳感器發(fā)送的筆頭與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl后，開始計數(shù)；
[0059]MCU通過一個GPIO來接收振動傳感器發(fā)送過來的與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl，即接收到振動傳感器產(chǎn)生的低電平的感應(yīng)信號后，開始計數(shù)。
[0060]步驟S300B、當(dāng)MCU接收到觸控IC發(fā)送的中斷信號后，停止計數(shù)；
[0061]MCU通過另一個GPIO來接收觸控IC發(fā)送過來的電容式觸摸屏觸屏響應(yīng)的起點(diǎn)時間T2，即接收到觸控IC發(fā)送的低電平中斷信號后，結(jié)束計數(shù)。
[0062]步驟S300C、MCU根據(jù)振動傳感器發(fā)送的筆頭與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl和觸控IC發(fā)送的中斷信號之間的計數(shù)值，結(jié)合CPU時鐘頻率，計算出電容式觸摸屏響應(yīng)時間，所述電容式觸摸屏響應(yīng)時間為T2-T1。
[0063]MCU根據(jù)開始計數(shù)和結(jié)束計數(shù)時的數(shù)值，通過CPU時鐘頻率計算出計數(shù)的時間，從而得到電容觸摸屏的響應(yīng)時間。
[0064]本實(shí)施例提供的測試電容式觸摸屏響應(yīng)時間的方法，包括以下步驟:步驟S100、振動傳感器獲取與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl ;步驟S200、觸控IC檢測電容式觸摸屏觸屏響應(yīng)的起點(diǎn)時間T2 ;步驟S300、MCU根據(jù)觸控IC檢測的電容式觸摸屏觸屏響應(yīng)的起點(diǎn)時間T2和振動傳感器獲取的與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl，計算出電容式觸摸屏響應(yīng)時間，所述電容式觸摸屏響應(yīng)時間為T2-T1。本實(shí)施例提供的測試電容式觸摸屏響應(yīng)時間的方法所能實(shí)現(xiàn)的有益效果為不需要點(diǎn)亮觸摸屏即可測試、對硬件要求低且測試成本低。
[0065]參見圖5，本實(shí)施例還進(jìn)一步提供一種測試電容式觸摸屏響應(yīng)時間的裝置，包括振動傳感器10、觸控IC20和MCU30，其中，
[0066]所述振動傳感器10，用于獲取與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl。
[0067]當(dāng)用手按下測試電容式觸摸屏響應(yīng)時間的裝置的下壓按鍵時，筆頭50接觸到電容式觸摸屏的屏幕表面的接觸觸點(diǎn)，筆頭50可以為金屬筆頭，用于模擬人手的動作，完成電容式觸摸屏的點(diǎn)測、線測、軌跡測試，在此處主要是完成點(diǎn)測的功能，振動傳感器10采集到筆頭50與電容式觸摸屏的觸點(diǎn)接觸時產(chǎn)生的振動，并轉(zhuǎn)換為感應(yīng)信號，實(shí)現(xiàn)對筆頭50接觸電容式觸摸屏的識別，并獲取與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間TI。其中，振動傳感器10感應(yīng)信號延時要小于0.1ms，這樣才能保證測試出來的觸摸屏響應(yīng)時間精度不受影響，所述振動傳感器10感應(yīng)信號為低電平信號。
[0068]所述觸控IC20，用于檢測電容式觸摸屏觸屏響應(yīng)的起點(diǎn)時間T2。
[0069]觸控IC20檢測到筆頭50接觸到電容式觸摸屏觸屏觸點(diǎn)的動作后，迅速做出響應(yīng)，并發(fā)出中斷信號，即將電容式觸摸屏觸屏響應(yīng)的起點(diǎn)時間T2發(fā)送給MCU30，所述中斷信號為低電平信號。
[0070]所述MCU30，與所述振動傳感器10和所述觸控IC20相連，用于根據(jù)觸控IC20檢測的電容式觸摸屏觸屏響應(yīng)的起點(diǎn)時間T2和振動傳感器10獲取的與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl，計算出電容式觸摸屏響應(yīng)時間，所述電容式觸摸屏響應(yīng)時間為T2-T1。
[0071]MCU30通過一個GPIO來接收觸控IC20發(fā)送過來的電容式觸摸屏觸屏響應(yīng)的起點(diǎn)時間T2、通過另外一個GPIO來接收振動傳感器10發(fā)送過來的與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl，然后通過這兩者之間的差值，計算出電容式觸摸屏響應(yīng)時間。
