專利名稱：偽裝檢測系統(tǒng)，偽裝檢測方法以及偽裝檢測程序的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及偽裝檢測系統(tǒng)，偽裝檢測方法以及偽裝檢測程序，能夠使用登記者的照片或在監(jiān)視器上顯示的面部圖像來識別人，特別是在執(zhí)行個人識別時。
背景技術(shù)：
偽裝檢測系統(tǒng)是在例如基于面部或頭部進(jìn)行認(rèn)證時使用登記者的照片或在監(jiān)視器上顯示的面部圖像來執(zhí)行個人識別的系統(tǒng)。這種偽裝檢測系統(tǒng)和偽裝檢測方法公開在例如專利文獻(xiàn)1中。該文獻(xiàn)第W015]段公開了通過使用照明燈來改變照明環(huán)境，以及可以基于在不同照明環(huán)境中獲得的面部圖像之間的相似性程度，來去除偽裝。該文獻(xiàn)第W061]段公開了預(yù)先獲得從多個方向獲取的多個面部圖像，以及將從一定方向獲取的面部圖像登記為“認(rèn)證字典”。專利文獻(xiàn)2的第
-W021]段公開了使用用戶圖像和相應(yīng)的圖像獲取角度， 來產(chǎn)生關(guān)于用戶的三維信息，并將該三維信息與預(yù)先存儲的個人的面部三維形狀相比較。 這樣，避免了使用照片的偽裝。應(yīng)該注意，專利文獻(xiàn)3、非專利文獻(xiàn)1、非專利文獻(xiàn)2和非專利文獻(xiàn)3將在稍后說明。相關(guān)現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)專利文獻(xiàn)專利文獻(xiàn)1 日本特開專利公開No. 2003-178306專利文獻(xiàn)2 日本特開專利公開No. 2004-362079專利文獻(xiàn)3 日本特開專利公開No. 2006-338092非專利文獻(xiàn)非專利文獻(xiàn) 1 Kanazawa 禾口 Kanatani, "Detection of Feature Points for Computer Vision，，，The Journal of the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers, Vol. 87, No.12,2004非專利文獻(xiàn) 2 :T. K. Leung, Μ. C. Burl 禾口 P. Perona,"Finding Faces in Cluttered Scenes using Random Labeled Graph Matching，，，F(xiàn)ifth International Conference on Computer Vision, pp.637-644,1995非專利文 M 3 :R. Sukthankar, R. G. Stockton, Μ. D. Mull in, "Smarter presentations :Exploiting Homography in Camera-Projector Systems", Proceedings of International Conference on Computer Vision, Vol. 1, pp. 247-253, July 200
發(fā)明內(nèi)容
然后，上述文獻(xiàn)中公開的相關(guān)現(xiàn)有技術(shù)在以下方面還有待改進(jìn)。首先，為了檢測偽裝，必需準(zhǔn)備成像設(shè)備之外的附加設(shè)備，以用于認(rèn)證。例如，可控的外部照明是為創(chuàng)建多種照明環(huán)境而所需的，專用的距離檢測設(shè)備是為測量距離而所需的。此外，需要復(fù)雜的處理裝置來獲得關(guān)于個人的三維信息。
