專利名稱：調(diào)試接口電路和具有該調(diào)試接口電路的電子裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種電路，尤其涉及一種調(diào)試接口電路和具有該調(diào)試接口電路的電子
直
背景技術(shù)：
芯片在出廠前都需要進(jìn)行調(diào)試。在調(diào)試過程常見的是利用裝載有調(diào)試數(shù)據(jù)的調(diào)試裝置通過調(diào)試接口對芯片進(jìn)行調(diào)試。其中，業(yè)界通常采用RS232接口作為調(diào)試(Debug)接然而，調(diào)試接口在調(diào)試過程中，經(jīng)常帶電插拔，而帶電插拔的動作很容易使與該調(diào)試接口連接的芯片受到靜電的沖擊，造成電子裝置上的芯片的損壞。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，有必要提供一種具有芯片保護(hù)功能的調(diào)試接口電路。有鑒于此，有必要提供一種具有芯片保護(hù)功能的電子裝置。本發(fā)明提供一種調(diào)試接口電路，該調(diào)試接口電路連接于芯片和調(diào)試裝置之間。該調(diào)試裝置通過該調(diào)試接口電路對該芯片進(jìn)行調(diào)試。該調(diào)試接口電路包括接口，該接口包括與該芯片可分離地連接的輸入端和輸出端。該調(diào)試裝置用于通過該輸入端將數(shù)據(jù)發(fā)送給該芯片，以及通過該輸入端接收該芯片發(fā)送的數(shù)據(jù)。該調(diào)試接口電路還包括一第一壓敏電阻和一第二壓敏電阻。該第一壓敏電阻的一端與該接口的輸出端連接，該第一壓敏電阻的另一端與地連接。該第二壓敏電阻的一端與該接口的輸入端連接，該第二壓敏電阻的另一端與地連接。另外，本發(fā)明還提供一種電子裝置，其包括芯片和與該芯片連接的調(diào)試接口電路。 該調(diào)試接口電路用于與一外部調(diào)試裝置連接以對該芯片進(jìn)行調(diào)試。該調(diào)試接口電路包括與該芯片相連接的接口。該接口包括輸入端和輸出端。該調(diào)試裝置通過該輸出端將數(shù)據(jù)發(fā)送給該芯片，以及通過該輸入端接收該芯片發(fā)送的數(shù)據(jù)。該調(diào)試接口電路還包括一第一壓敏電阻和一第二壓敏電阻。該第一壓敏電阻的一端與該接口的輸出端連接，該第一壓敏電阻的另一端與地連接。該第二壓敏電阻的一端與該接口的輸入端連接，該第二壓敏電阻的另一端與地連接。上述調(diào)試接口電路及具有該調(diào)試接口電路的電子裝置，通過在該接口的輸出端與地之間串聯(lián)連接該第一壓敏電阻、在該接口的輸入端與地之間串聯(lián)連接該第二壓敏電阻， 從而達(dá)到減少調(diào)試過程中靜電電流對該芯片的沖擊，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)對該芯片的保護(hù)。


圖1為本發(fā)明電子裝置第一實(shí)施方式的電路結(jié)構(gòu)示意圖。圖2為本發(fā)明電子裝置第二實(shí)施方式的電路結(jié)構(gòu)示意圖。主要元件符號說明
電子裝置100、300調(diào)試接口電路10、20接口11、21芯片12、22第一壓敏電阻14、28第二壓敏電阻16、30輸入端114、122、214、222輸出端112、124、212、224調(diào)試裝置200、400第一電流控制單元24第二電流控制單元26電阻R1、R具體實(shí)施例方式請參閱圖1，其為本發(fā)明電子裝置第一實(shí)施方式的電路結(jié)構(gòu)示意圖。該電子裝置 100包括一調(diào)試接口電路10和一與該調(diào)試接口電路連接的芯片12。