一種自耦電容檢測方法和電路的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明實施例提供一種自耦電容檢測方法和電路，涉及電子領(lǐng)域，解決了常見自耦電容檢測方案速度不穩(wěn)定的問題。具體包括，在預(yù)設(shè)的固定周期內(nèi)發(fā)送脈沖個數(shù)固定的發(fā)射信號，在接收端口接收發(fā)射信號通過負載后的第一接收信號和第二接收信號，通過對比第一接收信號和第二接收信號在上升沿和下降沿的壓差，判斷接收端口自耦電容的變化值ΔC，當(dāng)自耦電容的變化值ΔC超過預(yù)設(shè)的比較值時，判斷與所述接收端口連接的觸摸端口發(fā)生觸摸事件。本發(fā)明應(yīng)用于自耦電容檢測。
【專利說明】—種自輔電容檢測方法和電路
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001 ] 本發(fā)明涉及電子領(lǐng)域，尤其涉及一種自耦電容檢測方法和電路。
【背景技術(shù)】
[0002]電容型觸摸屏的構(gòu)造主要是在玻璃屏幕上鍍一層透明的薄膜體層，再在導(dǎo)體層外加上一塊保護玻璃，電容型觸摸屏在觸摸屏四邊均鍍上狹長的電極，在導(dǎo)電體內(nèi)形成一個低電壓交流電場。在觸摸屏幕時，由于人體電場，手指與導(dǎo)體層間會形成一個耦合電容，四邊電極發(fā)出的電流會流向觸點，而電流強弱與手指到電極的距離成正比，位于觸摸屏幕后的控制器便會計算電流的比例及強弱，準(zhǔn)確算出觸摸點的位置。
[0003]電容型觸摸屏檢測有自耦電容檢測和互耦電容檢測之分。對于自然界的任何導(dǎo)體來說它們都存在電容。自耦電容即檢測電極與大地之間形成的電容，因為檢測電極是導(dǎo)體，大地也是導(dǎo)體。而互耦電容是發(fā)射電極與接收電極之間存在的電容。當(dāng)人手觸摸后，對于檢測電極與大地之間的自耦電容會增大。
[0004]在現(xiàn)有技術(shù)中，在自耦電容檢測技術(shù)中，目前業(yè)內(nèi)最流行的技術(shù)有新突思國際公司(Synaptics)和愛特梅爾公司(Atmel)的電荷轉(zhuǎn)移技術(shù),賽普拉斯半導(dǎo)體公司(Cypress)的張弛振蕩式電容觸摸感應(yīng)方式(Capacitor Sensing with Relaxtion osicillator,簡稱CSR),逐次逼近式電容觸摸感應(yīng)檢測方法(Capacitor Sensing with Approximitionmethod,簡稱 CSA)和 Sigma-Delta 式電容觸摸感應(yīng)檢測方法(Capacitor Sensing withSigma-Delta method，簡稱CSD)技術(shù)等。這些技術(shù)都是將待測電容的變化轉(zhuǎn)換為時間的變化來進行計算的，所以大部分情況下都會隨著觸觸狀態(tài)的變化而導(dǎo)致檢測時間的長短不同，在某些臨界狀態(tài)下甚至有可能造成集成電路(IC)報點率不均勻的情況。
[0005]現(xiàn)有技術(shù)中至少存在如下問題，采用恒流源充放電技術(shù)充放電時間由其電路的RC的時間常數(shù)而決定，檢測頻率也因此而固定，在人手觸摸后檢測頻率變慢，有可能導(dǎo)致檢測速度不穩(wěn)定；采用電荷轉(zhuǎn)移技術(shù)的檢測時間隨待測電容的變化而變化，也會導(dǎo)致其檢測速度不穩(wěn)定。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]本發(fā)明的實施例提供一種自耦電容檢測方法和電路，可以解決自耦電容檢測方案速度不穩(wěn)定的問題。
[0007]為達到上述目的，本發(fā)明的實施例采用如下技術(shù)方案:
[0008]第一方面，提供一種自耦電容檢測方法，包括:
[0009]通過發(fā)射端口發(fā)送發(fā)射信號，所述發(fā)射信號在預(yù)設(shè)的固定時間周期內(nèi)脈沖個數(shù)固定;