[0072]進(jìn)一步參見圖5，所述測試電容式觸摸屏響應(yīng)時間的裝置，還包括顯示器40，
[0073]所述顯示器40，與所述MCU20相連，用于顯示電容式觸摸屏響應(yīng)時間。
[0074]電容式觸摸屏響應(yīng)時間經(jīng)MCU20計算出來后，最終通過顯示器40的軟件顯示界面進(jìn)行輸出，以利于測試者直接獲出直觀的測試結(jié)果。
[0075]具體地，所述振動傳感器10用于采集筆頭50與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl ;還用于將采集的筆頭50與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl發(fā)送給所述MCU20。
[0076]所述振動傳感器10為加速度傳感器或三軸陀螺儀，用于將筆頭50與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的振動信號轉(zhuǎn)化為感應(yīng)信號，此感應(yīng)信號為低電平信號，所述振動傳感器10采集到的低電平信號即為筆頭50與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl。振動傳感器10將采集到的筆頭50與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的低電平信號即與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl發(fā)送給MCU20，MCU20開始計數(shù)。
[0077]具體地，所述觸控IC30用于檢測電容式觸摸屏觸屏響應(yīng)的起點(diǎn)時間T2 ;還用于識別電容式觸摸屏觸屏響應(yīng)的起點(diǎn)時間T2，發(fā)出中斷信號給所述MCU20。
[0078]觸控IC30檢測到筆頭50接觸到電容式觸摸屏觸屏觸點(diǎn)的動作后，迅速做出響應(yīng)，并發(fā)出中斷信號，所述中斷信號為低電平信號，即將電容式觸摸屏觸屏響應(yīng)的起點(diǎn)時間T2發(fā)送給MCU20。觸控IC30識別出電容式觸摸屏觸屏響應(yīng)的起點(diǎn)時間T2后，發(fā)出低電平中斷信號給MCU20，MCU20結(jié)束計數(shù)。
[0079]具體地，所述MCU20用于當(dāng)接收到所述振動傳感器10發(fā)送的筆頭50與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl后，開始計數(shù)；還用于接收所述觸控IC30發(fā)送的中斷信號后，停止計數(shù)；還用于根據(jù)所述振動傳感器10發(fā)送的筆頭50與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl和所述觸控IC30發(fā)送的中斷信號兩者時間的計數(shù)值，結(jié)合CPU時鐘頻率，計算出電容式觸摸屏響應(yīng)時間，所述電容式觸摸屏響應(yīng)時間為T2-TI。
[0080]MCU20通過一個GPIO來接收振動傳感器10發(fā)送過來的與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl，即接收到振動傳感器產(chǎn)生的低電平的感應(yīng)信號后，開始計數(shù);MCU20通過另一個GPIO來接收觸控IC30發(fā)送過來的電容式觸摸屏觸屏響應(yīng)的起點(diǎn)時間T2，即接收到觸控IC30發(fā)送的低電平中斷信號后，結(jié)束計數(shù)。MCU20根據(jù)開始計數(shù)和結(jié)束計數(shù)時的數(shù)值，通過CPU時鐘頻率計算出計數(shù)的時間，從而得到電容觸摸屏的響應(yīng)時間。
[0081]以上僅為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例，并非因此限制本發(fā)明的專利范圍，凡是利用本發(fā)明說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換，或直接或間接運(yùn)用在其他相關(guān)的【技術(shù)領(lǐng)域】，均同理包括在本發(fā)明的專利保護(hù)范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種測試電容式觸摸屏響應(yīng)時間的方法，其特征在于，包括以下步驟: 步驟A、振動傳感器獲取與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl ； 步驟B、觸控IC檢測電容式觸摸屏觸屏響應(yīng)的起點(diǎn)時間T2 ； 步驟C、MCU根據(jù)觸控IC檢測的電容式觸摸屏觸屏響應(yīng)的起點(diǎn)時間T2和振動傳感器獲取的與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl，計算出電容式觸摸屏響應(yīng)時間，所述電容式觸摸屏響應(yīng)時間為T2-T1。
