專利名稱：主機板的制作方法
技術領域：
本發(fā)明有關于一種主機板，且特別是有關于一種用以連接測試模塊的主機
背景技術：
主機板在計算器系統(tǒng)中，具有承上啟下的功能而被普遍視為計算器系統(tǒng)的 基地。亦即，主機板在計算器系統(tǒng)中是負責承載各種組件、提供基本功能、以 及數(shù)據(jù)傳遞。這使得主機板上的線路及組件越來越復雜。
另，由于市場需求的逐年增加使得主機板必須大批量生產來滿足市場需求， 因此，在生產主機板的過程中， 一些人為或不可預期的疏忽的發(fā)生比例也跟著 主機板的復雜度及產量的提高而提升。為了提高生產上的合格率，主機板從印
刷電路板(PCB)的制作以至包裝、出貨的過程中，控制質量穩(wěn)定性的檢測工作 便需要持續(xù)進行。
傳統(tǒng)的主機板在測試時，需要在主機板上設置至少一組測試插座，這個測 試插座的成本是比較高的，若同時設置多組測試插座，則會大幅提高主機板的 制造成本。

發(fā)明內容
本發(fā)明的目的在于提供一種主機板，以改善現(xiàn)有技術的缺失。
本發(fā)明提出的主機板，用以連接一測試模塊。測試模塊包括第一固定部、 第一接觸件以及第二接觸件。第一接觸件與第二接觸件電性連接。
主機板包括控制單元、貫穿主機板的第一固定孔、接地點以及多個測試接 觸點。上述測試接觸點鄰近接地點，且操作性連接控制單元。當測試模塊插設 在主機板時，測試模塊的第一固定部插設在第一固定孔，且測試模塊的第一接 觸件電性連接接地點，第二接觸件電性連接這些測試接觸點的其中之一，以使 得控制單元對主機板操作一個測試程序(TestingProcess)。
本發(fā)明有益效果為，當測試模塊的第二接觸件可分別插設于其上的不同穿 孔時，以電性連接不同的測試接觸點時，使得控制單元可以利用多個GPIO來對 主機板操作不同測試程序，以測試主機板的不同參數(shù)，以降低主機板的生產成 本與增加主機板的擴展性。
4為讓本發(fā)明的上述和其它目的、特征和優(yōu)點能更明顯易懂，下文特舉較佳 實施例，并配合附圖，作詳細說明如下。


圖1為本發(fā)明一較佳實施例的一測試模塊的示意圖。 圖2為本發(fā)明一較佳實施例的一主機板的示意圖。
具體實施例方式
圖1所示為根據(jù)本發(fā)明一較佳實施例的一測試模塊的示意圖。圖2所示為 根據(jù)本發(fā)明一較佳實施例的一主機板的示意圖。
請參考圖l，測試模塊2包括殼體20、跳線帽(Jumper) 21、第一固定部 201以及第二固定部202,203，其中殼體20具有多個穿孔22,23,24，且該些穿 孔22, 23, 24中的至少二個插設有第一接觸件204與第二接觸件205 。上述第一 固定部201與第二固定部202形成于殼體20，在其它實施例中，第一固定部201 及第二固定部202與殼體20可以是一體成型。
在本實施例中，殼體20利用一絕緣性材質形成，例如塑料。 在本實施例中，上述第一接觸件204插設于穿孔24，第二接觸件205插設 于穿孔22。在其它實施例中，第二接觸件205也可插設于穿孔23。在本實施例 中，第一接觸件204與第二接觸件205通過跳線帽21電性連接。在其它實施例 中，熟悉本領域技術者亦可通過其它連接件使得第一接觸件204與第二接觸件 205電性連接。在本實施例中，第一接觸件204與第二接觸件205皆為金屬棒， 在其它實施例中，第一接觸件204與第二接觸件205可以是利用任何材料制成 的導體。
