專利名稱：一種調(diào)節(jié)iic總線上拉電阻的方法、裝置及iic總線設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及IIC總線系統(tǒng)設(shè)計方案優(yōu)化領(lǐng)域，尤其一種調(diào)節(jié)IIC總線上拉電阻的
方法、裝置及nc總線設(shè)備。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有技術(shù)中，內(nèi)部集成電路總線(inter integrated circiut bus，IIC)是一種二線傳輸?shù)捏w制，包括一條串行數(shù)據(jù)線(serial Data Line，SDA)和一條串行時鐘線(serialClock Line, SCU 。 當(dāng)IIC總線上連接IIC設(shè)備時的連接示意圖，如圖1所示 Rp :為IIC總線的上拉電阻，跨接在IIC總線和直流電源VDD之間； Rs :為端接電阻，串接在IIC設(shè)備和IIC總線之間，在電路設(shè)計中，Rs在設(shè)計完成
后不再修改； VDD :IIC總線和IIC設(shè)備的直流電源，為IIC總線的工作電壓，根據(jù)不同的設(shè)計要求，可選擇不同的電壓值； 容性負(fù)載Cb :在IIC設(shè)備連接到IIC總線上時，IIC總線走線的對地電容和IIC設(shè)
備接腳的對地電容的電容總和。
對地電容與零電平參考面之間的電容。 零電平參考面在硬件設(shè)計過程中，器件的零電平接腳通常是連接一起的，在設(shè)計時，這些零電平接腳相互之間通過整片的銅皮進行連通，這些零電平的整片銅皮稱為零電平參考面。 在IIC規(guī)范中，對SDA， SCL的上升時間有如下的規(guī)范規(guī)定 上升時間tr :IIC總線信號電平從0. 3VDD變化到0. 7VDD所需要的時間，如表1所
示
參數(shù)符號標(biāo)準(zhǔn)模式快速模式單位
最大值最大值
SDA和SCL信號 的上升時間tr1000300ns 表l IIC總線的上升時間tr由上拉電阻Rp ，端接電阻Rs ，容性負(fù)載Cb共同決定，在I IC總線上升時間確定時，上拉電阻Rp，端接電阻Rs，容性負(fù)載Cb的相互關(guān)系如圖2所示。
由圖2可知IIC總線的上升時間主要由容性負(fù)載Cb和上拉電阻Rp決定，在端接電阻Rs為一定數(shù)值時，IC總線上升時間tr近似與上拉電阻Rp和容性負(fù)載Cb的乘積值成正比，即tr = Rp*Cb。在IIC總線上升時間tr保持不變時，若IIC總線的容性負(fù)載Cb增
4加，為保證IIC總線的上升時間不變，需要減小上拉電阻Rp的數(shù)值。 IIC設(shè)備的IIC總線驅(qū)動能力在2mA 4mA量級，如果RP阻值過小，VDD灌入端口 的電流將較大，這樣會導(dǎo)致端口輸出的低電平值增大(12C協(xié)議規(guī)定，端口輸出低電平的最 高允許值為0. 4V);如果灌入端口的電流過大，還可能損壞端口 。故通常上拉電阻RP應(yīng)選取 不低于1KQ的電阻(當(dāng)VDD = 3V時，灌入電流不超過3mA)。因此上拉電阻RP不宜過小， 一般不低于1KQ 。在IIC總線設(shè)計時，若IIC設(shè)備的數(shù)量不確定，則上拉電阻RP不應(yīng)用最 小值進行設(shè)計。 現(xiàn)有的IIC電路，在設(shè)計時常采用固定阻值的上拉電阻Rp進行IIC總線的上拉， 如下圖3所示 上述阻值固定的上拉方法存在的缺點包括 在硬件設(shè)備中IIC設(shè)備的數(shù)量根據(jù)用戶的需要是不斷變化的，在IIC設(shè)備增加時 (為便于理解，以增加1個IIC設(shè)備的情形舉例說明)，如下圖4所示
