專利名稱：一種rfid標(biāo)簽天線一致性的基準(zhǔn)測試系統(tǒng)及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及射頻識別技術(shù)的測試領(lǐng)域技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種對RFID標(biāo)簽天線 的一致性進行測試的系統(tǒng)及方法。
背景技術(shù)：
RFID全稱為射頻識別(Radio Frequency Identification)，是一種利用射頻技 術(shù)實現(xiàn)的非接觸式自動識別技術(shù)。RFID標(biāo)簽具有體積小、讀寫速度快、形狀多樣、使用壽命 長、可重復(fù)使用、存儲容量大、能穿透非導(dǎo)電性材料等特點，結(jié)合RFID讀寫器可以實現(xiàn)多目 標(biāo)識別和移動目標(biāo)識別，進一步通過與互聯(lián)網(wǎng)技術(shù)的結(jié)合還可以實現(xiàn)全球范圍內(nèi)物品的跟 蹤與信息的共享。RFID技術(shù)應(yīng)用于物流、制造、公共信息服務(wù)等行業(yè)，可大幅提高管理與運 作效率，降低成本。 RFID技術(shù)目前已經(jīng)成為IT領(lǐng)域的熱點，眾多機構(gòu)和企業(yè)都在大力推廣這種技術(shù)。 隨著RFID技術(shù)飛速發(fā)展，相關(guān)產(chǎn)品的生產(chǎn)廠家逐漸增多，RFID標(biāo)簽的品種也已經(jīng)上升到數(shù) 百種，并且還在不斷推出新的產(chǎn)品。為了在繁多的RFID標(biāo)簽中選擇最能夠滿足使用者需求 的產(chǎn)品，就需要對RFID產(chǎn)品的性能指標(biāo)進行專門的測試，RFID標(biāo)簽天線的一致性即是RFID 標(biāo)簽產(chǎn)品的重要性能指標(biāo)之一。RFID標(biāo)簽天線一致性是指對于同一款電子標(biāo)簽，由于制 造工藝、加工精度等因素造成的不同樣本之間的電磁性能差異性，差異性越小，則一致性越 強。 眾所周知，RFID標(biāo)簽由標(biāo)簽芯片和標(biāo)簽天線兩個主要部分構(gòu)成，通過導(dǎo)電膠工藝 粘接形成一個整體。為了提高RFID標(biāo)簽的整體性能表現(xiàn)，特別是RFID標(biāo)簽的讀取距離，就 必須有效降低標(biāo)簽芯片的功耗和提高標(biāo)簽天線的阻抗匹配性。其中，標(biāo)簽芯片通常是由超 大規(guī)模集成電路設(shè)計而成，定型后的產(chǎn)品功耗和阻抗都具有比較好的一致性。標(biāo)簽天線的 阻抗匹配性雖然是在設(shè)計時主要考慮的內(nèi)容之一，但是在加工過程中，由于天線的基材配 比、腐蝕、噴涂等工藝的限制，還是可能出現(xiàn)同款標(biāo)簽天線設(shè)計加工出的標(biāo)簽天線產(chǎn)品在基 材介電常數(shù)、尺寸、厚度等參數(shù)出現(xiàn)細(xì)微的差異，使得加工出的標(biāo)簽天線與設(shè)計阻抗不符； 此外，在封裝過程中，由于封裝工藝和封裝設(shè)備的精度所限，導(dǎo)電膠的用量不一也會影響 RFID標(biāo)簽的整體阻抗。以上因素匯總在一起就會影響RFID標(biāo)簽的整體性能表現(xiàn)。由于標(biāo) 簽天線是造成該影響的主導(dǎo)因素，因此，對RFID標(biāo)簽在加工過程中產(chǎn)生的一致性及穩(wěn)定性 問題的基準(zhǔn)測試可以通稱為RFID標(biāo)簽天線一致性基準(zhǔn)測試。 