請參考圖2，主機板3包括中央處理器(CPU) 31、北橋芯片32、控制單 元33、基本輸入輸出系統(tǒng)(BIOS)單元34、第一固定孔301、多個第二固定孔 302, 303、接地點304以及多個測試接觸點305, 306，其中第一固定孔301與多 個第二固定孔302,303貫穿主機板3，且用以分別固設測試模塊的固定部，接地 點304與該些測試接觸點305, 306形成于主機板3的一表面。
在本實施例中，控制單元33為南橋芯片，在其它實施例中，控制單元33 可包含南橋芯片與超級輸入輸出(Super 10)芯片，或控制單元33可包含南橋 芯片與嵌入式控制器(Embedded Controller)。
5北橋芯片32電性連接CPU 31，控制單元33電性連接北橋芯片32， BIOS 單元34電性連接控制單元33。上述測試接觸點305, 306并操作性連接控制單元 33。
控制單元33具有多個通用輸入輸出(GPIO)接腳331, 332。 BIOS單元34 儲存有基本輸入輸出系統(tǒng)(BIOS)程序代碼，在本實施例中，BIOS單元34包 括一非揮發(fā)性內存及儲存于其中的BIOS程序代碼。主機板3工作時，控制單元 33執(zhí)行BIOS單元34中的BIOS程序代碼，以對計算機系統(tǒng)進行電源開啟自我 測試(POST)與主機板3的組件初始等工作。在本實施例中，上述BIOS程序 代碼的其中一部分程序代碼與一測試程序相對應，這個測試程序可用來加快計 算機系統(tǒng)的開機速度，以方便主機板3進一步進行其它相關測試。
在本實施例中，上述控制單元33是依據(jù)一第一預設GPIO接腳的狀態(tài)來執(zhí) 行上述測試程序。這個第一預設GPIO接腳的狀態(tài)與上述接地點304是否與上述 其中之一個測試接觸點305,306電性連接有關。在本實施例中，第一預設GPIO 接腳的狀態(tài)具有第一狀態(tài)與第二狀態(tài)，第一預設GPIO接腳的狀態(tài)平時為第一狀 態(tài)(例如高電位)，而當?shù)谝活A設GPIO接腳的狀態(tài)為第二狀態(tài)(例如低電 位)時，則控制單元33執(zhí)行上述測試程序。
此外，本實施例所提供的主機板3還提供第二預設GPIO接腳，控制單元 33亦可依據(jù)第二預設GPIO接腳的狀態(tài)(例如為低電位狀態(tài)時)來執(zhí)行其它測 試程序。藉此，本實施例所提供的主機板3便可在低制造成本下提供兩組測試 程序，大幅增加主機板3的擴充性。有關預設GPIO接腳的狀態(tài)的詳細說明，容 后詳述。
在本實施例中，第二固定孔302,303與第一固定孔301的位置關系呈現(xiàn)三 角形。兩測試接觸點305，306與接地點304的位置關系呈現(xiàn)三角形。上述多個 測試接觸點305, 306鄰近接地點304。上述第一固定孔301位于該些測試接觸點 305， 306之間。上述接地點304位于該些第二固定孔302， 303之間。
在本實施例中，主機板3是一印刷電路板，且位于其上的接地點304與該 些測試接觸點305,306是印刷電路板上的銅接觸點。亦即，接地點304與該些 測試接觸點305, 306是布局在主機板3上。