[0010]通過接收端口接收所述發(fā)射信號通過負載后的第一接收信號，獲取所述第一接收信號的每一個脈沖在上升沿和下降沿的采樣電壓信號的第一壓差值Vppl，所述第一接收信號在所述預(yù)設(shè)的時間周期內(nèi)脈沖個數(shù)固定；[0011]在以后其它與所述預(yù)設(shè)的時間周期相同的檢測過程中，通過所述接收端口接收所述發(fā)射信號通過負載后的第二接收信號，獲取所述第二接收信號的每一個脈沖在上升沿和下降沿的采樣電壓信號的第二壓差值Vpp2，所述第二接收信號在所述預(yù)設(shè)的時間周期內(nèi)脈沖個數(shù)固定；
[0012]在相同的所述預(yù)設(shè)的固定時間周期內(nèi)獲取所述第二壓差值Vpp2和對應(yīng)所述第一壓差值Vppl的差值電壓AV，并根據(jù)所述差值電壓AV判斷所述接收端口自耦電容的變化值A(chǔ)C ;
[0013]當(dāng)所述自耦電容的變化值A(chǔ) C超過預(yù)設(shè)的比較值時，判斷與所述接收端口連接的觸摸端口發(fā)生觸摸事件。
[0014]在第一種可能的實現(xiàn)方式中，結(jié)合第一方面，該方法還包括:
[0015]預(yù)設(shè)所述第一發(fā)射信號的頻率及發(fā)射時長。
[0016]在第二種可能的實現(xiàn)方式中，結(jié)合第一方面或第一種可能的實現(xiàn)方式，所述在相同的所述預(yù)設(shè)的固定時間周期內(nèi)獲取所述第二壓差值Vpp2和對應(yīng)所述第一壓差值Vppl的差值電壓AV，并根據(jù)所述差值電壓AV判斷所述接收端口自耦電容的變化值A(chǔ)C具體包括:
[0017]在相同的所述預(yù)設(shè)的固定時間周期內(nèi)獲取每一個所述第二壓差值Vpp2和對應(yīng)所述每一個所述第一壓差值Vppl的每一個差值電壓AV;
[0018]將所述每一個差值電壓A V進行累加得到累加電壓值Vs ；
[0019]根據(jù)所述累加電壓值Vs判斷所述接收端口自耦電容的變化值A(chǔ)C。
[0020]在第三種可能的實現(xiàn)方式中，結(jié)合第一方面、第一種可能的實現(xiàn)方式或第二種可能的實現(xiàn)方式，該方法還包括:
[0021]所述發(fā)射信號包括方波、三角波或正弦波。
[0022]第二方面，提供一種自耦電容檢測電路，包括:
[0023]檢測集成電路與所述檢測集成電路連接的發(fā)射端口和接收端口，所述發(fā)射端口與所述接收端口之間連接負載，所述接收端口還連接觸摸端口，其中:
[0024]所述檢測集成電路用于通過發(fā)射端口發(fā)送發(fā)射信號，所述發(fā)射信號在預(yù)設(shè)的固定時間周期內(nèi)脈沖個數(shù)固定，通過接收端口接收所述發(fā)射信號通過負載后的第一接收信號，獲取所述第一接收信號的每一個脈沖在上升沿和下降沿的采樣電壓信號的第一壓差值Vppl，所述第一接收信號在所述預(yù)設(shè)的時間周期內(nèi)脈沖個數(shù)固定；在以后其它與所述預(yù)設(shè)的時間周期相同的檢測過程中，通過接收端口接收所述發(fā)射信號通過負載后的第二接收信號，獲取所述第二接收信號的每一個脈沖在上升沿和下降沿的采樣電壓信號的第二壓差值Vpp2，所述第二接收信號在所述預(yù)設(shè)的時間周期內(nèi)脈沖個數(shù)固定；在相同的所述預(yù)設(shè)的固定時間周期內(nèi)獲取所述第二壓差值Vpp2和對應(yīng)所述第一壓差值Vppl的差值電壓AV，并根據(jù)所述差值電壓AV判斷所述接收端口自耦電容的變化值A(chǔ)C;當(dāng)所述自耦電容的變化值A(chǔ) C超過預(yù)設(shè)的比較值時，判斷與所述接收端口連接的觸摸端口發(fā)生觸摸事件。
[0025]在第一種可能的實現(xiàn)方式中，結(jié)合第一方面，該設(shè)備還包括:
[0026]所述檢測集成電路還用于預(yù)設(shè)所述第一發(fā)射信號的頻率及發(fā)射時長。
