專利名稱：電阻式觸控面板及其接觸點(diǎn)形態(tài)的檢測方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種電阻式觸控面板及其檢測方法，尤其涉及一種電阻式觸控面板及其接觸點(diǎn)形態(tài)的檢測方法。
背景技術(shù)：
隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的快速發(fā)展，觸控面板也廣泛的運(yùn)用于手機(jī)屏幕、計(jì)算
機(jī)屏幕、個(gè)人數(shù)字助理(PDA)屏幕?；旧希|控面板可作為計(jì)算機(jī)的輸入裝置用來取代鼠標(biāo)。而目前觸控面板中則以電阻式觸控面板的運(yùn)用最為普遍。
請參照圖1A，其所繪示為公知電阻式觸控面板的側(cè)視圖。在透明玻璃(glass)基板100的表面上形成多個(gè)條狀銦錫氧化(Indium Tin Oxide，簡稱ITO)層102;另外，于一透明薄膜(film)110的表面上形成多個(gè)條狀I(lǐng)TO層112;其中，透明玻璃基板100上的條狀I(lǐng)TO層102與透明薄膜110上的條狀I(lǐng)TO層112互相垂直。另外，多個(gè)透明隔離點(diǎn)(spacer dot)120隔離透明玻璃基板上的條狀I(lǐng)TO層102與透明薄膜110上的條狀I(lǐng)TO層112，使之不會(huì)互相接觸0
當(dāng)使用者以手指或觸控筆按壓透明薄膜(film)110時(shí)，透明薄膜(film)110上的條狀I(lǐng)TO層112會(huì)變形并接觸到透明玻璃基板100上的條狀I(lǐng)TO層102。而觸控面板的控制電路(未繪示)即可計(jì)算出使用者按壓的接觸點(diǎn)位置。
請參照圖1B，其所繪示為公知電阻式觸控面板俯視圖。舉例來說，觸控面板10的四周配置四個(gè)電極， 一負(fù)Y電極Y-、 一正Y電極Y+、 一負(fù)X電極X-與一正X電極X+。另外，玻璃基板上的條狀I(lǐng)TO層102呈現(xiàn)垂直方向的排列，并且所有的條狀I(lǐng)TO層102的二端分別連接至負(fù)Y電極Y-與正Y電極Y+;而透明薄膜110上的條狀I(lǐng)TO層112呈現(xiàn)水平方向的排列，并且所有的條狀I(lǐng)TO層112的二端分別連接至一負(fù)X電極X-與一正X電極X+。其中，所有的條狀I(lǐng)TO層102、 112均可等效為電阻。另外，控制電路150利用Y-線、Y+線、X-線、X+線各別連接至負(fù)Y電極Y-、正Y電極Y+、負(fù)X電極X-與正X電極X+。當(dāng)使用者于觸控面板10上產(chǎn)生接觸點(diǎn)時(shí)，控制電路150可以快速的得知接觸點(diǎn)的位置。
請參照圖2A，其所繪示為公知電阻式觸控面板上檢測是否產(chǎn)生接觸點(diǎn)的示意圖。首先，為了要得知使用者是否有接觸觸控面板，控制電路(未繪示)會(huì)將一電壓源Vcc連接至正X電極X+，將接地端連接至負(fù)Y電極Y-，將負(fù)X電極X-連接至控制電路用以提供電壓Va，以及，不連接(open)正Y電極Y+。
很明顯地，當(dāng)使用者未按壓觸控面板時(shí)，上下的條狀I(lǐng)TO層并未接觸。因此，控制電路可于負(fù)X電極X-接收到的電壓Va等于電壓Vcc，也即，代表尚未有使用者按壓觸控面板。
當(dāng)使用者利用觸控筆140按壓觸控面板時(shí)，上下的條狀I(lǐng)TO層接觸于接
觸點(diǎn)A。因此，控制電路檢測出負(fù)X電極X-接收到小于Vcc的電壓(& = )，也即，此時(shí)即可確定使用者已經(jīng)按壓觸控面板，也即控
制電路發(fā)現(xiàn)一碰觸動(dòng)作已產(chǎn)生。其中Rz為二個(gè)條狀I(lǐng)TO層接觸時(shí)的接觸電阻。
請參照圖2B，其所繪示為公知電阻式觸控面板上計(jì)算接觸點(diǎn)水平位置的示意圖。控制電路得知使用者產(chǎn)生一碰觸動(dòng)作后，控制電路會(huì)繼續(xù)進(jìn)行接觸點(diǎn)位置的計(jì)算。為了要得知接觸點(diǎn)的水平位置，當(dāng)控制電路檢測出產(chǎn)生接觸點(diǎn)A時(shí)，控制電路會(huì)進(jìn)行切換動(dòng)作，將一電壓源Vcc連接至正X電極X+，將接地端連接至負(fù)X電極X-，將正Y電極Y+連接至控制電路以接收電壓Vx，以及，不連接(open)負(fù)Y電極Y-。
