專利名稱：狀態(tài)檢測(cè)裝置及狀態(tài)檢測(cè)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)于一種電壓測(cè)試工具，且特別是有關(guān)于一種可以同時(shí)測(cè)試多個(gè) 電壓信號(hào)的電壓測(cè)試工具。
背景技術(shù)：
在服務(wù)器硬件測(cè)試過(guò)程中，對(duì)于電壓時(shí)序(PowerSeqiience)的檢測(cè)通常包括 采用測(cè)試儀器去改變電壓的上電時(shí)間關(guān)系來(lái)看系統(tǒng)是否能承受允許范圍內(nèi)的誤差， 以及通過(guò)示波器去測(cè)量實(shí)際的電壓時(shí)序，以檢測(cè)其電壓信號(hào)是否在規(guī)范之內(nèi)。
中國(guó)臺(tái)灣專利號(hào)為TW00564957的發(fā)明專利公開了一種主板電性測(cè)量治具，通 過(guò)發(fā)光二極管(LED)來(lái)識(shí)別其線路的導(dǎo)通情形，再利用芯片組(CHIPSET)的保護(hù)二 極管特性以及回路原理，透過(guò)主板電性測(cè)量治具，使直流電源，LED狀態(tài)顯示單元 和待測(cè)主板依測(cè)量需要形成各種回路，后依LED的發(fā)光情形來(lái)判別其回路的開路/ 短路情形。同時(shí)，可將維修參考的各腳位一電氣特性分類安排于面板上，以利于進(jìn) 一步的檢修工作。
上述發(fā)明的主板電性測(cè)量治具依據(jù)發(fā)光二極管的發(fā)光情形來(lái)判別各個(gè)部件的 工作狀態(tài)，并不能直觀地通過(guò)時(shí)序圖反應(yīng)出電壓的時(shí)序變化，從而也不容易對(duì)不同 回路的電壓時(shí)序進(jìn)行比對(duì)。并且上述發(fā)明的測(cè)量治具只適用于主板電性的測(cè)量，并 不適用于其他設(shè)備的電壓時(shí)序測(cè)試。
然而，直接通過(guò)示波器去測(cè)量設(shè)備實(shí)際的電壓時(shí)序，檢測(cè)狀態(tài)是否在規(guī)范之 內(nèi)的這種常用的測(cè)試電壓時(shí)序的方法，雖然采用示波器可以直觀地看到電壓時(shí)序 圖，且對(duì)不同時(shí)序的電壓進(jìn)行比對(duì)較為容易，但是若需要測(cè)試的電壓數(shù)量較多，則 采用示波器實(shí)現(xiàn)測(cè)試較為麻煩，因?yàn)槭静ㄆ髦痪哂兴膫€(gè)頻率顯示，所以需要分別測(cè) 量每對(duì)或者某幾個(gè)電壓間的關(guān)系才能完整反映整個(gè)上/下電的時(shí)序關(guān)系，因此其測(cè)
試效率較低。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種狀態(tài)檢測(cè)裝置，以解決現(xiàn)有測(cè)試技術(shù)無(wú)法同時(shí)測(cè)試多個(gè)電壓 及直觀顯示電壓變化情況的技術(shù)缺陷。
本發(fā)明提供一種狀態(tài)檢測(cè)方法，以解決現(xiàn)有測(cè)試技術(shù)無(wú)法同時(shí)測(cè)試多個(gè)電壓 及直觀顯示電壓變化情況的技術(shù)缺陷。
本發(fā)明提出一種狀態(tài)檢測(cè)裝置，用以對(duì)多個(gè)待測(cè)電壓進(jìn)行檢測(cè)，此狀態(tài)檢測(cè) 裝置包括探針組、處理器以及顯示模塊。探針組具有多個(gè)探針，用以探測(cè)待測(cè)電壓。
處理器具有多個(gè)1/0介面，且一個(gè)探針與一個(gè)1/0介面相連，此處理器用以監(jiān)測(cè)探