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其次，由于認(rèn)證時照明環(huán)境的改變，疏忽地接受使用照片的偽裝的可能性較高。例如，通過利用主分量分析的技術(shù)，基于對象的亮度變化來檢測偽裝。然而，隨著認(rèn)證期間照明環(huán)境顯著改變，對象的亮度的變化更大。結(jié)果，疏忽地接受照片作為真實(shí)對象的可能性變大。鑒于以上情況，提出了本發(fā)明。本發(fā)明的目的是提供偽裝檢測系統(tǒng)，偽裝檢測方法以及偽裝檢測程序，能夠基于獲得的圖像來準(zhǔn)確地檢測偽裝，而不需要除成像設(shè)備之外的任何附加設(shè)備。本發(fā)明的另一目的是提供一種對抗照明環(huán)境的改變的偽裝確定系統(tǒng)。根據(jù)本發(fā)明，提供了一種偽裝檢測系統(tǒng)，包括成像單元，通過從第一角度對檢查對象進(jìn)行成像，來獲得第一圖像，并且通過從不同于第一角度的第二角度對檢查對象進(jìn)行成像，來獲得第二圖像；計算單元，從第一圖像檢測第一特征點(diǎn)，獲得對檢測到的第一特征點(diǎn)的位置進(jìn)行表示的第一特征點(diǎn)坐標(biāo)，并且從第二圖像檢測第二特征點(diǎn)，獲得對檢測到的第二特征點(diǎn)的位置進(jìn)行表示的第二特征點(diǎn)坐標(biāo)；特征點(diǎn)關(guān)聯(lián)單元，將第一特征點(diǎn)與第二特征點(diǎn)相關(guān)聯(lián)；特征變換單元，通過執(zhí)行第二特征點(diǎn)坐標(biāo)從第二圖像到第一圖像的平面投影變換，來獲得變換后坐標(biāo)；以及相似性確定單元，當(dāng)變換后坐標(biāo)與對應(yīng)的第一特征點(diǎn)坐標(biāo)之間的差等于或小于預(yù)定值時，確定試圖進(jìn)行偽裝。根據(jù)本發(fā)明，提供了一種偽裝檢測方法，包括通過從第一角度對檢查對象進(jìn)行成像來獲得第一圖像的步驟；從第一圖像計算第一特征點(diǎn)坐標(biāo)的步驟；通過從第二角度對檢查對象進(jìn)行成像來獲得第二圖像的步驟；從第二圖像計算第二特征點(diǎn)坐標(biāo)的步驟；特征點(diǎn)關(guān)聯(lián)步驟，將第一特征點(diǎn)與第二特征點(diǎn)相關(guān)聯(lián)；特征變換步驟，通過執(zhí)行第二特征點(diǎn)坐標(biāo)從第二圖像到第一圖像的平面投影變換，來獲得變換后坐標(biāo)；以及相似性確定步驟，當(dāng)變換后坐標(biāo)與對應(yīng)的第一特征點(diǎn)坐標(biāo)之間的差等于或小于預(yù)定值時，確定試圖進(jìn)行偽裝。根據(jù)本發(fā)明，提供了一種偽裝檢測程序，用于使計算機(jī)執(zhí)行特征點(diǎn)坐標(biāo)計算處理，用于從檢查對象的第一圖像獲得對第一特征點(diǎn)的位置進(jìn)行表示的第一特征點(diǎn)坐標(biāo)，所述第一圖像是從第一角度獲得的，并且用于從檢查對象的第二圖像獲得對第二特征點(diǎn)的位置進(jìn)行表示的第二特征點(diǎn)坐標(biāo)，所述第二圖像是從不同于第一角度的第二角度獲得的；特征點(diǎn)關(guān)聯(lián)處理，用于將第一特征點(diǎn)與第二特征點(diǎn)相關(guān)聯(lián)；特征變換處理，用于通過執(zhí)行第二特征點(diǎn)坐標(biāo)從第二圖像到第一圖像的平面投影變換，來獲得變換后坐標(biāo)，所述第二特征點(diǎn)是使用第一特征點(diǎn)和第二特征點(diǎn)來關(guān)聯(lián)的；以及相似性確定處理，用于當(dāng)變換后坐標(biāo)與第一特征點(diǎn)的坐標(biāo)之間的差等于或小于預(yù)定值時，確定試圖進(jìn)行偽裝。