[0027]在第二種可能的實現(xiàn)方式中，結(jié)合第一方面或第一種可能的實現(xiàn)方式，所述檢測集成電路具體用于在相同的所述預(yù)設(shè)的時間周期內(nèi)獲取每一個所述第二壓差值Vpp2和對應(yīng)所述第二壓差值Vpp2的每一個所述第一壓差值Vppl的每一個差值電壓AV ;將所述每一個差值電壓AV進行累加得到累加電壓值Vs ;根據(jù)所述累加電壓值Vs判斷所述接收端口自耦電容的變化值A(chǔ)C。
[0028]在第三種可能的實現(xiàn)方式中，結(jié)合第一方面、第一種可能的實現(xiàn)方式或第二種可能的實現(xiàn)方式，還包括:
[0029]所述發(fā)射信號包括方波、三角波或正弦波。
[0030]本發(fā)明實施例提供的自耦電容檢測方法和設(shè)備，通過預(yù)設(shè)發(fā)射信號的頻率及發(fā)射時長并在檢測自耦電容時采用第一接收信號及第二接收信號與發(fā)射信號同步的模式，解決了自耦電容檢測方案速度不穩(wěn)定的問題。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0031]為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0032]圖1為本發(fā)明實施例提供的一種自耦電容檢測方法流程示意圖；
[0033]圖2為本發(fā)明實施例提供的另一種自耦電容檢測方法流程示意圖；
[0034]圖3為本發(fā)明實施例提供的一種自耦電容檢測電路結(jié)構(gòu)示意圖；
[0035]圖4為本發(fā)明實施例提供的一種自耦電容檢測方法中對脈沖電壓采樣的示意圖。
【具體實施方式】
[0036]下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。
[0037]本發(fā)明的實施例提供一種自耦電容檢測方法，如圖1所示，包括以下步驟:
[0038]101、自耦電容檢測電路通過發(fā)射端口發(fā)送發(fā)射信號，該發(fā)射信號在預(yù)設(shè)的固定時間周期內(nèi)脈沖個數(shù)固定。
[0039]當(dāng)然可選的，發(fā)射信號包括但不限于方波、三角波或正弦波，當(dāng)然這里發(fā)射信號的單個脈沖的周期可以不固定。
[0040]102、通過接收端口接收發(fā)射信號通過負載后的第一接收信號，獲取第一接收信號的每一個脈沖在上升沿和下降沿的采樣電壓信號的第一壓差值Vppl，該第一接收信號在預(yù)設(shè)的時間周期內(nèi)脈沖個數(shù)固定。
[0041]103、在以后其它與預(yù)設(shè)的時間周期相同的檢測過程中，通過接收端口接收發(fā)射信號通過負載后的第二接收信號，獲取每一個第二接收信號在上升沿和下降沿的采樣電壓信號的第二壓差值Vpp2，該第二接收信號在預(yù)設(shè)的時間周期內(nèi)脈沖個數(shù)固定。
[0042]104、在相同的預(yù)設(shè)的固定時間周期內(nèi)獲取第二壓差值Vpp2和對應(yīng)第一壓差值Vppl的差值電壓AV，并根據(jù)差值電壓AV判斷接收端口自耦電容的變化值A(chǔ)C。
[0043]105、當(dāng)自耦電容的變化值A(chǔ)C超過預(yù)設(shè)的比較值時，判斷與接收端口連接的觸摸端口發(fā)生觸摸事件。
[0044]具體的參照圖4分別提供了固定時間周期內(nèi)發(fā)射信號的波形，以及在觸摸事件未發(fā)生時發(fā)射信號對應(yīng)的第一接收信號的波形和在觸摸事件發(fā)生時發(fā)射信號對應(yīng)的第二接收信號的波形。采用模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器(Analog To Digital Converter,簡稱ADC)對接收端口接收到的脈沖電平進行采樣，如圖4中所示的B1、B2分別為觸摸端口未發(fā)生觸摸事件時接收端口對接收到的脈沖電平在上升沿和下降沿的采樣點，Cl、C2分別為觸摸端口發(fā)生觸摸事件時接收端口對接收到的脈沖電平在上升沿和下降沿的采樣點；明顯，觸摸事件未發(fā)生時，由于接收端口自耦電容較小，因此接收端口脈沖信號的充放電速度快，所以對應(yīng)的在B1、B2兩處的采樣電壓信號的差值幅度Vppl較小；而觸摸事件發(fā)生時，由于自耦電容增大，接收端口充放電速度變緩，所以對應(yīng)的在Cl、C2兩處的采樣電壓信號的差值幅度Vpp2的幅度較大。以此這里通過判斷Vpp2和Vppl的差值判斷接收端口自耦電容的變化，此外由于對脈沖信號的相對檢測速度不會變化，從而檢測時間相比于觸摸前不會發(fā)生變化。