針組所探測(cè)到的每一待測(cè)電壓的電平變化，且記錄每一待測(cè)電壓的電平變化時(shí)間 點(diǎn)，并判斷每一待測(cè)電壓是否為正常工作狀態(tài)。顯示模塊與處理器相連，用以接收 處理器監(jiān)測(cè)到的每一待測(cè)電壓的電平變化信息及處理器對(duì)每一待測(cè)電壓工作狀態(tài) 的判斷結(jié)果，并顯示出待測(cè)電壓的時(shí)序信息及工作狀態(tài)信息。
依照本發(fā)明的較佳實(shí)施例所述狀態(tài)檢測(cè)裝置，上述的顯示模塊還包括顯示幕、 驅(qū)動(dòng)單元以及顯示控制單元。顯示幕用以顯示各個(gè)待測(cè)電壓電平變化的相對(duì)時(shí)序圖 及工作狀態(tài)信息。驅(qū)動(dòng)單元連接于顯示幕，用以驅(qū)動(dòng)顯示幕并使其顯示各個(gè)待測(cè)電 壓電平變化的相對(duì)時(shí)序圖及工作狀態(tài)信息。顯示控制單元連接于驅(qū)動(dòng)單元，用以接 收處理器監(jiān)測(cè)到的待測(cè)電壓的電平變化信息及處理器對(duì)待測(cè)電壓工作狀態(tài)的判斷 結(jié)果，并通過(guò)驅(qū)動(dòng)單元使顯示幕顯示出各個(gè)待測(cè)電壓電平變化的相對(duì)時(shí)序圖及工作 狀態(tài)信息。顯示模塊還包括存儲(chǔ)單元，用以存儲(chǔ)各個(gè)待測(cè)電壓的相對(duì)時(shí)序信息，以 供后期分析。此狀態(tài)檢測(cè)裝置還包括輸入模塊，輸入模塊與處理器相連，用于輸入 提供待測(cè)電壓的設(shè)備的配置信息，以使處理器根據(jù)監(jiān)測(cè)到的待測(cè)電壓的電平變化與 輸入模塊輸入的配置信息來(lái)比較判斷待測(cè)電壓是否為正常工作狀態(tài)。此狀態(tài)檢測(cè)裝 置還包括電位轉(zhuǎn)換模塊，電位轉(zhuǎn)換模塊連接于處理器與探針組之間，用以對(duì)探針組 探測(cè)到的超出處理器測(cè)量范圍的待測(cè)電壓進(jìn)行分壓，以滿足處理器對(duì)電壓測(cè)量的要 求。此狀態(tài)檢測(cè)裝置還包括保護(hù)模塊，保護(hù)模塊連接于處理器與探針組之間，用于
當(dāng)探針組中的探針與處理器1/0介面間的電壓過(guò)大時(shí)，切斷探針與I/O介面間的路 徑。處理器為單片機(jī)或ARM微處理器。
本發(fā)明還提出一種狀態(tài)檢測(cè)方法，用以對(duì)多個(gè)待測(cè)電壓進(jìn)行檢測(cè)，此狀態(tài)檢 測(cè)方法包括以下步驟首先，將待測(cè)電壓接上探針并監(jiān)測(cè)每一待測(cè)電壓的電平變化。其次，檢驗(yàn)每一待測(cè)電壓的電平變化是否正常。然后，若電平變化正常則顯示出各 個(gè)待測(cè)電壓電平變化的時(shí)序信息，若電平變化錯(cuò)誤則顯示出各個(gè)待測(cè)電壓電平變化 的時(shí)序信息及錯(cuò)誤發(fā)生的具體情況與時(shí)間。
本發(fā)明因采用狀態(tài)檢測(cè)裝置，因此可以同時(shí)對(duì)多個(gè)待測(cè)電壓進(jìn)行檢測(cè)。并且 可以顯示出各個(gè)待測(cè)電壓的電平變化相對(duì)時(shí)序圖及工作狀態(tài)信息，無(wú)須如示波器那 樣受測(cè)試數(shù)量的限制，提高了測(cè)試效率及減小了測(cè)試工具的工作量。
為讓本發(fā)明的上述和其他目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉較佳實(shí) 施例，并配合附圖作詳細(xì)說(shuō)明如下。


圖1繪示為本發(fā)明實(shí)施例的一種狀態(tài)檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)圖。