采用上述結(jié)構(gòu)，本發(fā)明能夠提供偽裝檢測系統(tǒng)，偽裝檢測方法以及偽裝檢測程序， 能夠通過確定輸入圖像彼此之間是否具有平面關(guān)系，來以高精度檢測偽裝，而不需要除成像設(shè)備之外的任何附加設(shè)備。根據(jù)本發(fā)明，僅根據(jù)關(guān)于檢查對象的圖像信息來執(zhí)行確定，因此，在提供偽裝檢測系統(tǒng)，偽裝檢測方法以及偽裝檢測程序時不需要除成像設(shè)備之外的任何附加設(shè)備。此外，由于不是基于檢查對象的亮度變化，而是基于特征點(diǎn)位置的移動，來執(zhí)行確定，所以能夠提供對抗照明環(huán)境的改變的偽裝檢測系統(tǒng)，偽裝檢測方法以及偽裝檢測程序。


從以下結(jié)合附圖的優(yōu)選實(shí)施例描述中，本發(fā)明的上述和其他目的、特征和優(yōu)點(diǎn)將
7更加明顯。圖1是根據(jù)第一示例實(shí)施例的偽裝檢測系統(tǒng)的功能框圖。圖2是根據(jù)第一示例實(shí)施例的操作的流程圖。圖3是第一示例實(shí)施例的具體示例的功能框圖。圖4是第一示例實(shí)施例的具體示例的圖。圖5是根據(jù)第二示例實(shí)施例的偽裝檢測系統(tǒng)的功能框圖。
具體實(shí)施例方式下面參照附圖描述本發(fā)明的示例實(shí)施例。應(yīng)該注意，在所有附圖中，相似部件由相似附圖標(biāo)記表示，并且不再重復(fù)對其的說明。(第一示例實(shí)施例)圖1是示出了偽裝檢測系統(tǒng)的示例結(jié)構(gòu)的圖。該示例實(shí)施例提供了一種偽裝檢測系統(tǒng)，包括成像單元2，通過從第一角度對檢查對象進(jìn)行成像，來獲得第一圖像，并且通過從不同于第一角度的第二角度對檢查對象進(jìn)行成像，來獲得第二圖像；特征點(diǎn)坐標(biāo)計算單元101，從第一圖像檢測第一特征點(diǎn)，獲得對檢測到的第一特征點(diǎn)的位置進(jìn)行表示的第一特征點(diǎn)坐標(biāo)，并且從第二圖像檢測第二特征點(diǎn)，獲得對檢測到的第二特征點(diǎn)的位置進(jìn)行表示的第二特征點(diǎn)坐標(biāo)；特征點(diǎn)關(guān)聯(lián)單元102，將第一特征點(diǎn)與第二特征點(diǎn)相關(guān)聯(lián)；特征變換單元104，通過執(zhí)行第二特征點(diǎn)坐標(biāo)從第二圖像到第二圖像的平面投影變換，來獲得變換后坐標(biāo)；以及相似性確定單元105，當(dāng)變換后坐標(biāo)與對應(yīng)的第一特征點(diǎn)坐標(biāo)之間的差等于或小于預(yù)定值時，確定試圖進(jìn)行偽裝。在相對于檢查對象，成像單元2的第一角度和第二角度所形成的角度可以固定的情況下，預(yù)先計算稍后描述的變換矩陣，并且圖1的平面變換矩陣估計單元103可以不執(zhí)行任何操作。在第一角度和第二角度所形成的角度發(fā)生改變的情況下，每次角度改變時，使用平面變換矩陣估計單元103來計算變換矩陣，之后執(zhí)行相似性確定處理。如圖1所示，該偽裝檢測系統(tǒng)包括在程序控制下進(jìn)行操作的數(shù)據(jù)處理設(shè)備1、以及對檢查對象進(jìn)行成像的成像單元2。這里，數(shù)據(jù)處理設(shè)備1包括上述特征點(diǎn)坐標(biāo)計算單元101、特征點(diǎn)關(guān)聯(lián)單元102、平面變換矩陣估計單元103、特征變換單元104和相似性確定單元105。成像單元2是數(shù)碼相機(jī)、數(shù)字視頻攝像機(jī)、或CCD攝像機(jī)模塊等。