很明顯地，正Y電極Y+上的電壓即為V^ ^^。由圖2B可知，當(dāng)接觸點(diǎn)A越靠近右側(cè)電壓Vx會(huì)越高；反之，當(dāng)接觸點(diǎn)A越靠近左側(cè)電壓Vx會(huì)越低。因此，控制電路可將Vx電壓進(jìn)行模擬轉(zhuǎn)數(shù)字轉(zhuǎn)換(analog to digitalconversion)而獲得接觸點(diǎn)的水平位置。
同理，請參照圖2C，其所繪示為公知電阻式觸控面板上計(jì)算接觸點(diǎn)垂直位置的示意圖。為了要得知接觸點(diǎn)A的垂直位置，當(dāng)控制電路計(jì)算出接觸點(diǎn)A的水平位置后，控制電路會(huì)再次進(jìn)行切換動(dòng)作，將一電壓源Vcc連接至正Y電極Y+，將接地端連接至負(fù)Y電極Y-，將正X電極X+連接至控制電路以接收電壓Vy，以及，不連接(open)負(fù)X電極X-。
很明顯地，正X電極X+上的電壓即為V尸^^i。由圖3C可知，當(dāng)接觸點(diǎn)A越靠近上端，電壓Vy會(huì)越高；反之，當(dāng)接觸點(diǎn)A越靠近下端，電壓Vy會(huì)越低。因此，控制電路可將Vy電壓進(jìn)行模擬轉(zhuǎn)數(shù)字轉(zhuǎn)換(analogtodigital conversion)而獲得接觸點(diǎn)的垂直位置。
很明顯地，上述的觸控面板由四個(gè)電極(負(fù)Y電極、正Y電極、負(fù)X電極與正X電極)包圍成一個(gè)檢測區(qū)域。另外，圖2A用來判斷該檢測區(qū)域是否有產(chǎn)生碰觸動(dòng)作。當(dāng)產(chǎn)生碰觸動(dòng)作時(shí)，控制電路會(huì)繼續(xù)進(jìn)行圖2B與圖2C的步驟，用以獲得接觸點(diǎn)的水平位置與垂直位置。反之，當(dāng)未產(chǎn)生接觸點(diǎn)時(shí)，控制電路會(huì)持續(xù)在圖2A的狀態(tài)并等待碰觸動(dòng)作的產(chǎn)生。
由于上述電阻式觸控面板是屬于模擬式的觸控面板，因此，當(dāng)使用者同時(shí)于觸控面板產(chǎn)生多個(gè)接觸點(diǎn)時(shí)，控制電路將無法正確的檢測出多個(gè)接觸點(diǎn)而會(huì)計(jì)算出一個(gè)輸出錯(cuò)誤的接觸點(diǎn)。舉例來說，請參照圖3，其所繪示為公知電阻式觸控面板上產(chǎn)生多個(gè)接觸點(diǎn)的示意圖。此檢測區(qū)域160由四個(gè)電極(未繪示)定義而成。當(dāng)使用者同時(shí)于此檢測區(qū)域160產(chǎn)生接觸點(diǎn)Al與接觸點(diǎn)A2。假設(shè)接觸點(diǎn)Al的水平位置與垂直位置為(xl,yl)而接觸點(diǎn)A2的水平位置與垂直位置為(x2，y2)，則控制電路會(huì)計(jì)算出錯(cuò)誤的接觸點(diǎn)A3，其中A3的水平位置與垂直位置為(，，2^)。
為了能夠于電阻式觸控面板上檢測多個(gè)接觸點(diǎn)，新的電阻式觸控面板的結(jié)構(gòu)被發(fā)展出來。請參照圖4A，其所繪示為可檢測多接觸點(diǎn)的電阻式觸控面板示意圖。其中包括四組(group)電極Xl+~X3+、 Xl~X3-、 Yl+~Y4+、Yl- Y4-。另外，此電阻式觸控面板僅將正X (X十group)與負(fù)X組(X- group)個(gè)別區(qū)分為三個(gè)電極，而將正Y組(Y十group)與負(fù)Y組(Y- group)個(gè)別區(qū)分為四個(gè)電極為例。當(dāng)然，區(qū)分的數(shù)目也可以有任何的組合，并不限于圖4所示的組合。
于圖4A中，正X組(X+group)的三個(gè)電極為正X—電極Xl+、正X二電極X2+與正X三電極X3+;負(fù)X組(X- group)的三個(gè)電極為負(fù)X —電極Xl-、負(fù)X二電極X2-與負(fù)X三電極X3-;正Y組(Y+group)的四個(gè)電極為正Y—電極Yl+、正Y二電極Y2+、正Y三電極Y3+與正Y四電極Y4+;負(fù)Y組(Y- group)的四個(gè)電極為負(fù)Y—電極Yl-、負(fù)Y二電極Y2-、負(fù)Y三電極Y3-與負(fù)Y四電極Y4-。很明顯地，上述的四組(group)電極可產(chǎn)生12個(gè)檢測區(qū)域。舉例來說，正X—電極Xl+、負(fù)X—電極Xl-、正Y—電極Yl+、負(fù)Y—電極Yl-可形成檢測區(qū)域Du，其余則依此類推。
另外，多路復(fù)用切換電路230連接至所有的電極，并可根據(jù)控制電路250的控制信號，選擇性地將X+線連接至X+組中部分或全部的電極；X-線連接至X-組中部分或全部的電極；Y+線連接至Y+組中部分或全部的電極；Y-線連接至Y-組中部分或全部的電極。