[0045]本發(fā)明實施例提供的自耦電容檢測方法，通過預(yù)設(shè)發(fā)射信號的頻率及發(fā)射時長并在檢測自耦電容時采用第一接收信號及第二接收信號與發(fā)射信號同步的模式，解決了自耦電容檢測方案速度不穩(wěn)定的問題。
[0046]本發(fā)明的實施例提供一種自耦電容檢測方法，如圖2所示，包括以下步驟:
[0047]201、預(yù)設(shè)發(fā)射信號的頻率及發(fā)射時長。
[0048]這里通過預(yù)設(shè)發(fā)射信號充放電頻率和發(fā)射時長，使得在預(yù)設(shè)發(fā)射時長的時間周期內(nèi)發(fā)射信號內(nèi)脈沖的次數(shù)固定，由于頻率可以設(shè)置，使得發(fā)射信號的頻率可以盡量區(qū)別背景噪聲的頻率，在后續(xù)的檢測過程中提高了自耦電容檢測技術(shù)抗噪聲干擾的能力。
[0049]可選的，發(fā)射信號包括但不限于方波、三角波或正弦波。
[0050]202、通過發(fā)射端口發(fā)送發(fā)射信號，發(fā)射信號在預(yù)設(shè)的固定時間周期內(nèi)脈沖個數(shù)固定，當(dāng)然這里發(fā)射信號的單個脈沖的周期可以不固定。
[0051]其中步驟202中的固定時間周期及頻率即步驟201中預(yù)設(shè)的發(fā)射時長及頻率。
[0052]203、通過接收端口接收發(fā)射信號通過負載后的第一接收信號，獲取第一接收信號的每一個脈沖在上升沿和下降沿的采樣電壓信號的第一壓差值Vppl，該第一接收信號在預(yù)設(shè)的時間周期內(nèi)脈沖個數(shù)固定。
[0053]204、在以后其它與預(yù)設(shè)的時間周期相同的檢測過程中，通過接收端口接收發(fā)射信號通過負載后的第二接收信號，獲取第二接收信號的每一個脈沖在上升沿和下降沿的采樣電壓信號的第二壓差值Vpp2，該第二接收信號在預(yù)設(shè)的時間周期內(nèi)脈沖個數(shù)固定。
[0054]由于在發(fā)射信號、第一接收信號和第二接收信號均采用固定時長和固定頻率的檢測方式，使得三者在檢測時實現(xiàn)了同步性，避免了出現(xiàn)現(xiàn)有技術(shù)中檢測時間變化的不穩(wěn)定性。
[0055]205、在相同的預(yù)設(shè)的固定時間周期內(nèi)獲取每一個第二壓差值Vpp2和對應(yīng)每一個第一壓差值Vppl的每一個差值電壓AV ；
[0056]206、將每一個差值電壓AV進行累加得到累加電壓值Vs ；
[0057]207、根據(jù)累加電壓值Vs判斷接收端口自耦電容的變化值A(chǔ)C ;
[0058]208、當(dāng)自耦電容的變化值A(chǔ)C超過預(yù)設(shè)的比較值時，判斷與接收端口連接的觸摸端口發(fā)生觸摸事件。[0059]具體的仍以圖4為例，分別提供了固定時間周期內(nèi)發(fā)射信號的波形，以及在觸摸事件未發(fā)生時發(fā)射信號對應(yīng)的第一接收信號的波形和在觸摸事件發(fā)生時發(fā)射信號對應(yīng)的第二接收信號的波形。采用模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器(Analog To Digital Converter,簡稱ADC)對接收端口接收到的脈沖電平進行采樣，如圖4中所示的B1、B2分別為觸摸端口未發(fā)生觸摸事件時接收端口對接收到的脈沖電平在上升沿和下降沿的采樣點，Cl、C2分別為觸摸端口發(fā)生觸摸事件時接收端口對接收到的脈沖電平在上升沿和下降沿的采樣點；明顯，觸摸事件未發(fā)生時，由于接收端口自耦電容較小，因此接收端口脈沖信號的充放電速度快，所以對應(yīng)的在B1、B2兩處的采樣電壓信號的差值幅度Vppl較??