專利名稱：一種觸控板的布圖方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種觸控板，尤其是指在一種觸控板上的布圖方法。
背景技術(shù)：
觸控板由于體積小、成本低、消耗功率低以及使用壽命長(zhǎng)等優(yōu)點(diǎn)，目前已較為廣泛 的用于各類電子產(chǎn)品上，如手提式筆記本、個(gè)人數(shù)字助理甚至手機(jī)等，用于作為輸入裝置， 使用者僅僅利用手指或者觸控筆等導(dǎo)電對(duì)象在觸控面板上觸碰或者滑動(dòng)，從而使光標(biāo)產(chǎn)生 相應(yīng)的絕對(duì)或者相對(duì)的移動(dòng)，從而完成單擊、雙擊、拖拽、滾動(dòng)等各種輸入動(dòng)作。而傳統(tǒng)觸控板的布圖一般大多為對(duì)稱式結(jié)構(gòu)，例如圖1所示的方形結(jié)構(gòu)，其線跡 具有相同的形狀和面積，因此線跡的基本電容在觸控板感應(yīng)器上的分布是對(duì)稱的，觸控對(duì) 象在觸控板感應(yīng)器上造成感應(yīng)量也是對(duì)稱且線形相等的。然而，隨著應(yīng)用的不斷變化，觸控 板的布圖也需要隨之變化，所以會(huì)產(chǎn)生非對(duì)稱型觸控板的線跡布圖，而若使用非對(duì)稱型的 布圖結(jié)構(gòu)，由于觸控板上每條線跡的充放電時(shí)間不同，所以必然會(huì)導(dǎo)致觸控對(duì)象在觸控板 上操作時(shí)容易引起誤判或者誤操作。為了消除上述缺點(diǎn)，保證觸控對(duì)象在觸控板上操作時(shí)更加精準(zhǔn)，因此我們需要為 廣大用戶提供一種更加簡(jiǎn)便的方法來解決以上問題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實(shí)際所要解決的技術(shù)問題是如何提供一種新的觸控板的布圖方法，該方法 可使觸控對(duì)象在非對(duì)稱式線跡的布圖中一樣精確的操作。為了實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的上述目的，本發(fā)明提供了一種新的觸控板布圖方法，包括以下 步驟計(jì)算第一線跡與第二線跡的電容差；確定觸控板上所述線跡充放電的時(shí)間常數(shù)；計(jì) 算所述第一線跡與第二線跡的電阻差；根據(jù)該電阻差值從而確定第二線跡在觸控板上的大 小長(zhǎng)度，依次類推，最終確定整個(gè)觸控板的布圖。本發(fā)明所述觸控板的布圖方法，通過調(diào)節(jié)電容以及電阻的差值從而完成整個(gè)觸控 板的布圖，不但方法簡(jiǎn)單，而且操作起來更加精確，克服了對(duì)非對(duì)稱式布局的觸控板而言， 觸控對(duì)象操作時(shí)容易引起的誤判或者誤操作問題。


圖1是現(xiàn)有觸控板的布圖結(jié)構(gòu)；圖2是本發(fā)明觸控板布圖方法的流程圖；圖3是本發(fā)明觸控板線跡布圖的一個(gè)實(shí)施例；圖4是本發(fā)明觸控板線跡布圖的另一個(gè)實(shí)施例。
具體實(shí)施例方式下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的說明。
請(qǐng)參考圖2所示，為本發(fā)明觸控板布圖方法的流程圖，首先需要選擇一個(gè)線跡，我 們可稱為第一線跡，然后計(jì)算出該第一線跡的電容值；找出與所述第一線跡相鄰的第二線 跡，并計(jì)算出該第二線跡的電容值；根據(jù)上述第一線跡和第二線跡的電容值，計(jì)算其電容差 值；接著，確定觸控板上所述線跡充放電的時(shí)間常數(shù)；由公司T= 1/RC(其中，T代表時(shí)間 常數(shù)，R代表電阻，C代表電容)可知當(dāng)時(shí)間常數(shù)T確定的情況下，根據(jù)每根線跡上電阻值 的大小就可以調(diào)節(jié)電容值，從而保證了在非對(duì)稱型的布圖結(jié)構(gòu)上每根線跡的充放電時(shí)間的 相同。由上述論述可知，在知道了所述第一線跡和第二線跡的電容差以及確定了所述線跡的充放電時(shí)間常數(shù)后，就可以計(jì)算所述第一線跡與第二線跡的電阻差，根據(jù)該電阻差值 從而就可以確定第二線跡在觸控板上的大小長(zhǎng)度。再確定出第二線跡的大小長(zhǎng)度后，同理 我們可以確定出第三線跡的大小長(zhǎng)度，依次類推，最終確定出所述觸控板上所有線跡的大 小長(zhǎng)度，得出整個(gè)觸控板上的布圖。請(qǐng)參考圖3所示，就是本發(fā)明的一個(gè)具體實(shí)施例。所述線跡的一端由觸控板上芯 片的各個(gè)引腳引出，另一端連接到所述觸控板的相應(yīng)各條掃描線上。