以下詳細(xì)介紹可檢測多接觸點(diǎn)的觸控面板的動(dòng)作。請參照圖4B，其所繪示為檢測接觸點(diǎn)程序時(shí)的等效電路。為了要得知使用者是否有于觸控面板200上產(chǎn)生碰觸動(dòng)作，控制電路250控制X+線連接至X+組中全部的電極；X-線連接至X-組中全部的電極；Y+線連接至Y+組中全部的電極；Y-線連接至Y-組中全部的電極。另外，控制電路250會(huì)進(jìn)行第一次切換動(dòng)作，將一電壓源Vcc連接至X+線，將接地端連接至Y-線，將X-線的信號作為判斷信號，以及，不連接(open)Y+線。此時(shí)，控制電路250可以檢測觸控面板200上所有區(qū)域是否有產(chǎn)生碰觸動(dòng)作。其判斷方式與圖2A相同，不再贅述。
舉例來說，當(dāng)控制電路250得知使用者產(chǎn)生碰觸動(dòng)作(例如接觸點(diǎn)Bl)后，控制電路250上的控制信號可控制多路復(fù)用切換電路230依序?qū)-線、X+線、Y-線、Y+線連接至12個(gè)檢測區(qū)域，并檢測12個(gè)檢測區(qū)域上是否產(chǎn)生接觸點(diǎn)。最后，如圖4C所示，于正Y—電極Yl+、負(fù)Y—電極Yl-、正X三電極X3+、負(fù)X三電極X3-所搭配的檢測區(qū)域D31上可獲得接觸點(diǎn)Bl ，并可以計(jì)算出接觸點(diǎn)B1的水平位置以及垂直位置。而接觸點(diǎn)B1位置的計(jì)算方式與圖2B與圖2C相同，因此不再贅述。
同理，如圖5所示，當(dāng)使用者同時(shí)產(chǎn)生多個(gè)接觸點(diǎn)(例如接觸點(diǎn)B1、 B2、B3)時(shí)，控制電路250會(huì)得知使用者產(chǎn)生碰觸動(dòng)作。而在此時(shí)，控制電路250并無法得知使用者產(chǎn)生單一接觸點(diǎn)或者多個(gè)接觸點(diǎn)。
接著，控制電路250上的控制信號可控制多路復(fù)用切換電路230將X-線、X+線、Y-線、Y+線依序連接至12個(gè)檢測區(qū)域，并檢測12個(gè)檢測區(qū)域上是否產(chǎn)生接觸點(diǎn)。最后，可得知檢測區(qū)域D13、檢測區(qū)域D31、檢測區(qū)域D33上各有一個(gè)接觸點(diǎn)，而控制電路即可計(jì)算檢測區(qū)域Du中接觸點(diǎn)B2的位置，檢測區(qū)域D^中接觸點(diǎn)B1的位置，檢測區(qū)域D34中接觸點(diǎn)B3的位置。在某些特定狀況下，使用者可能不慎產(chǎn)生多個(gè)接觸點(diǎn)，而公知可檢測多
接觸點(diǎn)的觸控面板的控制電路也會(huì)將多個(gè)觸控點(diǎn)位置計(jì)算出來。請參照圖6，當(dāng)使用者利用觸控筆140來操作時(shí)，常常會(huì)將手指130或手掌135置于觸控面板200上。此時(shí)，控制電路會(huì)計(jì)算出多個(gè)接觸點(diǎn)，然而手掌與手指按壓所產(chǎn)生的接觸點(diǎn)并非有效的接觸點(diǎn)。因此，如何于可檢測多接觸點(diǎn)的觸控面板上，利用控制電路來判斷接觸點(diǎn)的形態(tài)，并進(jìn)一步的利用接觸點(diǎn)的形態(tài)來決定有效的接觸點(diǎn)以及非有效的接觸點(diǎn)即為本發(fā)明所欲解決的問題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明為了解決現(xiàn)有技術(shù)的問題而提出一種電阻式觸控面板接觸點(diǎn)形態(tài)的檢測方法。此電阻式觸控面板上具有多個(gè)檢測區(qū)域。此方法包括下列步
驟于一觸控面板上發(fā)現(xiàn)有接觸動(dòng)作產(chǎn)生時(shí)，獲得多個(gè)接觸點(diǎn)位置；當(dāng)這些
接觸點(diǎn)位于相鄰的檢測區(qū)域時(shí)，判斷這些接觸點(diǎn)可否合并成為一合并接觸
點(diǎn)；以及，于這些接觸點(diǎn)可合并成為合并接觸點(diǎn)時(shí)，判斷此合并接觸點(diǎn)為一第一形態(tài)的接觸點(diǎn)或者一第二形態(tài)的接觸點(diǎn)。
本發(fā)明還提出一種電阻式觸控面板，包括 一第一方向第一電極組，包括m電極； 一第一方向第二電極組，包括m電極； 一第二方向第一電極組，包括n個(gè)電極； 一第二方向第二電極組，包括n個(gè)電極，其中2m+2n個(gè)電極可將該電阻式觸控面板區(qū)隔為mXn個(gè)檢測區(qū)域； 一多路復(fù)用切換電路，連接至所有的2m+2n個(gè)電極；以及， 一控制電路，連接至該多路復(fù)用切換電路，可于一觸碰動(dòng)作產(chǎn)生后，判斷多個(gè)接觸點(diǎn)是否可合并成為一合并接觸點(diǎn)，并且于確認(rèn)所述多個(gè)接觸點(diǎn)可合并為一合并接觸點(diǎn)時(shí)，區(qū)分該合并接觸點(diǎn)為第一形態(tài)的接觸點(diǎn)或者第二形態(tài)的接觸點(diǎn)。