基準(zhǔn)測試的目的是通過設(shè)計合理的測試方法、測試流程和測試工具對一類測試對 象的某項性能指標(biāo)進行測試，并且保證測試取得的結(jié)果是可比較的、可重復(fù)的。使用基準(zhǔn)測 試方法對RFID標(biāo)簽天線的一致性進行測試，不僅可以直接得到一款RFID標(biāo)簽產(chǎn)品的一致 性偏差，還可以通過和其它RFID標(biāo)簽產(chǎn)品的一致性偏差相比較，挑選出最符合使用者需求 的產(chǎn)品。 目前已有的RFID產(chǎn)品性能測試案例中，包括對RFID標(biāo)簽在物品上的粘貼位置的 測試，以及測試成巻RFID標(biāo)簽的工作狀態(tài)等，但是對RFID標(biāo)簽天線的一致性進行基準(zhǔn)測
4試，仍屬于尚未被關(guān)注的領(lǐng)域之一。

發(fā)明內(nèi)容
為了解決對RFID標(biāo)簽天線的一致性進行高效測試的技術(shù)急需的問題，本發(fā)明的 目的是為使用者提供一種簡單、明確、有效的自動化測試工具和基準(zhǔn)測試方法，用以在標(biāo)準(zhǔn) 測試環(huán)境下快速評價一款RFID標(biāo)簽所表現(xiàn)出的天線一致性及RFID標(biāo)簽整體的電磁性能穩(wěn) 定性，從而為使用者設(shè)備選型提供決策參考，為此，本發(fā)明提供一種RFID標(biāo)簽天線一致性 的基準(zhǔn)測試系統(tǒng)及方法。 為達成所述目的，本發(fā)明提供的RFID標(biāo)簽天線一致性的基準(zhǔn)測試系統(tǒng)，包括水平 導(dǎo)軌、導(dǎo)軌滑塊、滑塊控制器、待測標(biāo)簽支架、天線支架、測試天線、RFID信號仿真器、控制 臺，其中水平導(dǎo)軌置于標(biāo)準(zhǔn)測試環(huán)境的水平地面上，導(dǎo)軌滑塊與水平導(dǎo)軌機械相連，由滑塊 控制器通過預(yù)先設(shè)定的程序驅(qū)動導(dǎo)軌滑塊沿著導(dǎo)軌方向運動，滑塊控制器與控制臺通過數(shù) 據(jù)線連接，待測標(biāo)簽支架置于導(dǎo)軌滑塊上方，測試天線通過天線支架固定于水平導(dǎo)軌的一 端，與RFID信號仿真器通過射頻饋線相連，用于發(fā)送和接收RFID射頻信號，RFID信號仿 真器與控制臺通過數(shù)據(jù)線相連，發(fā)送測試數(shù)據(jù)并在控制臺上匯總計算及圖形化顯示測試結(jié) 果。 為達成所述目的，本發(fā)明提供的RFID標(biāo)簽天線一致性的基準(zhǔn)測試方法，包括以下 步驟 步驟(1):在一組使用同一集成電路芯片及相同天線設(shè)計加工的RFID標(biāo)簽中隨機 抽取N個(N > 10)作為測試樣本，稱為待測標(biāo)簽{T。， 1\，…，T山首先將待測標(biāo)簽T。放置 于待測標(biāo)簽支架的頂部； 步驟(2):通過滑塊控制器驅(qū)動導(dǎo)軌滑塊移動到初始位置，使待測標(biāo)簽支架和天 線支架之間的距離為初始距離d。； 步驟(3):打開RFID信號仿真器，以固定頻率、固定功率發(fā)射RFID讀寫器詢問指 令(QUERY)，并記錄待測標(biāo)簽返回信號的接收信號強度； 步驟(4) :RFID信號仿真器將該接收信號強度數(shù)據(jù)發(fā)送至控制臺存儲； 步驟(5):控制臺向滑塊控制器發(fā)出指令，驅(qū)動導(dǎo)軌滑塊向水平導(dǎo)軌遠(yuǎn)端移動Ad