在上拉電阻rp保持不變時，具體存在以下問題 在IIC總線外接1個IIC設(shè)備時，IIC總線上升時間trl = RpWbl，其中Cbl為 IIC總線接1個IIC設(shè)備時的容性負(fù)載。 如圖4所示，在IIC總線外接2個IIC設(shè)備時，IIC總線上升時間tr2 = Rp*(Cbl+Cb2)，其中Cbl為IIC總線接1個IIC設(shè)備時的容性負(fù)載，Cb2為IIC總線接在增 加1個IIC設(shè)備時，IIC總線增加的容性負(fù)載。
由以上計算易知，tr2 > trl。 故，在上拉電阻rp保持不變時，若增加IIC總線上的IIC設(shè)備數(shù)，則會導(dǎo)致IIC總 線的上升時間Tr增加。 在上拉電阻rp保持不變時，存在這樣的可能在IIC總線上的IIC設(shè)備不斷增加 時，IIC總線的IIC總線的容性負(fù)載cb不斷增加，若IIC總線的上拉電阻rp保持不變，則 IIC總線的上升時間Tr就可能超過IIC規(guī)范中IIC總線上升時間的最大值要求，使IIC總 線上升時間不符合IIC總線的規(guī)范要求。 以IIC總線工作在400kbps速率的一個實際應(yīng)用為例，按照規(guī)范要求，這時IIC總 線信號上升時間tr應(yīng)小于300ns。 若IIC總線上的上拉電阻Rp為4. 7KQ 。增加一個IIC設(shè)備時，IIC總線的容性負(fù) 載增加IOPF。則可知，若IIC總線連接6個IIC設(shè)備，則IIC總線的容性負(fù)載cb = 6*10PF =60PF，這時IIC總線的上升時間tr = Rp承Cb，為282ns，符合上升時間tr小于300ns的要求。 在11C總線增加連接到7個11C設(shè)備時，11C總線的容性負(fù)載cb = 7* 1OPF = 70PF， 這時IIC總線的上升時間tr = Rp*Cb，為329ns.，不符合上升時間tr應(yīng)小于300ns的要求。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種調(diào)節(jié)IIC總線上拉電阻的方法、裝置及IIC總線設(shè)備，用于克服現(xiàn) 有技術(shù)中多個IIC設(shè)備添加到IIC電路中導(dǎo)致IIC總線信號的上升時間不符合IIC規(guī)范的 要求的問題。 —種調(diào)節(jié)調(diào)節(jié)IIC總線上拉電阻的方法，包括
獲取內(nèi)部集成電路IIC總線的電壓信號，并對獲取到的電壓信號進行微分處理， 得到描述所述IIC總線信號的脈沖信號； 當(dāng)所述脈沖信號是描述上升過程的正脈沖信號并且所述正脈沖信號的寬度超過 設(shè)定閾值時，根據(jù)所述正脈沖的寬度和所述設(shè)定閾值調(diào)節(jié)跨接在IIC總線和IIC設(shè)備的直 流電源線之間用于調(diào)節(jié)IIC總線上拉電阻的附加電阻的阻值。
—種調(diào)節(jié)IIC總線上拉電阻的裝置，包括 微分處理模塊，用于獲取內(nèi)部集成電路IIC總線的電壓信號，并對獲取到的電壓 信號進行微分處理，得到描述所述IIC總線信號的脈沖信號； 阻值調(diào)節(jié)模塊，用于當(dāng)所述脈沖信號是描述上升過程的正脈沖信號并且所述正脈