本發(fā)明可快速地判斷多個(gè)接觸點(diǎn)是否可合并成為一合并接觸點(diǎn)，并且可更進(jìn)一步的將該合并接觸點(diǎn)區(qū)分為第一形態(tài)的接觸點(diǎn)或者第二形態(tài)的接觸點(diǎn)。
為了使審査員能更進(jìn)一步了解本發(fā)明特征及技術(shù)內(nèi)容，請參閱以下有關(guān)本發(fā)明的詳細(xì)說明與附圖，然而所附附圖僅提供參考與說明，并非用來對本發(fā)明加以限制。


圖1A所繪示為公知電阻式觸控面板的側(cè)視圖。圖IB所繪示為公知電阻式觸控面板俯視圖。
圖2A所繪示為公知電阻式觸控面板上檢測是否產(chǎn)生接觸點(diǎn)的示意圖。
圖2B所繪示為公知電阻式觸控面板上計(jì)算接觸點(diǎn)水平位置的示意圖。
圖2C所繪示為公知電阻式觸控面板上計(jì)算接觸點(diǎn)垂直位置的示意圖。
圖3所繪示為公知電阻式觸控面板上產(chǎn)生多個(gè)接觸點(diǎn)的示意圖。
圖4A所繪示為可檢測多接觸點(diǎn)的電阻式觸控面板示意圖。
圖4B與圖4C所繪示為檢測接觸點(diǎn)程序時(shí)的等效電路。
圖5所繪示為在電阻式觸控面板檢測多個(gè)接觸點(diǎn)的示意圖。
圖6繪示為使用者于觸控面板上操作示意圖。
圖7A所繪示為利用手指形成接觸點(diǎn)的示意圖。
圖7B所繪示為利用觸控筆形成接觸點(diǎn)的示意圖。
圖8所繪示為可檢測多接觸點(diǎn)的電阻式觸控面板示意圖。
圖9所繪示為區(qū)別接觸點(diǎn)位置的方法。
圖10A 圖IOD為各種不同接觸點(diǎn)的示意圖。
圖IIA所繪示為本發(fā)明接觸點(diǎn)形態(tài)的判斷方法第一實(shí)施例。
圖11B所繪示為本發(fā)明接觸點(diǎn)形態(tài)的判斷方法第二實(shí)施例。
其中，附圖標(biāo)記說明如下-
10 觸控面板
100透明玻璃基板102ITO層
110透明薄膜112ITO層
120透明隔離點(diǎn)130手指
140觸控筆
150控制電路160檢測區(qū)域
200觸控面板230多路復(fù)用切換電路
250控制電路
800 觸控面板830多路復(fù)用切換電路
850控制電路
具體實(shí)施例方式
請參照圖7A，其所繪示為利用手指形成接觸點(diǎn)的示意圖。利用手指130來壓按觸控面板時(shí)，由于接觸面積較大，因此，會(huì)使得上下條狀I(lǐng)TO層U2、102接觸面積較大；同理，利用手掌(palm)產(chǎn)生的接觸點(diǎn)也一樣會(huì)使得上下條狀I(lǐng)TO層112、 122接觸面積較大。另外，請參照圖7B，其所繪示為利用觸控筆140形成接觸點(diǎn)的示意圖。由于觸控筆的筆尖面積小，因此利用觸控筆來壓按觸控面板時(shí)，上下條狀I(lǐng)TO層接觸面積會(huì)較小。而本發(fā)明即利用此特性來判斷接觸點(diǎn)為第一形態(tài)的接觸點(diǎn)或者第二形態(tài)的接觸點(diǎn)，其中，第一形態(tài)的接觸點(diǎn)為小面積接觸點(diǎn)，例如觸控筆接觸點(diǎn)、尖物接觸點(diǎn)、筆尖接觸點(diǎn)；第二形態(tài)的接觸點(diǎn)為大面積接觸點(diǎn)，例如手指接觸點(diǎn)、手掌接觸點(diǎn)。
一般來說，為了能夠準(zhǔn)確的檢測出多個(gè)接觸點(diǎn)，現(xiàn)今可檢測多接觸點(diǎn)的電阻式觸控面板上必須劃分很多的檢測區(qū)域。換句話說，正X組(X十group)、X組(X- group)、正Y組(Y十group)與負(fù)Y組(Y- group)上的電極的長度會(huì)很短，使得觸控面板上的檢測區(qū)域增加，而每個(gè)檢測區(qū)域的面積會(huì)減小。
請參照圖8，其所繪示為可檢測多接觸點(diǎn)的電阻式觸控面板示意圖。其中包括四組(group)電極X方向第一電極組(Xl+ Xm+)、 X方向第二電極組(Xl- Xm-)、 Y方向第一電極組(Yl+ Yn+)、 Y方向第二電極組(Yl—Yn-)。因此，整個(gè)電阻式觸控面板800可區(qū)分為mXn個(gè)檢測區(qū)域。
另外，多路復(fù)用切換電路830連接至所有的電極，并可根據(jù)控制電路850的控制信號，選擇性地將X+線連接至X+組中部分或全部的電極；X-線連接至X-組中部分或全部的電極；Y+線連接至Y+組中部分或全部的電極；Y-線連接至Y-組中部分或全部的電極。