；而觸摸事件發(fā)生時，由于自耦電容增大，接收端口充放電速度變緩，所以對應(yīng)的在Cl、C2兩處的采樣電壓信號的差值幅度Vpp2的幅度較大。這里對應(yīng)每一次發(fā)射信號,獲取的每一個第二壓差值Vpp2和對應(yīng)每一個第一壓差值Vppl都會存在一個差值電壓Λ V，而隨著脈沖數(shù)增多，將這些微小變化Λ V以一定方式積累起來之后就有一個明顯的信號變化幅值。將這個信號變化幅值與之前沒有觸摸前的信號變化幅值(當(dāng)然理想狀態(tài)該變化幅值為零)相比較，可以判斷接收端口的自耦電容的變化。通過對實時采樣的數(shù)據(jù)計算，進而在觸摸檢測過程中不會存在電荷飽和及溢出的問題。
[0060]當(dāng)然在觸摸事件發(fā)生后接收端口的自耦電容發(fā)生變化，通過上述實施例提供的方法，檢測接收端口自耦電容的的變化來判斷觸摸事件發(fā)生的具體位置。
[0061]本發(fā)明實施例提供的自耦電容檢測方法，通過預(yù)設(shè)發(fā)射信號的頻率及發(fā)射時長并在檢測自耦電容時采用第一接收信號及第二接收信號與發(fā)射信號同步的模式，解決了自耦電容檢測方案速度不穩(wěn)定的問題；同時由于發(fā)射信號的頻率可以任意設(shè)置提高了自耦電容檢測技術(shù)抗噪聲干擾的能力。
[0062]本發(fā)明的實施例提供一種自耦電容檢測電路3，參照圖3所示，該設(shè)備包括:
[0063]檢測集成電路1C，與檢測集成電路IC連接的發(fā)射端口 SH和接收端口 RE，發(fā)射端口 SH與接收端口 RE之間連接負載R，接收端口 RE還連接觸摸端口 HA ；
[0064]其中，檢測集成電路IC用于通過發(fā)射端口 SH發(fā)送發(fā)射信號，發(fā)射信號在預(yù)設(shè)的固定時間周期內(nèi)脈沖個數(shù)固定，當(dāng)然這里發(fā)射信號的單個脈沖的周期可以不固定。通過接收端口 RE接收發(fā)射信號通過負載后的第一接收信號，獲取第一接收信號的每一個脈沖在上升沿和下降沿的采樣電壓信號的第一壓差值Vppl，第一接收信號在預(yù)設(shè)的時間周期內(nèi)脈沖個數(shù)固定；在以后其它與預(yù)設(shè)的時間周期相同的檢測過程中，通過接收端口 RE接收發(fā)射信號通過負載后的第二接收信號，獲取第二接收信號的每一個脈沖在上升沿和下降沿的采樣電壓信號的第二壓差值Vpp2，第二接收信號在預(yù)設(shè)的時間周期內(nèi)脈沖個數(shù)固定；在相同的預(yù)設(shè)的固定時間周期內(nèi)獲取第二壓差值Vpp2和對應(yīng)第一壓差值Vppl的差值電壓AV，并根據(jù)差值電壓AV判斷接收端口 RE自耦電容的變化值A(chǔ)C;當(dāng)自耦電容的變化值A(chǔ)C超過預(yù)設(shè)的比較值時，判斷與接收端口連接的觸摸端口發(fā)生觸摸事件。
[0065]這里，發(fā)射信號包括但不限于方波、三角波或正弦波等多種波形。
[0066]具體的，檢測集成電路IC為具有脈沖寬度調(diào)制功能和模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器ADC (Analog To Digital Converter)檢測功能的模塊或者具有邏輯運算和編程功能的處理器，如可讀寫單片機、微控制器MCU(Micro Controller Unit)等普通芯片。
[0067]發(fā)射端口 SH，接收端口 RE可以是普通輸入輸出接口(input/output，簡稱10)，當(dāng)然發(fā)射端口需要連接檢測集成電路IC的脈沖寬度調(diào)制功能模塊，接收端口 RE連接具有模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器ADC (Analog To Digital Converter)檢測功能的模塊。
