專利名稱：觸摸面板的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及觸摸面板，尤其涉及減少噪聲從而能夠高精度地檢測觸碰位置的觸摸面板。
背景技術(shù)：
作為能夠進行多點檢測的觸摸面板，通過排列有多個的檢測電極和在與檢測電極交叉的方向上排列有多個的掃描電極來檢測該交叉部分附近的靜電電容的共有(Mutual) 方式的靜電電容耦合型觸摸面板得到普及(參照下面記載的日本特開2005-140612號公報)。近年來，裝載觸摸面板的設備為了提高設計性而趨于薄型化，因此觸摸面板的檢測電極和作為噪聲源的顯示器的距離變近，容易受到噪聲的影響。近年來，為了實現(xiàn)進一步的薄型化，正在開發(fā)在液晶顯示器的濾色器基板上形成觸摸面板的電極的外掛(on cell)型觸摸面板。這時，檢測電極和顯示器的距離變近，并且無法設置用于減少來自顯示器的噪聲的屏蔽電極(在檢測電極和顯示器之間設置)，因此噪聲增加。如共有方式那樣檢測掃描電極和檢測電極的交叉部分附近的靜電電容的靜電電容檢測中，提出了很多用于去除該噪聲的方法。例如有以下方法，在檢測電極附近從噪聲源受到相同程度的影響的地方設置參考電極，基于由參考電極檢測出的噪聲，從各個檢測電極檢測出的結(jié)果中去除噪聲。此外，在不設置參考電極時，提出了根據(jù)同時檢測的多個電極而計算公共噪聲量，并根據(jù)該公共噪聲量從各個檢測電極檢測出的結(jié)果中去除噪聲的方式。在前述的噪聲減少方法中，設置參考電極的方法需要將參考電極設置在顯示器的有效顯示區(qū)域中，因此存在實際的觸摸面板操作區(qū)域變小的問題。此外，在參考電極的情況下，需要設為即使手指等觸碰到參考電極上也不反應而始終只檢測噪聲的結(jié)構(gòu)，因此必須重新變更觸摸面板的結(jié)構(gòu)。另一方面，在選擇一條掃描電極進行驅(qū)動，并根據(jù)與該掃描電極交叉的多個檢測電極的檢測結(jié)果來計算公共噪聲量從而去除噪聲的方式中，對多個檢測電極通過同時接觸等而輸入信號時，會把信號變化作為噪聲來消除，因此存在無法高精度地檢測觸摸位置的課題。此外，在與顯示器一體化的情況下，對檢測電極產(chǎn)生影響的噪聲的強度分布根據(jù)顯示圖案或顯示器的結(jié)構(gòu)(驅(qū)動電路的配置、驅(qū)動方式等)而不同，因此噪聲去除處理的效率降低，擔心無法高精度地進行檢測。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明為了解決上述以往技術(shù)的問題而完成，本發(fā)明的目的在于提供一種在觸摸面板中能夠有效地去除噪聲的技術(shù)。
本發(fā)明的所述以及其他的目的和新的特征會通過本說明書的敘述以及附圖而變
得清楚。簡單說明在本申請公開的發(fā)明中代表性的發(fā)明的概要如下。(1)包括多個掃描電極，設置在第1方向上；多個檢測電極，設置在與所述第1方向交叉的第2方向上；掃描電路部，將對所述多個掃描電極中的一個掃描電極輸入驅(qū)動電壓的一個檢測期間分割為η個子檢測期間，并在1 η的各個子檢測期間順序?qū)λ鲆粋€掃描電極輸入驅(qū)動電壓，其中， η ^ 2 ；電容檢測電路部，將所述多個檢測電極分割為1 η的組，使得在1 η的組中相鄰的組至少包含1條相同的檢測電極，并在所述子檢測期間中輸入來自與所述子檢測期間對應的所述組內(nèi)的各個檢測電極的信號，并檢測各個檢測電極的電容檢測信號；以及控制電路部，根據(jù)由所述電容檢測電路部檢測出的所述電容檢測信號來計算電容檢測信號變化量，并基于該計算出的所述電容檢測信號變化量，計算觸摸位置的坐標，所述控制電路部基于在所述連續(xù)的子檢測期間從所述至少1條相同的檢測電極連續(xù)檢測出的所述電容檢測信號，決定在所述連續(xù)的子檢測期間檢測出所述電容檢測信號的兩個組內(nèi)的各個檢測電極的所述電容檢測信號變化量。