的距離，并重復(fù)第步驟(3) 步驟(5)，直到導(dǎo)軌滑塊已經(jīng)運動到水平導(dǎo)軌最遠(yuǎn)端的位置，
此時待測標(biāo)簽支架和天線支架之間的距離為最終距離df ; 步驟(6):控制臺將接收到的一組距離——接收信號強度數(shù)據(jù)繪制為曲線，其中橫 坐標(biāo)為距離，范圍從d。至df，以A d為刻度單位，縱坐標(biāo)為接收信號強度值，曲線顯示在控 制臺的顯示界面上； 步驟(7):將待測標(biāo)簽替換為下一個測試樣本，重復(fù)進行步驟(2)至步驟(6)，直至 所有待測標(biāo)簽測試完畢； 步驟(8):在控制臺上計算每個測試距離下N個待測標(biāo)簽接收信號強度值的平均 值和樣本標(biāo)準(zhǔn)差； 步驟(9):在控制臺上計算樣本標(biāo)準(zhǔn)差之和，表示該組RFID標(biāo)簽天線一致性的基 準(zhǔn)測試結(jié)果，樣本標(biāo)準(zhǔn)差之和越小，表示RFID標(biāo)簽天線的一致性程度越好，RFID標(biāo)簽的性 能越穩(wěn)定。
本發(fā)明所述的RFID標(biāo)簽天線一致性的基準(zhǔn)測試系統(tǒng)及方法，其原理是通過測量 同一款RFID標(biāo)簽的若干樣本在不同參考距離點下的接收信號強度值而得到一組關(guān)于距 離——接收信號強度的曲線，并通過統(tǒng)計多個樣本的標(biāo)準(zhǔn)差之和來評估RFID標(biāo)簽在加工過 程中產(chǎn)生的一致性及穩(wěn)定性問題。在相同的環(huán)境條件和參數(shù)條件下，對不同款RFID標(biāo)簽進 行多組測試并將各組測試樣本標(biāo)準(zhǔn)差之和進行排序，還可以對多款RFID標(biāo)簽的天線一致 性進行對比，樣本標(biāo)準(zhǔn)差之和越大，則該款RFID標(biāo)簽的天線一致性越差。
本發(fā)明的有益效果是 1)使用本發(fā)明所述的RFID標(biāo)簽天線一致性的基準(zhǔn)測試方法，可以將RFID標(biāo)簽在 加工過程中產(chǎn)生的一致性及穩(wěn)定性問題轉(zhuǎn)化為可測量的接收信號強度樣本標(biāo)準(zhǔn)差從而進 行科學(xué)評估，為使用者提供了一種簡單、明確、有效的基準(zhǔn)測試方法； 2)本發(fā)明所述的RFID標(biāo)簽天線一致性的基準(zhǔn)測試系統(tǒng)，為實現(xiàn)基準(zhǔn)測試方法的 流程提供了一套自動化的測試工具，從而保證測試在任何時間、任何地點、任何人的操作 下，只要滿足標(biāo)準(zhǔn)測試環(huán)境要求和測試參數(shù)要求，結(jié)果都是可重復(fù)的、可比較的。


圖1為本發(fā)明提供的RFID標(biāo)簽天線一致性的基準(zhǔn)測試系統(tǒng)示意圖，其中1為水平 導(dǎo)軌、2為導(dǎo)軌滑塊、3為滑塊控制器、4為待測標(biāo)簽支架、5為天線支架、6為測試天線、7為 RFID信號仿真器、8為控制臺。 圖2為本發(fā)明提供的RFID標(biāo)簽天線一致性的基準(zhǔn)測試方法流程圖。
具體實施例方式
