專利名稱：對支付卡進(jìn)行靜電放電測試的方法
對支付卡進(jìn)行靜電放電測試的方法
相關(guān)申請數(shù)據(jù)
本申請要求2007年1月19日提交的美國臨時申請序列號No.60 /885，764的優(yōu)先;K，其整個內(nèi)容在此通過引用而并入。
背景技術(shù)：
靜電放電(ESD， electrostatic discharge)是當(dāng)存儲在電絕緣或非絕 緣物體上的過多電荷流向電位不同的物體(比如地)時發(fā)生的突然的 瞬間電流。在固態(tài)電子器件中，ESD是一個嚴(yán)重的問題，尤其是當(dāng)瞬 間的有害電流對電子設(shè)備造成損壞時更是如此。
能夠累積電荷的一種物體是交易卡，比如信用卡、借記卡、智能 卡、非接觸卡、會員卡、支付卡等等。這種卡一般與諸如銷售點終端 之類的電子設(shè)備接觸。因此，如果在交易卡上積累了電荷，那么從交 易卡到電子設(shè)備的靜電放電會損害電子設(shè)備。在一些情況下，ESD會 導(dǎo)致電子設(shè)備不能完成支付交易。
這種卡還能夠充當(dāng)具有不同電位的物體，比如用戶的身體和支付 卡讀卡器之間的導(dǎo)體。交易卡一般與諸如銷售點終端之類的電子設(shè)備 接觸，并形成帶電的用戶身體和讀卡器之間的導(dǎo)體。從而，如果在用 戶身體和/或其它物體上產(chǎn)生了電荷，那么在交易卡與讀卡器接觸的時
候，會產(chǎn)生通過用戶的皮膚、交易卡和交易卡的導(dǎo)電元件從用戶到電 子設(shè)備的靜電放電。這種靜電放電會損壞電子設(shè)備。在一些情況下， 靜電放電會導(dǎo)致電子設(shè)備暫時地或永久地不能完成支付交易。
從而，確定交易卡發(fā)出的ESD的量的方法以及確定放電電荷的量 是否會對電子設(shè)備造成損壞的方法將是合乎需要的
發(fā)明內(nèi)容
在說明本發(fā)明的實施例、方法和材料之前，要理解本發(fā)明并不局 限于描述的特定實施例、方法和材料，因為它們是可以變化的。另外 要明白，說明書中使用的術(shù)語只是用于描述特定的實施例，并不意圖 限制本發(fā)明的范圍。
必須注意的是，在這里和附加權(quán)利要求中使用的單數(shù)形式"一個，， 包括一個以上，除非上下文明確地另有說明。從而，例如， 一張"卡，， 指的是一張或多張卡，及其為本領(lǐng)域技術(shù)人員已知的等同物等等。除 非另有說明，否則這里使用的所有技術(shù)和科學(xué)術(shù)語的含義與本領(lǐng)域技 術(shù)人員通常理解的意義相同。盡管與這里所述的方法、材料和設(shè)備類 似或等同的任意方法、材料和設(shè)備可用于實踐或測試實施例，不過現(xiàn) 在說明的是優(yōu)選的方法、材料和設(shè)備。這里提及的所有出版物都整體 通過引用而并入。這里的一切都不應(yīng)被理解為承認(rèn)所述實施例無權(quán)早 于現(xiàn)有發(fā)明的這種公開。這里使用的術(shù)語"包含"意味"包括，但不限 于"。
在一個實施例中，對交易卡進(jìn)行靜電放電測試的方法包括把交 易卡放在絕緣表面上；把接地探針放在交易卡上的第一位置；把放電 探針充電到已知電壓電平；在交易卡上的第二位置使放電探針放電； 從接地探針記錄放電波形；以及至少根據(jù)與基準(zhǔn)電壓電平相比的已知 電壓電平的值，向交易卡分配通過狀態(tài)和失敗狀態(tài)之一。所述第一位 置和第二位置都可選自交易卡上的多個區(qū)域。
在一個實施例中，對交易卡進(jìn)行靜電放電測試的方法包括把具 有磁條的交易卡放在絕緣表面上；把接地探針沿交易卡的第一邊緣放 在磁條上；把放電探針充電到已知電壓電平；沿交易卡的與第一邊緣 相對的第二邊緣，使放電探針在磁條上放電；從接地探針記錄放電波 形；以及至少根據(jù)放電波形是否大體上類似于基準(zhǔn)放電波形，向交易 卡分配通過狀態(tài)和失敗狀態(tài)之一。
在一個實施例中，對交易卡進(jìn)行靜電放電測試的方法包括將包 含外殼和一個或多個引腳的讀取頭連接到地電平；把放電探針充電到 已知電壓電平；在交易卡上的第一位置，使放電探針對測試人員拿著200880006644.4
易卡在交易卡上的第二位置與讀取頭接觸；從接地探針記錄放電波形； 以及至少根據(jù)與基準(zhǔn)電壓電平相比的已知電壓電平的值，向交易卡分 配通過狀態(tài)和失敗狀態(tài)之一。所述第一位置和第二位置都可選自交易 卡上的多個區(qū)域。
在一個實施例中，對交易卡進(jìn)行靜電放電測試的方法包括把放 電探針充電到已知電壓電平；在交易卡上的笫一位置，使放電探針對 測試人員拿著的交易卡放電，從而把交易卡和測試人員充電到已知電 壓電平；使交易卡在交易卡上的第二位置與終端的讀取頭接觸；確定 終端是否出現(xiàn)異常，如果是，那么至少根據(jù)與基準(zhǔn)電壓電平相比的已 知電壓電平的值，向交易卡分配通過狀態(tài)和失敗狀態(tài)之一。
在一個實施例中，對交易卡進(jìn)行靜電放電測試的方法包括把放 電探針充電到已知電壓電平；在交易卡上的第一位置，使放電探針對 測試人員拿著的交易卡放電，從而把交易卡和測試人員充電到已知電 壓電平；使交易卡在交易卡上的第二位置與終端的讀取頭接觸；在讀 取頭記錄峰值電壓和電壓波形；以及至少根據(jù)與基準(zhǔn)電壓電平相比的 已知電壓電平的值，向交易卡分配通過狀態(tài)和失敗狀態(tài)之一。