請同時參考圖1和圖2，當測試模塊2插設在主機板3時，測試模塊2的第 一固定部201插設在第一固定孔301，該些第二固定部202， 203固設于該些第二 固定孔302， 303。測試模塊2的第一接觸件204電性連接接地點304。第二接觸 件205插設于穿孔22，并電性連接測試接觸點305。當測試模塊2的第一接觸件204電性連接接地點304且測試模塊2的第二接觸件205電性連接測試接觸點305時，第一接觸件204與第二接觸件205是通過跳線帽21電性連接，亦即，第一接觸件204與第二接觸件205是導通的。相對的，測試接觸點304透過第一接觸件204與第二接觸件205而電性連接測試接觸點305，因此，測試接觸點305與接地點304也是導通的，使得第一預設GPIO接腳332的狀態(tài)由第一狀態(tài)(高電位)變成第二狀態(tài)(低電位)，藉此，計算機系統(tǒng)在開機的過程中，控制單元33接收到一個通用輸入輸出(GPIO)訊號，而依據(jù)第一預設GPIO接腳332的狀態(tài)，例如第二狀態(tài)，來執(zhí)行BIOS程序代碼中相對應的程序代碼，以使得控制單元33對主機板3操作一個測試程序，例如快速開機。
在其它實施例中，亦可更換第二接觸件205在測試模塊2的位置，例如第二接觸件205插設在穿孔23。藉此，當?shù)谝唤佑|件204電性連接接地點304且第二接觸件205電性連接測試接觸點306時，便可使得第二預設GPIO接腳331的狀態(tài)由第一狀態(tài)(高電位)變成第二狀態(tài)(低電位)。藉此，控制單元33在開機過程中，便可依據(jù)第二預設GPIO接腳331的狀態(tài)來執(zhí)行BIOS程序代碼中相對應的程序代碼，以執(zhí)行其它測試程序。
在其它實施例中，控制單元33亦可依據(jù)第一預設GPIO接腳332的狀態(tài)與第二預設GPIO接腳331的狀態(tài)來執(zhí)行BIOS程序代碼中相對應的程序代碼，以
執(zhí)行多種測試程序中的其中一種。
例如第一預設GPIO接腳332的狀態(tài)為第二狀態(tài)(低電位)且第二預設GPIO接腳331的狀態(tài)為第一狀態(tài)(高電位)，則控制單元33執(zhí)行第一種測試程序。第一預設GPIO接腳332的狀態(tài)為第一狀態(tài)(高電位)且第二預設GPIO接腳331的狀態(tài)為第二狀態(tài)(低電位)，則控制單元33執(zhí)行第二種測試程序。第一預設GPIO接腳332的狀態(tài)為第二狀態(tài)(低電位)且第二預設GPIO接腳331的狀態(tài)為第二狀態(tài)(低電位)，則控制單元33執(zhí)行第三種測試程序，此時，第二接觸件205電性連接測試接觸點306時，另一個第二接觸件205電性連接測試接觸點305時，且第一接觸件204電性連接接地點304。
在本實施例中，測試模塊包括三個穿孔，主機板包括接地點以及兩個測試接觸點為例，然而本發(fā)明不限于此。在其它實施例中，穿孔與測試接觸點的數(shù)目可為更多個。當穿孔與測試接觸點的數(shù)目為更多時，可觸發(fā)控制單元對主機板操作更多不同的測試程序。綜上所述，本實施例所提供的主機板上具有接地點與測試接觸點，且其是直接形成在主機板上的。當測試模塊的第二接觸件插設于其上的不同穿孔時，第二接觸件便可電性連接不同的測試接觸點，使得主機板上的控制單元可以依據(jù)多個GPIO接腳的狀態(tài)來對主機板操作不同測試程序，以測試主機板的不同參數(shù)，藉此可降低主機板的生產成本與增加主機板的擴展性。
雖然本發(fā)明已以較佳實施例揭露如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內，當可作些許的更動與潤飾，因此本發(fā)明的保護范圍當視權利要求書所界定者為準。
權利要求