另外，當(dāng)檢測區(qū)域面積小時(shí)，如果以手指或者手掌觸碰觸控面板時(shí)，很容易的就會(huì)按壓到檢測區(qū)域的邊界，并使得相鄰的檢測區(qū)域同時(shí)產(chǎn)生接觸點(diǎn)。也即，當(dāng)多個(gè)接觸點(diǎn)并非在相鄰的檢測區(qū)域時(shí)，則可直接輸出多個(gè)接觸點(diǎn)；反之，當(dāng)多個(gè)接觸點(diǎn)在相鄰的檢測區(qū)域時(shí)，則必須進(jìn)一步的判斷。
請參照圖9，其所繪示為區(qū)別接觸點(diǎn)位置的方法。當(dāng)控制電路尚未發(fā)現(xiàn)有碰觸動(dòng)作產(chǎn)生時(shí)，如步驟S卯1，持續(xù)地檢測碰觸動(dòng)作。當(dāng)控制電路發(fā)現(xiàn)有碰觸動(dòng)作產(chǎn)生時(shí)，如步驟S901，則將計(jì)算接觸點(diǎn)位置，并獲得多個(gè)接觸點(diǎn)位置，如步驟S902。接著，判斷上述接觸點(diǎn)是否位于相鄰的檢測區(qū)域，如步驟S903。于步驟S903不成立時(shí)，直接輸出所述多個(gè)接觸點(diǎn)位置，如步驟S904;反之，于步驟S903成立時(shí)，繼續(xù)判斷所述多個(gè)接觸點(diǎn)可否合并成為一合并接觸點(diǎn)，如步驟S905。
當(dāng)判定接觸點(diǎn)不可合并時(shí)，如步驟S905，直接輸出所述多個(gè)接觸點(diǎn)位置，如步驟S904。當(dāng)判定接觸點(diǎn)可合并，如步驟S905時(shí)，則輸出一合并接觸點(diǎn)。
以下根據(jù)圖10A 圖10D的接觸點(diǎn)范例來解釋圖9的流程。其中，圖10A與圖10B中的接觸點(diǎn)無法成為一合并接觸點(diǎn)。而圖10C與圖10D中的接觸點(diǎn)可合并成為一合并接觸點(diǎn)
如圖10A所示，于碰觸動(dòng)作產(chǎn)生時(shí)，如步驟S901，控制電路850可計(jì)算出檢測區(qū)域(al)的接觸點(diǎn)pl位置、檢測區(qū)域(M)的接觸點(diǎn)p2位置、與檢測區(qū)域(cl)的接觸點(diǎn)p3位置，如步驟S902。由于檢測區(qū)域(al)、 (bl)、 (cl)不是相鄰的檢測區(qū)域，如步驟S卯，因此，控制電路850可直接輸出接觸點(diǎn)pl位置、接觸點(diǎn)p2位置、接觸點(diǎn)p3位置，如步驟S904。
圖10B所示，于碰觸動(dòng)作產(chǎn)生時(shí)，如步驟S901，控制電路850可計(jì)算出檢測區(qū)域(a2)的接觸點(diǎn)p4位置、檢測區(qū)域(b2)的接觸點(diǎn)p5位置。由于檢測區(qū)域(a2)、 (b2)是相鄰的檢測區(qū)域，如步驟S903，因此，控制電路850繼續(xù)判斷接觸點(diǎn)p4與p5是否可合并，如步驟S904。
于判斷接觸點(diǎn)可否合并步驟，如步驟S904中，可于控制電路中預(yù)設(shè)一第一臨限長度Lthl，并與接觸點(diǎn)p4p5的距離比較。當(dāng)接觸點(diǎn)p4p5的距離大于第一臨限長度Lthl時(shí)，則接觸點(diǎn)p4p5不可合并，此時(shí)輸出接觸點(diǎn)p4位置與接觸點(diǎn)p5位置，如步驟S904。
圖10C的手指接觸點(diǎn)910為例。于碰觸動(dòng)作產(chǎn)生時(shí)，如步驟S901，控制電路850可計(jì)算出檢測區(qū)域(a3)的接觸點(diǎn)p6位置、檢測區(qū)域(b3)的接觸點(diǎn)p7位置。由于檢測區(qū)域(a3)、 (b3)是相鄰的檢測區(qū)域，如步驟S卯3，因此，控制電路850繼續(xù)判斷接觸點(diǎn)p6與p7是否可合并，如步驟S904。
于判斷接觸點(diǎn)可否合并步驟，如步驟S904中，可于控制電路中預(yù)設(shè)一第一臨限長度Lthl，并與接觸點(diǎn)p6p7的距離比較。很明顯地，手指接觸點(diǎn)910于相鄰的檢測區(qū)域(a3)(b3)上各產(chǎn)生一接觸點(diǎn)p6、 p7，而接觸點(diǎn)p6p7的距離小于第一臨限長度Lthl。因此，接觸點(diǎn)p6p7可合并，并輸出一合并接觸點(diǎn)，如步驟S906。也就是說，假設(shè)接觸點(diǎn)p6位置為(x6，y6)而接觸點(diǎn)p7位置為(x7，y7)，則合并接觸點(diǎn)的位置為(^1,^1)。