為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚明白，以下結(jié)合具體實施例，并參照 附圖，對本發(fā)明進一步詳細(xì)說明。 如圖1所示，圖1為本發(fā)明提供的RFID標(biāo)簽天線一致性的基準(zhǔn)測試系統(tǒng)示意圖， 其中包括水平導(dǎo)軌1、導(dǎo)軌滑塊2、滑塊控制器3、待測標(biāo)簽支架4、天線支架5、測試天線6、 RFID信號仿真器7、控制臺8，其中水平導(dǎo)軌1置于標(biāo)準(zhǔn)測試環(huán)境的水平地面上，導(dǎo)軌滑塊2 與水平導(dǎo)軌1機械相連，由滑塊控制器3通過預(yù)先設(shè)定的程序驅(qū)動導(dǎo)軌滑塊2沿著導(dǎo)軌方 向運動，滑塊控制器3與控制臺8通過數(shù)據(jù)線連接，待測標(biāo)簽支架4置于導(dǎo)軌滑塊2上方， 測試天線6通過天線支架5固定于水平導(dǎo)軌1的一端，與RFID信號仿真器7通過射頻饋線 相連，用于發(fā)送和接收RFID射頻信號，RFID信號仿真器7與控制臺8通過數(shù)據(jù)線相連，發(fā)送 測試數(shù)據(jù)并在控制臺8上匯總計算及圖形化顯示測試結(jié)果。所述標(biāo)準(zhǔn)測試環(huán)境，是所在環(huán) 境的溫度、濕度、光照度和電磁干擾度在一組測試中均能夠保持穩(wěn)定，并且測試中除導(dǎo)軌滑 塊2和待測標(biāo)簽支架4外的其它設(shè)備以及操作者的所在位置都保持固定。所述導(dǎo)軌滑塊2 與水平導(dǎo)軌1機械相連，是導(dǎo)軌滑塊2在靜止時與水平導(dǎo)軌1直接接觸，運動時通過電力、 磁力、摩擦力作用而使導(dǎo)軌滑塊2與水平導(dǎo)軌1之間發(fā)生相對位移的機械結(jié)構(gòu)。所述待測 標(biāo)簽支架4置于導(dǎo)軌滑塊2上方，其待測標(biāo)簽支架4頂部用于放置待測標(biāo)簽，并且待測標(biāo)簽 支架4頂部與測試天線6的幾何中心連線與水平導(dǎo)軌1平行，保持在同一高度位置。
在本發(fā)明的一個實施例中，水平導(dǎo)軌l的總長為4.6米，其中導(dǎo)軌滑塊2可以移動 的區(qū)間長度為4米，放置于長6米，寬3米，高3米的半電波暗室的水平地面上，導(dǎo)軌滑塊2通過齒輪齒條方式與水平導(dǎo)軌1相連，滑塊控制器3由單片機實現(xiàn)，用以驅(qū)動導(dǎo)軌滑塊2上 的步進電機正向或反向工作，進而使導(dǎo)軌滑塊2在水平導(dǎo)軌1上水平移動所需要的行程。構(gòu) 成滑塊控制器3的單片機與構(gòu)成控制臺8的便攜式電腦通過RS-232接口相連，由便攜式電 腦控制導(dǎo)軌滑塊2移動的時間和方向。待測標(biāo)簽支架4和天線支架5均是由聚苯乙烯材料 制成高度為1. 4米的管材，外裹吸波材料，分別插入水平導(dǎo)軌1 一端和導(dǎo)軌滑塊2上的固定 孔中，待測標(biāo)簽支架4的頂端水平高度距離地面為1. 5米。測試天線6通過夾具固定在天 線支架5的頂端，其幾何中心的水平高度距離地面也為1. 5米。RFID信號仿真器7由Indy R1000開發(fā)板實現(xiàn)，與測試天線6通過同軸射頻電纜連接，與控制臺8通過USB數(shù)據(jù)傳輸線 連接。 為了使測試結(jié)果具有可重復(fù)性，就需要保證測試過程中的環(huán)境參數(shù)保持穩(wěn)定，即 需要一個標(biāo)準(zhǔn)測試環(huán)境。所謂標(biāo)準(zhǔn)測試環(huán)境的地點，可以是全電波暗室、半電波暗室，也可 以是開放空間。在本發(fā)明的實施例中，選擇半電波暗室進行測試，能夠有效屏蔽外界的電磁 干擾，并且在一組完整的測試中，所在環(huán)境的溫度均保持在23士3t:，濕度在30 50%，光 照度在低亮度條件。