該電子裝置100通過該調(diào)試接口電路10與一調(diào)試裝置200連接，以使該調(diào)試裝置200通過該調(diào)試接口電路10 對芯片12進(jìn)行調(diào)試。該調(diào)試裝置200可以為裝載有調(diào)試數(shù)據(jù)的計算機(jī)。該調(diào)試接口電路10包括一接口 11、一第一壓敏電阻14、一第二壓敏電阻16。該接口 11包括一輸出端112和一輸入端114。該芯片12包括一輸入端122和一輸出端124。 該接口 11的輸出端112與該芯片12的輸入端122連接。該接口 11的輸入端114與該芯片12的輸出端124連接。該第一壓敏電阻14的一端與該輸出端112連接，該第一壓敏電阻14的另一端與地連接。該第二壓敏電阻16的一端與該輸入端114連接，該第二壓敏電阻16的另一端與地連接。該接口 11用作調(diào)試接口，例如，RS232接口。該調(diào)試裝置200通過該輸出端112發(fā)送數(shù)據(jù)給該芯片12和通過該輸入端114接收該芯片12發(fā)送的數(shù)據(jù)。該第一壓敏電阻14 和該第二壓敏電阻16用于當(dāng)該接口 11受到靜電瞬間產(chǎn)生的高電壓的沖擊時，將靜電電流導(dǎo)入到地，從而防止該芯片12受到靜電電流的沖擊，避免芯片12的損壞。當(dāng)技術(shù)人員采用該調(diào)試裝置200對該電子裝置100進(jìn)行調(diào)試時，該接口 11在未受到任何大電壓的沖擊而處于正常的工作狀態(tài)下，該第一壓敏電阻14和該第二壓敏電阻16 都處于高阻抗?fàn)顟B(tài)，其所在的電路相當(dāng)于斷路，因此，該第一壓敏電阻14和該 第二壓敏電阻16并不影響該電子裝置100的正常工作。當(dāng)該接口 11受到瞬間的大電壓(如如線路發(fā)生短路導(dǎo)致電壓急劇增大、靜電瞬間產(chǎn)生的高電壓等)時，該第一壓敏電阻14和該第二壓敏電阻16由于其特有的性能而使電阻變低，從而使流經(jīng)該第一壓敏電阻14和該第二壓敏電阻16的電流增大，最終經(jīng)接地端釋放。因此，該第一壓敏電阻14和該第二壓敏電阻16能削弱靜電瞬間產(chǎn)生的電流，防止該芯片12受到靜電電流的沖擊，避免芯片12的損壞。綜上所述，本發(fā)明電子裝置100的調(diào)試接口電路10由于具有設(shè)置在該接口 11的輸出端112與地之間的該第一壓敏電阻14、以及設(shè)置在該接口 11的輸入端114與地之間的該第二壓敏電阻16，從而減少靜電電流對該電子裝置100的芯片12沖擊，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)對該芯片12的保護(hù)。請參閱圖2，其 為本發(fā)明電子裝置第二實(shí)施方式的電路結(jié)構(gòu)示意圖。該電子裝置 300與第一實(shí)施方式的電子裝置100的結(jié)構(gòu)大致相同，其主要區(qū)別在于該電子裝置300的調(diào)試接口電路20進(jìn)一步包括一第一電流控制單元24和一第二電流控制單元26。該第一電流控制單元24串聯(lián)連接于芯片22的輸入端222與接口 21的輸出端212之間，用于控制該接口 21的輸出端212與該芯片22的輸入端222之間的電流。該第二電流控制單元26串聯(lián)連接于該芯片22的輸出端224與該接口 21的輸入端214之間，用于控制該接口 21的輸入端214與該芯片22的輸出端224之間的電流。通過控制該接口 21的輸出端212與該芯片22的輸入端222之間的電流、及該接口 21的輸入端214與該芯片22的輸出端224之間的電流，進(jìn)而使得由該接口 21的輸出端212所輸出的數(shù)據(jù)和由該芯片22的輸出端224所輸出的數(shù)據(jù)在傳輸過程中彼此之間的電磁干擾(ElectroMagnetic Interference, EMI)較小。