沖信號的寬度超過設(shè)定閾值時，根據(jù)所述正脈沖的寬度和所述設(shè)定閾值調(diào)節(jié)跨接在IIC總
線和IIC設(shè)備的直流電源線之間用于調(diào)節(jié)IIC總線上拉電阻的附加電阻的阻值。 —種IIC總線設(shè)備，包括IIC總線、IIC設(shè)備、端接電阻、直流電源線、跨接在IIC總
線和直流電源線之間的第一電阻，還包括附加電阻和所述的一種調(diào)節(jié)IIC總線上拉電阻的
裝置，該附加電阻與所述第一電阻并聯(lián)，并且附加電阻與所述第一電阻并聯(lián)后的電阻為IIC
總線上拉電阻的等效電阻。 本發(fā)明實施例所提供的方法和裝置，可以通過利用檢測IIC總線電壓的方式對 IIC總線的上升時間進行檢測，實現(xiàn)IIC總線上升時間的脈沖寬度的檢測，進而根據(jù)上升時 間的脈沖寬度對IIC總線的上拉電阻進行調(diào)整，實現(xiàn)IIC總線上升時間的調(diào)整。


圖1為現(xiàn)有技術(shù)中IIC總線上一個IIC設(shè)備的連接示意圖； 圖2為現(xiàn)有技術(shù)中上拉電阻Rp、容性負(fù)載Cb與IIC總線上升時間的關(guān)系； 圖3為現(xiàn)有技術(shù)中采用固定數(shù)值上拉電阻Rp的IIC總線示意圖； 圖4為現(xiàn)有技術(shù)中在IIC總線上連接2個IIC設(shè)備的示意圖； 圖5為本發(fā)明實施例一種調(diào)節(jié)IIC總線上拉電阻的方法流程圖； 圖6為本發(fā)明實施例中IIC總線正脈沖信號的示意圖； 圖7為本發(fā)明實施例中IIC總線負(fù)脈沖信號的示意圖； 圖8為正脈沖寬度檢測電路結(jié)構(gòu)圖； 圖9為本發(fā)明實施例一種調(diào)節(jié)IIC總線上拉電阻的裝置； 圖10為本發(fā)明實施例IIC總線設(shè)備的結(jié)構(gòu)圖； 圖11為本發(fā)明實施例多個IIC總線設(shè)備的連接結(jié)構(gòu)圖。
具體實施例方式
本發(fā)明實施例調(diào)節(jié)IIC總線上拉電阻的方法，該方法包括獲取內(nèi)部集成電路IIC 總線的電壓信號，并對獲取到的電壓信號進行微分處理，得到描述所述IIC總線信號的脈 沖信號；當(dāng)所述脈沖信號是描述上升過程的正脈沖信號并且所述正脈沖信號的寬度超過設(shè) 定閾值時，根據(jù)所述正脈沖的寬度和所述閾值調(diào)節(jié)跨接在IIC總線和IIC設(shè)備的直流電源 線之間用于調(diào)節(jié)IIC總線上拉電阻的附加電阻的阻值。 下面結(jié)合說明書附圖對本發(fā)明一種調(diào)節(jié)IIC總線上拉電阻的方法的具體實施方式
進行詳細(xì)說明。 如圖5所示，本發(fā)明專利實現(xiàn)在IIC總線的容性負(fù)載發(fā)生變化時，通過對IIC信號 (SCL或SDA)的上升時間進行分析，來改變IIC總線的上拉電阻值，從而使IIC總線的上升 時間符合IIC總線規(guī)范的要求。具體的實施步驟如下 步驟501 ，獲取內(nèi)部集成電路IIC總線的電壓信號，并對獲取到的電壓信號進行微 分處理，得到描述所述IIC總線信號的脈沖信號； 其中內(nèi)部集成電路IIC總線包括SCL信號和SDA信號，則對IIC總線的電壓信號 的電壓信號進行微分處理包括 分別獲取SCL信號和SDA信號的電壓信號，并分別對獲取到的電壓信號進行微分 處理得到脈沖信號，為正脈沖(對應(yīng)SDA， SCL信號的上升過程)或負(fù)脈沖(對應(yīng)SDA， SCL 信號的下降過程)。 