[0068]對于觸摸端口設(shè)備，觸摸端口 HA可以是電容按鍵的焊盤，也可以是觸摸屏的電極
坐寸o
[0069]本發(fā)明實施例提供的自耦電容檢測電路，通過預(yù)設(shè)發(fā)射信號的頻率及發(fā)射時長并在檢測自耦電容時采用第一接收信號及第二接收信號與發(fā)射信號同步的模式，解決了自耦電容檢測方案速度不穩(wěn)定的問題。
[0070]進一步的，檢測集成電路IC還用于預(yù)設(shè)發(fā)射信號的頻率及發(fā)射時長。
[0071]這里通過檢測集成電路IC預(yù)設(shè)發(fā)射信號充放電頻率和發(fā)射時長，使得在預(yù)設(shè)發(fā)射時長的時間周期內(nèi)發(fā)射信號的次數(shù)固定，由于頻率可以設(shè)置，使得發(fā)射信號的頻率可以盡量區(qū)別背景噪聲的頻率，在后續(xù)的檢測過程中提高了自耦電容檢測技術(shù)抗噪聲干擾的能力。
[0072]具體可選的，檢測集成電路IC還用于在相同的預(yù)設(shè)的時間周期內(nèi)獲取每一個第二壓差值Vpp2和對應(yīng)第二壓差值Vpp2的每一個第一壓差值Vppl的每一個差值電壓AV ；將每一個差值電壓AV進行累加得到累加電壓值Vs ;根據(jù)累加電壓值Vs判斷接收端口 RE自耦電容的變化值A(chǔ)C;當(dāng)自耦電容的變化值A(chǔ)C超過預(yù)設(shè)的比較值時，判斷與接收端口連接的觸摸端口發(fā)生觸摸事件。
[0073]具體的工作原理可以參照圖4對應(yīng)的在方法實施例中的描述，這里不再贅述。
[0074]本發(fā)明實施例提供的自耦電容檢測電路，通過預(yù)設(shè)發(fā)射信號的頻率及發(fā)射時長并在檢測自耦電容時采用第一接收信號及第二接收信號與發(fā)射信號同步的模式，解決了自耦電容檢測方案速度不穩(wěn)定的問題；同時由于發(fā)射信號頻率可以任意設(shè)置提高了自耦電容檢測技術(shù)抗噪聲干擾的能力；由于采用了本發(fā)明中的電路，使得觸摸檢測使用普通的芯片便能實現(xiàn)，且實現(xiàn)方法簡單，靈活。
[0075]本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解:實現(xiàn)上述方法實施例的全部或部分步驟可以通過程序指令相關(guān)的硬件來完成，前述的程序可以存儲于一計算機可讀取存儲介質(zhì)中，該程序在執(zhí)行時，執(zhí)行包括上述方法實施例的步驟；而前述的存儲介質(zhì)包括:R0M、RAM、磁碟或者光盤等各種可以存儲程序代碼的介質(zhì)。
[0076]以上所述，僅為本發(fā)明的【具體實施方式】，但本發(fā)明的保護范圍并不局限于此，任何熟悉本【技術(shù)領(lǐng)域】的技術(shù)人員在本發(fā)明揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。因此，本發(fā)明的保護范圍應(yīng)以所述權(quán)利要求的保護范圍為準(zhǔn)。
【權(quán)利要求】
1.一種自耦電容檢測方法，其特征在于，包括: 通過發(fā)射端口發(fā)送發(fā)射信號，所述發(fā)射信號在預(yù)設(shè)的固定時間周期內(nèi)脈沖個數(shù)固定；通過接收端口接收所述發(fā)射信號通過負載后的第一接收信號，獲取所述第一接收信號每一個脈沖在上升沿和下降沿的采樣電壓信號的第一壓差值Vppl，所述第一接收信號在所述預(yù)設(shè)的時間周期內(nèi)脈沖個數(shù)固定； 在以后其它與所述預(yù)設(shè)的時間周期相同的檢測過程中，通過所述接收端口接收所述發(fā)射信號通過負載后的第二接收信號，獲取所述第二接收信號每一個脈沖在上升沿和下降沿的采樣電壓信號的第二壓差值Vpp2，所述第二接收信號在所述檢測過程中脈沖個數(shù)固定；在相同的所述預(yù)設(shè)的固定時間周期內(nèi)獲取所述第二壓差值Vpp2和對應(yīng)所述第一壓差值Vppl的差值電壓A V，并根據(jù)所述差值電壓AV判斷所述接收端口自耦電容的變化值A(chǔ)C； 當(dāng)所述自耦電容的變化值△ C超過預(yù)設(shè)的比較值時，判斷與所述接收端口連接的觸摸端口發(fā)生觸摸事件。