專利名稱：估計(jì)形式驗(yàn)證問題的難度級(jí)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明總體上涉及集成電路設(shè)計(jì)領(lǐng)域，更具體來說，涉及對形式驗(yàn)證問題的難度級(jí)的估計(jì)。
背景技術(shù)：
電路技術(shù)的進(jìn)步已提出在集成電路上布置多得多的晶體管，這需要更復(fù)雜的電路設(shè)計(jì)。然而，當(dāng)面對更復(fù)雜的電路設(shè)計(jì)時(shí)，用于對電路設(shè)計(jì)進(jìn)行評估的公知技術(shù)往往是低效的。因此，在某些情況下，用于對電路設(shè)計(jì)進(jìn)行評估的公知技術(shù)可能是不令人滿意的。

發(fā)明內(nèi)容
根據(jù)本發(fā)明，可以減少或消除與用于估計(jì)形式驗(yàn)證問題的難度級(jí)的先前技術(shù)相關(guān)聯(lián)的缺點(diǎn)和問題。
根據(jù)一個(gè)實(shí)施例，對驗(yàn)證問題的難度級(jí)的估計(jì)包括以下步驟接收輸入，該輸入包括設(shè)計(jì)和可以被驗(yàn)證的關(guān)于該設(shè)計(jì)的性質(zhì)。針對關(guān)于該設(shè)計(jì)的每個(gè)性質(zhì)執(zhí)行驗(yàn)證處理。根據(jù)所述驗(yàn)證處理針對每個(gè)性質(zhì)建立性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值，其中性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值表示對關(guān)于所述設(shè)計(jì)的性質(zhì)進(jìn)行驗(yàn)證的難度級(jí)。根據(jù)所述多個(gè)性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值確定設(shè)計(jì)可驗(yàn)證性量度值，其中，所述設(shè)計(jì)可驗(yàn)證性量度值表示對所述設(shè)計(jì)進(jìn)行驗(yàn)證的難度級(jí)。
本發(fā)明的某些實(shí)施例可以提供一個(gè)或更多個(gè)技術(shù)優(yōu)點(diǎn)。一個(gè)實(shí)施例的技術(shù)優(yōu)點(diǎn)可能在于建立了用于對電路進(jìn)行驗(yàn)證的難度級(jí)。針對一組性質(zhì)中的每個(gè)性質(zhì)，確定了用于對關(guān)于電路的性質(zhì)進(jìn)行驗(yàn)證的難度級(jí)。根據(jù)這些性質(zhì)的難度級(jí)，建立了用于對電路進(jìn)行驗(yàn)證的難度級(jí)。電路的難度級(jí)可以用于估計(jì)對電路進(jìn)行驗(yàn)證所需要的資源量、設(shè)計(jì)驗(yàn)證方法、調(diào)節(jié)驗(yàn)證引擎參數(shù)、修改電路設(shè)計(jì)以進(jìn)行驗(yàn)證、或執(zhí)行任何其他合適的目的。
本發(fā)明的某些實(shí)施例可以不包括以上多個(gè)技術(shù)優(yōu)點(diǎn)中的任何一個(gè)、可以包括以上多個(gè)技術(shù)優(yōu)點(diǎn)中的一些或所有技術(shù)優(yōu)點(diǎn)。對于本領(lǐng)域的技術(shù)人員，根據(jù)附圖、說明書以及所附權(quán)利要求，將容易顯見一個(gè)或更多個(gè)其他技術(shù)優(yōu)點(diǎn)。


為了更全面地理解本發(fā)明及其特征和優(yōu)點(diǎn)，下面結(jié)合附圖來參考以下描述，在附圖中圖1是用于估計(jì)形式驗(yàn)證問題的難度級(jí)的系統(tǒng)的一個(gè)實(shí)施例的框圖；圖2是例示了難度級(jí)的示例組的表；圖3是用于估計(jì)對電路的性質(zhì)進(jìn)行的驗(yàn)證的難度級(jí)的方法的一個(gè)實(shí)施例的流程圖；以及圖4是例示了根據(jù)可抽出性和抽出后的電路的最終規(guī)模的示例粗略分類的表。
具體實(shí)施例方式
通過參照附圖的圖1到4可以最佳地理解本發(fā)明的多個(gè)實(shí)施例及其優(yōu)點(diǎn)，將類似的標(biāo)號(hào)用于各圖的類似和對應(yīng)部分。
圖1是用于估計(jì)形式驗(yàn)證問題的難度級(jí)的系統(tǒng)10的一個(gè)實(shí)施例的框圖。根據(jù)本實(shí)施例，系統(tǒng)10建立了用于對電路進(jìn)行驗(yàn)證的難度級(jí)。針對一組性質(zhì)中的每個(gè)性質(zhì)，確定用于對關(guān)于電路的性質(zhì)進(jìn)行驗(yàn)證的難度級(jí)?？梢愿鶕?jù)這些性質(zhì)的難度級(jí)建立用于對電路進(jìn)行驗(yàn)證的難度級(jí)。