(2)在(1)中，在將所述連續(xù)的子檢測期間設為第k個子檢測期間和第(k+Ι)個子檢測期間時，其中，k為1 < n-1，所述掃描電路部按照所述各個掃描電極的每一個，在所述第k個子檢測期間和所述第(k+Ι)個子檢測期間，對該掃描電極輸入驅(qū)動電壓，所述電容檢測電路部在所述第k個子檢測期間輸入來自所述第k個組內(nèi)的各個檢測電極的信號， 檢測所述第k個組內(nèi)的各個檢測電極的電容檢測信號，并且在所述第(k+Ι)個子檢測期間輸入來自所述第(k+Ι)個組內(nèi)的各個檢測電極的信號，檢測所述第(k+Ι)個組內(nèi)的各個檢測電極的電容檢測信號，所述控制電路部包括第k個公共噪聲量計算部件，根據(jù)由所述電容檢測電路部檢測出的所述第k個組內(nèi)的各個檢測電極的電容檢測信號，計算所述第k個組的公共噪聲量；第k個噪聲去除部件，使用通過所述第k個公共噪聲量計算部件根據(jù)由所述電容檢測電路部檢測出的所述第k個組內(nèi)的各個檢測電極的電容檢測信號而計算出的所述第k個組的公共噪聲量，計算所述第k個組內(nèi)的各個檢測電極的噪聲去除后的電容檢測信號；第k個變化量計算部件，根據(jù)由所述第k個噪聲去除部件算出的所述第k個組內(nèi)的各個檢測電極的所述噪聲去除后的電容檢測信號，計算所述第k個組內(nèi)的各個檢測電極的電容檢測信號變化量；第(k+Ι)個公共噪聲量計算部件，根據(jù)由所述電容檢測電路部檢測出的所述第(k+Ι)個組內(nèi)的各個檢測電極的電容檢測信號，計算所述第(k+Ι)個組的公共噪聲量；第(k+Ι)個噪聲去除部件，使用通過所述第(k+Ι)個公共噪聲量計算部件根據(jù)由所述電容檢測電路部檢測出的所述第(k+Ι)個組內(nèi)的各個檢測電極的電容檢測信號而計算出的所述第(k+Ι)個組的公共噪聲量，計算所述第(k+Ι)個組內(nèi)的各個檢測電極的噪聲去除后的電容檢測信號；第(k+Ι)個變化量計算部件，根據(jù)由所述第(k+Ι)個噪聲去除部件算出的所述第(k+Ι)個組內(nèi)的各個檢測電極的所述噪聲去除后的電容檢測信號，計算所述第(k+Ι)個組內(nèi)的各個檢測電極的電容檢測信號變化量；以及變化量決定部件，比較由所述第k個變化量計算部件計算出的所述至少1條相同的檢測電極的電容檢測信號變化量和由所述第(k+Ι)個變化量計算部件計算出的所述至少1條相同的檢測電極的電容檢測信號變化量，并基于該比較結(jié)果而決定所述第k個以及第(k+Ι)個組內(nèi)的各個檢測電極的電容檢測信號變化量。
(3)在(1)或者O)中，所述靜電電容方式的觸摸面板配置在顯示面板上，所述顯示面板具有設置在第1方向上的多個視頻線。(4)在(1)中，所述靜電電容方式的觸摸面板配置在顯示面板上，所述顯示面板具有設置在第1方向上的多個視頻線，測定校正量計算期間在所述顯示面板上整個面顯示相同顏色，所述掃描電路部在所述測定校正量計算期間按照所述各個掃描電極的每一個，以第1個至第η個的順序在各個子檢測期間對該掃描電極輸入驅(qū)動電壓，所述電容檢測電路部在所述測定校正量計算期間，在第1個至第η個的子檢測期間輸入來自所述第1個至第η個組內(nèi)的各個檢測電極的信號，并檢測所述第1個至第η個組內(nèi)的各個檢測電極的電容檢測信號，所述控制電路部在所述測定校正量計算期間，計算所述各個掃描電極的所述第1個至第η個的子檢測期間的每一個并且所述第1個至第η個組內(nèi)的各個檢測電極的每一個的噪聲校正量。(5)在O)中，所述靜電電容方式的觸摸面板配置在顯示面板上，所述顯示面板具有設置在第1方向上的多個視頻線，測定校正量計算期間在所述顯示面板上整個面顯示相同顏色，所述掃描電路部在所述測定校正量計算期間按照所述各個掃描電極的每一個，以第1個至第η個的順序在各個子檢測期間對該掃描電極輸入驅(qū)動電壓，所述電容檢測電路部在所述測定校正量計算期間，在第1個至第η個的子檢測期間輸入來自所述第1個至第 η個組內(nèi)的各個檢測電極的信號，并檢測所述第1個至第η個組內(nèi)的各個檢測電極的電容檢測信號，所述控制電路部包括第k個檢測電極噪聲量計算部件，在所述測定校正量計算期間，根據(jù)由所述電容檢測電路部檢測出的所述第k個組內(nèi)的各個檢測電極的電容檢測信號，計算所述各個掃描電極的所述第k個子檢測期間的每一個并且所述第k個組內(nèi)的各個檢測電極的每一個的噪聲量；第k個校正量計算部件，根據(jù)由所述第k個檢測電極噪聲量計算部件計算出的所述各個掃描電極的所述第k個子檢測期間的每一個并且所述第k個組內(nèi)的各個檢測電極的每一個的噪聲量，計算所述各個掃描電極的所述第k個子檢測期間的每一個并且所述第k個組內(nèi)的各個檢測電極的每一個的噪聲校正量；第(k+Ι)個檢測電極噪聲量計算部件，根據(jù)由所述電容檢測電路部檢測出的所述第(k+Ι)個組內(nèi)的各個檢測電極的電容檢測信