一種x線平板探測器圖像壞線的修補方法
【專利摘要】本發(fā)明公開一種X線平板探測器圖像壞線的修補方法，其包括步驟：計算X線平板探測器圖像中壞線區(qū)域的異常度；當異常度大于預設的第一閾值時，進一步判斷異常度是否大于預設的第二閾值，若是，忽略X線平板探測器圖像壞線中各像素點的像素值，通過壞線坐標周圍的非損壞像素區(qū)域，在壞線垂直方向使用插值平滑法對圖像進行處理，得到最終的修補圖像，否則，進一步檢測壞線內平行于壞線方向的明顯的邊緣，對邊緣進行曲線擬合，并經過插值及平滑處理得到最終的修補圖像。本發(fā)明無需修改X線平板探測器的參數，又充分利用了壞線區(qū)域的有效像素值，達到了較好的修復效果，并保留了X光圖像的有效診斷信息，對提高診斷具有積極意義。
【專利說明】一種X線平板探測器圖像壞線的修補方法

【技術領域】
[0001] 本發(fā)明涉及醫(yī)學圖像處理技術，尤其是涉及一種X線平板探測器圖像壞線的修補 方法。

【背景技術】
[0002] 目前X線平板探測器較以前的膠片成像有很多優(yōu)點，如空間分辨率高、空間畸變 小、有靈活的后處理過程等。但是探測器由于制作工藝復雜，在出廠時、運輸過程中或者使 用一段時間之后會出現異常的亮點、暗點和壞點壞線等缺陷。目前廠家自帶壞點和壞線矯 正程序，相比壞點矯正程序，壞線矯正程序更容易因為壞線寬度和壞線變化劇烈程度而出 現修復不足的痕跡。這時需要一種方法進行二次修復，消除或者淡化壞線痕跡。
[0003] 中國專利CN200510026786. 5提出一種X射線數字成像的校正方法，該方法是根據 對成像鏈的物理學分析，利用數學模型對數字平板進行漂移校正，空間非均勻性校正，壞點 校正后，完整的X射線信息的數字圖像。但是此方法只能矯正圖像壞點且需要對X光平板 探測器進行改動。
[0004] 中國專利申請CN201010135142. 0提出一種處理X線平板探測器圖像壞線的方法 及其裝置，此方法首先檢測X線平板探測器壞線的位置，然后使用壞線的鄰域內的非壞線 圖像像素的圖像數據計算補償量，從而修復圖像的壞線。此方法忽略了壞線中的有效像素 值，導致修復結果圖像在壞線區(qū)域的像素為人工制造，失去了診斷意義。


【發(fā)明內容】

[0005] 本發(fā)明提出一種X線平板探測器圖像壞線的修補方法，在廠家矯正結果的基礎上 再次對壞線區(qū)域進行修補達到徹底去除壞線的目的，以解決現有技術采用簡單的插值方法 對圖像壞線進行處理導致修復效果不佳的技術問題。
[0006] 本發(fā)明采用如下技術方案實現：一種X線平板探測器圖像壞線的修補方法，其包 括步驟：
[0007] A、計算X線平板探測器圖像中壞線區(qū)域的異常度diffVal ;
[0008] B、當異常度diffVal大于預設的第一閾值T時，進一步判斷異常度diffVal是否 大于預設的第二閾值t，若是，轉入步驟C，否則轉入步驟D ;
[0009] C、忽略X線平板探測器圖像壞線中各像素點的像素值，通過壞線坐標周圍的非 損壞像素區(qū)域，在壞線垂直方向使用插值平滑法對圖像進行處理，得到最終的修補圖像 f(x，y);

【權利要求】
1. 一種X線平板探測器圖像壞線的修補方法，其特征在于，包括步驟： A、 計算X線平板探測器圖像中壞線區(qū)域的異常度diffVal; B、 當異常度diffVal大于預設的第一閾值T時，進一步判斷異常度diffVal是否大于 預設的第二閾值t，若是，轉入步驟C，否則轉入步驟D; C、 忽略X線平板探測器圖像壞線中各像素點的像素值，通過壞線坐標周圍的非損壞像 素區(qū)域，在壞線垂直方向使用插值平滑法對圖像進行處理，得到最終的修補圖像f(x，y);
D、 檢測壞線壞線方向明顯的邊緣，對邊緣進行曲線擬合，并經過插值及平滑處理得到 最終的修補圖像f(x，y); 其中，第一閾值T的計算公式為 第二閾值t的計算公式為 I·
^i=l、2、L和N，N為壞線方向上像素點的個數，Max(Grayscale)為 X線平板探測器圖像的最大灰度值，Xi為壞線上各像素點的像素值，與1撕分別是與壞 線左右兩側相鄰的兩條完好的像素線。
2. 根據權利要求1所述一種X線平板探測器圖像壞線的修補方法，其特征在于，X線 平板探測器圖像中有L條上下貫穿平板的壞線，壞線坐標為Def1，其中1=1，L，L，則異常度 diffVal的計算公式如下：
I、L和L-I。
3. 根據權利要求1所述一種X線平板探測器圖像壞線的修補方法，其特征在于，步驟 C中使用插值平滑法對圖像進行處理的計算公式如下：f(x,y)=cof·Io^+d-cof) ·Ι(χΛ+1)， χ=1，2,…R;y=l，…，I; 叫P=〇、l、…和表示緊靠壞線左側的完好線上的每個點Ι(χΛ+1)表 示緊靠壞線右側相鄰的完好線上的每個點，R表示壞線的長度，y是從1到當前壞線1的取 值，1=1，...，L。
4. 根據權利要求1所述一種X線平板探測器圖像壞線的修補方法，其特征在于，檢測壞 線壞線方向明顯的邊緣的步驟包括： 使用高斯平滑模板進行濾波； 使用Sobel垂直方向濾波模板進行濾波檢測得到壞線區(qū)域中平行于壞線方向明顯的 邊緣，并記錄下這些邊緣點的坐標（χ」，yP。
5. 根據權利要求1所述一種X線平板探測器圖像壞線的修補方法，其特征在于，對邊 緣進行曲線擬合的步驟包括：將得到的邊緣點坐標使用二次多項式ax2+bX+c=y進行曲線擬 合，a為2次項系數，b為一次項系數，c為常數項，X是自變量也是在圖像中的行坐標，y是 因變量也是在圖像中的列坐標。
6. 根據權利要求5所述一種X線平板探測器圖像壞線的修補方法，其特征在于，步驟D 中插值處理的步驟包括： 在壞線區(qū)域內邊緣中每一點（Xph)eax2+bx+c的法線方向 巧），(、少。向上使用和^_內的像素值 (X。，y(l)eYriUYli和壞線本身在曲線方程上的像素點值進行插值，插值方法為 / 、Q_k\l-d^'al)_n 1 .汾廠W=o.7.(/η。,卜外-j~{~，y=〇、i、… 和L-I，其中，t為預設的二次閾值，I為x線平板探測器圖像的像素值，k為控制系數。
7. 根據權利要求6所述一種X線平板探測器圖像壞線的修補方法，其特征在于，控制系 數k為1。
【文檔編號】G06T7/00GK104463831SQ201310441747
【公開日】2015年3月25日 申請日期:2013年9月25日 優(yōu)先權日:2013年9月25日
【發(fā)明者】趙明 申請人:深圳市藍韻實業(yè)有限公司