通常，電路的規(guī)范描述了電路的期望行為，對電路的設(shè)計(jì)描述了為了執(zhí)行所期望的行為而設(shè)計(jì)的算術(shù)和邏輯操作?？梢杂啥鄠€(gè)數(shù)學(xué)模型來表示該規(guī)范和設(shè)計(jì)。根據(jù)形式驗(yàn)證處理可以對這些數(shù)學(xué)模型進(jìn)行比較，以建立該設(shè)計(jì)是否執(zhí)行了由規(guī)范描述的期望行為。然而，執(zhí)行該比較往往是困難的。此外，在某些情況下驗(yàn)證處理可能根本不會(huì)完成。
系統(tǒng)10對形式驗(yàn)證問題的難度級(jí)進(jìn)行估計(jì)。根據(jù)一個(gè)實(shí)施例，難度級(jí)可以反映用于執(zhí)行驗(yàn)證問題所需的資源的量。例如，資源可以包括計(jì)算時(shí)間或存儲(chǔ)或計(jì)算時(shí)間和存儲(chǔ)二者。通常，越高的難度級(jí)表示越多的資源，而越低的難度級(jí)表示越少的資源。通過估計(jì)難度級(jí)，在運(yùn)行全部驗(yàn)證處理之前可以對驗(yàn)證方法進(jìn)行設(shè)計(jì)或者可以對形式驗(yàn)證問題進(jìn)行調(diào)節(jié)。
根據(jù)所例示的實(shí)施例，系統(tǒng)10包括如圖1所示地相連接的客戶機(jī)系統(tǒng)20、數(shù)據(jù)庫22以及服務(wù)器系統(tǒng)24。根據(jù)一個(gè)實(shí)施例，客戶機(jī)系統(tǒng)20允許用戶與服務(wù)器系統(tǒng)24相通信，以估計(jì)形式驗(yàn)證問題的難度級(jí)。
數(shù)據(jù)庫22存儲(chǔ)可能由服務(wù)器系統(tǒng)24使用的數(shù)據(jù)。根據(jù)所例示的實(shí)施例，數(shù)據(jù)庫22存儲(chǔ)經(jīng)受驗(yàn)證的模型30。模型30表示由系統(tǒng)10正在分析的模型。模型30包括經(jīng)受驗(yàn)證的設(shè)計(jì)34和性質(zhì)36。設(shè)計(jì)34可以表示可以被驗(yàn)證的任何合適的設(shè)計(jì)，如電路設(shè)計(jì)。電路設(shè)計(jì)可以包括任何合適的規(guī)模的寄存器傳輸級(jí)(RTL)電路設(shè)計(jì)，如多達(dá)20,000個(gè)鎖存器和多達(dá)30,000個(gè)門。例如，可以采用(可以在電路的設(shè)計(jì)過程中使用的)超高速集成電路(VHSIC)硬件描述語言(VHDL)或VERILOG來表達(dá)設(shè)計(jì)34。
然而，設(shè)計(jì)34可以表示任何合適的設(shè)計(jì)。作為示例，設(shè)計(jì)34可以表示規(guī)范(specification)級(jí)或系統(tǒng)級(jí)電路設(shè)計(jì)。作為另一示例，設(shè)計(jì)34可以表示軟件設(shè)計(jì)而非電路設(shè)計(jì)。
性質(zhì)36可以表示可以驗(yàn)證的設(shè)計(jì)34的特征。根據(jù)一個(gè)實(shí)施例，特征通常描述了電路在指定條件下的行為。示例性質(zhì)36可以包括與工業(yè)或?qū)W術(shù)基準(zhǔn)(benchmark)設(shè)計(jì)相關(guān)聯(lián)的性質(zhì)，如包括可視交互合成(VIS)基準(zhǔn)組。性質(zhì)可以用于捕獲系統(tǒng)行為隨時(shí)間的演變，或者性質(zhì)可以表示時(shí)間不變系統(tǒng)特性。
服務(wù)器系統(tǒng)24對可以用于估計(jì)形式驗(yàn)證問題的難度級(jí)的應(yīng)用進(jìn)行管理。根據(jù)所例示的實(shí)施例，服務(wù)器系統(tǒng)24包括驗(yàn)證引擎40、難度估計(jì)器44以及設(shè)計(jì)修改器48。
驗(yàn)證引擎40可以表示可進(jìn)行操作以執(zhí)行驗(yàn)證處理的軟件編碼引擎。驗(yàn)證處理可以指對關(guān)于設(shè)計(jì)的性質(zhì)進(jìn)行驗(yàn)證的處理，并且可以包括形式或非形式驗(yàn)證處理。示例驗(yàn)證處理例如可以包括自動(dòng)測試模式生成(ATPG)處理、基于可滿足性的有界模型檢驗(yàn)(SAT BMC)處理、基于二叉判定圖(BDD)的符號(hào)模型檢驗(yàn)處理、仿真處理、其他合適的驗(yàn)證處理或前述處理的任何組合。
難度估計(jì)器44可以進(jìn)行操作以估計(jì)驗(yàn)證問題的難度級(jí)。根據(jù)一個(gè)實(shí)施例，難度估計(jì)器44可以對可以用于估計(jì)驗(yàn)證問題的難度級(jí)的可驗(yàn)證性量度進(jìn)行計(jì)算。難度估計(jì)器44可以根據(jù)用于估計(jì)難度級(jí)的任何合適的技術(shù)進(jìn)行操作。參照圖2對方法的示例進(jìn)行描述。