由于測試中半電波暗室內(nèi)只有導(dǎo)軌滑塊2和待測標(biāo)簽支架4的位置發(fā) 生改變，但是待測標(biāo)簽支架4的材料選擇可以有效降低其對電磁信號的反射、散射和吸收 作用，待測標(biāo)簽支架4的高度也使導(dǎo)軌滑塊2上的步進電機帶來的工頻電磁白噪聲干擾對 1.5米高度的待測標(biāo)簽影響可以忽略。并且，在本實施例中，滑塊控制器3、 RFID信號仿真 器7、控制臺8和操作者的所在位置都在半電波暗室之外，其對測試結(jié)果的影響也可以忽略 不記。因此可以認(rèn)為，本實施例中的環(huán)境參數(shù)均能夠保持穩(wěn)定，可以作為標(biāo)準(zhǔn)測試環(huán)境進行 領(lǐng)lj試。 如圖2所示，圖2為本發(fā)明提供的RFID標(biāo)簽天線一致性的基準(zhǔn)測試方法流程圖。 作為本發(fā)明的一個實施例，該方法包括以下步驟 步驟201 :在一組使用同一集成電路芯片及相同天線設(shè)計加工的RFID標(biāo)簽中隨機 抽取N個(N > 10)作為測試樣本，在本實施例中取N = IO，稱為待測標(biāo)簽{T。，l\，…，TJ， 首先將待測標(biāo)簽T。放置于待測標(biāo)簽支架4的頂部，所述待測標(biāo)簽放置于待測標(biāo)簽支架的頂 部，是指待測標(biāo)簽的幾何中心與測試天線的幾何中心連線和待測標(biāo)簽垂直相交于待測標(biāo)簽 的幾何中心位置； 步驟202 :通過滑塊控制器3驅(qū)動導(dǎo)軌滑塊2移動到初始位置，使待測標(biāo)簽支架和 天線支架之間的距離為初始距離d。，此時d。 = 0. 4米； 步驟203 :打開RFID信號仿真器7，以固定頻率f = 922MHz、固定功率PTX = 20dBm 發(fā)射RFID讀寫器詢問指令(QUERY)，并記錄待測標(biāo)簽返回信號的接收信號強度；
步驟204 :RFID信號仿真器7將該接收信號強度數(shù)據(jù)發(fā)送至控制臺8存儲；
步驟205 :控制臺8向滑塊控制器3發(fā)出指令，驅(qū)動導(dǎo)軌滑塊2向水平導(dǎo)軌1遠(yuǎn)端 移動A d = 0. 1米的距離，并重復(fù)步驟203 205，直到導(dǎo)軌滑塊2已經(jīng)運動到水平導(dǎo)軌1 最遠(yuǎn)端的位置，此時待測標(biāo)簽支架4和天線支架5之間的距離為最終距離df = 4米，共有 37個測試點； 步驟206 :控制臺8將接收到的一組37個距離——接收信號強度數(shù)據(jù)繪制為曲線， 其中橫坐標(biāo)為距離，范圍從0. 4米至4米，以0. 1米為刻度單位，縱坐標(biāo)為接收信號強度值， 曲線顯示在控制臺8的顯示界面上；
7
步驟207 :將待測標(biāo)簽替換為下一個測試樣本1\，重復(fù)進行步驟202 206，直至將 全部待測標(biāo)簽{T。， 1\，…，T1Q}測試完畢； 步驟208 :在控制臺8上計算37個測試點下10個待測標(biāo)簽接收信號強度值的平
10
",且 =^_^_ (其中m為測試點編號，m = 1， 2，…，37， i為測試樣本編號，
1，2，…，10)和樣本標(biāo)準(zhǔn)差
10 — 1
37 步驟209 :在控制臺8上計算全部樣本標(biāo)準(zhǔn)差之和5 = !]^ ，表示該組RFID標(biāo)簽