在一個實施例中，對交易卡進(jìn)行靜電放電測試的方法包括把交 易卡充電到已知電壓電平；使交易卡刷過終端；以及根據(jù)是否出現(xiàn)異 常，向交易卡分配通過狀態(tài)和失敗狀態(tài)之一。
在一個實施例中，對交易卡進(jìn)行靜電放電測試的方法包括把交 易卡上的磁條充電到已知電壓電平；使交易卡刷過終端；以及根據(jù)是 否出現(xiàn)異常，向交易卡分配通過狀態(tài)和失敗狀態(tài)之一。
在一個實施例中，對交易卡進(jìn)行靜電放電測試的方法包括使交 易卡和導(dǎo)電材料摩擦；使交易卡刷過終端；以及根據(jù)是否出現(xiàn)異常， 向交易卡分配通過狀態(tài)和失敗狀態(tài)之一。
在一個實施例中，對交易卡進(jìn)行靜電放電測試的方法包括把交 易卡放在金屬面上，使得交易卡的第一側(cè)接觸金屬面，以及具有磁條 并且與第一側(cè)相對的第二側(cè)不接觸金屬面；確定交易卡的電容；以及根據(jù)所述電容是否超過閾值，向交易卡分配通過狀態(tài)和失敗狀態(tài)之一。


根據(jù)下面的說明和附圖，本發(fā)明的各個方面、特征、效益和優(yōu)點
將是顯而易見的，其中
圖1A和1B描述按照實施例的卡邊緣測量的例證測試區(qū)。
圖2描述按照實施例的卡組件測量的例證測試區(qū)。
圖3描述按照實施例的卡邊緣-組件測量的例證測試區(qū)。
圖4描述按照實施例，進(jìn)行測試的第一例證測試設(shè)置。
圖5描述按照實施例，進(jìn)行ESD波形和介電擊穿幅度測試的例證方法。
圖6描述按照實施例，進(jìn)行測試的第二例證測試設(shè)置。
圖7描述按照實施例，進(jìn)行ESD波形和電導(dǎo)率大小測試的例證方
法,
圖8描述按照實施例，進(jìn)行測試的第三例證測試設(shè)置。 圖9描述按照實施例，對接地讀取頭進(jìn)行ESD測試的例證方法。 圖IOA和IOB描述按照實施例，進(jìn)行測試的第四例證測試設(shè)置。 圖11描述按照實施例，進(jìn)行經(jīng)由人體的模擬放電測試的例證方
法,
圖12A和12B描述按照實施例，進(jìn)行測試的第五例證測試設(shè)置。 圖13描述按照實施例，進(jìn)行電導(dǎo)率測試的例證方法。 圖14描述按照實施例，進(jìn)行經(jīng)由充電板的摩擦生電模擬測試的例 證方法。
圖15描述按照實施例，進(jìn)行充電卡模擬測試的例證方法。 圖16描述按照實施例，進(jìn)行卡充電電平測試的例證方法。 圖17描述按照實施例，進(jìn)行卡電容和放電能量測試的例證方法。
具體實施例方式
這里使用的"未識別組件，，指的是交易卡上的以前未對其進(jìn)行ESD測試的組件。
可進(jìn)行一個或多個測試，以幫助識別由交易卡，尤其是帶有未識 別組件和元件的那些交易卡造成的支付交易的任何中斷。另外，這樣 的測試可識別當(dāng)把交易卡插入終端中時可能導(dǎo)致的潛在損壞。在一個 實施例中，交易卡的表現(xiàn)出與磁條不同的電氣屬性的任意元件可被看 作對該測試來說的未識別組件。可被看作未識別組件的交易卡組件可 包括(但不限于)卡的自供電電路、顯示器、傳感器、全息圖、或者交 易卡中或交易卡上的任何其它可視組件。
所述一種或多種測試提供用于識別由帶有未識別組件的交易卡在 設(shè)備正常過程中造成的任何交易中斷的基礎(chǔ)。測試可在交易卡上的
ESD事件期間的電氣屬性方面，比較帶有未識別元件的交易卡的性能 和碳基磁條卡的性能。在一個實施例中，如果帶有未識別元件的交易 卡的性能基本上與碳基磁條卡相同，那么可認(rèn)為帶有未識別元件的交 易卡通過了測試。
例如，可以使用三種測試設(shè)置來測試新的交易卡l)經(jīng)由專門設(shè) 計的不包括終端的測試設(shè)置的ESD模型和量值比較，2)利用終端讀取 頭進(jìn)行的ESD量值和極性比較，以及3)確定當(dāng)交易卡摩擦另一張卡、 皮革、尼龍、棉布和/或其它常見衣服材料時在交易卡上形成的電壓電 平，以提供在正常使用期間在交易卡上形成的電荷的電壓電平和極性 的指示。
根據(jù)交易卡在多種測試條件下的性能，可以提供關(guān)于交易卡的 ESD事件發(fā)生的預(yù)期結(jié)果的建議。例如，如果對于所有測試，交易卡 的性能基體上與碳基磁條卡相似，那么可認(rèn)為交易卡不太可能引起破 壞性的ESD事件。碳基磁條卡的性能可被選作基準(zhǔn)點，因為在超過 30年的使用碳基磁條卡的期間，沒有報告起因于ESD的終端故障事 件。
進(jìn)行ESD測試的^^型可以包括下述中的一個或多個l)IEC 61000-4-2(握有工具的人-150pF/330 Ohms) ， 2)ANSI/ESD STM 5.1-2001(人體模型-100pF/1500 Ohms)， 3)ANSI/ESD STM 5.2-1999(機器模型-200pF/0 Ohms),以及4)ANSI/ESD STM 5.3(帶電設(shè)備模型-條 電容/0 Ohms)。
ISO 7810是定義身份證或標(biāo)識卡的三種形狀因數(shù)的國際標(biāo)準(zhǔn) ID畫1(約8.56cmx約5.4cm), ID畫2(約10.5cmx約7.4cm)，以及ID-3(約 12.5cmx約8.8cm)。 ID-1形狀因數(shù)通常被用于交易卡，不過其它卡形 狀因數(shù)，包括未在ISO 7810中定義的形狀因數(shù)也可包括在本發(fā)明的 范圍之內(nèi)。