圖2繪示為本發(fā)明另一實(shí)施例的一種狀態(tài)檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)圖。
圖3繪示為本發(fā)明實(shí)施例的一種狀態(tài)檢測(cè)方法的流程圖。
圖4繪示為本發(fā)明另一實(shí)施例的一種狀態(tài)檢測(cè)方法的流程圖。
具體實(shí)施例方式
請(qǐng)參見圖1，其為本發(fā)明實(shí)施例的一種狀態(tài)檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)圖。
本發(fā)明提出一種狀態(tài)檢測(cè)裝置101，用以對(duì)多個(gè)待測(cè)電壓進(jìn)行檢測(cè)，例如 在服務(wù)器硬件測(cè)試過(guò)程中，對(duì)多個(gè)不同電源的電壓時(shí)序進(jìn)行檢測(cè)，此狀態(tài)檢測(cè) 裝置101包括探針組105、處理器103以及顯示模塊109。探針組105具有 多個(gè)探針107，用以探測(cè)待測(cè)電壓。待測(cè)電壓可以是如電源電壓等輸入電壓， 也可以是設(shè)備工作后的輸出電壓，如經(jīng)設(shè)備內(nèi)部升壓或降壓的輸出電壓等。待 測(cè)電壓也可以是連接于一個(gè)設(shè)備上的電壓或連接于不同設(shè)備的電壓。處理器 103具有多個(gè)I/O介面111，且一個(gè)探針107與一個(gè)I/O介面111相連，此處 理器103用以監(jiān)測(cè)探針組105所探測(cè)到的每一待測(cè)電壓的電平變化，且記錄每 一待測(cè)電壓的電平變化時(shí)間點(diǎn)，并判斷每一待測(cè)電壓是否為正常工作狀態(tài)。處 理器103可以是單片機(jī)或ARM微處理器等。顯示模塊109與處理器103相連， 用以接收處理器103監(jiān)測(cè)到的每一待測(cè)電壓的電平變化信息及處理器103對(duì)每 一待測(cè)電壓工作狀態(tài)的判斷結(jié)果，并顯示出待測(cè)電壓的時(shí)序信息及工作狀態(tài)信息。
請(qǐng)參見圖2，其為本發(fā)明另一實(shí)施例的一種狀態(tài)檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)圖。
本實(shí)施例的狀態(tài)檢測(cè)裝置219，用以對(duì)多個(gè)待測(cè)電壓進(jìn)行檢測(cè)，此狀態(tài)檢 測(cè)裝置219包括探針組105、處理器215、顯示模塊217、輸入模塊201、保 護(hù)模塊211以及電位轉(zhuǎn)換模塊213。探針組105具有多個(gè)探針107，用以探測(cè) 待測(cè)電壓。待測(cè)電壓可以是如電源電壓等輸入電壓，也可以是設(shè)備工作后的輸 出電壓，如經(jīng)設(shè)備內(nèi)部升壓或降壓的輸出電壓等。待測(cè)電壓也可以是連接于一 個(gè)設(shè)備上的電壓或連接于不同設(shè)備的電壓。處理器具有多個(gè)IA)介面111，且 一個(gè)探針107與一個(gè)I/O介面111相連，此處理器215用以監(jiān)測(cè)探針組105所 探測(cè)到的每一待測(cè)電壓的電平變化，且記錄每一待測(cè)電壓的電平變化時(shí)間點(diǎn)， 并判斷每一待測(cè)電壓是否為正常工作狀態(tài)。處理器215可以是單片機(jī)或ARM微 處理器等。顯示模塊217與處理器215相連，用以接收處理器215監(jiān)測(cè)到的每 一待測(cè)電壓的電平變化信息及處理器215對(duì)每一待測(cè)電壓工作狀態(tài)的判斷結(jié) 果，并顯示出待測(cè)電壓的時(shí)序信息及工作狀態(tài)信息。顯示模塊217還包括顯示 幕203、驅(qū)動(dòng)單元205、顯示控制單元207以及存儲(chǔ)單元209。