該第一電流控制單元24包括一電阻Rl，該電阻Rl串聯(lián)連接于該芯片22的輸入端222與該接口 21的輸出端212之間。通過調(diào)整該電阻Rl的阻值，以控制該接口 21的輸出端212與該芯片22的輸入端222之間的電流。進(jìn)一步地，該第二電流控制單元26包括一電阻R2，該電阻R2串聯(lián)連接于該芯片22的輸出端224于該接口 21的輸入端214之間。 通過調(diào)整該電阻R2的阻值，以控制該接口 21的輸入端214與該芯片22的輸出端224之間的電流。當(dāng)技術(shù)人員采用一調(diào)試裝置400對該電子裝置300進(jìn)行調(diào)試時，該接口 21在未受到任何大電壓的沖擊而處于正常的工作狀態(tài)下，該第一壓敏電阻28和該第二壓敏電阻30 都處于高阻抗?fàn)顟B(tài)，其所在的電路相當(dāng)于斷路，因此，該第一壓敏電阻28和該第二壓敏電阻30并不影響該電子裝置300的正常工作。當(dāng)該接口 21受到瞬間的大電壓時，該第一壓敏電阻28和該第二壓敏電阻30由于其特有的性能而使電阻變低，從而使流經(jīng)該第一壓敏電阻28和該第二壓敏電阻30的電流增大，最終經(jīng)接地端釋放。因此，該第一壓敏電阻28和該第二壓敏電阻30能削弱靜電瞬間產(chǎn)生的電流，防止該芯片22受到靜電電流的沖擊，避免芯片22的損壞。由上述可知，本發(fā)明電子裝置300的調(diào)試接口電路20由于進(jìn)一步包括該第一電流控制單元24和該第二電流控制單元26，從而使得該接口 21的輸出端212所輸出的數(shù)據(jù)和該芯片22的輸出端224所輸出的數(shù)據(jù)在傳輸過程中彼此之間的電磁干擾較小。進(jìn)而，最終保證該芯片22所存儲的數(shù)據(jù)的正確性。上述調(diào)試接口電路20還可以不設(shè)置于電子裝置中，而是一獨(dú)立的模塊。從而對于不同的電子裝置，都可以通過同一獨(dú)立的調(diào)試接口電路來實(shí)現(xiàn)調(diào)試裝置對不同的電子裝置中的芯片的調(diào)試。另外，使用獨(dú)立的調(diào)試接口電路還可以節(jié)省電子裝置的成本。本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)認(rèn)識到，以上的實(shí)施方式僅是用來說明本發(fā)明， 而并非用作為對本發(fā)明的限定，只要在本發(fā)明的實(shí)質(zhì)精神范圍之內(nèi)，對以上實(shí)施例所作的適當(dāng)改變和變化都落在本發(fā)明要求保護(hù)的范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種調(diào)試接口電路，該調(diào)試接口電路連接于芯片和調(diào)試裝置之間，該調(diào)試裝置通過該調(diào)試接口電路對該芯片進(jìn)行調(diào)試，該調(diào)試接口電路包括接口，該接口包括與該芯片能夠分離地連接的輸入端和輸出端，該調(diào)試裝置用于通過該輸入端將數(shù)據(jù)發(fā)送給該芯片，以及通過該輸入端接收該芯片發(fā)送的數(shù)據(jù)，其特征在于該調(diào)試接口電路還包括一第一壓敏電阻和一第二壓敏電阻，該第一壓敏電阻的一端與該接口的輸出端連接，該第一壓敏電阻的另一端與地連接，該第二壓敏電阻的一端與該接口的輸入端連接，該第二壓敏電阻的另一端與地連接。
2.如權(quán)利要求1所述的調(diào)試接口電路，其特征在于該調(diào)試接口電路進(jìn)一步包括一第一電流控制單元和一第二電流控制單元，該第一電流控制單元的一端與該接口的輸出端連接，該第一電流控制單元的另一端用于與該芯片連接，該第一電流控制單元用于控制該接口的輸出端與該芯片之間的電流，該第二電流控制單元的一端與該接口的輸入端連接，該第二電流控制單元的另一端用于與該芯片連接，該第二電流控制單元用于控制該接口的輸入端與該芯片之間的電流。