為了進(jìn)行測試，可在交易卡上定義不同的區(qū)域。第一區(qū)域("區(qū)域 l，，)可識別在正常刷卡或顛倒(upside-down)刷卡期間，磁條終端讀取頭 直接接觸交易卡的"不安全"區(qū)域。第一區(qū)域也可表示當(dāng)刷卡時用戶持 卡的部分。這樣，可沿著交易卡的正面上離卡的第一長邊lcm并且離 卡的第一短邊lcm的第一點以及離卡的第一長邊lcm并且離卡的第二 短邊lcm的第二點之間的線進(jìn)行測量("測試區(qū)1F")。也可測量由從卡 的第二長邊測量的點定義的類似線("測試區(qū)2F")。另外，可在卡的背 面進(jìn)行測量("測試區(qū)1B和2B")。圖1A和1B中描述了上面定義的區(qū) 域l的例證測試區(qū)(即，測試區(qū)1F、 2F、 1B和2B)。
對于交易卡可定義安全區(qū)。安全區(qū)可以是離兩個長邊均至少 1.9cm并且離兩個短邊均至少1.9cm的區(qū)域，如圖2中所示。如果未 識別組件至少部分位于安全區(qū)之外，那么可以定義兩個另外的區(qū)域。
對于關(guān)于組件的測量，可以定義第二區(qū)域("區(qū)域2")。第二區(qū)域可 被定義成從在組件的第一短邊內(nèi)約0.5cm的第一點到在組件的第二短 邊內(nèi)約0.5cm的第二點的線。在一個實施例中，第一點和第二點可以 近似在組件的兩個長邊之間的一半處。圖2中描述了例證的第二區(qū)域。
第三區(qū)域("區(qū)域3")可由關(guān)于區(qū)域1定義的點和關(guān)于區(qū)域2定義的 點定義。第三區(qū)域可包括由區(qū)域l的各個點和區(qū)域2的各個點的每種 組合定義的線(總共8條線)。圖3中描述了定義第三區(qū)域的一組例證 線。
可以使用用于測試的另外和/或備選區(qū)域。例如，可以選擇到交易 卡的邊緣距離不同的點。另外，對于一個或多個區(qū)域中的每一個，可以選擇更多或更少的點。根據(jù)本公開，這樣的修改對本領(lǐng)域的技術(shù)人 員來說是顯而易見的。
對于下面說明的每種測試，要求滿足一個或多個測試條件，以便 保證進(jìn)行的測試的再現(xiàn)性和可靠性。例如，要求測試環(huán)境的相對濕度
等于或小于約20%。此外，待測試的交易卡(以及用于通過和/或失敗 條件的任何對照卡)在相對濕度約12%的環(huán)境中被保存至少24小時， 同時在卡周圍進(jìn)行強制通風(fēng)。要求測試人員站在絕緣基體上，比如聚 四氟乙烯(E.I.duPontde Nemours and Co.的Teflon⑧)、聚甲基丙烯酸 甲酯(RohmandHaasCo.的Plexiglas )、和/或聚乙烯泡沫，以防止接 地。可以施加另外和/或備選的測試條件。
可用多個測試交易卡和多個對照交易卡進(jìn)行每個測試。測試交易 卡可包括被測試的交易卡設(shè)計。對照交易卡可包括用作通過標(biāo)準(zhǔn)的基 準(zhǔn)的碳基磁條卡。在一個實施例中，對照交易卡可包括已知工作失敗 的交易卡，比如在與測試情況相同或相似的情況下的工作期間，放出 造成終端設(shè)備失靈的量的靜電能量的特別制造的交易卡。
在一個實施例中，可以為測試定義一個或多個通過標(biāo)準(zhǔn)。例如， 一種標(biāo)準(zhǔn)可以是當(dāng)被測試的交易卡被充電到約5kV時，交易卡的放電 電流必須小于約500mA。另一標(biāo)準(zhǔn)要求被測試的交易卡具有小于約 lpF的電容。又一標(biāo)準(zhǔn)可以是被測試的交易卡的動態(tài)電阻必須大于約 lkft。再一標(biāo)準(zhǔn)可能要求來自被測試交易卡的放電能量小于約2nJ。 另一標(biāo)準(zhǔn)要求在充電和刷卡測試期間使用的ESD敏感終端上不發(fā)生 擊穿。另一標(biāo)準(zhǔn)要求在測試完成之后，所有被測試卡，包括所有可視 組件和/或交易接口功能(如果有的話)仍然可使用。對本領(lǐng)域的普通技 術(shù)人員來說，在本發(fā)明的范圍內(nèi)顯然可以使用另外和/或備選的標(biāo)準(zhǔn)， 包括適用的不同數(shù)值。
圖4描述按照一個實施例進(jìn)行測試的第一例證測試設(shè)置。如圖4 中所示，待測試卡405可被放在絕緣層410上。接地探針415可在笫 一測試點放在卡405上，以及放電探針420可在笫二測試點放在卡上。 接地探針415可與地連接，并且可用于當(dāng)發(fā)生ESD事件時，捕獲電流波形(如果有的話)。放電探針420可被用于以已知的電壓電平產(chǎn)生ESD 事件。
圖5描述按照一個實施例，進(jìn)行ESD波形和介電擊穿幅度測試的 例證方法。如圖5中所示，可在測試之前、測試期間和/或測試之后， 記錄505環(huán)境條件，比如相對濕度和溫度?？?05可祐j文在絕緣表面 410上，使得一個磁條邊緣在第一測試點接觸510接地探針415?？砂?照人體模型配置515放電探針420。在一個實施例中，放電探針420 可具有可調(diào)的電壓電平。例如，放電探針420最初可被設(shè)置520成已 知電壓電平，比如約500V。放電探針420隨后在第二測試點被放電 525。在一個實施例中，可才艮據(jù)例如由區(qū)域l、 2和3定義的測試區(qū)之 一，來選擇第一和第二測試點。