顯示幕203用以 顯示各個(gè)待測(cè)電壓電平變化的相對(duì)時(shí)序圖及工作狀態(tài)信息。驅(qū)動(dòng)單元205連接 于顯示幕203，用以驅(qū)動(dòng)顯示幕203并使其顯示各個(gè)待測(cè)電壓電平變化的相對(duì) 時(shí)序圖及工作狀態(tài)信息。顯示控制單元207連接于驅(qū)動(dòng)單元205，用以接收處 理器215監(jiān)測(cè)到的待測(cè)電壓的電平變化信息及處理器215對(duì)待測(cè)電壓工作狀態(tài) 的判斷結(jié)果，并通過(guò)驅(qū)動(dòng)單元205使顯示幕203顯示出各個(gè)待測(cè)電壓電平變化 的相對(duì)時(shí)序圖及工作狀態(tài)信息。存儲(chǔ)單元209用以在顯示模塊217接收處理器 215監(jiān)測(cè)到的待測(cè)電壓的電平變化信息后，存儲(chǔ)各個(gè)待測(cè)電壓的相對(duì)時(shí)序信息， 以供后期分析。輸入模塊201與處理器215相連，用于輸入提供待測(cè)電壓的設(shè) 備的配置信息，以使處理器215根據(jù)監(jiān)測(cè)到的待測(cè)電壓的電平變化與輸入模塊 201輸入的配置信息來(lái)比較判斷待測(cè)電壓是否為正常工作狀態(tài)。本實(shí)施例中配 置信息用于定義設(shè)備的待測(cè)電壓正常工作狀態(tài)時(shí)的時(shí)序特性，即定義狀態(tài)檢測(cè) 裝置219如何檢測(cè)待測(cè)電壓。電位轉(zhuǎn)換模塊213連接于處理器215與探針組105 之間，用以對(duì)探針組105探測(cè)到的超出處理器215測(cè)量范圍的待測(cè)電壓進(jìn)行分 壓，以滿足處理器215對(duì)電壓測(cè)量的要求，其分壓方法可以采用電阻分壓等。保護(hù)模塊211連接于處理器215與探針組105之間，用于當(dāng)探針組105中的探 針107與處理器215的1/0介面111間的電壓過(guò)大時(shí)，切斷探針107與1/0介 面lll間的路徑，以起到保護(hù)處理器215的作用。
請(qǐng)參見圖3，其為本發(fā)明實(shí)施例的一種狀態(tài)檢測(cè)方法的流程圖。 S301、接上探針并探測(cè)電平變化。將一個(gè)或多個(gè)設(shè)備的多個(gè)待測(cè)的待測(cè)電 壓與多個(gè)探針相連，探針用以探測(cè)設(shè)備的待測(cè)電壓的電平。待測(cè)電壓可以是如 電源電壓等輸入電壓，也可以是設(shè)備工作的輸出電壓，如經(jīng)設(shè)備內(nèi)部升壓或降 壓的輸出電壓等。
S303、檢驗(yàn)每一待測(cè)電壓的工作狀態(tài)是否正常。根據(jù)探針讀取的待測(cè)電壓 的電平，監(jiān)測(cè)其電平變化且記錄下其變化時(shí)間點(diǎn)。并且判斷待測(cè)電壓是否為正 常工作狀態(tài)。若待測(cè)電壓工作狀態(tài)正常，則進(jìn)入步驟S305，若待測(cè)電壓工作狀 態(tài)錯(cuò)誤，則進(jìn)入步驟S307。
S305、顯示相對(duì)時(shí)序圖。根據(jù)監(jiān)測(cè)到的多個(gè)待測(cè)電壓的電平變化信息，將 每個(gè)電壓的時(shí)序及所有關(guān)系電壓間的相對(duì)時(shí)序匯整為統(tǒng)一的數(shù)據(jù)格式，并在液 晶熒幕上顯示出各個(gè)電壓的相對(duì)時(shí)序圖。
S307、顯示相對(duì)時(shí)序圖及錯(cuò)誤發(fā)生的情況與時(shí)間。根據(jù)監(jiān)測(cè)到的多個(gè)待測(cè) 電壓的電平變化信息以及工作狀態(tài)信息，將每個(gè)電壓的時(shí)序及所有關(guān)系電壓間 的相對(duì)時(shí)序匯整為統(tǒng)一的數(shù)據(jù)格式，并在液晶熒幕上顯示出各個(gè)電壓的相對(duì)時(shí) 序圖及電壓的錯(cuò)誤發(fā)生情況與時(shí)間。