根據(jù)一個(gè)實(shí)施例，驗(yàn)證引擎40和難度估計(jì)器44可以協(xié)作以建立用于驗(yàn)證引擎40的驗(yàn)證方法或驗(yàn)證參數(shù)。驗(yàn)證參數(shù)可以指驗(yàn)證引擎的參數(shù)，并且可以包括超時(shí)(time out)、努力(effort)、深度(depth)、其他參數(shù)或前述參數(shù)的任何合適的組合。
根據(jù)本實(shí)施例，驗(yàn)證引擎40可以執(zhí)行驗(yàn)證問題的樣本運(yùn)行，并將結(jié)果發(fā)送給難度估計(jì)器44。難度估計(jì)器44可以根據(jù)樣本運(yùn)行來計(jì)算可驗(yàn)證性量度?？沈?yàn)證性量度可以表示可以如何改變驗(yàn)證參數(shù)以降低難度級(jí)。作為示例，如果一問題的難度級(jí)高，則可以增大驗(yàn)證引擎40的超時(shí)值。作為另一示例，可以改變驗(yàn)證參數(shù)以選擇比使用更多資源的驗(yàn)證引擎40使用更少資源的多個(gè)驗(yàn)證引擎40的特定組或特定序列。
設(shè)計(jì)修改器48可以用于響應(yīng)于來自難度估計(jì)器44的結(jié)果對設(shè)計(jì)34進(jìn)行修改?？梢詫υO(shè)計(jì)34進(jìn)行修改以降低設(shè)計(jì)34的難度級(jí)。根據(jù)一個(gè)實(shí)施例，設(shè)計(jì)修改器48可以允許用戶響應(yīng)于來自系統(tǒng)10的結(jié)果對設(shè)計(jì)34進(jìn)行修改。根據(jù)另一實(shí)施例，設(shè)計(jì)修改器48可以響應(yīng)于來自系統(tǒng)10的結(jié)果對設(shè)計(jì)34自動(dòng)地進(jìn)行修改。不必要求對最終電路設(shè)計(jì)進(jìn)行修改。作為示例，可以僅僅為了驗(yàn)證電路設(shè)計(jì)而進(jìn)行修改，并且對于電路的實(shí)際生產(chǎn)可以去除所述修改。
根據(jù)一個(gè)實(shí)施例，可以按以下方式計(jì)算可驗(yàn)證性量度。模型30包括電路R的設(shè)計(jì)34和待驗(yàn)證電路R的n個(gè)性質(zhì){P1，...，Pn}的組36。電路R的性質(zhì)Pi的性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值V(R，Pi)表示對關(guān)于電路R的性質(zhì)Pi進(jìn)行驗(yàn)證的難度級(jí)。作為示例，越高的量度值可以表示越高的難度級(jí)，而越低的量度值可以表示越低的難度級(jí)。
根據(jù)本實(shí)施例，可以針對性質(zhì)計(jì)算出通過(passing)可驗(yàn)證性量度值和不通過(failing)可驗(yàn)證性量度值。作為示例，通過可驗(yàn)證性量度值Vpass(R，Pi)假設(shè)性質(zhì)Pi最終通過了，而不通過可驗(yàn)證性量度值Vfail(R，Pi)假設(shè)性質(zhì)Pi最終不通過。
可以將設(shè)計(jì)34的設(shè)計(jì)可驗(yàn)證性量度值計(jì)算成表示對關(guān)于設(shè)計(jì)34的性質(zhì)組進(jìn)行驗(yàn)證的難度級(jí)。作為示例，可以將電路R的電路可驗(yàn)證性量度值V(R)計(jì)算成表示對關(guān)于電路R的性質(zhì)組進(jìn)行驗(yàn)證的難度級(jí)?？梢愿鶕?jù)性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值V(R，Pi)的加權(quán)平均來計(jì)算電路可驗(yàn)證性量度值V(R)。
根據(jù)一個(gè)實(shí)施例，可以根據(jù)通過可驗(yàn)證性量度值Vpass(R，Pi)來計(jì)算電路可驗(yàn)證性量度值V(R)，這是因?yàn)樵谀承┣闆r下難以估計(jì)不通過可驗(yàn)證性量度值。根據(jù)本實(shí)施例，可以根據(jù)公式(1)來計(jì)算電路可驗(yàn)證性量度值V(R)V(r)=1nΣi=1nwiVpass(R,Pi)---(1)]]>其中，wi表示性質(zhì)Pi的權(quán)重?？梢允褂猛ㄟ^可驗(yàn)證性量度值作為不通過可驗(yàn)證性量度值的過近似(over-approximation)。
可以按任何合適的方式對所述多個(gè)性質(zhì)進(jìn)行加權(quán)。根據(jù)一個(gè)實(shí)施例，與較不重要或較不關(guān)鍵的性質(zhì)相比，可以對更重要或更關(guān)鍵的性質(zhì)賦予更高的權(quán)重。作為示例，可以對具有更大影響錐的性質(zhì)賦予更高的權(quán)重。