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括: 預(yù)設(shè)所述發(fā)射信號的頻率及發(fā)射時長。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述在相同的所述預(yù)設(shè)的固定時間周期內(nèi)獲取所述第二壓差值Vpp2和對應(yīng)所述第一壓差值Vppl的差值電壓AV，并根據(jù)所述差值電壓AV判斷所述接收端口自耦電容的變化值A(chǔ)C具體包括: 在相同的所述預(yù)設(shè)的固定時間周期內(nèi)獲取每一個所述第二壓差`值Vpp2和對應(yīng)所述每一個所述第一壓差值Vppl的每一個差值電壓AV ； 將所述每一個差值電壓AV進行累加得到累加電壓值Vs ；` 根據(jù)所述累加電壓值Vs判斷所述接收端口自耦電容的變化值A(chǔ)C。
4.根據(jù)權(quán)利要求1~3所述的任一方法,其特征在于， 所述發(fā)射信號包括方波、三角波或正弦波。
5.一種自耦電容檢測電路，其特征在于，包括: 檢測集成電路與所述檢測集成電路連接的發(fā)射端口和接收端口，所述發(fā)射端口與所述接收端口之間連接負載，所述接收端口還連接觸摸端口，其中: 所述檢測集成電路用于通過發(fā)射端口發(fā)送發(fā)射信號，所述發(fā)射信號在預(yù)設(shè)的固定時間周期內(nèi)脈沖個數(shù)固定；通過接收端口接收所述發(fā)射信號通過負載后的第一接收信號，獲取所述第一接收信號每一個脈沖在上升沿和下降沿的采樣電壓信號的第一壓差值Vppl，所述第一接收信號在所述預(yù)設(shè)的時間周期內(nèi)脈沖個數(shù)固定；在以后其它與所述預(yù)設(shè)的時間周期相同的檢測過程中，通過所述接收端口接收所述發(fā)射信號通過負載后的第二接收信號，獲取所述第二接收信號每一個脈沖在上升沿和下降沿的采樣電壓信號的第二壓差值Vpp2，所述第二接收信號在所述預(yù)設(shè)的時間周期內(nèi)脈沖個數(shù)固定；在相同的所述預(yù)設(shè)的固定時間周期內(nèi)獲取所述第二壓差值Vpp2和對應(yīng)所述第一壓差值Vppl的差值電壓AV，并根據(jù)所述差值電壓AV判斷所述接收端口自耦電容的變化值A(chǔ)C ;當(dāng)所述自耦電容的變化值A(chǔ)C超過預(yù)設(shè)的比較值時，判斷與所述接收端口連接的觸摸端口發(fā)生觸摸事件。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的設(shè)備，其特征在于， 所述檢測集成電路還用于預(yù)設(shè)所述發(fā)射信號的頻率及發(fā)射時長。
7.根據(jù)權(quán)利要求5或6所述的設(shè)備，其特征在于， 所述測集成電路具體用于在相同的所述預(yù)設(shè)的時間周期內(nèi)獲取每一個所述第二壓差值Vpp2和對應(yīng)所述第二壓差值Vpp2的每一個所述第一壓差值Vppl的每一個差值電壓AV;將所述每一個差值電壓Λ V進行累加得到累加電壓值Vs ;根據(jù)所述累加電壓值Vs判斷所述接收端口自耦電容的變化值A(chǔ)C。
8.根據(jù) 權(quán)利要求5~7所述的任一設(shè)備，其特征在于， 所述發(fā)射信號包括方波、三角波或正弦波。
【文檔編號】G06F3/044GK103677456SQ201210332198
【公開日】2014年3月26日 申請日期:2012年9月10日 優(yōu)先權(quán)日:2012年9月10日
【發(fā)明者】劉海龍 申請人:華為終端有限公司