在連接到所述觸控板 的各條掃描線上時(shí)，若設(shè)置使各個(gè)線跡的寬度相同，那么由上述理論可知，在確定了第一線 跡的長(zhǎng)度后，為了保證觸控板上所有線跡的充放電時(shí)間常數(shù)相同，那么我們就可以通過調(diào) 節(jié)除第一線跡外的所有線跡的長(zhǎng)短來滿足上述要求，所以在各個(gè)線跡中，連接到掃描線上 的各個(gè)線跡的末尾長(zhǎng)度就會(huì)有明顯變化，如可以是曲折線。芯片引腳連接到各對(duì)應(yīng)掃描線 的線跡越長(zhǎng)，其末端的曲折線越少，反之就越多。請(qǐng)參考圖4所示，為本發(fā)明的另一個(gè)具體實(shí)施例。其中，任意一線跡的一端均是由 觸控板上芯片的各個(gè)引腳引出，另一端連接到所述觸控板的各條掃描線上。為了保證觸控 板上所有線跡的充放電時(shí)間常數(shù)相同，在確定了第一線跡的大小長(zhǎng)度后，我們就可以調(diào)節(jié) 除第一線跡外的所有線跡的大小長(zhǎng)度來滿足上述要求，所以在各條線跡中，若將芯片引腳 直接連接到各條相應(yīng)掃描線上時(shí)，其線跡的寬度就必然要求略有不同。芯片引腳到掃描線 的距離越長(zhǎng)，線跡的寬度就越小，反之就越大。上述觸控板上線跡的沖放電時(shí)間用戶可根據(jù)需要進(jìn)行設(shè)定，所以無論用哪種布圖 方式，只要是對(duì)非對(duì)稱型觸控板的線跡布圖，該方法均可實(shí)現(xiàn)使觸控對(duì)象在此觸控板中一 樣精確的操作。
權(quán)利要求
一種觸控板的布圖方法，包括以下步驟計(jì)算第一線跡與第二線跡的電容差；確定觸控板上所述線跡充放電的時(shí)間常數(shù)；計(jì)算所述第一線跡與第二線跡的電阻差；根據(jù)該電阻差值從而確定第二線跡在觸控板上的大小長(zhǎng)度，依次類推，最終確定整個(gè)觸控板的布圖。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于在計(jì)算第一線跡與第二線跡的電容差前，需 要先確定第一線跡與第二線跡的電容值。
3.如權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于所述第一線跡與第二線跡的電容差是 指相鄰兩個(gè)線跡的電容差。
4.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于所述充放電的時(shí)間常數(shù)用戶可根據(jù)需要進(jìn) 行設(shè)定。
5.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于所述觸控板的布圖方法是指觸控板的線跡 布圖方法。
6.如權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于所述任意一線跡的一端均是由觸控板 上芯片的各個(gè)引腳引出，另一端連接到所述觸控板的各條掃描線上。
7.如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于所述連接到各條掃描線上的線跡的末端可 以有多條曲折線。
8.如權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于所述芯片引腳連接到各對(duì)應(yīng)掃描線的線跡 越長(zhǎng)，其末端的曲折線越少。
9.如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于所述各個(gè)線跡的寬度可以不完全相同。
10.如權(quán)利要求9所述的方法，其特征在于所述芯片引腳到掃描線的距離越長(zhǎng)，線跡 的寬度就越小。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種觸控板的布圖方法，其包括以下步驟計(jì)算第一線跡與第二線跡的電容差；確定觸控板上所述線跡充放電的時(shí)間常數(shù)；計(jì)算所述第一線跡與第二線跡的電阻差；根據(jù)該電阻差值從而確定第二線跡在觸控板上的大小長(zhǎng)度，依次類推，最終確定整個(gè)觸控板的布圖。本發(fā)明所述觸控板的布圖方法，通過調(diào)節(jié)電容以及電阻的差值從而完成整個(gè)觸控板的布圖，不但方法簡(jiǎn)單，而且操作起來更加精確。
文檔編號(hào)G06F3/041GK101882021SQ20101019432
公開日2010年11月10日 申請(qǐng)日期2010年6月8日 優(yōu)先權(quán)日2010年6月8日
發(fā)明者樊永召 申請(qǐng)人:蘇州瀚瑞微電子有限公司