圖10C的手指接觸點(diǎn)920于相鄰的檢測區(qū)域(c3)(d3)產(chǎn)生接觸點(diǎn)p8、 p9，而接觸點(diǎn)p8p9的距離小于第一臨限長度Lthl 。因此，接觸點(diǎn)p8p9可合并，并輸出一合并接觸點(diǎn)，如步驟S906。也就是說，假設(shè)接觸點(diǎn)p8位置為(x8,y8)而接觸點(diǎn)p9位置為(x9，y9),貝l洽并接觸點(diǎn)的位置為(^^， ^|^)。
圖10C的手指接觸點(diǎn)930于相鄰的檢測區(qū)域(e3)(f3)(g3)產(chǎn)生接觸點(diǎn)p10、pll、 p12，而任二接觸點(diǎn)的距離均小于第一臨限長度Lthl。因此，接觸點(diǎn)pl0pllp12可合并，并輸出一合并接觸點(diǎn)，如步驟S906)。也就是說，假設(shè)接觸點(diǎn)plO位置為(xlO,ylO)、接觸點(diǎn)pll位置為(xll，yll)、接觸點(diǎn)pl2位置為(xl2，y12)，則合并接觸點(diǎn)的位置為(^f^，^f^)。
圖10C的手指接觸點(diǎn)940于相鄰的檢測區(qū)域(h3)(i3)(j3)(k3)產(chǎn)生接觸點(diǎn)
p13、 p14、 p15、 p16,而任二接觸點(diǎn)的距離均小于第一臨限長度Lthl。因此，
接觸點(diǎn)pl3pl4pl5pl6可合并，并輸出一合并接觸點(diǎn)，如步驟S906。也就是
說，假設(shè)接觸點(diǎn)p13位置為(xl3，y13)、接觸點(diǎn)p14位置為(xl4,y14)、接觸點(diǎn)
p15位置為(xl5，y15)、接觸點(diǎn)pl6.位置為(xl6,y16)，則合并接觸點(diǎn)的位置為(Jd3 + xl4 + xl5 + ;d6yl3 +少14 + yl5 + y16 )
同理，^觸控筆接觸點(diǎn)接觸于觸控面板的檢測區(qū)域邊界時(shí)，并使得相鄰的檢測區(qū)域同時(shí)產(chǎn)生接觸點(diǎn)。圖10D的觸控筆接觸點(diǎn)960于相鄰的檢測區(qū)域(a4)與檢測區(qū)域(b4)會(huì)生的二接觸點(diǎn)位置，此二接觸點(diǎn)會(huì)非?？拷?。很明顯地，觸控筆接觸點(diǎn)960所產(chǎn)生的二接觸點(diǎn)的距離小于第一臨限長度Lthl。因此，二接觸點(diǎn)可合并，并輸出一合并接觸點(diǎn)，如步驟S906。
圖10D的觸控筆接觸點(diǎn)970于相鄰的檢測區(qū)域(c4)與檢測區(qū)域(d4)會(huì)生的二接觸點(diǎn)位置，此二接觸點(diǎn)會(huì)非?？拷?。很明顯地，觸控筆接觸點(diǎn)970所產(chǎn)生的二接觸點(diǎn)的距離小于第一臨限長度Lthl。因此，二接觸點(diǎn)可合并，并輸出一合并接觸點(diǎn)，如步驟S906。
圖10D的觸控筆接觸點(diǎn)980于相鄰的檢測區(qū)域(e4)、檢測區(qū)域(f4)與檢測區(qū)域(g4)會(huì)生的三接觸點(diǎn)位置，此三接觸點(diǎn)會(huì)非?？拷?。很明顯地，觸控筆接觸點(diǎn)970所產(chǎn)生的任二接觸點(diǎn)的距離均小于第一臨限長度Lthl。因此，三接觸點(diǎn)可合并，并輸出一合并接觸點(diǎn)，如步驟S906。觸點(diǎn)990于相鄰的檢測區(qū)域(h4)、檢測區(qū)域(i4)、檢測區(qū)域(j4)與檢測區(qū)域(k4)會(huì)生的四接觸點(diǎn)位置，此四接觸點(diǎn)會(huì)非常靠近。很明顯地，觸控筆接觸點(diǎn)970所產(chǎn)生的任二接觸點(diǎn)的距離均小于第一臨限長度Lthl。因此，四接觸點(diǎn)可合并，并輸出一合并接觸點(diǎn)，如步驟S906。
于控制電路850產(chǎn)生合并接觸點(diǎn)時(shí)，控制電路850可進(jìn)一步的判斷合并接觸點(diǎn)的形態(tài)。請參照圖IIA，其所繪示為本發(fā)明接觸點(diǎn)形態(tài)的判斷方法第一實(shí)施例。當(dāng)多個(gè)接觸點(diǎn)確認(rèn)可合并為一合并接觸點(diǎn)，如步驟S1100后，利用所述多個(gè)接觸點(diǎn)與此合并接觸點(diǎn)的距離總和與一第二臨限距離Lth2比較。
當(dāng)所述多個(gè)接觸點(diǎn)與合并接觸點(diǎn)的距離總和小于第二臨限長度時(shí)，如步驟S1101，則該合并接觸點(diǎn)為一第一形態(tài)的接觸點(diǎn)，如步驟S1102;反之，當(dāng)所述多個(gè)接觸點(diǎn)與合并接觸點(diǎn)的距離總和大于第二臨限長度時(shí)，如步驟S1101，則該合并接觸點(diǎn)為一第二形態(tài)的接觸點(diǎn)，如步驟S1103。