可以按任何合適的方式來表示可驗(yàn)證性量度值。作為示例，可以將該值表示為數(shù)字、范圍或分類。根據(jù)一個(gè)實(shí)施例，將可驗(yàn)證性量度值表示為一組m個(gè)難度級(jí){L1，...，Lm}的分類?？梢愿鶕?jù)希望的計(jì)算時(shí)間和精度級(jí)來選擇難度級(jí)的數(shù)量m。參照圖2對難度級(jí)的示例組進(jìn)行更詳細(xì)的描述。
圖2是例示了難度級(jí)的示例組的表60。根據(jù)所例示的實(shí)施例，該組包括6個(gè)難度級(jí)L1，...，L6。這些級(jí)是簡單、容易、中等、難、非常難以及未定級(jí)。近似時(shí)間表示對所述難度級(jí)的問題執(zhí)行驗(yàn)證所需的時(shí)間的近似。未定難度級(jí)表示不能確定難度級(jí)。
在不脫離本發(fā)明的范圍的情況下可以對難度級(jí)的示例組進(jìn)行修改、添加或刪除。作為示例，組可以具有更多、更少或不同的難度級(jí)。作為另一示例，近似時(shí)間可以不同。作為另一示例，可以采用除近似時(shí)間以外的參數(shù)來表示難度級(jí)。
再次參照圖1，電路可驗(yàn)證性量度值可以具有置信值?？梢园慈魏魏线m的方式對置信值進(jìn)行估定。作為示例，可以對根據(jù)提供對電路的更大覆蓋度的一組性質(zhì)計(jì)算出的電路可驗(yàn)證性量度值賦予比根據(jù)提供更小覆蓋度的組計(jì)算出的電路可驗(yàn)證性量度值更高的置信值。
根據(jù)具體需要，可以對系統(tǒng)10的一個(gè)或更多個(gè)組成部分進(jìn)行集成或分離。例如，使用單個(gè)計(jì)算機(jī)系統(tǒng)(例如，單臺(tái)個(gè)人計(jì)算機(jī))可以提供客戶機(jī)系統(tǒng)20和服務(wù)器系統(tǒng)24的功能。如果對任何組成部分進(jìn)行分離，則可以使用一個(gè)或更多個(gè)局域網(wǎng)(LAN)、城域網(wǎng)(MAN)、廣域網(wǎng)(WAN)、諸如因特網(wǎng)的全球計(jì)算機(jī)網(wǎng)或其他有線或無線鏈路來耦合這些組成部分。
“計(jì)算機(jī)”可以指可進(jìn)行操作以接受輸入、根據(jù)預(yù)定義規(guī)則對輸入進(jìn)行處理并產(chǎn)生輸出的任何合適的設(shè)備，例如，個(gè)人計(jì)算機(jī)、工作站、網(wǎng)絡(luò)計(jì)算機(jī)、無線電話、個(gè)人數(shù)字助理、這些或其他設(shè)備中的一個(gè)或更多個(gè)微處理器、或任何其他合適的處理設(shè)備。
系統(tǒng)10的一個(gè)或更多個(gè)組成部分可以包括合適的輸入設(shè)備、輸出設(shè)備、大容量存儲(chǔ)介質(zhì)、處理器、存儲(chǔ)器、或其他用于根據(jù)系統(tǒng)10的操作對信息進(jìn)行接收、處理、存儲(chǔ)或通信的其他組成部分。作為示例，系統(tǒng)10的一個(gè)或更多個(gè)組成部分可以包括邏輯、接口、存儲(chǔ)器、其他組成部分、或前述組成部分的任何合適的組合?！斑壿嫛笨梢灾赣布?、軟件、其他邏輯、或這些部分的任何合適的組合。某些邏輯可以對設(shè)備的操作進(jìn)行管理，并且可以例如包括處理器?！疤幚砥鳌笨梢灾缚蛇M(jìn)行操作以執(zhí)行指令并對數(shù)據(jù)進(jìn)行操縱以執(zhí)行操作的任何合適的裝置。
“接口”可以指設(shè)備的這樣的邏輯，即，其可進(jìn)行操作以接收該設(shè)備的輸入、從該設(shè)備發(fā)送輸出、執(zhí)行對輸入或輸出或這兩者的合適的處理、或前述處理的任何合適的組合，并且該邏輯可以包括一個(gè)或更多個(gè)端口、轉(zhuǎn)換軟件或這兩者。“存儲(chǔ)器”可以指可進(jìn)行操作以存儲(chǔ)并使得便于獲取信息的邏輯，并且可以包括隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(RAM)、只讀存儲(chǔ)器(ROM)、磁驅(qū)動(dòng)器、盤驅(qū)動(dòng)器、光盤(CD)驅(qū)動(dòng)器、數(shù)字視頻盤(DVD)驅(qū)動(dòng)器、可移動(dòng)介質(zhì)存儲(chǔ)器、任何其他合適的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)介質(zhì)、或這些部分中的任何部分的組合。
在不脫離本發(fā)明的范圍的情況下可以對系統(tǒng)10進(jìn)行修改、添加或刪除。作為示例，盡管將系統(tǒng)10描述為對電路設(shè)計(jì)進(jìn)行評估，但是系統(tǒng)10可以用于對軟件進(jìn)行評估。此外，可以由更多、更少或其他多個(gè)模塊來執(zhí)行系統(tǒng)10的操作。再者，可以使用包括軟件、硬件、其他邏輯、或這些部分的任何合適的組合的任何合適的邏輯來執(zhí)行系統(tǒng)10的操作。在本文檔中使用的“每個(gè)”是指一個(gè)組中的每個(gè)元素或一個(gè)組的子組中的每個(gè)元素。