1.一種主機板，用以連接測試模塊，上述測試模塊包括第一固定部、第一接觸件以及第二接觸件，上述第一接觸件與上述第二接觸件電性連接，其特征是，上述主機板包括控制單元；第一固定孔，貫穿上述主機板，并用以固定上述測試模塊的第一固定部；接地點；以及多個測試接觸點，鄰近上述接地點，且操作性連接上述控制單元，其中當上述測試模塊插設在上述主機板時，上述測試模塊的上述第一固定部插設在上述第一固定孔，且上述測試模塊的上述第一接觸件電性連接上述接地點，上述第二接觸件電性連接上述這些測試接觸點的其中之一，以使得上述控制單元對上述主機板操作測試程序。
2. 根據(jù)權利要求1所述的主機板，其特征是，上述控制單元包括第一預設 通用輸入輸出接腳，上述第一預設通用輸入輸出接腳具有第一狀態(tài)與第二狀態(tài)， 當上述第一接觸件電性連接上述接地點且上述第二接觸件電性連接上述這些測 試接觸點的其中之一時，上述第一預設通用輸入輸出接腳的狀態(tài)為上述第二狀
3. 根據(jù)權利要求2所述的主機板，其特征是，上述控制單元還包括第二預 設通用輸入輸出接腳，上述第二預設通用輸入輸出接腳具有第一狀態(tài)與第二狀 態(tài)，當上述第一接觸件電性連接上述接地點且上述第二接觸件電性連接上述這 些測試接觸點的其中之一時，上述第二預設通用輸入輸出接腳的狀態(tài)為上述第 二狀態(tài)。
4. 根據(jù)權利要求1所述的主機板，其特征是，上述主機板還包括兩個第二 固定孔，上述測試模塊還包括兩個第二固定部，上述這些第二固定孔用以固設 上述這些第二固定部。
5. 根據(jù)權利要求4所述的主機板，其特征是，上述這些第二固定孔與上述 第一固定孔的位置關系呈現(xiàn)三角形。
6. 根據(jù)權利要求4所述的主機板，其特征是，上述接地點位于上述這些第 二固定孔之間。
7. 根據(jù)權利要求1所述的主機板，其特征是，上述這些測試接觸點的數(shù)量 為兩個，上述這些測試接觸點與上述接地點的位置關系呈現(xiàn)三角形。
8. 根據(jù)權利要求1所述的主機板，其特征是，上述第一固定孔位于上述這 些測試接觸點之間。
9. 根據(jù)權利要求1所述的主機板，其特征是，上述主機板還包括基本輸入 輸出系統(tǒng)單元，儲存有基本輸入輸出系統(tǒng)程序代碼，上述控制單元電性連接上 述基本輸入輸出系統(tǒng)單元，上述測試程序是在執(zhí)行上述基本輸入輸出系統(tǒng)程序 代碼的時候執(zhí)行。
10. 根據(jù)權利要求1所述的主機板，其特征是，上述控制單元是南橋芯片。
11. 根據(jù)權利要求1所述的主機板，其特征是，上述第二接觸件中電性連接 上述這些測試接觸點的其中之一時，上述控制單元接收到一個通用輸入輸出訊 號。
12. 根據(jù)權利要求1所述的主機板，其特征是，上述主機板是印刷電路板， 且上述接地點與上述這些測試接觸點是上述印刷電路板上的銅接觸點。
13. 根據(jù)權利要求1所述的主機板，其特征是，上述測試程序用以快速開機。
全文摘要
本發(fā)明揭露一種主機板，用以連接測試模塊。測試模塊包括第一固定部、第一接觸件以及第二接觸件。第一接觸件與第二接觸件電性連接。主機板包括控制單元、貫穿主機板的第一固定孔、接地點以及多個操作性連接控制單元的測試接觸點。當測試模塊插設在主機板，測試模塊的第一固定部插設在第一固定孔，且測試模塊的第一接觸件電性連接接地點，第二接觸件電性連接這些測試接觸點其中之一，以使得控制單元對主機板操作一個測試程序。
文檔編號G06F11/22GK101667149SQ20081021532
公開日2010年3月10日 申請日期2008年9月5日 優(yōu)先權日2008年9月5日
發(fā)明者吳瑞欽, 張亦寬, 林宜圣, 蔡松豪, 陳國龍 申請人:和碩聯(lián)合科技股份有限公司