SDA， SCL信號在上升或下降完成之后，為直流信號，直流信號的斜率為O，即微分 之后為0。 SDA、 SCL信號在上升期間和下降期間，信號的斜率發(fā)生變化，這種變化可通過微 分處理進行獲取。其中SDA， SCL信號的上升期間經(jīng)過微分處理后得到正脈沖，SDA， SCL信 號的下降期間經(jīng)過微分處理后得到負(fù)脈沖。信號在微分處理之后，進行放大，放大的目的是 得到可供處理的電壓信號。微分處理波形中正脈沖的時間寬度與IIC原始信號的上升時間 相同，負(fù)脈沖的時間寬度與IIC原始信號的下降時間相同。判別的對應(yīng)關(guān)系如下
如圖6所示，若檢測到的信號為正脈沖信號，則判斷此時IIC總線為上升過程，且 正脈沖信號的寬度對應(yīng)于IIC總線的上升時間。 如圖7所示，若檢測到的信號為負(fù)脈沖信號，則判斷此時IIC總線為下降過程，且 負(fù)脈沖信號的寬度對應(yīng)于IIC總線的下降時間。 步驟502，判斷所述脈沖信號是否為正脈沖，如果是則判斷正脈沖信號的寬度是否
超過設(shè)定閾值，如果超過閾值，根據(jù)所述正脈沖的寬度和所述閾值調(diào)節(jié)跨接在IIC總線和
IIC設(shè)備的直流電源線之間用于調(diào)節(jié)IIC總線上拉電阻的附加電阻的阻值。 該步驟中，正脈沖的寬度對應(yīng)于IIC總線的上升時間，因此通過正脈沖寬度檢測
電路對正脈沖的寬度進行檢測，并將檢測結(jié)果與預(yù)設(shè)數(shù)值進行比較。若正脈沖寬度大于預(yù)
設(shè)定的數(shù)值，則表明正脈沖寬度，即nc總線的上升時間超出設(shè)定數(shù)值，不符合設(shè)定的數(shù)值
要求，需要進行調(diào)整；若正脈沖寬度小于預(yù)設(shè)定的數(shù)值，則表明正脈沖寬度，即IIC總線的
上升時間沒有超出設(shè)定數(shù)值，符合設(shè)定的數(shù)值要求，不需要進行調(diào)整；在本發(fā)明實施例中，
設(shè)定數(shù)值可以取300ns，以滿足標(biāo)準(zhǔn)模式和快速模式下的IIC總線上升時間要求。 其中，所述SCL信號和SDA信號的脈沖信號分別對應(yīng)一個閾值，并且，所述附加電
阻也是分別于SCL信號和SDA信號對應(yīng)的，SCL信號對應(yīng)的附加電阻，對應(yīng)的跨接在SCL信
號線和IIC設(shè)備的直流電源線之間；SDA信號對應(yīng)的附加電阻跨接在SDA信號線和IIC設(shè)
備的直流電源線之間。 在步驟502中，判斷所述正脈沖信號的寬度是否超過設(shè)定閾值的具體電路可以 是，如圖8所示 當(dāng)上升沿觸發(fā)電路檢測到輸入正脈沖信號從低電平跳變到高電平時，上升沿觸發(fā) 電路輸出高電平給計數(shù)器，計數(shù)器開始計數(shù)。當(dāng)輸入正脈沖信號從高電平跳變到低電平時， 當(dāng)下降沿觸發(fā)電路檢測到輸入正脈沖信號從高電平跳變到低電平時，下降沿觸發(fā)電路輸出低電平給計數(shù)器，使計數(shù)器停止計數(shù)。 計數(shù)器的計數(shù)值可以轉(zhuǎn)換為輸入正脈沖信號的高電平時間，即輸入正脈沖信號 的高電平時間二計數(shù)器的計數(shù)值X時鐘源周期。