請(qǐng)參見圖4，其為本發(fā)明另一實(shí)施例的一種狀態(tài)檢測(cè)方法的流程圖。
S401、輸入設(shè)備適當(dāng)?shù)呐渲眯畔?。除此之外，也可以預(yù)先存儲(chǔ)各種型號(hào)設(shè) 備的配置信息，而向輸入模塊輸入設(shè)備的型號(hào)，再讀取設(shè)備的配置信息。本實(shí) 施例中配置信息用于定義設(shè)備的待測(cè)電壓正常工作狀態(tài)時(shí)的時(shí)序特性，即定義 如何檢測(cè)待測(cè)電壓。
S403、對(duì)超出范圍的待測(cè)電壓進(jìn)行分壓。在監(jiān)測(cè)待測(cè)電壓的電平變化時(shí)， 因?yàn)闇y(cè)量只需要電平的變化，所以可以對(duì)待測(cè)電壓或探針組探測(cè)到的過(guò)大的電 壓進(jìn)行分壓，以符合測(cè)量工具的測(cè)量范圍，其分壓方法可以采用電阻分壓等。
S405、切斷過(guò)大電壓所在的路徑。當(dāng)探測(cè)到過(guò)大的電壓時(shí)，切斷其所在路 徑，以起到保護(hù)測(cè)量工具的作用。S407、接上探針并探測(cè)電平變化。將一個(gè)或多個(gè)設(shè)備的多個(gè)待測(cè)的待測(cè)電 壓與多個(gè)探針相連，探針用以探測(cè)設(shè)備的待測(cè)電壓的電平。待測(cè)電壓可以是如 電源電壓等輸入電壓，也可以是設(shè)備工作的輸出電壓，如經(jīng)設(shè)備內(nèi)部升壓或降 壓的輸出電壓等。
S409、檢驗(yàn)狀態(tài)是否正常。檢驗(yàn)過(guò)程可以由單片機(jī)或ARM微處理器等處理 器來(lái)完成。檢驗(yàn)每一待測(cè)電壓的工作狀態(tài)是否正常。根據(jù)探針讀取的待測(cè)電壓 的電平，監(jiān)測(cè)其電平變化且記錄下其變化時(shí)間點(diǎn)。并且判斷待測(cè)電壓是否為正 常工作狀態(tài)。若待測(cè)電壓工作狀態(tài)正常，則進(jìn)入步驟S411，若待測(cè)電壓工作狀 態(tài)錯(cuò)誤，則進(jìn)入步驟S413。
S411、顯示相對(duì)時(shí)序圖。根據(jù)監(jiān)測(cè)到的多個(gè)待測(cè)電壓的電平變化信息，將 每個(gè)電壓的時(shí)序及所有關(guān)系電壓間的相對(duì)時(shí)序匯整為統(tǒng)一的數(shù)據(jù)格式，并在液 晶熒幕上顯示出各個(gè)電壓的相對(duì)時(shí)序圖，且存儲(chǔ)相對(duì)時(shí)序數(shù)據(jù)以供后期分析。
S413、顯示相對(duì)時(shí)序圖及錯(cuò)誤發(fā)生的情況與時(shí)間。根據(jù)監(jiān)測(cè)到的多個(gè)待測(cè) 電壓的電平變化信息以及工作狀態(tài)信息，將每個(gè)電壓的時(shí)序及所有關(guān)系電壓間 的相對(duì)時(shí)序匯整為統(tǒng)一的數(shù)據(jù)格式，并在液晶熒幕上顯示出各個(gè)電壓的相對(duì)時(shí) 序圖及電壓的錯(cuò)誤發(fā)生情況與時(shí)間，且存儲(chǔ)相對(duì)時(shí)序數(shù)據(jù)以供后期分析。