在從放電探針420靜電放電期間，可檢查530地線(即，接地探針 415)，以確定535是否發(fā)生放電事件(即，確定在放電探針的放電期間， 電流水平是否不為零)。如果發(fā)生放電事件，那么可記錄540電壓電平 (VESD)、峰值電流和/或電流的放電波形。否則，可把放電探針20的電 壓電平增大545到不同的電壓電平，比如約lkV、 5kV、 10kV、 15kV 或20kV。在本發(fā)明的范圍內(nèi)，可以使用放電探針420的備選和/或另 外的電壓電平。在放電探針420的電壓電平被增大545之后，放電探 針可再次被放電525。在一個實施例中，在以增大的電壓電平使放電 探針420放電525之前，要求經(jīng)過一段時間，比如至少約2分鐘。
如果在最大測試電壓電平下，發(fā)生了放電事件或者未發(fā)生放電事 件，那么可選擇550新卡405進(jìn)行測試。在一個實施例中，可以測試 多個測試卡和多個對照卡。在一個實施例中，多個對照卡包括多個通 過標(biāo)準(zhǔn)卡和多個失敗標(biāo)準(zhǔn)卡。在一個實施例中，可對由每個卡405的 區(qū)域l、 2和3定義的每個測試區(qū)進(jìn)行測試。在一個實施例中，如果測
試卡的vesd與通過標(biāo)準(zhǔn)卡的Vesd相當(dāng)，以及如果在測試卡的放電波
形和通過標(biāo)準(zhǔn)卡的放電波形之間未觀察到明顯差異，那么可認(rèn)為測試 卡405通過了測試。對本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在本發(fā)明的范圍 之內(nèi)顯然可以使用另外和/或備選的標(biāo)準(zhǔn)，包括適用的不同數(shù)值。圖6描述按照一個實施例，進(jìn)行測試的第二例證測試設(shè)置。如圖 6中所示，待測試卡405可被放在絕緣層410上。接地探針415在第 一測試點放在卡405上，放電探針420在第二測試點放在卡上。接地 探針415可與地連接，并可用于捕獲當(dāng)發(fā)生ESD事件時的電流波形(如 果有的話)。放電探針420可被用于以已知的電壓電平產(chǎn)生ESD事件。 第一測試點可以沿著卡405的邊緣并且接觸卡的磁條。第二測試點可 以沿著卡405的對邊并接觸卡的磁條。
圖7描述按照一個實施例，進(jìn)行ESD波形和電導(dǎo)率大小測試的例 證方法。如圖7中所示，可在測試之前、測試期間和/或測試之后，記 錄705環(huán)境條件，比如相對濕度和溫度。卡405可被放在絕緣表面410 上，使得一個磁條邊緣在第一測試點接觸710接地探針415?？砂凑?人體模型配置715放電探針420。在一個實施例中，放電探針420的 電阻是可調(diào)的。例如，放電探針420最初可被^殳置成720約1500Q。 另夕卜，放電探針420的電壓電平可被設(shè)置成720約5kV。放電探針420 隨后在第二測試點被放電725。通過在接地探針415檢查電流波形， 可觀察730放電電流。在一個實施例中，可確定由從放電探針420的 ESD放電引起的峰值電流和電流波形。通過把放電探針420的電壓電 平除以峰值電流(安培)，可計算735動態(tài)電阻。隨后，以對于放電探 針420來說約OQ的電阻重復(fù)測試。在本發(fā)明的范圍之內(nèi)可以使用放 電探針420的另外和/或備選電阻水平和電壓電平?？稍诿總€電阻水平 對每個待測試卡405重復(fù)進(jìn)行測試。
圖8描述按照一個實施例進(jìn)行測試的第三例證測試設(shè)置。如圖8 中所示，待測試卡405可被放在絕緣層410上。終端讀取頭805可在 第一測試點放在卡405上，放電探針420可在第二測試點放在卡上。 終端讀取頭805可經(jīng)地線接地，并可用于捕獲當(dāng)發(fā)生ESD事件時的電 流波形(如果有的話)。例如，可從終端讀取頭805的引腳和外殼捕荻 電流波形。放電探針420可被用于以已知的電壓電平產(chǎn)生ESD事件。
圖9描述按照一個實施例，對接地讀取頭進(jìn)行ESD測試的例證方 法。如圖9中所示，可在測試之前、測試期間和/或測試之后，記錄905環(huán)境條件，比如相對濕度和溫度?？?05可纟皮i文在絕緣表面410上。 放電探針420的電壓電平是可調(diào)的。例如，放電探針420最初被設(shè)置 成910約-5kV。當(dāng)把放電探針420放在卡405上時，放電探針可被放 置915在第一測試點。當(dāng)放電探針420被放置915在第一測試點時， 測試人員可握著卡405并接觸絕緣表面410，以把卡和測試人員充電 到相同的輸出電位。終端讀取頭805隨后可在第二測試點被放置920 在卡405上。在一個實施例中，例如可根據(jù)由區(qū)域l、 2和3定義的測 試區(qū)之一，來選擇第一和第二測試點。
在從放電探針420放電925期間，可檢查930與終端讀取頭805 的外殼連接的地線，以確定935是否發(fā)生放電事件(即，確定在放電探 針的放電期間，電流水平是否不為零)。如果發(fā)生了放電事件，那么可 記錄940終端讀取頭805的引腳處的電壓電平(VEsm)、峰值電流和/
或電流的i文電波形，和/或終端讀取頭805的外殼的電壓電平(vesd2)。