計數(shù)器的計數(shù)值輸出到計數(shù)比較器，與計數(shù)比較器的預(yù)置閾值進行比較。在快速
模式下，計數(shù)比較器的預(yù)置閾值可設(shè)置為300ns/時鐘源周期；在標(biāo)準(zhǔn)模式下，計數(shù)比較器
的預(yù)置閾值可設(shè)置為1000ns/時鐘源周期。若時鐘源的時鐘周期為10ns(即時鐘頻率為
100腿z)，在快速模式下，計數(shù)比較器的預(yù)置閾值可設(shè)置為300ns/10ns = 30。在標(biāo)準(zhǔn)模式
下，計數(shù)比較器的預(yù)置閾值可設(shè)置為1000ns/10ns = 100。 通過計數(shù)比較器計算得到正脈沖信號的寬度與所述閾值的差值。 步驟503，再次獲取描述所述IIC總線信號的脈沖信號，當(dāng)該脈沖信號是描述上
升過程的正脈沖信號并且所述正脈沖信號的寬度超過設(shè)定閾值時，調(diào)節(jié)所述附加電阻的阻
值；若所述脈沖信號的寬度與所述設(shè)定閾值的差值小于設(shè)定值，則停止調(diào)節(jié)所述附加電阻
的阻值。 如圖9所示，根據(jù)上述方法，本發(fā)明實施例還提供一種調(diào)節(jié)IIC總線上拉電阻的裝 置，包括 微分處理模塊901 ，用于對內(nèi)部集成電路11C總線的串行時鐘線SCL和串行數(shù)據(jù)信 號線SDA的電壓信號進行微分處理，得到描述所述串行時鐘線SCL信號和串行數(shù)據(jù)信號線 SDA信號的脈沖信號； 阻值調(diào)節(jié)模塊902，用于當(dāng)所述脈沖信號是描述上升過程的正脈沖信號并且所述
正脈沖信號的寬度超過設(shè)定閾值時，根據(jù)所述正脈沖的寬度和所述閾值調(diào)節(jié)跨接在IIC總
線和IIC設(shè)備的直流電源線之間用于調(diào)節(jié)IIC總線上拉電阻的附加電阻的阻值。 為了是調(diào)節(jié)后的上拉電阻更為準(zhǔn)確，在調(diào)節(jié)所述附加電阻時，本發(fā)明實施例中的
阻值調(diào)節(jié)模塊902根據(jù)所述正脈沖的寬度和所述閾值調(diào)節(jié)跨接在IIC總線和IIC設(shè)備的直
流電源線之間用于調(diào)節(jié)IIC總線上拉電阻的附加電阻的阻值，具體為 計算得到正脈沖信號的寬度與所述閾值的差值，并根據(jù)該差值調(diào)節(jié)跨接在IIC總
線和IIC設(shè)備的直流電源線之間的附加電阻的阻值。 其中，為了使電壓的上拉時間恢復(fù)到設(shè)定范圍，該裝置還包括微調(diào)模塊903，用于 判斷所述脈沖信號的寬度與所述設(shè)定閾值的差值是否小于設(shè)定值，如果是，則向所述阻值 調(diào)節(jié)模塊發(fā)送停止調(diào)節(jié)所述附加電阻的阻值的命令，如果不是，則向所述阻值調(diào)節(jié)模塊發(fā) 送繼續(xù)調(diào)節(jié)所述附加電阻的阻值的命令。 如圖10所示，本發(fā)明實施例還提供一種IIC總線設(shè)備，具體的結(jié)構(gòu)為 包括IIC總線1001、第一電阻1002、 IIC設(shè)備1003、端接電阻1004和直流電源線