號，計算所述各個掃描電極的所述第(k+Ι)個子檢測期間的每一個并且所述第(k+Ι)個組內(nèi)的各個檢測電極的每一個的噪聲量；以及第(k+Ι)個校正量計算部件，根據(jù)由所述第(k+Ι)個檢測電極噪聲量計算部件計算出的所述各個掃描電極的所述第(k+Ι)個子檢測期間的每一個并且所述第(k+Ι)個組內(nèi)的各個檢測電極的每一個的噪聲量，計算所述各個掃描電極的所述第(k+Ι)個子檢測期間的每一個并且所述第(k+Ι)個組內(nèi)的各個檢測電極的每一個的噪聲校正量，在所述第k個噪聲去除部件中，根據(jù)由所述電容檢測電路部檢測出的所述第k個組內(nèi)的各個檢測電極的電容檢測信號，利用所述第k個組的公共噪聲量和由所述第k個校正量計算部件計算出的所述各個掃描電極的所述第k個子檢測期間的每一個并且所述第k個組內(nèi)的各個檢測電極的每一個的噪聲校正量，計算所述第k個組內(nèi)的各個檢測電極的噪聲去除后的電容檢測信號，在所述第(k+Ι)個公共噪聲量計算部件中，根據(jù)由所述電容檢測電路部檢測出的所述第(k+Ι)個組內(nèi)的各個檢測電極的電容檢測信號，利用所述第(k+Ι)個組的公共噪聲量和由所述第(k+Ι)個校正量計算部件計算出的所述各個掃描電極的所述第(k+Ι)個子檢測期間的每一個并且所述第(k+Ι)個組內(nèi)的各個檢測電極的每一個的噪聲校正量，計算所述第(k+Ι)個組內(nèi)的各個檢測電極的噪聲去除后的電容檢測信號。
簡單說明通過在本申請中公開的發(fā)明中的代表性的發(fā)明所得到的效果如下。根據(jù)本發(fā)明，在靜電電容方式的觸摸面板中，能夠有效地去除噪聲。


圖IA是表示本發(fā)明的實施例1的附帶觸摸面板的顯示器的一例的截面結(jié)構(gòu)的截面圖。圖IB是表示本發(fā)明的實施例1的附帶觸摸面板的顯示器的另一例的截面結(jié)構(gòu)的截面圖。圖2是用于說明本發(fā)明的實施例1的觸摸面板的電極形狀的平面圖。圖3是本發(fā)明的實施例1的觸摸面板的控制電路的方框圖。圖4A是用于說明本發(fā)明的實施例1的觸摸面板的動作的一例的定時圖。圖4B是用于說明本發(fā)明的實施例1的觸摸面板的動作的另一例的定時圖。圖5是用于說明本發(fā)明的實施例1的觸摸面板的控制電路的動作的流程圖。圖6是說明本發(fā)明的實施例1的觸摸面板的接觸位置的示意圖。圖7是在本發(fā)明的實施例1的觸摸面板中有圖6中圖示的輸入的情況下的、XO X5的檢測電極中檢測出的噪聲處理前的電容檢測信號的波形圖。圖8是在本發(fā)明的實施例1的觸摸面板中有圖6中圖示的輸入的情況下，以圖5 所示的流程圖去除了噪聲之后的、XO )(5的檢測電極中檢測出的噪聲處理后的電容檢測信號的波形圖。圖9是在本發(fā)明的實施例1的觸摸面板中有圖6中圖示的輸入的情況下，通過圖 5所示的流程圖算出的信號檢測值的波形圖。圖10是在本發(fā)明的實施例1的觸摸面板中有圖6中圖示的輸入的情況下的信號檢測值的分布圖。圖11是本發(fā)明的實施例2的顯示器的平面圖。圖12是用于說明本發(fā)明的實施例2的觸摸面板的電極形狀的平面圖。圖13是用于說明本發(fā)明的實施例2的觸摸面板的動作的定時圖。圖14是本發(fā)明的實施例2的觸摸面板的動作狀態(tài)圖。圖15是表示本發(fā)明的實施例2的觸摸面板的噪聲量的分布結(jié)果的圖。圖16是表示本發(fā)明的實施例2的觸摸面板的噪聲量校正值的分布結(jié)果的圖。圖17是說明本發(fā)明的實施例2的觸摸面板的控制電路的動作的流程圖。圖18是表示本發(fā)明的實施例2的顯示器的顯示圖案的一例的圖。圖19是表示通過點反轉(zhuǎn)驅(qū)動法將圖18所示的顯示圖案顯示到液晶顯示器的情況下，對圖11所示的DO Dn的視頻線施加的視頻電壓的波形和圖12所示的XO X7的檢測電極中產(chǎn)生的噪聲波形的波形圖。圖20是表示對圖11所示的DO Dn的視頻線施加的視頻電壓在驅(qū)動電路(驅(qū)動器)近端處的電壓波形和驅(qū)動電路遠端處的電壓波形、以及圖12所示的XO X7的檢測電極中產(chǎn)生的噪聲波形的波形圖。標號說明10 控制電路〔0041〕11 控制電路部
〔0〇42〕12 掃描電路部
〔0043〕13 電容檢測電路部
〔0044〕14 控制信號
^0045315 電容檢測信號
〔0〇46〕18^8觸摸面板基板