成像單元2具有對檢查對象進(jìn)行成像的功能、以及將獲得的圖像數(shù)據(jù)輸出至數(shù)據(jù)處理設(shè)備1的功能。根據(jù)成像單元2從第一角度獲得的檢查對象的圖像(以下該圖像被稱為第一圖像)、以及從第二角度獲得的檢查對象的圖像(以下該圖像被稱為第二圖像)，特征點(diǎn)坐標(biāo)計算單元101獲取對第一特征點(diǎn)的位置進(jìn)行表示的第一特征點(diǎn)坐標(biāo)以及對第二特征點(diǎn)的位置進(jìn)行表示的第二特征點(diǎn)坐標(biāo)。這里，“特征點(diǎn)”是指當(dāng)從一定角度觀看時看起來始終相同的點(diǎn)。特征點(diǎn)可以是如下區(qū)域其中存在可與周圍相區(qū)分的模式，例如眼睛、嘴的邊緣、痣、鼻尖、顴骨的最高點(diǎn)、胡子的一部分、發(fā)際線、眼鏡框的邊角等位置。這些特征點(diǎn)是可以通過Harris算子和KLT技術(shù)(非專利文獻(xiàn)1)檢測的部分，通過Harris算子和KLT技術(shù)，可以從圖像中提取具有較大濃淡變化的點(diǎn)?；蛘哌@些特征點(diǎn)是可以通過如下技術(shù)檢測的部分通過預(yù)先登記要檢測的指定模式，并執(zhí)行模板匹配，來檢測所需部分(非專利文獻(xiàn)2)。通常，模板匹配是如下方法通過比較所獲得的圖像與預(yù)先登記的指定模式(模板圖像)，來從所獲得的圖像中搜索與指定模式相似的圖像區(qū)域。在該示例實(shí)施例中，預(yù)先準(zhǔn)備對例如面部特征和背景的多個特征點(diǎn)進(jìn)行指示的指定模式。通過將第一圖像與指定模式相比較，來提取第一特征點(diǎn)，并且通過將第二圖像與指定模式相比較，來提取第二特征點(diǎn)。指定模式與被確定為對應(yīng)于該指定模式的區(qū)域的圖像區(qū)域之間的相關(guān)程度被稱作“置信度”。當(dāng)可信度提高時，可以判斷對應(yīng)的圖像區(qū)域與指定模式更加相似。雖然描述了特征點(diǎn)是面部特征點(diǎn)上的一部分，但是獲得的特征點(diǎn)可以是從背景獲得的特征點(diǎn)，或者是從面部或頭部之前放置的隱蔽對象獲得的特征點(diǎn)。照片中背景或隱蔽對象中的特征點(diǎn)像面部一樣平面地移動，并且可以預(yù)期該特征點(diǎn)具有與真實(shí)面部的角度變化不同的變化。特征點(diǎn)關(guān)聯(lián)單元102將第一特征點(diǎn)與第二特征點(diǎn)相關(guān)聯(lián)。即，由特征點(diǎn)坐標(biāo)計算單元101計算的第一特征點(diǎn)坐標(biāo)與也由特征點(diǎn)坐標(biāo)計算單元101計算的第二特征點(diǎn)坐標(biāo)相關(guān)聯(lián)?；诘谝惶卣鼽c(diǎn)和第二特征點(diǎn)周圍的亮度模式，獲得由特征點(diǎn)關(guān)聯(lián)單元102彼此關(guān)聯(lián)的第一特征點(diǎn)與第二特征點(diǎn)之間的對應(yīng)關(guān)系。具體而言，該對應(yīng)關(guān)系在第一特征點(diǎn)與第二特征點(diǎn)之間將特征點(diǎn)彼此關(guān)聯(lián)，其中特征點(diǎn)具有圍繞特征點(diǎn)的相似亮度模式、相似頻率、相似邊緣分量等。備選地，通過模板匹配將檢測到的特征點(diǎn)彼此關(guān)聯(lián)?？梢酝ㄟ^計算表示第一特征點(diǎn)的圖像區(qū)域與表示第二特征點(diǎn)的圖像區(qū)域之間的相關(guān)程度，并且提供具有高相關(guān)程度的對(第一和第二特征點(diǎn)形成對)，來執(zhí)行關(guān)聯(lián)處理。此后，將第一特征點(diǎn)和第二特征點(diǎn)的組合稱為關(guān)聯(lián)點(diǎn)。平面變換矩陣估計單元103使用由特征點(diǎn)關(guān)聯(lián)單元102關(guān)聯(lián)的特征點(diǎn)中的一些， 確定變換矩陣，以將第二圖像平面變換到第一圖像。為計算用于平面變換的變換矩陣，例如可以使用非專利文獻(xiàn)3中公開的方法。非專利文獻(xiàn)3公開了一種計算變換矩陣的方法，稱為“單應(yīng)性矩陣”。單應(yīng)性矩陣H由如下公式(1)表示(公式1)