3.如權(quán)利要求2所述的調(diào)試接口電路，其特征在于該第一電流控制單元包括一與該接口的輸出端相連接的電阻，該第二電流控制單元包括一與該接口的輸入端相連接的電阻，該第一電流控制單元的電阻的一端與該接口的輸出端連接，該第一電流控制單元的電阻的另一端用于與該芯片連接，該第二電流控制單元的電阻的一端與該接口的輸入端連接，該第二電流控制單元的電阻的另一端用于與該芯片連接。
4.如權(quán)利要求1所述的調(diào)試接口電路，其特征在于該接口為RS232接口。
5.一種電子裝置，其包括芯片和與該芯片連接的調(diào)試接口電路，該調(diào)試接口電路用于與一外部調(diào)試裝置連接以對該芯片進(jìn)行調(diào)試，該調(diào)試接口電路包括與該芯片相連接的接口，該接口包括輸入端和輸出端，該調(diào)試裝置通過該輸出端將數(shù)據(jù)發(fā)送給該芯片，以及通過該輸入端接收該芯片發(fā)送的數(shù)據(jù)，其特征在于該調(diào)試接口電路還包括一第一壓敏電阻和一第二壓敏電阻，該第一壓敏電阻的一端與該接口的輸出端連接，該第一壓敏電阻的另一端與地連接，該第二壓敏電阻的一端與該接口的輸入端連接，該第二壓敏電阻的另一端與地連接。
6.如權(quán)利要求5所述的電子裝置，其特征在于該調(diào)試接口電路進(jìn)一步包括一第一電流控制單元和一第二電流控制單元，該第一電流控制單元連接于該芯片與該接口的輸出端之間，用于控制該接口的輸出端與該芯片之間的電流，該第二電流控制單元連接于該芯片與該接口的輸入端之間，用于控制該接口的輸入端與該芯片之間的電流。
7.如權(quán)利要求6所述的電子裝置，其特征在于該第一電流控制單元包括一串聯(lián)連接于該芯片與該接口的輸出端之間的電阻，該第二電流控制單元包括一串聯(lián)連接于該芯片與該接口的輸入端之間的電阻。
8.如權(quán)利要求7所述的電子裝置，其特征在于該芯片包括一輸入端和一輸出端，該接口的輸出端與該芯片的輸入端連接，該接口的輸入端與該芯片的輸出端連接，該第一電流控制單元的電阻串聯(lián)連接于該芯片的輸入端與該接口的輸出端之間，該第二電流控制單元的電阻串聯(lián)連接于該芯片的輸出端與該接口的輸入端之間。
9.如權(quán)利要求5所述的電子裝置，其特征在于該接口為RS232接口。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種調(diào)試接口電路。該調(diào)試接口電路連接于芯片和調(diào)試裝置之間。該調(diào)試裝置通過該調(diào)試接口電路對該芯片進(jìn)行調(diào)試。該調(diào)試接口電路包括接口，該接口包括與該芯片可分離地連接的輸入端和輸出端。該調(diào)試裝置用于通過該輸入端將數(shù)據(jù)發(fā)送給該芯片，以及通過該輸入端接收該芯片發(fā)送的數(shù)據(jù)。該調(diào)試接口電路還包括一第一壓敏電阻和一第二壓敏電阻。該第一壓敏電阻的一端與該接口的輸出端連接，該第一壓敏電阻的另一端與地連接。該第二壓敏電阻的一端與該接口的輸入端連接，該第二壓敏電阻的另一端與地連接。該調(diào)試接口電路具有芯片保護(hù)功能。此外，本發(fā)明還涉及一種具有上述調(diào)試接口電路的電子裝置。
文檔編號G06F11/36GK102346723SQ20101024386
公開日2012年2月8日 申請日期2010年8月3日 優(yōu)先權(quán)日2010年8月3日
發(fā)明者唐興華 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司