天線一致性的基準(zhǔn)測試結(jié)果，樣本標(biāo)準(zhǔn)差之和S越小，表示RFID標(biāo)簽天線的一致性程度越 好，RFID標(biāo)簽的性能越穩(wěn)定，舉例來說，假設(shè)一款RFID標(biāo)簽A的天線一致性的基準(zhǔn)測試結(jié) 果SA= 16.42，另一款RFID標(biāo)簽B的天線一致性的基準(zhǔn)測試結(jié)果S B = 32. 81，則基準(zhǔn)測 試的結(jié)論可以描述為RFID標(biāo)簽A的天線一致性程度高于RFID標(biāo)簽B的天線一致性程度， RFID標(biāo)簽天線A具有更高的穩(wěn)定性。 上面描述是用于實現(xiàn)本發(fā)明及其實施例，本發(fā)明的范圍不應(yīng)由該描述來限定，本 領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)該理解，在不脫離本發(fā)明的范圍的任何修改或局部替換，均屬于本發(fā)明 權(quán)利要求來限定的范圍。
權(quán)利要求
一種RFID標(biāo)簽天線一致性的基準(zhǔn)測試系統(tǒng)，其特征在于包括水平導(dǎo)軌(1)、導(dǎo)軌滑塊(2)、滑塊控制器(3)、待測標(biāo)簽支架(4)、天線支架(5)、測試天線(6)、RFID信號仿真器(7)、控制臺(8)，其中水平導(dǎo)軌(1)置于標(biāo)準(zhǔn)測試環(huán)境的水平地面上，導(dǎo)軌滑塊(2)與水平導(dǎo)軌(1)機械相連，由滑塊控制器(3)通過預(yù)先設(shè)定的程序驅(qū)動導(dǎo)軌滑塊(2)沿著導(dǎo)軌方向運動，滑塊控制器(3)與控制臺(8)通過數(shù)據(jù)線連接，待測標(biāo)簽支架(4)置于導(dǎo)軌滑塊(2)上方，測試天線(6)通過天線支架(5)固定于水平導(dǎo)軌(1)的一端，與RFID信號仿真器(7)通過射頻饋線相連，用于發(fā)送和接收RFID射頻信號，RFID信號仿真器(7)與控制臺(8)通過數(shù)據(jù)線相連，發(fā)送測試數(shù)據(jù)并在控制臺(8)上匯總計算及圖形化顯示測試結(jié)果。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的RFID標(biāo)簽天線一致性的基準(zhǔn)測試系統(tǒng)，其特征在于所述標(biāo) 準(zhǔn)測試環(huán)境是所在環(huán)境的溫度、濕度、光照度和電磁干擾度在一組測試中能夠保持穩(wěn)定，并 且測試中除導(dǎo)軌滑塊(2)和待測標(biāo)簽支架(4)外的設(shè)備以及操作者的所在位置都保持固 定。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的RFID標(biāo)簽天線一致性的基準(zhǔn)測試系統(tǒng)，其特征在于所述導(dǎo) 軌滑塊(2)與水平導(dǎo)軌(1)機械相連，是導(dǎo)軌滑塊(2)在靜止時與水平導(dǎo)軌(1)直接接觸， 運動時通過電力、磁力、摩擦力作用而使導(dǎo)軌滑塊(2)與水平導(dǎo)軌(1)之間發(fā)生相對位移的 機械結(jié)構(gòu)。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的RFID標(biāo)簽天線一致性的基準(zhǔn)測試系統(tǒng)，其特征在于所述待 測標(biāo)簽支架(4)置于導(dǎo)軌滑塊(2)上方，其待測標(biāo)簽支架(4)頂部用于放置待測標(biāo)簽，并且 待測標(biāo)簽支架(4)頂部與測試天線(6)的幾何中心連線與水平導(dǎo)軌(1)平行，保持在同一 高度位置。