權(quán)利要求
1.一種偽裝檢測系統(tǒng)，包括成像單元，通過從第一角度對檢查對象進(jìn)行成像，來獲得第一圖像，并且通過從不同于第一角度的第二角度對檢查對象進(jìn)行成像，來獲得第二圖像；特征點(diǎn)坐標(biāo)計算單元，從第一圖像檢測第一特征點(diǎn)，獲得對檢測到的第一特征點(diǎn)的位置進(jìn)行表示的第一特征點(diǎn)坐標(biāo)，并且從第二圖像檢測第二特征點(diǎn)，獲得對檢測到的第二特征點(diǎn)的位置進(jìn)行表示的第二特征點(diǎn)坐標(biāo)；特征點(diǎn)關(guān)聯(lián)單元，將第一特征點(diǎn)與第二特征點(diǎn)相關(guān)聯(lián)；特征變換單元，通過執(zhí)行第二特征點(diǎn)坐標(biāo)從第二圖像到第一圖像的平面投影變換，來獲得變換后坐標(biāo)；以及相似性確定單元，當(dāng)變換后坐標(biāo)與第一特征點(diǎn)坐標(biāo)之間的差等于或小于預(yù)定值時，確定試圖進(jìn)行偽裝。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的偽裝檢測系統(tǒng)，其中第一特征點(diǎn)和第二特征點(diǎn)是圖像中濃淡變化較大的點(diǎn)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的偽裝檢測系統(tǒng)，其中第一特征點(diǎn)和第二特征點(diǎn)是與預(yù)先登記的部分對應(yīng)的點(diǎn)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1到3之一所述的偽裝檢測系統(tǒng)，其中第一特征點(diǎn)和第二特征點(diǎn)包括檢查對象的特征點(diǎn)、以及除檢查對象之外的其他對象的特征點(diǎn)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1到4之一所述的偽裝檢測系統(tǒng)，還包括平面變換矩陣估計單元，使用第一特征點(diǎn)坐標(biāo)和第二特征點(diǎn)坐標(biāo)，來確定從第二圖像到第一圖像的變換矩陣，其中，所述特征變換單元使用變換矩陣來執(zhí)行投影變換。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的偽裝檢測系統(tǒng)，其中，基于第一特征點(diǎn)和第二特征點(diǎn)周圍的亮度模式，來獲得由所述特征點(diǎn)關(guān)聯(lián)單元彼此關(guān)聯(lián)的第一特征點(diǎn)和第二特征點(diǎn)之間的對應(yīng)關(guān)系。
7.根據(jù)權(quán)利要求5或6所述的偽裝檢測系統(tǒng)，其中，所述平面變換矩陣估計單元產(chǎn)生多個組，每個組包括由所述特征點(diǎn)關(guān)聯(lián)單元彼此關(guān)聯(lián)的第一特征點(diǎn)和第二特征點(diǎn)之中關(guān)聯(lián)的一些關(guān)聯(lián)特征點(diǎn)對中的四個對，所述平面變換矩陣估計單元計算關(guān)于所述多個組的多個臨時變換矩陣，通過使用臨時變換矩陣執(zhí)行第二特征點(diǎn)的投影變換來獲得臨時變換后坐標(biāo)， 計算臨時變換后坐標(biāo)與表示對應(yīng)第一特征點(diǎn)的坐標(biāo)之間的差，并從所述多個臨時變換矩陣之中選擇具有最小差的臨時變換矩陣，作為所述變換矩陣。