圖3是用于對驗(yàn)證有關(guān)電路的性質(zhì)的難度級(jí)進(jìn)行估計(jì)的方法的一個(gè)實(shí)施例的流程圖。根據(jù)本實(shí)施例，設(shè)計(jì)表示帶有諸如鎖存器的多個(gè)電路元件的電路。對設(shè)計(jì)的結(jié)構(gòu)和功能特征進(jìn)行分析以估計(jì)性質(zhì)的性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值。結(jié)構(gòu)特征可以描述設(shè)計(jì)34的結(jié)構(gòu)，功能特征可以描述設(shè)計(jì)34的操作。可以由任何合適的系統(tǒng)(如圖1的系統(tǒng)10)來執(zhí)行本方法。
本方法在步驟100處開始，在該步驟中接收輸入。該輸入可以包括模型30，模型30包括設(shè)計(jì)34和性質(zhì)36的組中的一性質(zhì)?？梢詫⒃撔再|(zhì)作為斜接(miter)插入設(shè)計(jì)34中。在步驟104處根據(jù)設(shè)計(jì)34生成邏輯影響錐。通過將設(shè)計(jì)34合成到多個(gè)門可以生成邏輯影響錐，然后根據(jù)這些門來提取邏輯影響錐。
在步驟108處執(zhí)行自動(dòng)測試模式生成(ATPG)處理。自動(dòng)測試模式生成處理試圖按不同的信號(hào)對一系列值進(jìn)行驗(yàn)核。在該處理過程中，可以發(fā)現(xiàn)直接的局部沖突，使得不需要對整個(gè)設(shè)計(jì)34進(jìn)行分析。因此，自動(dòng)測試模式生成處理的結(jié)果和運(yùn)行時(shí)間可以表示難度級(jí)。
根據(jù)一個(gè)實(shí)施例，更短的運(yùn)行時(shí)間可能對應(yīng)于更低的難度級(jí)，而越長的運(yùn)行時(shí)間可能對應(yīng)于越高的難度級(jí)。根據(jù)所例示的實(shí)施例，比一運(yùn)行時(shí)間閾值短的運(yùn)行時(shí)間可以表示該問題是簡單的。該運(yùn)行時(shí)間閾值可以具有被選擇來標(biāo)識(shí)簡單問題的任何合適的值。作為示例，該運(yùn)行時(shí)間閾值可以小于5秒，如一秒、兩秒、三秒或四秒。
如果在步驟112處自動(dòng)測試模式生成處理的運(yùn)行時(shí)間小于運(yùn)行時(shí)間閾值，則本方法進(jìn)行到步驟116。在步驟116處將該問題歸類為簡單(trivial)。然后本方法進(jìn)行到步驟152。
如果在步驟112處運(yùn)行時(shí)間不小于運(yùn)行時(shí)間閾值，則本方法進(jìn)行到步驟120，在步驟120處執(zhí)行有界模型檢驗(yàn)(BMC)處理。該處理可以執(zhí)行任何合適的時(shí)間量，如10到60秒，例如，約20秒。有界模型檢驗(yàn)處理考慮特定長度的反例，并且，當(dāng)且僅當(dāng)存在這種反例時(shí)對可滿足的命題公式進(jìn)行測試。典型地，將界限中的時(shí)間幀的數(shù)量漸進(jìn)地增大預(yù)定數(shù)量，并對該問題求解更大數(shù)量的時(shí)間幀，直到超過了時(shí)間限。每個(gè)步長可以增大任何適合數(shù)量個(gè)時(shí)間幀，如2到20個(gè)時(shí)間幀，例如，約10個(gè)時(shí)間幀。
根據(jù)一個(gè)實(shí)施例，時(shí)間幀的數(shù)量的增大速率表示難度級(jí)。根據(jù)該實(shí)施例，越低的速率可以表示越高的難度級(jí)，而越高的速率可以表示越低的難度級(jí)。根據(jù)所例示的實(shí)施例，低于一速率閾值的速率可以表示較高的難度級(jí)。該速率閾值可以具有任何合適的值，例如，每秒10到60個(gè)時(shí)間幀，如每秒20、30或50個(gè)時(shí)間幀。
如果在步驟124處速率低于速率閾值，則本方法進(jìn)行到步驟128，在步驟128處對設(shè)計(jì)34執(zhí)行抽出(abstraction)處理。抽出處理對電路進(jìn)行適當(dāng)?shù)暮喕?，以減小電路的規(guī)模。作為示例，可以去除諸如冗余鎖存器的冗余電路元件。
可以按任何合適的方式執(zhí)行抽出處理。根據(jù)一個(gè)實(shí)施例，可以利用有界模型檢驗(yàn)處理來執(zhí)行該處理。有界模型檢驗(yàn)處理可以具有任何合適的界限，如20到50個(gè)幀，例如，25個(gè)幀，并且可以運(yùn)行任意合適的時(shí)間，如10到60秒，例如，約20秒。