綜上所述，在本發(fā)明采用狀態(tài)檢測(cè)裝置后，因此可以同時(shí)對(duì)設(shè)備的多個(gè)待 測(cè)電壓進(jìn)行檢測(cè)。并且可以顯示出各個(gè)待測(cè)電壓的電平變化的相對(duì)時(shí)序圖及工 作狀態(tài)信息，無(wú)須如示波器那樣受測(cè)試數(shù)量的限制，提高了測(cè)試效率及減少了 測(cè)試工具的工作量。另外，本發(fā)明的顯示模塊具有存儲(chǔ)功能，使測(cè)試人員可以 査看歷史數(shù)據(jù)，從而可以更容易地對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行匯總分析，使測(cè)試工作變得更簡(jiǎn) 單。本發(fā)明的輸入模塊可以根據(jù)測(cè)試人員需要，調(diào)節(jié)時(shí)序圖在顯示幕上的顯示 形式，使數(shù)據(jù)的檢查工作更直觀與人性化。本發(fā)明還采用了當(dāng)被測(cè)電壓過(guò)大時(shí) 分壓及截?cái)嗟缺Ｗo(hù)措施，使測(cè)試工具不會(huì)因電壓過(guò)大而出現(xiàn)測(cè)量不準(zhǔn)確等情 況。因此本發(fā)明的狀態(tài)檢測(cè)裝置為一個(gè)實(shí)用性極高的測(cè)試工具。
雖然本發(fā)明已以較佳實(shí)施例揭示如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何熟 習(xí)此技藝者，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可作些許更動(dòng)與潤(rùn)飾，因此 本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)以權(quán)利要求所界定的為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1. 一種狀態(tài)檢測(cè)裝置，用以對(duì)多個(gè)待測(cè)電壓進(jìn)行檢測(cè)，該狀態(tài)檢測(cè)裝置包括一探針組，具有多個(gè)探針，用以探測(cè)該些待測(cè)電壓；一處理器，其具有多個(gè)I/O介面，且一個(gè)探針與一個(gè)I/O介面相連，該處理器用以監(jiān)測(cè)該探針組所探測(cè)到的每一待測(cè)電壓的電平變化，且記錄每一待測(cè)電壓的電平變化時(shí)間點(diǎn)，并判斷每一待測(cè)電壓是否為正常工作狀態(tài)；以及一顯示模塊，與該處理器相連，用以接收該處理器監(jiān)測(cè)到的每一待測(cè)電壓的電平變化信息及處理器對(duì)每一待測(cè)電壓工作狀態(tài)的判斷結(jié)果，并顯示出該些待測(cè)電壓的時(shí)序信息及工作狀態(tài)信息。
2. 如權(quán)利要求l所述的狀態(tài)檢測(cè)裝置，其特征在于，該顯示模塊還包括一顯示幕，用以顯示各個(gè)待測(cè)電壓電平變化的相對(duì)時(shí)序圖及工作狀態(tài)信息；一驅(qū)動(dòng)單元，連接于該顯示幕，用以驅(qū)動(dòng)該顯示幕并使其顯示各個(gè)待測(cè)電壓 電平變化的相對(duì)時(shí)序圖及工作狀態(tài)信息；以及一顯示控制單元，連接于該驅(qū)動(dòng)單元，用以接收該處理器監(jiān)測(cè)到的該待測(cè)電 壓的電平變化信息及處理器對(duì)該待測(cè)電壓工作狀態(tài)的判斷結(jié)果，并通過(guò)該驅(qū)動(dòng)單元 使該顯示幕顯示出各個(gè)待測(cè)電壓電平變化的相對(duì)時(shí)序圖及工作狀態(tài)信息。
3. 如權(quán)利要求2所述的狀態(tài)檢測(cè)裝置，其特征在于，該顯示模塊還包括一存 儲(chǔ)單元，用以存儲(chǔ)各個(gè)待測(cè)電壓的相對(duì)時(shí)序信息，以供后期分析。