8.根據(jù)權(quán)利要求5或6所述的偽裝檢測系統(tǒng)，其中，所述平面變換矩陣估計單元使用由所述特征點(diǎn)關(guān)聯(lián)單元彼此關(guān)聯(lián)的第一特征點(diǎn)和第二特征點(diǎn)，來確定所述變換矩陣，以使變換后坐標(biāo)與對應(yīng)的第一特征點(diǎn)坐標(biāo)之間的差最小。
9.根據(jù)權(quán)利要求5到8之一所述的偽裝檢測系統(tǒng)，其中，所述變換矩陣是單應(yīng)性矩陣。
10.根據(jù)權(quán)利要求5所述的偽裝檢測系統(tǒng)，其中，第一角度和第二角度是預(yù)先確定的， 并且從第二圖像到第一圖像的變換矩陣是預(yù)先準(zhǔn)備的。
11.根據(jù)權(quán)利要求1到10之一所述的偽裝檢測系統(tǒng)，還包括登記特征存儲單元，其中預(yù)先登記檢查對象的特征；個人識別單元，在從第一角度對檢查對象成像的所述成像單元所獲得的第一圖像與所述登記特征存儲單元中登記的特征之間，執(zhí)行模式驗(yàn)證；以及揚(yáng)聲器，當(dāng)通過所述模式驗(yàn)證的比較結(jié)果，確定檢查對象是對象本人時，發(fā)出用于改變要對檢查對象進(jìn)行成像的角度的指令。
12.根據(jù)權(quán)利要求1到11之一所述的偽裝檢測系統(tǒng)，其中，所述偽裝檢測系統(tǒng)結(jié)合到通信裝置中，所述偽裝檢測系統(tǒng)包括鎖定解除單元，當(dāng)所述相似性確定單元確定無偽裝時解除所述通信裝置的安全鎖定，而當(dāng)所述相似性確定單元確定有偽裝時不解除所述通信裝置的安全鎖定。
13.根據(jù)權(quán)利要求1到12之一所述的偽裝檢測系統(tǒng)，其中，所述成像單元包括獲得第一圖像的第一成像單元、以及獲得第二圖像的第二成像單元。
14.一種偽裝檢測方法，包括通過從第一角度對檢查對象進(jìn)行成像來獲得第一圖像的步驟；從第一圖像檢測第一特征點(diǎn)并且計算對檢測到的特征點(diǎn)的位置進(jìn)行表示的第一特征點(diǎn)坐標(biāo)的步驟；通過從第二角度對檢查對象進(jìn)行成像來獲得第二圖像的步驟；從第二圖像檢測第二特征點(diǎn)并且計算對檢測到的特征點(diǎn)的位置進(jìn)行表示的第二特征點(diǎn)坐標(biāo)的步驟；特征點(diǎn)關(guān)聯(lián)步驟，將第一特征點(diǎn)與第二特征點(diǎn)相關(guān)聯(lián)；特征變換步驟，通過執(zhí)行第二特征點(diǎn)坐標(biāo)從第二圖像到第一圖像的平面投影變換，來獲得變換后坐標(biāo)；以及相似性確定步驟，當(dāng)變換后坐標(biāo)與第一特征點(diǎn)坐標(biāo)之間的差等于或小于預(yù)定值時，確定試圖進(jìn)行偽裝。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的偽裝檢測方法，其中第一特征點(diǎn)和第二特征點(diǎn)是圖像中濃淡變化較大的點(diǎn)。
16.根據(jù)權(quán)利要求14所述的偽裝檢測方法，其中第一特征點(diǎn)和第二特征點(diǎn)是與預(yù)先登記的部分對應(yīng)的點(diǎn)。
17.根據(jù)權(quán)利要求14到16之一所述的偽裝檢測方法，其中第一特征點(diǎn)和第二特征點(diǎn)包括檢查對象的特征點(diǎn)、以及除檢查對象之外的其他對象的特征點(diǎn)。