〔0〇47〕102 觸摸面板電極
〔0048〕8^81 基板
〔0〇49〕8^82 濾色器基板
〔0050〕？8^8 保護板
〔0〇51〕1X0 液晶顯示器
〔0052〕？X 像素
〔0053〕81背光
〔0054〕IX液晶層
〔0055〕？011下偏光板
〔0〇56〕？012 上偏光板
〔0〇57〕丫0 丫7 掃描電極
〔0〇58〕X。 乂5 檢測電極
〔0059〕00 011 視頻線
〔0060〕60 &1 掃描線
^00613？電容檢測電路部校正處理期間
^00623？1？2噪聲量測定校正量計算期間
〔0063〕？1？3通常檢測期間
^00643狄檢測周期
^00653181檢測期間
〔0〇66〕161掃描期間
〔0〇67〕II，I2，了3子檢測期間
〔0〇68〕81開關(guān)電路
具體實施例方式
〔0069〕以下，參照附圖詳細說明本發(fā)明的實施例。
〔0070〕另外，在用于說明實施例的所有圖中，對具有相同功能的部分附加相同標號，并省 略其重復的說明。此外，以下的實施例并非用于限定解釋本發(fā)明的權(quán)利要求書。 〔0071〕[實施例1〕
〔0072〕圖1八和圖18是表示本發(fā)明的實施例的搭載了觸摸面板的附帶觸摸面板的顯示器 的截面圖。
〔0073〕圖1八表示將觸摸面板用電極形成在與玻璃基板或？21薄膜等顯示器不同的基板
(??？^)上，并將該觸摸面板基板013皿)與液晶顯示面板進行組合的結(jié)構(gòu)。
〔0074〕圖18表示將觸摸面板電極102形成在液晶顯示面板的顯示面?zhèn)鹊臑V色器基板(SUB2)上的、顯示器一體型觸摸面板(外掛型觸摸面板)的結(jié)構(gòu)。本發(fā)明能夠應用于圖1A、 圖IB的任意結(jié)構(gòu)中。另外，在圖1A、圖IB中，液晶顯示面板由背光(BL)、TFT基板(SUBl)、液晶層(LC)、 濾色器基板(SUB》、在TFT基板(SUBl)上設置的下偏光板(POLl)、以及在濾色器基板 (SUB2)上形成的上偏光板(P0L2)構(gòu)成。此外，在圖1A、圖IB中，PSUB為保護板。圖2是用于說明本發(fā)明的實施例1的靜電電容方式的觸摸面板的電極形狀的平面圖。在本實施例中，為了與共有(Mutual)方式相對應，觸摸面板電極由用于對每一行輸入驅(qū)動電壓的掃描電極(Y0 Y7)、以及與掃描電極交叉配置且用于檢測交叉部分附近的電容的檢測電極(X0 X5)構(gòu)成。另外，在圖2中，13是電容檢測電路部，SW是開關(guān)電路。開關(guān)電路(SW)在檢測電極沒有被選擇時，對該沒有被選擇的檢測電極輸入規(guī)定的電壓 (這里為接地電壓)。圖3是本發(fā)明的實施例1的觸摸面板的控制電路的方框圖。本實施例的觸摸面板的控制電路10由驅(qū)動YO Y7的掃描電極的掃描電路部12、 檢測來自XO )(5的檢測電極的信號的電容檢測電路部13、以及控制電路部11構(gòu)成，其中， 控制電路部11基于控制信號14來控制掃描電路部12和電容檢測電路部13的動作，并且根據(jù)來自電容檢測電路部13的電容檢測信號15來計算觸摸面板的觸摸位置(輸入坐標)， 從而輸出到上位系統(tǒng)，或者，接受來自上位系統(tǒng)的信號并控制各個電路的動作。圖4A、圖4B是用于說明本發(fā)明的實施例1的觸摸面板的動作的定時圖。例如，在具有圖2所示的電極形狀的靜電電容方式的觸摸面板的以往的驅(qū)動方法中，在檢測周期TA內(nèi)，對YO Y7的掃描電極依次在TB的一個檢測期間輸入驅(qū)動電壓，并基于XO X5的檢測電極中檢測出的電容檢測信號，檢測觸摸面板上的觸摸位置。在本實施例中，將一個檢測期間(TB)分割為n(n彡2)個子檢測期間(Tl、T2)并以時分割方式進行檢測。這時，將XO )(5的檢測電極分割為η個組，使得在連續(xù)的子檢測期間，從至少1條相同的檢測電極(在圖2中為Χ2的檢測電極)連續(xù)地檢測出電容檢測信號。在圖4Α的情況下，將XO )(5的檢測電極分為XO Χ2的檢測電極和Χ2 )(5的檢測電極的兩個組，在第1個子檢測期間(Tl)的檢測和第2個子檢測期間(1 的檢測中， 在X2的檢測電極中公共地進行檢測。這里，檢測電極的分割數(shù)目是任意的。此外，分割方法也是任意的，也可以如圖4B 那樣分割為3個檢測電極的組。在圖4B的情況下，將XO X5的檢測電極分為(X0, X2，X4)的檢測電極、(X0, X3， X5)的檢測電極、(XI，X3，X5)的檢測電極的3個組，在第1個子檢測期間Tl的檢測和第2 個子檢測期間T2的檢測中，在XO的檢測電極中公共地進行檢測，在第2個子檢測期間T2 的檢測和第3個子檢測期間T3的檢測中，在(X3，XQ的檢測電極中公共地進行檢測。此外，如圖2所示，在子檢測期間不是檢測對象的檢測電極通過開關(guān)元件SW設為接地電位，因此在圖4Β的情況下，成為檢測對象的檢測電極的周邊的檢測電極成為固定電位，因此不易受到來自顯示器的噪聲影響，還能夠期待檢測精度提高的效果。