1005 ; 所述IIC設(shè)備1003和第一電阻1002分別跨接在所述直流電源線1005和IIC總 線1001之間，并且所述端接電阻1004與所述IIC設(shè)備1003串聯(lián)，另外該裝置還包括附加 電阻1006，該附加電阻1006與所述第一電阻1002并聯(lián)，并且附加電阻與所述第一電阻并聯(lián) 后的電阻為IIC總線上拉電阻的等效電阻； 另外，為了控制附加電阻連接到電路中，所述附加電阻1006還串聯(lián)一個開關(guān) 1007。
另外，為了適用多個IIC設(shè)備加入電路或需多次調(diào)整附加電阻的阻值以便達(dá)到符 合規(guī)范要求上拉電阻值的情況，所述附加電阻包括多個，并且每個附加電阻都串聯(lián)一個開關(guān)。 在本發(fā)明實施例中，將圖9所述的裝置應(yīng)用到上述電路中，用于調(diào)節(jié)附加電阻的
阻值，當(dāng)每個附加電阻連接一個開關(guān)時，圖9所述的裝置可以控制附加電阻上串聯(lián)的開關(guān)
從而將多個附加電阻連接到電路中，從而達(dá)到調(diào)節(jié)IIC總線上拉電阻的目的。 其中，因IIC總線信號包括串行時鐘線SCL信號和串行數(shù)據(jù)信號線SDA信號，則與
SCL信號對應(yīng)的附加電阻跨接在SCL信號線和IIC設(shè)備的直流電源線之間，與SDA信號對應(yīng)
的附加電阻跨接在SDA信號線和IIC設(shè)備的直流電源線之間。 在本發(fā)明實施例中，在確定需要調(diào)節(jié)上拉電阻的阻值后，將一個或多個附加電阻 連接到電路中。 則若正脈沖寬度超出設(shè)定數(shù)值，則根據(jù)不同的正脈沖寬度與所述閾值的差值，開 啟不同的控制開關(guān)，控制不同阻值的電阻連接到電路中，其中，每個控制開關(guān)均與特定電阻 值的電阻連接，跨接在IIC總線以及VDD之間。 如圖11所示，如果原電路設(shè)定的IIC上拉電阻為Rp0，當(dāng)IIC總線連接到IIC設(shè)備
1時，容性負(fù)載Cb增加，若檢測到IIC總線的上升時間超出IIC規(guī)范，可以采用減小IIC上
拉電阻的方法，使IIC總線的上升時間重新恢復(fù)到IIC規(guī)范的要求數(shù)值。 即開關(guān)K1閉合，根據(jù)并聯(lián)電阻的歐姆定律，IIC總線的上拉電阻Rp = RpO*Rpl/
(RpO+Rpl)，與原上拉電阻RpO相比，上拉電阻的電阻值減小。從而實現(xiàn)調(diào)整IIC總線上升
時間的目的。 當(dāng)IIC總線上的IIC設(shè)備增加時，如圖ll所示，原電路設(shè)定的IIC上拉電阻為 RpO，當(dāng)IIC總線連接到IIC設(shè)備2時，容性負(fù)載Cb增加，若檢測到IIC總線的上升時間超 出1IC規(guī)范，開關(guān)K2閉合，根據(jù)并聯(lián)電阻的歐姆定律，IIC總線的上拉電阻Rp = RpO*Rp2/ (RpO+Rp2)，與原上拉電阻RpO相比，上拉電阻的電阻值減小。從而實現(xiàn)調(diào)整IIC總線上升 時間的目的。 在本發(fā)明實施例中，跨接在IIC總線和IIC設(shè)備的直流電源線之間的電阻為可變
電阻，當(dāng)需要調(diào)節(jié)上拉電阻的阻值時，將可變電阻調(diào)節(jié)到對應(yīng)的電阻值。 應(yīng)用本發(fā)明實施例提供的方法和裝置，本發(fā)明實施例所提供的方法和裝置，可以
通過利用檢測IIC總線電流的方式對IIC總線的上升時間進行檢測，實現(xiàn)IIC總線上升時
間的脈沖寬度的檢測，進而根據(jù)上升時間的脈沖寬度對IIC總線的上拉電阻進行調(diào)整，實