因此，本發(fā)明于發(fā)現(xiàn)有碰觸動(dòng)作產(chǎn)生后，進(jìn)而獲得多個(gè)接觸點(diǎn)位置。當(dāng)邊界的相鄰檢測區(qū)域上同時(shí)被檢測出多個(gè)接觸點(diǎn)時(shí)，以這些接觸點(diǎn)的數(shù)目以及接觸點(diǎn)距離來決定這些接觸點(diǎn)可否合并成為一合并接觸點(diǎn)，并可進(jìn)一步地判斷合并接觸點(diǎn)的形態(tài)。
另外，判斷步驟S1101可利用其他的判斷方式來實(shí)現(xiàn)。請參照圖11B，其所繪示為本發(fā)明接觸點(diǎn)形態(tài)的判斷方法第二實(shí)施例。步驟S1104利用所述多個(gè)接觸點(diǎn)之間的距離總和與一第二臨限距離Lth2比較。當(dāng)所述多個(gè)接觸點(diǎn)之間的距離總和小于第二臨限距離Lth2時(shí)，如步驟S1104，則該合并接觸點(diǎn)為一第一形態(tài)的接觸點(diǎn)，如步驟S1102;反之，當(dāng)所述多個(gè)接觸點(diǎn)之間的距離總和大于第二臨限長度時(shí)，如步驟S1104，則該合并接觸點(diǎn)為一第二形態(tài)的接觸點(diǎn)，如步驟S1103。
很明顯地，由圖IOC與圖IOD可得知，手指接觸點(diǎn)碰觸于相鄰檢測區(qū)域的邊界時(shí)，其接觸點(diǎn)之間的距離較長；反之，觸控筆接觸點(diǎn)碰觸于相鄰檢測區(qū)域的邊界時(shí)，其接觸點(diǎn)之間的距離較短。利用此特性來預(yù)設(shè)一第二臨限長度，即可于所述多個(gè)接觸點(diǎn)可合并成為一合并接觸點(diǎn)時(shí)進(jìn)一步地判斷該合并接觸點(diǎn)的形態(tài)。
根據(jù)本發(fā)明的第一與第二實(shí)施例，本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于提供一種電阻式觸控面板及其接觸點(diǎn)形態(tài)檢測方法。當(dāng)多個(gè)相鄰檢測區(qū)域中產(chǎn)生接觸點(diǎn)時(shí)，可快速地判斷所述多個(gè)接觸點(diǎn)是否可合并成為一合并接觸點(diǎn)。當(dāng)確認(rèn)可以成為 一合并接觸點(diǎn)后，可更進(jìn)一步的將該合并接觸點(diǎn)區(qū)分為第一形態(tài)的接觸點(diǎn)或 者第二形態(tài)的接觸點(diǎn)。
綜上所述，雖然本發(fā)明已以優(yōu)選實(shí)施例揭示如上，然其并非用以限定本 發(fā)明，任何本領(lǐng)域普通技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可作 各種更動(dòng)與潤飾，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)視所附的權(quán)利要求書所界定的范 圍為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一電阻式觸控面板的接觸點(diǎn)形態(tài)檢測方法，該電阻式觸控面板上具有多個(gè)檢測區(qū)域，包括下列步驟于一觸控面板上發(fā)現(xiàn)有一接觸動(dòng)作產(chǎn)生時(shí)，獲得多個(gè)接觸點(diǎn)；當(dāng)所述多個(gè)接觸點(diǎn)位于相鄰的檢測區(qū)域時(shí)，判斷所述多個(gè)接觸點(diǎn)可否合并成為一合并接觸點(diǎn)；以及于所述多個(gè)接觸點(diǎn)可合并成為該合并接觸點(diǎn)時(shí)，判斷該合并接觸點(diǎn)為一第一形態(tài)的接觸點(diǎn)或者一第二形態(tài)的接觸點(diǎn)。
2. 如權(quán)利要求1所述的接觸點(diǎn)形態(tài)檢測方法，還包括當(dāng)所述多個(gè)接觸 點(diǎn)不位于相鄰的檢測區(qū)域時(shí)，輸出所述多個(gè)接觸點(diǎn)。
3. 如權(quán)利要求1所述的接觸點(diǎn)形態(tài)檢測方法，還包括當(dāng)所述多個(gè)接觸 點(diǎn)不可合并成為該合并接觸點(diǎn)時(shí)，輸出所述多個(gè)接觸點(diǎn)。
4. 如權(quán)利要求1所述的接觸點(diǎn)形態(tài)檢測方法，其中于判斷所述多個(gè)接觸 點(diǎn)可否合并成為一合并接觸點(diǎn)的步驟中，還包括當(dāng)所述多個(gè)接觸點(diǎn)中任二接觸點(diǎn)之間的距離小于一第一臨限長度時(shí)，所 述多個(gè)接觸點(diǎn)可合并成為該合并接觸點(diǎn)。