圖5是用于說明本實施例的觸摸面板的控制電路10的動作的流程圖。以下，使用圖5說明本實施例的觸摸面板的控制電路的動作。另外，圖5的處理由圖3的控制電路部11執(zhí)行。此外，圖5的處理中作為前提的觸摸面板為圖2所示的觸摸面板。此外，在的掃描電極的一個檢測期間內(nèi)的、第1個子檢測期間Tl和第2個子檢測期間T2中的檢測結(jié)束之后，執(zhí)行圖5的處理。步驟101的處理1計算在的掃描電極的第1個子檢測期間Tl中檢測出的電容檢測信號S_ XO (Yn_l)、S_X1 (Yn_l)、S_X2 (Υη_1)中的第1個子檢測期間Tl的公共噪聲量NS_CMP1。步驟102的處理2計算利用S_X0 (Yn_l)、S_X1 (Yn_l)、S_X2 (Υη_1)的公共噪聲量 NS_CMP1 去除了噪聲的噪聲去除后的電容檢測信號S_X0 (Yn_l)，、S_X1 (Yn_l)，、S_X2 (Yn_l)，。步驟103的處理3根據(jù)噪聲去除后的電容檢測信號，計算在的掃描電極的第1個子檢測期間Tl中檢測出的、(Χ0，XI，Χ2)的檢測電極的電容檢測信號變化量AS_X0(Yn_l)、Δ S_ Xl (Yn_l)、ΔS_X2(Υη_1)。步驟104的處理4計算在的掃描電極的第2個子檢測期間Τ2中檢測出的電容檢測信號S_ X2 (Yn_2)、S_X3 (Yn_2)、S_X4 (Υη_2)、S_X5 (Υη_2)的第 2 個子檢測期間 Τ2 的公共噪聲量 NS_ CMP2。步驟105的處理5計算利用S_X2 (Yn_2)、S_X3 (Yn_2)、S_X4 (Υη_2)、S_X5 (Υη_2)的公共噪聲量 NS_ CMP2去除了噪聲的噪聲去除后的電容檢測信號S_X2 (Yn_2) ’、S_X3 (Yn_2) ’、S_X4 (Yn_2) ’、 S_X5(Yn_2)，。步驟106的處理6根據(jù)噪聲去除后的電容檢測信號，計算在的掃描電極的第2個子檢測期間 Τ2中檢測出的、(Χ2，Χ3，Χ4，Χ5)的檢測電極的電容檢測信號變化量Δ S_X2 (Υη_2)、Δ S_ Χ3 (Υη_2)、ΔS_X4(Υη_2)、ΔS_X5(Υη_2)。步驟107的判斷1判斷Χ2的檢測電極的電容檢測信號變化量的差是否小于某一閾值ERR_TH，即，是否滿足 I AS_X2(Yn_2)-AS_X2(Yn_l) | < Err_Th。步驟108的處理7在步驟107的判斷1中的判斷結(jié)果為“是”的情況下，采用表1所示的情況 (case) 1，作為的掃描電極中的XO )(5的檢測電極的信號檢測值(SC_X0 (Yl)，SC_ Xl (Yl)，SC_X2(Yl)，SC_X3 (Yl)，SC_X4(Yl)，SC_X5(Yl))，采用 ΔS_X0(Υη_1)、Δ S_ Xl (Υη_1)、Δ S_X2 (Υη_1)、Δ S_X3 (Υη_2)、Δ S_X4 (Υη_2)、Δ S_X5 (Υη_2)。另夕卜，也可以采用 AS_X2(Yn_2)作為X2的檢測電極的信號檢測值。[表1]
權(quán)利要求
1.一種靜電電容方式的觸摸面板，其特征在于，包括 多個掃描電極，設置在第1方向上；多個檢測電極，設置在與所述第1方向交叉的第2方向上；掃描電路部，將對所述多個掃描電極中的一個掃描電極輸入驅(qū)動電壓的一個檢測期間分割為η個子檢測期間，并在1 η的各個子檢測期間按順序?qū)λ鲆粋€掃描電極輸入驅(qū)動電壓，其中，η彡2 ；電容檢測電路部，將所述多個檢測電極分割為1 η的組，使得在1 η的組中相鄰的組至少包含1條相同的檢測電極，并在所述子檢測期間中輸入來自與所述子檢測期間對應的所述組內(nèi)的各個檢測電極的信號，并檢測各個檢測電極的電容檢測信號；以及控制電路部，根據(jù)由所述電容檢測電路部檢測出的所述電容檢測信號來計算電容檢測信號變化量，并基于該計算出的所述電容檢測信號變化量，計算觸摸位置的坐標，所述控制電路部基于在所述連續(xù)的子檢測期間從所述至少1條相同的檢測電極連續(xù)檢測出的所述電容檢測信號，決定在所述連續(xù)的子檢測期間檢測出所述電容檢測信號的兩個組內(nèi)的各個檢測電極的所述電容檢測信號變化量。