根據(jù)一個(gè)實(shí)施例，原始電路包括多個(gè)原始電路元件。從原始電路抽出多個(gè)電路元件，以得到具有其余電路元件的抽出后電路。例如，可以保留構(gòu)成不可滿意的核的多個(gè)鎖存器，而將其余部分抽出，作為主輸入?？梢詫㈦娐返目沙槌鲂员硎緸閺脑茧娐烦槌龅脑臄?shù)量和原始電路元件的數(shù)量的函數(shù)。作為示例，可以將可抽出性定義為抽出后的電路元件與原始電路元件之比。
電路的可抽出性和其余電路元件的數(shù)量可以表示難度級(jí)。例如，越高的可抽出性可以表示越低的難度級(jí)，并且更多數(shù)量的剩余電路元件可以表示更高的難度級(jí)。因此，可以使用可抽出性和剩余電路元件的數(shù)量來將問題歸類成多個(gè)粗略分類。參照圖4對示例粗略分類進(jìn)行更詳細(xì)的描述。
圖4是例示了根據(jù)電路的可抽出性和抽出后的電路的最終規(guī)模的示例粗略分類的表70。根據(jù)本示例，將可抽出性表示為抽出后的電路元件的數(shù)量與原始電路元件的數(shù)量之比，并將其分成4個(gè)類別。將抽出后的電路的規(guī)模(最終規(guī)模)表示為抽出后的電路的觸發(fā)器(flip-flop(FF))的數(shù)量，并將其分成5個(gè)類別。
在不脫離本發(fā)明的范圍的情況下可以對示例粗略分類進(jìn)行修改、添加或刪除。作為示例，粗略分類可以具有更多、更少或不同的最終規(guī)?；蚩沙槌鲂灶悇e。作為另一示例，粗略分類可以具有更多、更少或不同的分類。
再次參照圖3，如果在步驟124處所述速率不低于速率閾值，則所述方法直接進(jìn)行到步驟130。在步驟132處執(zhí)行基于BDD的符號(hào)模型檢驗(yàn)處理?；贐DD的符號(hào)模型檢驗(yàn)處理可以指對被編碼成二叉判定圖的狀態(tài)機(jī)進(jìn)行驗(yàn)證的處理。符號(hào)模型檢驗(yàn)處理可以運(yùn)行任意合適的時(shí)間。例如，該處理可以運(yùn)行10到60秒，對于經(jīng)抽出的電路，運(yùn)行約20秒，對于未經(jīng)抽出的電路，運(yùn)行40秒。
在步驟136處對來自符號(hào)模型檢驗(yàn)處理的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析?？梢允褂迷摂?shù)據(jù)來確定抽出處理(如果執(zhí)行的話)是否過度了。如果二叉判定圖步驟在短時(shí)段內(nèi)進(jìn)行得很深(deep)，則可以將該抽出指定為過度的(over-aggressive)。作為示例，可以將這樣的抽出指定為過度的其中，在15到25秒(如約20秒)的時(shí)段內(nèi)二叉判定圖步驟深入了多于140(如多于150)。如果在步驟140處將抽出指定為過度的，則方法進(jìn)行到步驟144，在步驟144處將問題歸類為未判定的。然后該方法進(jìn)行到步驟152。
如果在步驟140處未將抽出指定為過度的，則方法進(jìn)行到步驟148。在步驟148處根據(jù)二叉判定圖數(shù)據(jù)對問題進(jìn)行歸類。如果在所述運(yùn)行時(shí)間內(nèi)完成了符號(hào)模型檢驗(yàn)處理，則可以將難度級(jí)指定為簡單或容易的。否則，二叉判定圖數(shù)據(jù)的其他特征可以表示難度級(jí)，或者可以用于對在步驟130中生成的分類進(jìn)行細(xì)分。
根據(jù)一個(gè)實(shí)施例，二叉判定圖轉(zhuǎn)變關(guān)系的規(guī)?？梢员硎倦y度級(jí)。越小的轉(zhuǎn)變關(guān)系可以表示越低的難度級(jí)。作為示例，小于15,000個(gè)節(jié)點(diǎn)的轉(zhuǎn)變關(guān)系規(guī)?？赡芫哂休^低的難度級(jí)。二叉判定圖的生長速率也可以表示難度級(jí)。越低的速率可以表示越低的難度級(jí)。根據(jù)一個(gè)實(shí)施例，可以使用以下準(zhǔn)則來根據(jù)BDD數(shù)據(jù)對問題進(jìn)行歸類?？梢允褂迷摲诸悓υ诓襟E130中生成的分類進(jìn)行細(xì)分，以生成最終分類1、如果規(guī)模是在20秒時(shí)大于90,000個(gè)節(jié)點(diǎn)，則難度級(jí)是中等到非常難。
2、如果規(guī)模是在20秒時(shí)小于30,000個(gè)節(jié)點(diǎn)，則難度級(jí)是簡單到容易。
3、如果規(guī)模是在40秒時(shí)大于160,00個(gè)節(jié)點(diǎn)，則難度級(jí)是難到非常難。
4、如果規(guī)模是在40秒時(shí)小于100,000個(gè)節(jié)點(diǎn)，則難度級(jí)是中等到容易。
在步驟152處報(bào)告結(jié)果。在報(bào)告了該結(jié)果之后，方法結(jié)束。
在不脫離本發(fā)明的范圍的情況下可以對本方法進(jìn)行修改、添加或刪除。本方法可以包括更多、更少或其他步驟。此外，在不脫離本發(fā)明的范圍的情況下可以按任何合適的順序執(zhí)行多個(gè)步驟。