2.如權(quán)利要求1所述的測試電容式觸摸屏響應(yīng)時間的方法，其特征在于，所述步驟C之后還包括: 步驟D、顯示器顯示電容式觸摸屏響應(yīng)時間。
3.如權(quán)利要求1所述的測試電容式觸摸屏響應(yīng)時間的方法，其特征在于，所述步驟A具體包括: 步驟Al、振動傳感器采集筆頭與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl ； 步驟A2、振動傳感器將采集的筆頭與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl發(fā)送給MCU。
4.如權(quán)利要求1所 述的測試電容式觸摸屏響應(yīng)時間的方法，其特征在于，所述步驟B具體包括: 步驟B1、觸控IC檢測電容式觸摸屏觸屏響應(yīng)的起點(diǎn)時間T2 ； 步驟B2、觸控IC識別電容式觸摸屏觸屏響應(yīng)的起點(diǎn)時間T2，發(fā)出中斷信號給MCU。
5.如權(quán)利要求4所述的測試電容式觸摸屏響應(yīng)時間的方法，其特征在于，所述步驟C具體包括: 步驟Cl、當(dāng)MCU接收到振動傳感器發(fā)送的筆頭與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl后，開始計數(shù)； 步驟C2、當(dāng)MCU接收到觸控IC發(fā)送的中斷信號后，停止計數(shù)； 步驟C3、MCU根據(jù)振動傳感器發(fā)送的筆頭與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl和觸控IC發(fā)送的中斷信號之間的計數(shù)值，結(jié)合CPU時鐘頻率，計算出電容式觸摸屏響應(yīng)時間，所述電容式觸摸屏響應(yīng)時間為T2-T1。
6.一種測試電容式觸摸屏響應(yīng)時間的裝置，其特征在于，包括振動傳感器、觸控IC和MCU，其中， 所述振動傳感器，用于獲取與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl ； 所述觸控1C，用于檢測電容式觸摸屏觸屏響應(yīng)的起點(diǎn)時間T2 ； 所述MCU，與所述振動傳感器和所述觸控IC相連，用于根據(jù)觸控IC檢測的電容式觸摸屏觸屏響應(yīng)的起點(diǎn)時間T2和振動傳感器獲取的與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl，計算出電容式觸摸屏響應(yīng)時間，所述電容式觸摸屏響應(yīng)時間為T2-TI。
7.如權(quán)利要求1所述的測試電容式觸摸屏響應(yīng)時間的裝置，還包括顯示器， 所述顯示器，與所述MCU相連，用于顯示電容式觸摸屏響應(yīng)時間。
8.如權(quán)利要求1所述的測試電容式觸摸屏響應(yīng)時間的裝置，其特征在于，所述振動傳感器用于采集筆頭與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl ;還用于將采集的筆頭與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl發(fā)送給所述MCU。
9.如權(quán)利要求1所述的測試電容式觸摸屏響應(yīng)時間的裝置，其特征在于，所述觸控IC用于檢測電容式觸摸屏觸屏響應(yīng)的起點(diǎn)時間T2 ;還用于識別電容式觸摸屏觸屏響應(yīng)的起點(diǎn)時間T2，發(fā)出中斷信號給所述MCU。
10.如權(quán)利要求9所述的測試電容式觸摸屏響應(yīng)時間的裝置，其特征在于，所述MCU用于當(dāng)接收到所述振動 傳感器發(fā)送的筆頭與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl后，開始計數(shù)；還用于接收所述觸控IC發(fā)送的中斷信號后，停止計數(shù)；還用于根據(jù)所述振動傳感器發(fā)送的筆頭與電容式觸摸屏觸點(diǎn)接觸的起點(diǎn)時間Tl和所述觸控IC發(fā)送的中斷信號兩者時間的計數(shù)值，結(jié)合CPU時鐘頻率，計算出電容式觸摸屏響應(yīng)時間，所述電容式觸摸屏響應(yīng)時間為T2-T1。
【文檔編號】G06F11/22GK104008031SQ201410222440
【公開日】2014年8月27日 申請日期:2014年5月23日 優(yōu)先權(quán)日:2014年5月23日
【發(fā)明者】張濱 申請人:張濱