2.如權(quán)利要求1所述的觸摸面板，其特征在于，在將所述連續(xù)的子檢測期間設為第k個子檢測期間和第(k+Ι)個子檢測期間時，其中， k為1彡k彡n-1,所述掃描電路部按照所述各個掃描電極的每一個，在所述第k個子檢測期間和所述第 (k+Ι)個子檢測期間，對該掃描電極輸入驅(qū)動電壓，所述電容檢測電路部在所述第k個子檢測期間輸入來自所述第k個組內(nèi)的各個檢測電極的信號，檢測所述第k個組內(nèi)的各個檢測電極的電容檢測信號，并且在所述第(k+Ι)個子檢測期間輸入來自所述第(k+Ι)個組內(nèi)的各個檢測電極的信號，檢測所述第(k+Ι)個組內(nèi)的各個檢測電極的電容檢測信號， 所述控制電路部包括第k個公共噪聲量計算部件，根據(jù)由所述電容檢測電路部檢測出的所述第k個組內(nèi)的各個檢測電極的電容檢測信號，計算所述第k個組的公共噪聲量；第k個噪聲去除部件，使用通過所述第k個公共噪聲量計算部件根據(jù)由所述電容檢測電路部檢測出的所述第k個組內(nèi)的各個檢測電極的電容檢測信號而計算出的所述第k個組的公共噪聲量，計算所述第k個組內(nèi)的各個檢測電極的噪聲去除后的電容檢測信號；第k個變化量計算部件，根據(jù)由所述第k個噪聲去除部件計算出的所述第k個組內(nèi)的各個檢測電極的所述噪聲去除后的電容檢測信號，計算所述第k個組內(nèi)的各個檢測電極的電容檢測信號變化量；第(k+Ι)個公共噪聲量計算部件，根據(jù)由所述電容檢測電路部檢測出的所述第(k+1) 個組內(nèi)的各個檢測電極的電容檢測信號，計算所述第(k+Ι)個組的公共噪聲量；第(k+Ι)個噪聲去除部件，使用通過所述第(k+Ι)個公共噪聲量計算部件根據(jù)由所述電容檢測電路部檢測出的所述第(k+Ι)個組內(nèi)的各個檢測電極的電容檢測信號而計算出的所述第(k+Ι)個組的公共噪聲量，計算所述第(k+Ι)個組內(nèi)的各個檢測電極的噪聲去除后的電容檢測信號；第(k+Ι)個變化量計算部件，根據(jù)由所述第(k+Ι)個噪聲去除部件計算出的所述第(k+Ι)個組內(nèi)的各個檢測電極的所述噪聲去除后的電容檢測信號，計算所述第(k+Ι)個組內(nèi)的各個檢測電極的電容檢測信號變化量；以及變化量決定部件，比較由所述第k個變化量計算部件計算出的所述至少1條相同的檢測電極的電容檢測信號變化量和由所述第(k+Ι)個變化量計算部件計算出的所述至少 1條相同的檢測電極的電容檢測信號變化量，并基于該比較結(jié)果而決定所述第k個以及第 (k+Ι)個組內(nèi)的各個檢測電極的電容檢測信號變化量。
3.如權(quán)利要求2所述的觸摸面板，其特征在于，所述第k個組內(nèi)的各個檢測電極的電容檢測信號變化量是以沒有觸碰所述觸摸面板時的、所述第k個組內(nèi)的各個檢測電極的噪聲去除后的電容檢測信號為基準值而計算，所述第(k+Ι)個組內(nèi)的各個檢測電極的電容檢測信號變化量是以沒有觸碰所述觸摸面板時的、所述第(k+Ι)個組內(nèi)的各個檢測電極的噪聲去除后的電容檢測信號為基準值而計算。
4.如權(quán)利要求2所述的觸摸面板，其特征在于，所述第k個組的公共噪聲量是所述第k個組內(nèi)的各個檢測電極的電容檢測信號的最小值或平均值，或者中間值，所述第(k+Ι)個組的公共噪聲量是所述第(k+Ι)個組內(nèi)的各個檢測電極的電容檢測信號的最小值或平均值，或者中間值。
5.如權(quán)利要求2所述的觸摸面板，其特征在于，所述第k個噪聲去除部件從由所述電容檢測電路部檢測出的所述第k個組內(nèi)的各個檢測電極的電容檢測信號中去除由所述第k個公共噪聲量計算部件計算出的所述第k個組的公共噪聲量，計算所述第k個組內(nèi)的各個檢測電極的噪聲去除后的電容檢測信號，所述第(k+Ι)個噪聲去除部件從由所述電容檢測電路部檢測出的所述第(k+Ι)個組內(nèi)的各個檢測電極的電容檢測信號中去除由所述第(k+Ι)個公共噪聲量計算部件計算出的所述第(k+Ι)個組的公共噪聲量，計算所述第(k+Ι)個組內(nèi)的各個檢測電極的噪聲去除后的電容檢測信號。