否則，放電探針420的電壓電平被增大945到不同的電壓電平，比如 約lkV、 2.5kV、 5kV或10kV。在本發(fā)明的范圍內(nèi)，也可以使用i欠電 探針420的備選和/或其它電壓電平。在增大945放電探針420的電壓 電平之后，放電探針可再次被放電925。在一個實施例中，每個測試 可進(jìn)行多次。在一個實施例中，在進(jìn)行測試或者在以增大的電壓電平 進(jìn)行測試之前，卡405可被電離。
如果在最大測試電壓下發(fā)生了放電事件，或者未發(fā)生放電事件， 那么可選擇950新卡405進(jìn)行測試。在一個實施例中，可以測試多個 測試卡和多個對照卡。在一個實施例中，多個對照卡可包括多個通過 標(biāo)準(zhǔn)卡和多個失敗標(biāo)準(zhǔn)卡。在一個實施例中，可對由每個卡405的區(qū) 域l、 2和3定義的每個測試區(qū)進(jìn)行測試。在一個實施例中，如果測試
卡405的VEsw與通過標(biāo)準(zhǔn)卡的Ves!H相當(dāng)，如果測試卡的Vesd2與通
過標(biāo)準(zhǔn)卡的Vesd2相當(dāng)，以及如果在測試卡的^:電波形與通過標(biāo)準(zhǔn)卡 的放電波形之間未觀察到明顯的差異，那么可認(rèn)為測試卡405通過了 測試。對本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在本發(fā)明的范圍之內(nèi)顯然可以 使用另外和/或備選的標(biāo)準(zhǔn)，包括適用的不同數(shù)值。圖IOA和IOB描述按照一個實施例，進(jìn)行測試的第四例證測試設(shè) 置。如圖10A和10B中所示，在測試期間，卡405可被插入讀卡器(終 端)1005中。在使卡刷過終端1005之前，可利用放電探針420對卡405 充電。第一測試點，比如卡405上的卡磁條1010上的第一測試點可接 觸終端讀取頭1015，以確定卡上的電荷是否會造成終端1005發(fā)生異 常。在一個實施例中，當(dāng)^皮充電時和在測試期間，卡405可由測試人 員拿著。
圖11描述按照一個實施例進(jìn)行經(jīng)由人體的模擬放電測試的例證 方法。如圖11中所示，可在測試之前、測試期間和/或測試之后，記 錄1105環(huán)境條件，比如相對濕度和溫度。放電探針420可被充電1110 到初始電壓電平，比如約-500V。測試人員隨后可握著1115卡405, 使得測試人員接觸卡的表面和邊緣。測試人員隨后接觸1120卡405 與放電探針420，以對卡靜電充電。在卡405被充電之后，可使放電 探針420與卡脫離接觸，卡可被插入終端1005中，使得卡的至少一部 分磁條1010接觸1125終端讀取頭1015。測試人員可確定1130當(dāng)卡 405接觸1125終端讀取頭1015時，終端1005是否重新啟動、重新初 始化、凍結(jié)或表現(xiàn)出任何其它異常。如果是，那么可記錄1135卡405 被充電到的電壓(VESD)。否則，卡405的電壓電平可被增大1140到不 同的電壓電平，比如大約lkV， 2.5kV， 5kV或10kV，并重復(fù)上面的 測試。在一個實施例中，在對卡進(jìn)行后續(xù)的重復(fù)測試之前，卡405可 被電離。在一個實施例中，當(dāng)被充電到特定電壓電平時，卡405可被 測試多次。在一個實施例中，可以測試1145多個卡405，比如一個或 多個待測試卡、 一個或多個通過標(biāo)準(zhǔn)卡和/或一個或多個失敗標(biāo)準(zhǔn)卡。
如果測試卡的VESD與通過標(biāo)準(zhǔn)卡的VESD相當(dāng)，那么可認(rèn)為測試卡405
通過測試。對本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在本發(fā)明的范圍內(nèi)顯然可 以使用另外和/或備選的標(biāo)準(zhǔn)，包括適用的不同數(shù)值。
圖12A和12B描述按照一個實施例進(jìn)行測試的第五例證測試設(shè) 置。如圖12A和12B中所示，在測試期間，卡405 ^皮插入終端1005 中。在使卡刷過終端1005之前，可利用放電探針420對卡405充電。第一測試點，比如卡405上的卡磁條1010上的第一測試點可接觸放置 在終端1005內(nèi)的接地探針415。在一個實施例中，當(dāng)被充電時以及在 測試期間，卡405可由測試人員拿著。
圖13描述按照 一 個實施例，進(jìn)行經(jīng)由人體的模擬放電測試的例證 方法。如圖13中所示，可在測試之前、測試期間和/或測試之后，記 錄1305環(huán)境條件，比如相對濕度和溫度。放電探針420可被充電1310 到初始電壓電平，比如約-500V。測試人員隨后可握著1315卡405， 使得測試人員接觸卡的表面和邊緣。測試人員隨后接觸1320卡405 與放電探針420，以對卡靜電充電。在卡405被充電之后，可使放電 探針420與卡脫離接觸，卡可被插入終端1005中，使得卡的磁條IOIO 的一部分接觸1325接地探針415?？蓮慕拥靥结?15記錄1330丄奪值 電壓和電壓和/或電流波形?？?05的電壓電平可被增大1335到不同 的電壓電平，比如大約lkV, 2.5kV, 5kV或10kV，并重復(fù)上面的測 試。在一個實施例中，可在增大的電壓下重復(fù)測試，直到擊穿為止。 在一個實施例中，在對卡進(jìn)行后續(xù)的重復(fù)測試之前，卡405可被電離。 在一個實施例中，在特定電壓下，卡405可^皮測試多次。在一個實施 例中，可以測試1340多個卡405，比如一個或多個待測試卡、 一個或 多個通過標(biāo)準(zhǔn)卡和/或一個或多個失敗標(biāo)準(zhǔn)卡。如果測試卡的Vesd與 通過標(biāo)準(zhǔn)卡的Vesd相當(dāng)，那么可認(rèn)為測試卡405通過測試。對本領(lǐng)域 的普通技術(shù)人員來說，在本發(fā)明的范圍內(nèi)顯然可以使用另外和/或備選 的標(biāo)準(zhǔn)，包括適用的不同數(shù)值。