現(xiàn)IIC總線上升時間的調(diào)整，使IIC總線的上升時間經(jīng)過自動調(diào)整后重新符合IIC總線規(guī)
范的上升時間要求。 本發(fā)明所述的方法并不限于具體實施方式
中所述的實施例，本領(lǐng)域技術(shù)人員根據(jù) 本發(fā)明的技術(shù)方案得出其它的實施方式，同樣屬于本發(fā)明的技術(shù)創(chuàng)新范圍。顯然，本領(lǐng)域的 技術(shù)人員可以對本發(fā)明進行各種改動和變型而不脫離本發(fā)明的精神和范圍。這樣，倘若本 發(fā)明的這些修改和變型屬于本發(fā)明權(quán)利要求及其等同技術(shù)的范圍之內(nèi)，則本發(fā)明也意圖包 含這些改動和變型在內(nèi)。
9
權(quán)利要求
一種調(diào)節(jié)IIC總線上拉電阻的方法，其特征在于，包括獲取內(nèi)部集成電路IIC總線的電壓信號，并對獲取到的電壓信號進行微分處理，得到描述所述IIC總線信號的脈沖信號；當(dāng)所述脈沖信號是描述上升過程的正脈沖信號并且所述正脈沖信號的寬度超過設(shè)定閾值時，根據(jù)所述正脈沖的寬度和所述設(shè)定閾值調(diào)節(jié)跨接在IIC總線和IIC設(shè)備的直流電源線之間用于調(diào)節(jié)IIC總線上拉電阻的附加電阻的阻值。
2. 如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，根據(jù)所述正脈沖的寬度和所述設(shè)定閾值調(diào)節(jié)跨接在IIC總線和IIC設(shè)備的直流電源線之間用于調(diào)節(jié)IIC總線上拉電阻的附加電阻的阻值包括計算得到正脈沖信號的寬度與所述設(shè)定閾值的差值，并根據(jù)該差值調(diào)節(jié)跨接在IIC總線和IIC設(shè)備的直流電源線之間的附加電阻阻值。
3. 如權(quán)利要求l所述的方法，其特征在于，調(diào)節(jié)所述附加電阻的阻值之后，進一步包括獲取描述所述IIC總線電壓信號的脈沖信號，當(dāng)該脈沖信號是描述上升過程的正脈沖信號并且所述正脈沖信號的寬度超過設(shè)定閾值時，繼續(xù)調(diào)節(jié)所述附加電阻的阻值；若所述脈沖信號的寬度與所述設(shè)定閾值的差值小于設(shè)定值，則停止調(diào)節(jié)所述附加電阻的阻值。
4. 如權(quán)利要求1 3任一權(quán)項所述的方法，其特征在于，所述IIC總線為串行時鐘線SCL或串行數(shù)據(jù)信號線SDA，所述串行時鐘線SCL信號和串行數(shù)據(jù)信號線SDA信號分別對應(yīng)一組設(shè)定閾值和附加電阻；SCL信號對應(yīng)的附加電阻，跨接在SCL信號線和IIC設(shè)備的直流電源線之間；SDA信號對應(yīng)的附加電阻跨接在SDA信號線和IIC設(shè)備的直流電源線之間。
5. —種調(diào)節(jié)IIC總線上拉電阻的裝置，其特征在于，包括微分處理模塊，用于獲取內(nèi)部集成電路IIC總線的電壓信號，并對獲取到的電壓信號進行微分處理，得到描述所述IIC總線信號的脈沖信號；阻值調(diào)節(jié)模塊，用于當(dāng)所述脈沖信號是描述上升過程的正脈沖信號并且所述正脈沖信號的寬度超過設(shè)定閾值時，根據(jù)所述正脈沖的寬度和所述設(shè)定閾值調(diào)節(jié)跨接在IIC總線和IIC設(shè)備的直流電源線之間用于調(diào)節(jié)IIC總線上拉電阻的附加電阻的阻值。