以上方法適用于通過性質(zhì)。類似的方法可以用于不通過性質(zhì)。本方法可以包括任何合適的準(zhǔn)則。作為示例，電路元件的數(shù)量可以表示難度級(jí)。越大數(shù)量的電路元件可以表示越高的難度級(jí)。作為另一示例，二叉判定圖運(yùn)行的深度可以表示難度級(jí)。越深的二叉判定圖運(yùn)行可以表示越低的難度級(jí)。作為另一示例，有界模型檢驗(yàn)幀的生長速率可以表示難度級(jí)。越高的速率可以表示越低的難度級(jí)。作為另一示例，二叉判定圖轉(zhuǎn)變關(guān)系可以表示難度級(jí)。越小的轉(zhuǎn)變關(guān)系可以表示越低的難度級(jí)。
本發(fā)明的某些實(shí)施例可以提供一個(gè)或更多個(gè)技術(shù)優(yōu)點(diǎn)。一個(gè)實(shí)施例的技術(shù)優(yōu)點(diǎn)可能在于建立了用于對電路進(jìn)行驗(yàn)證的難度級(jí)。針對一組性質(zhì)中的每個(gè)性質(zhì)，確定了用于對關(guān)于電路的性質(zhì)進(jìn)行驗(yàn)證的難度級(jí)。根據(jù)這些性質(zhì)的難度級(jí)，建立了用于對電路進(jìn)行驗(yàn)證的難度級(jí)。電路的難度級(jí)可以用于估計(jì)對電路進(jìn)行驗(yàn)證所需要的資源量、設(shè)計(jì)驗(yàn)證方法、調(diào)節(jié)驗(yàn)證引擎參數(shù)、修改電路設(shè)計(jì)以進(jìn)行驗(yàn)證或執(zhí)行任何其他合適的目的。
盡管按照某些實(shí)施例和通用的相關(guān)聯(lián)的方法對本公開內(nèi)容進(jìn)行了描述，但是本領(lǐng)域的技術(shù)人員將顯見這些實(shí)施例和方法的變更和變換。因此，對示例實(shí)施例的以上描述不會(huì)限制本公開內(nèi)容。如由以下權(quán)利要求所限定的，在不脫離本公開內(nèi)容的精神和范圍的情況下還可以進(jìn)行其他修改、替換以及變更。
權(quán)利要求
1.一種用于估計(jì)驗(yàn)證問題的難度級(jí)的方法，其包括以下步驟接收包括設(shè)計(jì)和一組性質(zhì)的輸入，所述性質(zhì)組中的性質(zhì)可操作以針對所述設(shè)計(jì)而被驗(yàn)證；針對所述性質(zhì)組中的每個(gè)性質(zhì)重復(fù)以下步驟對關(guān)于所述設(shè)計(jì)的所述每個(gè)性質(zhì)執(zhí)行多個(gè)驗(yàn)證處理；和根據(jù)所述多個(gè)驗(yàn)證處理，針對所述每個(gè)性質(zhì)建立性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值，所述性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值表示對關(guān)于所述設(shè)計(jì)的所述每個(gè)性質(zhì)進(jìn)行驗(yàn)證的難度級(jí)；以及根據(jù)所述性質(zhì)組的所述性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值確定設(shè)計(jì)可驗(yàn)證性量度值，所述設(shè)計(jì)可驗(yàn)證性量度值表示對關(guān)于所述設(shè)計(jì)的所述性質(zhì)組進(jìn)行驗(yàn)證的難度級(jí)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述設(shè)計(jì)包括對電路的電路設(shè)計(jì)；并且所述設(shè)計(jì)可驗(yàn)證性量度值包括電路可驗(yàn)證性量度值。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述確定所述設(shè)計(jì)可驗(yàn)證性量度值的步驟還包括以下步驟對所述性質(zhì)組中的每個(gè)性質(zhì)分配權(quán)重；計(jì)算所述性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值的加權(quán)平均，所述性質(zhì)的性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值是根據(jù)分配給所述性質(zhì)的所述權(quán)重進(jìn)行加權(quán)的；以及根據(jù)所述加權(quán)平均生成所述設(shè)計(jì)可驗(yàn)證性量度值。