6.如權(quán)利要求2所述的觸摸面板，其特征在于，在將由所述第k個變化量計算部件計算出的所述至少1條相同的檢測電極的電容檢測信號變化量設為A，將由所述第(k+Ι)個變化量計算部件計算出的所述至少1條相同的檢測電極的電容檢測信號變化量設為B，將Th設為規(guī)定的閾值時，所述變化量決定部件，在滿足|A-B| STh時，對所述第k個組內(nèi)的各個檢測電極的電容檢測信號變化量以及所述第(k+Ι)個組內(nèi)的各個檢測電極的電容檢測信號變化量不進行校正，在滿足|A-B| > Th時，校正所述第k個組內(nèi)的各個檢測電極的電容檢測信號變化量或者所述第(k+Ι)個組內(nèi)的各個檢測電極的電容檢測信號變化量。
7.如權(quán)利要求6所述的觸摸面板，其特征在于，所述變化量決定部件，在滿SA > B時，不校正所述第k個組內(nèi)的各個檢測電極的電容檢測信號變化量，而在所述第(k+Ι)個組內(nèi)，丟棄所述至少1條相同的檢測電極的電容檢測信號變化量，并且對所述至少1條相同的檢測電極以外的各個檢測電極的電容檢測信號變化量加上A的值，在滿足A < B時，不校正所述第(k+Ι)個組內(nèi)的各個檢測電極的電容檢測信號變化量， 而在所述第k個組內(nèi)，丟棄所述至少1條相同的檢測電極的電容檢測信號變化量，并且對所述至少1條相同的檢測電極以外的各個檢測電極的電容檢測信號變化量加上B的值。
8.如權(quán)利要求1所述的觸摸面板，其特征在于， 所述靜電電容方式的觸摸面板配置在顯示面板上， 所述顯示面板具有設置在第1方向上的多個視頻線。
9.如權(quán)利要求1所述的觸摸面板，其特征在于， 所述靜電電容方式的觸摸面板配置在顯示面板上， 所述顯示面板具有設置在第1方向上的多個視頻線， 測定校正量計算期間在所述顯示面板上整個面顯示相同顏色，所述掃描電路部在所述測定校正量計算期間按照所述各個掃描電極的每一個，以第1 個至第η個的順序在各個子檢測期間對該掃描電極輸入驅(qū)動電壓，所述電容檢測電路部在所述測定校正量計算期間，在第1個至第η個的子檢測期間輸入來自所述第1個至第η個組內(nèi)的各個檢測電極的信號，并檢測所述第1個至第η個組內(nèi)的各個檢測電極的電容檢測信號，所述控制電路部在所述測定校正量計算期間，計算所述各個掃描電極的所述第1個至第η個的子檢測期間的每一個并且所述第1個至第η個組內(nèi)的各個檢測電極的每一個的噪聲校正量。
10.如權(quán)利要求2所述的觸摸面板，其特征在于， 所述靜電電容方式的觸摸面板配置在顯示面板上， 所述顯示面板具有設置在第1方向上的多個視頻線， 測定校正量計算期間在所述顯示面板上整個面顯示相同顏色，所述掃描電路部在所述測定校正量計算期間按照所述各個掃描電極的每一個，以第1 個至第η個的順序在各個子檢測期間對該掃描電極輸入驅(qū)動電壓，所述電容檢測電路部在所述測定校正量計算期間，在第1個至第η個的子檢測期間輸入來自所述第1個至第η個組內(nèi)的各個檢測電極的信號，并檢測所述第1個至第η個組內(nèi)的各個檢測電極的電容檢測信號， 所述控制電路部包括第k個檢測電極噪聲量計算部件，在所述測定校正量計算期間，根據(jù)由所述電容檢測電路部檢測出的所述第k個組內(nèi)的各個檢測電極的電容檢測信號，計算所述各個掃描電極的所述第k個子檢測期間的每一個并且所述第k個組內(nèi)的各個檢測電極的每一個的噪聲量；第k個校正量計算部件，根據(jù)由所述第k個檢測電極噪聲量計算部件計算出的所述各個掃描電極的所述第k個子檢測期間的每一個并且所述第k個組內(nèi)的各個檢測電極的每一個的噪聲量，計算所述各個掃描電極的所述第k個子檢測期間的每一個并且所述第k個組內(nèi)的各個檢測電極的每一個的噪聲校正量；第(k+Ι)個檢測電極噪聲量計算部件，根據(jù)由所述電容檢測電路部檢測出的所述第 (k+Ι)個組內(nèi)的各個檢測電極的電容檢測信號，計算所述各個掃描電極的所述第(k+Ι)個子檢測期間的每一個并且所述第(k+Ι)個組內(nèi)的各個檢測電極的每一個的噪聲量；以及第(k+Ι)個校正量計算部件，根據(jù)由所述第(k+Ι)個檢測電極噪聲量計算部件計算出的所述各個掃描電極的所述第(k+Ι)個子檢測期間的每一個并且所述第(k+Ι)個組內(nèi)的各個檢測電極的每一個的噪聲量，計算所述各個掃描電極的所述第(k+Ι)個子檢測期間的每一個并且所述第(k+Ι)個組內(nèi)的各個檢測電極的每一個的噪聲校正量，在所述第k個噪聲去除部件中，根據(jù)由所述電容檢測電路部檢測出的所述第k個組內(nèi)的各個檢測電極的電容檢測信號，利用所述第k個組的公共噪聲量和由所述第k個校正量計算部件計算出的所述各個掃描電極的所述第k個子檢測期間的每一個并且所述第k個組內(nèi)的各個檢測電極的每一個的噪聲校正量，計算所述第k個組內(nèi)的各個檢測電極的噪聲去除后的電容檢測信號，在所述第(k+Ι)個公共噪聲量計算部件中，根據(jù)由所述電容檢測電路部檢測出的所述第(k+Ι)個組內(nèi)的各個檢測電極的電容檢測信號，利用所述第(k+Ι)個組的公共噪聲量和由所述第(k+Ι)個校正量計算部件計算出的所述各個掃描電極的所述第(k+Ι)個子檢測期間的每一個并且所述第(k+Ι)個組內(nèi)的各個檢測電極的每一個的噪聲校正量，計算所述第 (k+Ι)個組內(nèi)的各個檢測電極的噪聲去除后的電容檢測信號。
11.如權(quán)利要求10所述的觸摸面板，其特征在于，對所述各個掃描電極的所述第k個子檢測期間的每一個并且所述第k個組內(nèi)的各個檢測電極的每一個計算出的噪聲量是，由所述電容檢測電路部檢測出的從所述第k個組內(nèi)的各個檢測電極檢測出的電容檢測信號的最大值、最小值或者平均值，對所述各個掃描電極的所述第(k+Ι)個子檢測期間的每一個并且所述第(k+Ι)個組內(nèi)的各個檢測電極的每一個計算出的噪聲量是，從所述第(k+Ι)個組內(nèi)的各個檢測電極檢測出的電容檢測信號的最大值、最小值或者平均值。
12.如權(quán)利要求10所述的觸摸面板，其特征在于，對所述各個掃描電極的所述第k個子檢測期間的每一個并且所述第k個組內(nèi)的各個檢測電極的每一個計算出的噪聲校正量是，與對所述各個掃描電極的所述第k個子檢測期間的每一個并且所述第k個組內(nèi)的各個檢測電極的每一個計算出的噪聲量成比例的值，對所述各個掃描電極的所述第(k+Ι)個子檢測期間的每一個并且所述第(k+Ι)個組內(nèi)的各個檢測電極的每一個計算出的噪聲校正量是，與對所述各個掃描電極的所述第(k+1) 個子檢測期間的每一個并且所述第(k+Ι)個組內(nèi)的各個檢測電極的每一個計算出的噪聲量成比例的值。
13.如權(quán)利要求10所述的觸摸面板，其特征在于，在所述第k個變化量計算部件中，從由所述電容檢測電路部檢測出的所述第k個組內(nèi)的各個檢測電極的電容檢測信號，去除所述第k個組的公共噪聲量和由所述第k個校正量計算部件計算出的所述各個掃描電極的所述第k個子檢測期間的每一個并且所述第k個組內(nèi)的各個檢測電極的每一個的噪聲校正量，計算所述第k個組內(nèi)的各個檢測電極的噪聲去除后的電容檢測信號，在所述第(k+Ι)個變化量計算部件中，從由所述電容檢測電路部檢測出的所述第 (k+Ι)個組內(nèi)的各個檢測電極的電容檢測信號，去除所述第(k+Ι)個組的公共噪聲量和由所述第(k+Ι)個校正量計算部件計算出的所述各個掃描電極的所述第(k+Ι)個子檢測期間的每一個并且所述第(k+Ι)個組內(nèi)的各個檢測電極的每一個的噪聲校正量，計算所述第(k+1)個組內(nèi)的各個檢測電極的噪聲去除后的電容檢測信號。
全文摘要
本發(fā)明提供觸摸面板。包括掃描電路部，對各個掃描電極的每一個，以第1至第n個的順序在各子檢測期間對該掃描電極輸入驅(qū)動電壓；電容檢測電路部，在第1至第n個子檢測期間輸入來自第1至第n個組內(nèi)的各檢測電極的信號，檢測第1至第n個組內(nèi)的各檢測電極的電容檢測信號；以及控制電路部，控制掃描電路部和電容檢測電路部，根據(jù)由電容檢測電路部檢測的多個檢測電極的電容檢測信號計算電容檢測信號變化量，基于多個檢測電極的電容檢測信號變化量計算觸摸位置的坐標，控制電路部基于在連續(xù)的子檢測期間從至少1條相同的檢測電極連續(xù)檢測的電容檢測信號，決定在連續(xù)的子檢測期間檢測出電容檢測信號的兩個組內(nèi)的各檢測電極的電容檢測信號變化量。
文檔編號G06F3/044GK102486708SQ201110393600
公開日2012年6月6日 申請日期2011年12月1日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月1日
發(fā)明者萬場則夫, 土井宏治 申請人:株式會社日立顯示器