5. —種RFID標(biāo)簽天線一致性的基準(zhǔn)測試方法，其特征在于，包括以下步驟步驟(1):在一組使用同一集成電路芯片及相同天線設(shè)計加工的RFID標(biāo)簽中隨機抽取 N個，N^ IO，作為測試樣本，稱為待測標(biāo)簽{T。，l\，…，TJ，首先將待測標(biāo)簽T。放置于待測 標(biāo)簽支架的頂部；步驟(2):通過滑塊控制器驅(qū)動導(dǎo)軌滑塊移動到初始位置，使待測標(biāo)簽支架和天線支架之間的距離為初始距離d。；步驟(3):打開RFID信號仿真器，以固定頻率、固定功率發(fā)射RFID讀寫器詢問指令(QUERY)，并記錄待測標(biāo)簽返回信號的接收信號強度；步驟(4) :RFID信號仿真器將該接收信號強度數(shù)據(jù)發(fā)送至控制臺存儲；步驟(5 :)控制臺向滑塊控制器發(fā)出指令，驅(qū)動導(dǎo)軌滑塊向水平導(dǎo)軌遠(yuǎn)端移動Ad的距離，并重復(fù)步驟(3) 步驟(5)，直到導(dǎo)軌滑塊已經(jīng)運動到水平導(dǎo)軌最遠(yuǎn)端的位置，此時待測標(biāo)簽支架和天線支架之間的距離為最終距離dj ;步驟(6):控制臺將接收到的一組距離——接收信號強度數(shù)據(jù)繪制為曲線，其中橫坐標(biāo) 為距離，范圍從d。至df，以A d為刻度單位，縱坐標(biāo)為接收信號強度值，曲線顯示在控制臺 的顯示界面上；步驟(7):將待測標(biāo)簽替換為下一個測試樣本，重復(fù)進行步驟(2)至步驟(6)，直至所有 待測標(biāo)簽測試完畢；步驟(8):在控制臺上計算每個測試距離下N個待測標(biāo)簽接收信號強度值的平均值和 樣本標(biāo)準(zhǔn)差；步驟(9):在控制臺上計算樣本標(biāo)準(zhǔn)差之和，表示該組RFID標(biāo)簽天線一致性的基準(zhǔn)測 試結(jié)果，樣本標(biāo)準(zhǔn)差之和越小，表示RFID標(biāo)簽天線的一致性程度越好，RFID標(biāo)簽的性能越
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的RFID標(biāo)簽天線一致性的基準(zhǔn)測試方法，其特征在于所述待 測標(biāo)簽放置于待測標(biāo)簽支架的頂部，是待測標(biāo)簽的幾何中心與測試天線的幾何中心連線和 待測標(biāo)簽垂直相交于待測標(biāo)簽的幾何中心位置。
全文摘要
本發(fā)明公開一種RFID標(biāo)簽天線一致性的基準(zhǔn)測試系統(tǒng)及方法，由水平導(dǎo)軌、導(dǎo)軌滑塊、滑塊控制器、待測標(biāo)簽支架、天線支架、測試天線、RFID信號仿真器、控制臺組成，通過測量同一款RFID標(biāo)簽的若干樣本在不同參考距離點下的接收信號強度值而得到一組關(guān)于距離——接收信號強度的曲線，并通過統(tǒng)計多個樣本的標(biāo)準(zhǔn)差之和來評估RFID標(biāo)簽在加工過程中產(chǎn)生的一致性及穩(wěn)定性問題，從而為使用者提供一種簡單、明確、有效的RFID自動化測試工具和基準(zhǔn)測試方法。
文檔編號G06K7/00GK101750552SQ200810239329
公開日2010年6月23日 申請日期2008年12月10日 優(yōu)先權(quán)日2008年12月10日
發(fā)明者關(guān)強, 劉禹, 曾雋芳, 趙健 申請人:中國科學(xué)院自動化研究所