18.根據(jù)權(quán)利要求14到17之一所述的偽裝檢測方法，還包括平面變換矩陣估計步驟，使用第一特征點(diǎn)坐標(biāo)和第二特征點(diǎn)坐標(biāo)，來確定從第二圖像到第一圖像的變換矩陣，其中，所述特征變換步驟使用變換矩陣來執(zhí)行投影變換。
19.根據(jù)權(quán)利要求18所述的偽裝檢測方法，其中，基于第一特征點(diǎn)和第二特征點(diǎn)周圍的亮度模式，來獲得由所述特征點(diǎn)關(guān)聯(lián)單元彼此關(guān)聯(lián)的第一特征點(diǎn)和第二特征點(diǎn)之間的對應(yīng)關(guān)系。
20.根據(jù)權(quán)利要求18或19所述的偽裝檢測方法，其中，所述平面變換矩陣估計步驟包括如下步驟產(chǎn)生多個組，每個組包括由所述特征點(diǎn)關(guān)聯(lián)單元彼此關(guān)聯(lián)的第一特征點(diǎn)和第二特征點(diǎn)之中關(guān)聯(lián)的一些關(guān)聯(lián)特征點(diǎn)對中的四個對，并且計算關(guān)于所述多個組的多個臨時變換矩陣；通過使用臨時變換矩陣執(zhí)行第二特征點(diǎn)的投影變換來獲得臨時變換后坐標(biāo)，并計算臨時變換后坐標(biāo)與表示對應(yīng)第一特征點(diǎn)的坐標(biāo)之間的差；以及從所述多個臨時變換矩陣之中選擇具有最小差的臨時變換矩陣，作為所述變換矩陣。
21.根據(jù)權(quán)利要求18或19所述的偽裝檢測方法，其中，所述平面變換矩陣估計步驟使用彼此關(guān)聯(lián)的第一特征點(diǎn)和第二特征點(diǎn)，來確定所述變換矩陣，以使變換后坐標(biāo)與對應(yīng)的第一特征點(diǎn)坐標(biāo)之間的差最小。
22.根據(jù)權(quán)利要求18到21之一所述的偽裝檢測方法，其中，所述變換矩陣是單應(yīng)性矩陣。
23.根據(jù)權(quán)利要求18所述的偽裝檢測方法，其中，第一角度和第二角度是預(yù)先確定的， 并且從第二圖像到第一圖像的變換矩陣是預(yù)先準(zhǔn)備的。
24.一種偽裝檢測程序，用于使計算機(jī)執(zhí)行特征點(diǎn)坐標(biāo)計算處理，用于從檢查對象的第一圖像獲得對第一特征點(diǎn)的位置進(jìn)行表示的第一特征點(diǎn)坐標(biāo)，所述第一圖像是從第一角度獲得的，并且用于從檢查對象的第二圖像獲得對第二特征點(diǎn)的位置進(jìn)行表示的第二特征點(diǎn)坐標(biāo)，所述第二圖像是從不同于第一角度的第二角度獲得的；特征點(diǎn)關(guān)聯(lián)處理，用于將第一特征點(diǎn)與第二特征點(diǎn)相關(guān)聯(lián)；特征變換處理，用于通過執(zhí)行第二特征點(diǎn)坐標(biāo)從第二圖像到第一圖像的平面投影變換，來獲得變換后坐標(biāo)，所述第二特征點(diǎn)是使用第一特征點(diǎn)和第二特征點(diǎn)來關(guān)聯(lián)的；以及相似性確定處理，用于當(dāng)變換后坐標(biāo)與第一特征點(diǎn)的第一坐標(biāo)之間的差等于或小于預(yù)定值時，確定試圖進(jìn)行偽裝。
25.根據(jù)權(quán)利要求M所述的偽裝檢測程序，其中第一特征點(diǎn)和第二特征點(diǎn)是圖像中濃淡變化較大的點(diǎn)。
26.根據(jù)權(quán)利要求M所述的偽裝檢測程序，其中第一特征點(diǎn)和第二特征點(diǎn)是與預(yù)先登記的部分對應(yīng)的點(diǎn)。