圖14描述按照一個實施例，進(jìn)行經(jīng)由充電板的摩擦生電模擬測試 的例證方法。如圖14中所示，可在測試之前、測試期間和/或測試之 后，記錄1405環(huán)境條件，比如相對濕度和溫度。例如利用電暈充電設(shè) 備(未示出)，卡405可被充電1410到某一電壓電平，比如約30kV。 隨后可在終端中刷過1415卡405。測試人員可確定1420當(dāng)卡405被 刷過1415時，終端是否重新啟動、重新初始化、凍結(jié)或表現(xiàn)出任何其 它異常。終端表現(xiàn)出異常(如果有的話)的卡電壓電平可被確定1425。 如果終端表現(xiàn)出異常，那么可認(rèn)為1430測試卡405未通過測試。否則，可il為測試卡通過測試1435。在一個實施例中，在重復(fù)測試期間，卡 405可被電離?？衫蒙鲜鲞^程多次測試卡405。在一個實施例中，可 以測試1440多個卡405，比如一個或多個待測試卡、 一個或多個通過 標(biāo)準(zhǔn)卡和/或一個或多個失敗標(biāo)準(zhǔn)卡。對本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說， 在本發(fā)明的范圍內(nèi)顯然可以使用另外和/或備選的標(biāo)準(zhǔn)，包括適用的不 同數(shù)值。
圖15描述按照一個實施例，進(jìn)行充電卡模擬測試的例證方法。如 圖15中所示，可在測試之前、測試期間和/或測試之后，記錄1505環(huán) 境條件，比如相對濕度和溫度?？?05上的石茲條可纟皮充電1510到初始 電壓電平，比如約-500V。隨后可在終端中刷過1515卡。測試人員可 確定1520當(dāng)卡405 #_刷過1515時，終端是否重新啟動、重新初始化、 凍結(jié)或表現(xiàn)出任何其它異常。如果終端出現(xiàn)異常，那么發(fā)生異常的磁 條電壓可被記錄，并且可認(rèn)為1525卡405失敗。在刷卡1515之后， 卡405可被電離。在特定電壓電平下，可對每張卡405重復(fù)進(jìn)行多次 測試。在再次進(jìn)行測試之前，卡405上的磁條可^皮充電1530到不同的 電壓，比如大約-lkV、國2.5kV、 -5kV、畫10kV、 500V、 lkV、 2.5kV、 5kV或10kV。如果終端未表現(xiàn)出任何異常，那么可認(rèn)為1535測試卡 405通過了測試。在一個實施例中，可以測試1540多個卡405,比如 一個或多個待測試卡、 一個或多個通過標(biāo)準(zhǔn)卡和/或一個或多個失敗標(biāo) 準(zhǔn)卡。對本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在本發(fā)明的范圍內(nèi)顯然可以使
用另外和/或備選的標(biāo)準(zhǔn)，包括適用的不同數(shù)值。
圖16描述按照一個實施例，進(jìn)行卡充電電平測試的例證方法。如 圖16中所示，可在測試之前、測試期間和/或測試之后，記錄1605環(huán) 境條件，比如相對濕度和溫度。通過使卡405摩擦例如(但不限于)另 一張卡、皮革、尼龍、棉布和/或一種或多種其它材料，卡405可被充 電1610。隨后，可在終端中刷過1615卡。終端可包括仿真讀取頭。 靜電放電波形可被捕獲1620,以及峰值放電電流可被記錄1625。如果 確定1630測試卡405的峰值^L電電流與通過標(biāo)準(zhǔn)卡基本相似和/或基 本不同于失敗標(biāo)準(zhǔn)卡，那么可認(rèn)為1635測試卡通過了測試。否則，可i人為1640測試卡405失敗。在一個實施例中，可以測試1645多個卡 405，比如一個或多個待測試卡、 一個或多個通過標(biāo)準(zhǔn)卡和/或一個或 多個失敗標(biāo)準(zhǔn)卡。在一個實施例中，每張卡405可被測試多次。對本 領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在本發(fā)明的范圍內(nèi)顯然可以使用另外和/ 或備選的標(biāo)準(zhǔn)，包括適用的不同數(shù)值。
圖17描述按照一個實施例，進(jìn)行卡電容和放電能量測試的例證方 法。如圖17中所示，可在測試之前、測試期間和/或測試之后，記錄 1705環(huán)境條件，比如相對濕度和溫度?？?05可被這樣放置1710，使 得卡的不包括磁條的一側(cè)接觸平坦金屬面。電容計(未示出)可與平坦 金屬面和卡405的磁條連接，以測量1715卡的電容。利用下述7>式 五二^:6.25xl06c可計算1720卡405的放電能量，其中C是卡的電容。
2
隨后可確定1725卡電容是否小于闊值，比如約lpF。如果是，那么可 i/v為1730測試卡405通過測試。否則，*〖人為測試卡405失敗l"5。 可對每張待測試卡重復(fù)1740該測試。對本領(lǐng)域的普通4支術(shù)人員來說， 在本發(fā)明的范圍內(nèi)顯然可以使用另外和/或備選的標(biāo)準(zhǔn)，包括適用的不 同數(shù)值。