4. 如權(quán)利要求1所述的狀態(tài)檢測(cè)裝置，其特征在于，該狀態(tài)檢測(cè)裝置還包括 一輸入模塊，該輸入模塊與該處理器相連，用于輸入提供該些待測(cè)電壓的設(shè)備的配 置信息，以使該處理器根據(jù)監(jiān)測(cè)到的該待測(cè)電壓的電平變化與該輸入模塊輸入的配 置信息來(lái)比較判斷該待測(cè)電壓是否為正常工作狀態(tài)。
5. 如權(quán)利要求1所述的狀態(tài)檢測(cè)裝置，其特征在于，該狀態(tài)檢測(cè)裝置還包括 一電位轉(zhuǎn)換模塊，該電位轉(zhuǎn)換模塊連接于該處理器與該探針組之間，用以對(duì)該探針 組探測(cè)到的超出處理器測(cè)量范圍的待測(cè)電壓進(jìn)行分壓，以滿足該處理器對(duì)電壓測(cè)量 的要求。
6. 如權(quán)利要求1所述的狀態(tài)檢測(cè)裝置，其特征在于，該狀態(tài)檢測(cè)裝置還包括 一保護(hù)模塊，該保護(hù)模塊連接于該處理器與該探針組之間，用于當(dāng)該探針組中的一探針與該處理器一 I/O介面間的電壓過(guò)大時(shí)，切斷該探針與該I/O介面間的路徑。
7. 如權(quán)利要求l所述的狀態(tài)檢測(cè)裝置，其特征在于，該處理器為一單片機(jī)或 一 ARM微處理器。
8. 一種狀態(tài)檢測(cè)方法，用以對(duì)多個(gè)待測(cè)電壓進(jìn)行檢測(cè)，該狀態(tài)檢測(cè)方法包括 以下步驟將該些待測(cè)電壓接上探針并監(jiān)測(cè)每一待測(cè)電壓的電平變化； 檢驗(yàn)每一待測(cè)電壓的電平變化是否正常；以及若電平變化正常則顯示出各個(gè)待測(cè)電壓電平變化的時(shí)序信息，若電平變化錯(cuò) 誤則顯示出各個(gè)待測(cè)電壓電平變化的時(shí)序信息及錯(cuò)誤發(fā)生的具體情況與時(shí)間。
9. 如權(quán)利要求8所述的狀態(tài)檢測(cè)方法，其特征在于，還包括 向該狀態(tài)檢測(cè)裝置輸入該設(shè)備的配置信息；以及根據(jù)監(jiān)測(cè)到的每一待測(cè)電壓的電平變化與該配置信息來(lái)比較判斷該待測(cè)電壓 是否為正常工作狀態(tài)。
10. 如權(quán)利要求8所述的狀態(tài)檢測(cè)方法，其特征在于，在顯示出各個(gè)待測(cè)電 壓的時(shí)序信息后存儲(chǔ)該時(shí)序信息。
11. 如權(quán)利要求8所述的狀態(tài)檢測(cè)方法，其特征在于，還包括對(duì)超出測(cè)量 范圍的待測(cè)電壓進(jìn)行分壓處理后再判斷待測(cè)電壓是否為正常工作狀態(tài)。
12. 如權(quán)利要求8所述的狀態(tài)檢測(cè)方法，其特征在于，還包括當(dāng)一被測(cè)電 壓過(guò)大時(shí)切斷該被測(cè)電壓所在路徑。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種狀態(tài)檢測(cè)裝置，包括探針組、處理器以及顯示模塊。探針組具有多個(gè)探針，用以探測(cè)待測(cè)電壓。處理器用以監(jiān)測(cè)探針組所探測(cè)到的待測(cè)電壓的電平變化，并根據(jù)監(jiān)測(cè)到的待測(cè)電壓的電平變化來(lái)判斷待測(cè)電壓是否為正常工作狀態(tài)。顯示模塊用以顯示出各個(gè)待測(cè)電壓的相對(duì)時(shí)序圖及工作狀態(tài)信息。本發(fā)明的狀態(tài)檢測(cè)裝置可同時(shí)對(duì)多個(gè)電壓進(jìn)行測(cè)試，并可在顯示幕上顯示出直觀的時(shí)序圖。
文檔編號(hào)G06F11/22GK101430348SQ200710166970
公開日2009年5月13日 申請(qǐng)日期2007年11月8日 優(yōu)先權(quán)日2007年11月8日
發(fā)明者碩 唐, 陳志豐 申請(qǐng)人:英業(yè)達(dá)股份有限公司