27.根據(jù)權(quán)利要求M到沈之一所述的偽裝檢測程序，其中第一特征點(diǎn)和第二特征點(diǎn)包括檢查對象的特征點(diǎn)、以及除檢查對象之外的其他對象的特征點(diǎn)。
28.根據(jù)權(quán)利要求M到27之一所述的偽裝檢測程序，使計算機(jī)進(jìn)一步執(zhí)行平面變換矩陣估計處理，使用第一特征點(diǎn)坐標(biāo)和第二特征點(diǎn)坐標(biāo)，來確定從第二圖像到第一圖像的變換矩陣，其中，所述特征變換處理是使用變換矩陣的投影變換。
29.根據(jù)權(quán)利要求觀所述的偽裝檢測程序，其中，基于第一特征點(diǎn)和第二特征點(diǎn)周圍的亮度模式，來獲得由所述特征點(diǎn)關(guān)聯(lián)單元彼此關(guān)聯(lián)的第一特征點(diǎn)和第二特征點(diǎn)之間的對應(yīng)關(guān)系。
30.根據(jù)權(quán)利要求觀或四所述的偽裝檢測程序，其中，所述平面變換矩陣估計處理包括如下處理產(chǎn)生多個組，每個組包括由所述特征點(diǎn)關(guān)聯(lián)單元彼此關(guān)聯(lián)的第一特征點(diǎn)和第二特征點(diǎn)之中關(guān)聯(lián)的一些關(guān)聯(lián)特征點(diǎn)對中的四個對，并且計算關(guān)于所述多個組的多個臨時變換矩陣；通過使用臨時變換矩陣執(zhí)行第二特征點(diǎn)的投影變換來獲得臨時變換后坐標(biāo)，并計算臨時變換后坐標(biāo)與表示對應(yīng)第一特征點(diǎn)的坐標(biāo)之間的差；以及從所述多個臨時變換矩陣之中選擇具有最小差的臨時變換矩陣，作為所述變換矩陣。
31.根據(jù)權(quán)利要求觀或四所述的偽裝檢測程序，其中，所述平面變換矩陣估計處理使用由所述特征點(diǎn)關(guān)聯(lián)處理彼此關(guān)聯(lián)的第一特征點(diǎn)和第二特征點(diǎn)，來確定所述變換矩陣，以使變換后坐標(biāo)與對應(yīng)的第一特征點(diǎn)坐標(biāo)之間的差最小。
32.根據(jù)權(quán)利要求觀到31之一所述的偽裝檢測程序，其中，所述變換矩陣是單應(yīng)性矩陣。
33.根據(jù)權(quán)利要求觀所述的偽裝檢測程序，其中，第一角度和第二角度是預(yù)先確定的， 并且從第二圖像到第一圖像的變換矩陣是預(yù)先準(zhǔn)備的。
全文摘要
一種偽裝檢測系統(tǒng)，包括成像單元(2)，通過從第一角度對檢查對象(12)進(jìn)行成像，來獲得第一圖像，并且通過從不同于第一角度的第二角度對檢查對象進(jìn)行成像，來獲得第二圖像；特征點(diǎn)坐標(biāo)計算單元(101)，從第一圖像檢測第一特征點(diǎn)，獲得對檢測到的第一特征點(diǎn)的位置進(jìn)行表示的第一特征點(diǎn)坐標(biāo)，并且從第二圖像檢測第二特征點(diǎn)，獲得對檢測到的第二特征點(diǎn)的位置進(jìn)行表示的第二特征點(diǎn)坐標(biāo)；特征點(diǎn)關(guān)聯(lián)單元(102)，將第一特征點(diǎn)與第二特征點(diǎn)相關(guān)聯(lián)；特征變換單元(104)，通過執(zhí)行第二特征點(diǎn)坐標(biāo)從第二圖像到第一圖像的平面投影變換，來獲得變換后坐標(biāo)；以及相似性確定單元(105)，當(dāng)變換后坐標(biāo)與第一特征點(diǎn)坐標(biāo)之間的差等于或小于預(yù)定值時，確定試圖進(jìn)行偽裝。
文檔編號G06T7/00GK102197412SQ20098014295
公開日2011年9月21日 申請日期2009年10月28日 優(yōu)先權(quán)日2008年10月28日
發(fā)明者鈴木哲明 申請人:日本電氣株式會社