要認(rèn)識到上面公開的特征和功能，以及其它特征和功能，或者它 們的備選物可被組合到許多不同系統(tǒng)或應(yīng)用中。另外，要認(rèn)識到本領(lǐng) 域的技術(shù)人員此后能夠做出各種目前未預(yù)見到的或者意料之外的備選 方案，修改，變化或改進(jìn)。這樣的備選方案，修改，變化和改進(jìn)也包 括在下面的權(quán)利要求中。
權(quán)利要求
1、一種對交易卡進(jìn)行靜電放電測試的方法，所述方法包括把交易卡放在絕緣表面上；把接地探針放在交易卡上的第一位置；把放電探針充電到已知電壓電平；使放電探針在交易卡上的第二位置放電；從接地探針記錄放電波形；以及至少根據(jù)與基準(zhǔn)電壓電平相比的已知電壓電平的值，向交易卡分配通過狀態(tài)和失敗狀態(tài)之一，其中，所述第一位置和第二位置都選自交易卡上的多個區(qū)域。
2、 按照權(quán)利要求1所述的方法，其中，向交易卡分配通過狀態(tài)和 失敗狀態(tài)之一還基于放電波形是否與基準(zhǔn)放電波形基本相似。
3、 按照權(quán)利要求1所述的方法，其中， 所述第一位置包括下述之一交易卡的磁條上離交易卡的第一邊緣約0.5cm的第一點， 交易卡上離交易卡的笫一邊緣約lcm并且離交易卡的第二邊 緣約lcm的第二點，從交易卡上的一個組件的第一邊緣向內(nèi)約0.5cm的第三點；以及所述第二位置包括下述之一磁條上離交易卡的第三邊緣約0.5cm的第四點，其中，交易 卡的第三邊緣與交易卡的第一邊緣相對，交易卡上離交易卡的第二邊緣約lcm并且離交易卡的第三邊 緣約lcm的第五點，以及從所述組件的第二邊緣向內(nèi)約0.5cm的第六點，其中，所述 組件的第二邊緣與所述組件的第 一 邊緣相對。
4、 按照權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述已知電壓電平包含介 于約500伏和約20000伏之間的電壓電平。
5、 按照權(quán)利要求4所述的方法，其中，所述放電探針具有約100pF 的電容和約1500歐姆的電阻。
6、 按照權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述基準(zhǔn)電壓電平基于碳 基磁條卡失敗的電壓。
7、 一種對交易卡進(jìn)行靜電放電測試的方法，所述方法包括 把交易卡放在絕緣表面上，其中，所述交易卡包含磁條；沿交易卡的第 一邊緣把接地探針放在磁條上； 把放電探針充電到已知電壓電平；使放電探針沿交易卡的第二邊緣在磁條上放電，其中，第二邊緣 與第一邊緣相對；從接地探針記錄放電波形；以及至少根據(jù)放電波形是否基本類似于基準(zhǔn)放電波形，向交易卡分配 通過狀態(tài)和失敗狀態(tài)之一。
8、 按照權(quán)利要求7所述的方法，其中，所述已知電壓電平包含約 5000伏。
9、 按照權(quán)利要求7所述的方法，其中，所述放電探針具有約O歐 姆的電阻。
10、 按照權(quán)利要求7所述的方法，其中，所述放電探針具有約1500 歐姆的電阻。
11、 按照權(quán)利要求7所述的方法，其中，所述基準(zhǔn)放電波形基于 在碳基磁條卡失敗的電壓電平下碳基磁條卡所表現(xiàn)的波形。
12、 一種對交易卡進(jìn)行靜電放電測試的方法，所述方法包括 使讀取頭連接到地電壓電平，其中，所述讀取頭包含外殼和一個或多個引腳；把放電探針充電到已知電壓電平；使放電探針在交易卡上的第一位置對測試人員拿著的交易卡放 電，從而把交易卡和測試人員充電到已知電壓電平； 使交易卡在交易卡上的第二位置與讀取頭接觸； 從4妄地探針記錄》文電波形；以及至少根據(jù)與基準(zhǔn)電壓電平相比的已知電壓電平的值，向交易卡分 配通過狀態(tài)和失敗狀態(tài)之一，其中，所述第一位置和第二位置都選自交易卡上的多個區(qū)域。
13、 按照權(quán)利要求12所述的方法，其中，向交易卡分配通過狀態(tài) 和失敗狀態(tài)之一還基于放電波形是否與基準(zhǔn)放電波形基本相似。
14、 按照權(quán)利要求12所述的方法，其中，從接地探針記錄放電波 形包括從接地探針的至少一個引腳記錄放電波形。
15、 按照權(quán)利要求12所述的方法，其中，從接地探針記錄放電波 形包括從接地探針的外殼記錄放電波形。
16、 按照權(quán)利要求12所述的方法，其中 所述第一位置包括下述之一交易卡的磁條上離交易卡的第一邊緣約0.5cm的第一點， 交易卡上離交易卡的第一邊緣約lcm并且離交易卡的第二邊緣約lcm的第二點，從交易卡上的一個組件的第一邊緣向內(nèi)約0.5cm的第三點；以及所述第二位置包括下述之一磁條上離交易卡的第三邊緣約0.5cm的第四點，其中，交易卡的第三邊緣與交易卡的第一邊緣相對，交易卡上離交易卡的第二邊緣約lcm并且離交易卡的第三邊緣約 lcm的第五點，以及從所述組件的第二邊緣向內(nèi)約0.5cm的第六點，其中，所述組件 的第二邊緣與所述組件的第一邊緣相對。
17、 按照權(quán)利要求12所述的方法，其中，所述已知電壓電平包含 介于約-5000伏和約10000伏之間的電壓電平。
18、 按照權(quán)利要求12所述的方法，其中，所述基準(zhǔn)電壓電平基于 碳基磁條卡失敗的電壓。