6. 如權(quán)利要求5所述的裝置，其特征在于，所述阻值調(diào)節(jié)模塊根據(jù)所述正脈沖的寬度和所述設(shè)定閾值調(diào)節(jié)跨接在IIC總線和IIC設(shè)備的直流電源線之間用于調(diào)節(jié)IIC總線上拉電阻的附加電阻的阻值，具體為計算得到正脈沖信號的寬度與所述設(shè)定閾值的差值，并根據(jù)該差值調(diào)節(jié)跨接在IIC總線和IIC設(shè)備的直流電源線之間的附加電阻的阻值。
7. 如權(quán)利要求5所述的裝置，其特征在于，該裝置還包括微調(diào)模塊，用于判斷所述脈沖信號的寬度與所述設(shè)定閾值的差值是否小于設(shè)定值，如果是，則向所述阻值調(diào)節(jié)模塊發(fā)送停止調(diào)節(jié)所述附加電阻的阻值的命令，如果不是，則向所述阻值調(diào)節(jié)模塊發(fā)送繼續(xù)調(diào)節(jié)所述附加電阻的阻值的命令。
8. —種IIC總線設(shè)備，包括IIC總線、IIC設(shè)備、端接電阻、直流電源線、跨接在IIC總線和直流電源線之間的第一電阻，其特征在于，還包括附加電阻和如權(quán)利要求5 7任一所述的一種調(diào)節(jié)IIC總線上拉電阻的裝置，該附加電阻與所述第一電阻并聯(lián)，并且附加電阻與所述第一電阻并聯(lián)后的電阻為IIC總線上拉電阻的等效電阻。
9. 如權(quán)利要求8所述的設(shè)備，其特征在于，所述附加電阻為可變電阻。
10. 如權(quán)利要求8所述的設(shè)備，其特征在于，所述附加電阻包括多個，并且每個附加電阻都串聯(lián)一個開關(guān)。
11. 如權(quán)利要求8 IO任一所述的設(shè)備，其特征在于，所述IIC總線為串行時鐘線SCL或串行數(shù)據(jù)信號線SDA，所述串行時鐘線SCL信號和串行數(shù)據(jù)信號線SDA信號分別對應(yīng)一組設(shè)定閾值和附加電阻；SCL信號對應(yīng)的附加電阻，跨接在SCL信號線和IIC設(shè)備的直流電源線之間；SDA信號對應(yīng)的附加電阻跨接在SDA信號線和IIC設(shè)備的直流電源線之間。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種調(diào)節(jié)IIC總線上拉電阻的方法、裝置及IIC總線設(shè)備，該方法包括獲取內(nèi)部集成電路IIC總線的電壓信號，并對獲取到的電壓信號進行微分處理，得到描述所述IIC總線信號的脈沖信號；當(dāng)所述脈沖信號是描述上升過程的正脈沖信號并且所述正脈沖信號的寬度超過設(shè)定閾值時，根據(jù)所述正脈沖的寬度和所述設(shè)定閾值調(diào)節(jié)跨接在IIC總線和IIC設(shè)備的直流電源線之間用于調(diào)節(jié)IIC總線上拉電阻的附加電阻的阻值。應(yīng)用本發(fā)明提供的方法和裝置實現(xiàn)IIC總線上升時間的調(diào)整，使IIC總線上升時間符合IIC規(guī)范的要求。
文檔編號G06F13/40GK101782885SQ20091026175
公開日2010年7月21日 申請日期2009年12月29日 優(yōu)先權(quán)日2009年12月29日
發(fā)明者陳恩科 申請人:福建星網(wǎng)銳捷網(wǎng)絡(luò)有限公司