5. 如權(quán)利要求1所述的接觸點(diǎn)形態(tài)檢測方法，其中于所述多個(gè)接觸點(diǎn)可 合并成為一合并接觸點(diǎn)時(shí)的步驟中，還包括獲得該合并接觸點(diǎn)的位置；計(jì)算所述多個(gè)接觸點(diǎn)與該合并接觸點(diǎn)的一距離總和； 當(dāng)該距離總和小于一第二臨限長度時(shí)，該合并接觸點(diǎn)為該第一形態(tài)的接 觸點(diǎn)；以及當(dāng)該距離總和大于該第二臨限長度時(shí)，該合并接觸點(diǎn)為該第二形態(tài)的接 觸點(diǎn)。
6. 如權(quán)利要求1所述的接觸點(diǎn)形態(tài)檢測方法，其中于所述多個(gè)接觸點(diǎn)可 合并成為該合并接觸點(diǎn)時(shí)的步驟中，還包括計(jì)算所述多個(gè)接觸點(diǎn)之間的一距離總和；當(dāng)該距離總和小于一第二臨限長度時(shí)，該合并接觸點(diǎn)為該第一形態(tài)的接 觸點(diǎn)；以及當(dāng)該距離總和大于該第二臨限長度時(shí)，該合并接觸點(diǎn)為該第二形態(tài)的接^4點(diǎn)O
7. 如權(quán)利要求1所述的接觸點(diǎn)形態(tài)檢測方法，其中，該第一形態(tài)的接觸 點(diǎn)為一小面積接觸點(diǎn)，且該第二形態(tài)的接觸點(diǎn)為一大面積接觸點(diǎn)。
8. 如權(quán)利要求1所述的接觸點(diǎn)形態(tài)檢測方法，其中，該第一形態(tài)的接觸 點(diǎn)為一觸控筆接觸點(diǎn)、 一筆尖接觸點(diǎn)或者一尖物接觸點(diǎn)；而該第二形態(tài)的接 觸點(diǎn)為 一手指接觸點(diǎn)或者一手掌接觸點(diǎn)。
9. 一種電阻式觸控面板，包括 一第一方向第一電極組，包括m電極； 一第一方向第二電極組，包括m電極； 一第二方向第一電極組，包括n個(gè)電極；一第二方向第二電極組，包括n個(gè)電極，其中2m+2n個(gè)電極可將該電阻式觸控面板區(qū)隔為mXn個(gè)檢測區(qū)域；一多路復(fù)用切換電路，連接至所有的2m+2n個(gè)電極；以及 一控制電路，連接至該多路復(fù)用切換電路，當(dāng)一觸碰動(dòng)作產(chǎn)生后，判斷多個(gè)接觸點(diǎn)是否可合并成為一合并接觸點(diǎn)，并且于確認(rèn)所述多個(gè)接觸點(diǎn)可合并為一合并接觸點(diǎn)時(shí)，區(qū)分該合并接觸點(diǎn)為一第一形態(tài)的接觸點(diǎn)或者一第二形態(tài)的接觸點(diǎn)。
10. 如權(quán)利要求9所述的電阻式觸控面板，其中，該第一形態(tài)的接觸點(diǎn) 為一小面積接觸點(diǎn)，且該第二形態(tài)的接觸點(diǎn)為一大面積接觸點(diǎn)。
11. 如權(quán)利要求9所述的電阻式觸控面板，其中，該第一形態(tài)的接觸點(diǎn) 為一觸控筆接觸點(diǎn)、 一筆尖接觸點(diǎn)或者一尖物接觸點(diǎn)；而該第二形態(tài)的接觸 點(diǎn)為一手指接觸點(diǎn)或者一手掌接觸點(diǎn)。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種電阻式觸控面板及其接觸點(diǎn)形態(tài)的檢測方法。此電阻式觸控面板上具有多個(gè)檢測區(qū)域。此方法包括下列步驟于一觸控面板上發(fā)現(xiàn)有接觸動(dòng)作產(chǎn)生時(shí)，獲得多個(gè)接觸點(diǎn)位置；當(dāng)這些接觸點(diǎn)位于相鄰的檢測區(qū)域時(shí)，判斷這些接觸點(diǎn)可否合并成為一合并接觸點(diǎn)；以及，于這些接觸點(diǎn)可合并成為合并接觸點(diǎn)時(shí)，判斷此合并接觸點(diǎn)為一第一形態(tài)的接觸點(diǎn)或者一第二形態(tài)的接觸點(diǎn)。本發(fā)明可快速地判斷多個(gè)接觸點(diǎn)是否可合并成為一合并接觸點(diǎn)，并且可更進(jìn)一步的將該合并接觸點(diǎn)區(qū)分為第一形態(tài)的接觸點(diǎn)或者第二形態(tài)的接觸點(diǎn)。
文檔編號G06F3/045GK101604220SQ200910159768
公開日2009年12月16日 申請日期2009年7月20日 優(yōu)先權(quán)日2009年7月20日
發(fā)明者林洪義 申請人:華碩電腦股份有限公司