19、 一種對交易卡進(jìn)行靜電放電測試的方法，所述方法包括 把放電探針充電到已知電壓電平；使放電探針在交易卡上的第 一位置對測試人員拿著的交易卡放電，從而把交易卡和測試人員充電到已知電壓電平；使交易卡在交易卡上的第二位置與終端的讀取頭接觸； 確定終端是否出現(xiàn)異常；以及如果出現(xiàn)異常，那么至少根據(jù)與基準(zhǔn)電壓電平相比的已知電壓電 平的值，向交易卡分配通過狀態(tài)和失敗狀態(tài)之一。
20、 按照權(quán)利要求19所述的方法，其中，所述異常包含重新啟動 終端、重新初始化終端、和暫停終端的操作中的一個或多個。
21、 按照權(quán)利要求19所述的方法，其中，所述第一位置包含交易 卡的磁條上離交易卡的第一邊緣約0.5cm的第一點，其中，所述第二 位置包含磁條上離交易卡的第二邊緣約0.5cm的第二點，其中，所述 交易卡的第二邊緣與交易卡的第一邊緣相對。
22、 按照權(quán)利要求19所述的方法，其中，所述已知電壓電平包含 介于約-1000伏和約10000伏之間的電壓電平。
23、 按照權(quán)利要求19所述的方法，其中，所述基準(zhǔn)電壓電平基于 碳基磁條卡失敗的電壓。
24、 一種對交易卡進(jìn)行靜電放電測試的方法，所述方法包括 把放電探針充電到已知電壓電平；使放電探針在交易卡上的第一位置對測試人員拿著的交易卡放 電，從而把交易卡和測試人員充電到已知電壓電平；使交易卡在交易卡上的第二位置與終端的讀取頭接觸； 在讀取頭記錄峰值電壓和電壓波形；以及至少根據(jù)與基準(zhǔn)電壓電平相比的已知電壓電平的值，向交易卡分 配通過狀態(tài)和失敗狀態(tài)之一。
25、 按照權(quán)利要求24所述的方法，其中，所述第一位置包含交易 卡的磁條上離交易卡的第一邊緣約0.5cm的第一點，其中，所述第二 位置包含磁條上離交易卡的第二邊緣約0.5cm的第二點，其中，所述 交易卡的第二邊緣與交易卡的第一邊緣相對。
26、 按照權(quán)利要求24所述的方法，其中，所述已知電壓電平包含介于約-1000伏和約10000伏之間的電壓電平。
27、 按照權(quán)利要求24所述的方法，其中，所述基準(zhǔn)電壓電平基于 碳基磁條卡失敗的電壓。
28、 一種對交易卡進(jìn)行靜電放電測試的方法，所述方法包括 把交易卡充電到已知電壓電平；使交易卡刷過終端；以及根據(jù)在終端中是否出現(xiàn)異常，向交易卡分配通過狀態(tài)和失敗狀態(tài) 之一。
29、 按照權(quán)利要求28所述的方法，其中，所述異常包含重新啟動 終端、重新初始化終端、和暫停終端的操作中的一個或多個。
30、 按照權(quán)利要求28所述的方法，其中，所述已知電壓電平包含 約30000伏。
31、 一種對交易卡進(jìn)行靜電放電測試的方法，所述方法包括 把交易卡上的磁條充電到已知電壓電平； 使交易卡刷過終端；以及根據(jù)在終端中是否出現(xiàn)異常，向交易卡分配通過狀態(tài)和失敗狀態(tài)之一。
32、 按照權(quán)利要求31所述的方法，其中，所述異常包含重新啟動 終端、重新初始化終端、和暫停終端的操作中的一個或多個。
33、 按照權(quán)利要求31所述的方法，其中，所述已知電壓電平包含 介于約-10000伏和約10000伏之間的電壓電平。
34、 一種對交易卡進(jìn)行靜電放電測試的方法，所述方法包括 使交易卡和導(dǎo)電材料摩擦；使交易卡刷過終端；以及根據(jù)在終端中是否出現(xiàn)異常，向交易卡分配通過狀態(tài)和失敗狀態(tài) 之一。
35、 按照權(quán)利要求34所述的方法，其中，所述導(dǎo)電材料包含塑料、 皮革、尼龍和棉布中的一個或多個。
36、 按照權(quán)利要求34所述的方法，其中，所述異常包含重新啟動終端、重新初始化終端、和暫停終端的操作中的一個或多個。
37、 按照權(quán)利要求34所述的方法，其中，使交易卡刷過終端包含:使交易卡與終端的讀取頭接觸，所述方法還包括 在讀取頭記錄峰值電壓和電壓波形。
38、 一種對交易卡進(jìn)行靜電放電測試的方法，所述方法包括 把交易卡放在金屬面上，使得交易卡的第一側(cè)接觸金屬面，其中，第二側(cè)包含磁條，其中，第二側(cè)與第一側(cè)相對并且不接觸金屬面； 確定交易卡的電容；根據(jù)所述電容是否超過閾值，向交易卡分配通過狀態(tài)和失敗狀態(tài) 之一0
39、 按照權(quán)利要求38所述的方法，其中，確定交易卡的電容包含 使電容計的第一探針與金屬面連接；以及使電容計的第二探針與磁條連接。
40、 按照權(quán)利要求38所述的方法，其中，所述閾值包含約lpF。
全文摘要
公開了對交易卡(405)進(jìn)行靜電放電測試的方法。把交易卡放在絕緣表面(410)上。把接地探針(415)放在交易卡上的第一位置。把放電探針(420)充電到已知電壓電平。隨后使放電探針在交易卡上的第二位置放電。從接地探針記錄放電波形，至少根據(jù)與基準(zhǔn)電壓電平相比的已知電壓電平的值，來分配通過狀態(tài)和失敗狀態(tài)之一。所述第一位置和第二位置都選自交易卡上的多個區(qū)域。
文檔編號G06K7/00GK101689242SQ200880006644
公開日2010年3月31日 申請日期2008年1月18日 優(yōu)先權(quán)日2007年1月19日
發(fā)明者C·尼爾森, E·庫爾泰克, J·拉斯, M·C·托普, S·威茨, 騰 黃 申請人:維薩美國公司