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述建立所述性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值的步驟還包括以下步驟針對所述性質(zhì)建立通過性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值，所述通過可驗(yàn)證性量度值表示在假設(shè)所述性質(zhì)通過的情況下對所述性質(zhì)進(jìn)行驗(yàn)證的難度級(jí)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述對關(guān)于所述設(shè)計(jì)的所述每個(gè)性質(zhì)執(zhí)行所述多個(gè)驗(yàn)證處理的步驟還包括以下步驟對所述設(shè)計(jì)執(zhí)行自動(dòng)測試模式生成處理；并且所述建立所述性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值的步驟還包括以下步驟如果所述自動(dòng)測試模式生成處理的運(yùn)行時(shí)間小于運(yùn)行時(shí)間閾值，則建立較低的難度級(jí)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述對關(guān)于所述設(shè)計(jì)的所述每個(gè)性質(zhì)執(zhí)行所述多個(gè)驗(yàn)證處理的步驟還包括以下步驟對所述設(shè)計(jì)執(zhí)行有界模型檢驗(yàn)處理；并且所述建立所述性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值的步驟還包括以下步驟確定所述有界模型檢驗(yàn)處理的多個(gè)時(shí)間幀的生長速率；并且如果所述速率低于速率閾值，則對所述設(shè)計(jì)執(zhí)行抽出處理。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述對關(guān)于所述設(shè)計(jì)的所述每個(gè)性質(zhì)執(zhí)行所述多個(gè)驗(yàn)證處理的步驟還包括以下步驟對所述設(shè)計(jì)執(zhí)行抽出處理，以從包括第二數(shù)量個(gè)原始元件的所述設(shè)計(jì)中抽出第一數(shù)量個(gè)被抽出元件，以獲得第三數(shù)量個(gè)剩余元件；并且所述建立所述性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值的步驟還包括以下步驟如果第三數(shù)量個(gè)剩余元件的數(shù)量大于剩余元件閾值，則建立較高的難度級(jí)。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述對關(guān)于所述設(shè)計(jì)的所述每個(gè)性質(zhì)執(zhí)行所述多個(gè)驗(yàn)證處理的步驟還包括以下步驟對所述設(shè)計(jì)執(zhí)行抽出處理，以從包括第二數(shù)量個(gè)原始元件的所述設(shè)計(jì)中抽出第一數(shù)量個(gè)被抽出元件，以獲得第三數(shù)量個(gè)剩余元件；并且所述建立所述性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值的步驟還包括以下步驟計(jì)算所述設(shè)計(jì)的可抽出性，所述可抽出性包括第一數(shù)量個(gè)被抽出元件與第二數(shù)量個(gè)原始元件的數(shù)量之比；并且如果所述可抽出性大于可抽出性閾值，則建立較低的難度級(jí)。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述對關(guān)于所述設(shè)計(jì)的所述每個(gè)性質(zhì)執(zhí)行所述多個(gè)驗(yàn)證處理的步驟還包括以下步驟基于關(guān)于所述設(shè)計(jì)的一個(gè)或更多個(gè)二叉判定圖，執(zhí)行符號(hào)模型檢驗(yàn)處理；并且所述建立所述性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值的步驟還包括以下步驟計(jì)算所述二叉判定圖的生長速率；并且如果所述生長速率高于生長速率閾值，則選擇較高的難度級(jí)。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述對關(guān)于所述設(shè)計(jì)的所述每個(gè)性質(zhì)執(zhí)行所述多個(gè)驗(yàn)證處理的步驟還包括以下步驟基于關(guān)于所述設(shè)計(jì)的一個(gè)或更多個(gè)二叉判定圖，執(zhí)行符號(hào)模型檢驗(yàn)處理；并且所述建立所述性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值的步驟還包括以下步驟計(jì)算所述二叉判定圖的轉(zhuǎn)變關(guān)系規(guī)模；并且如果所述轉(zhuǎn)變關(guān)系規(guī)模小于轉(zhuǎn)變關(guān)系規(guī)模閾值，則選擇較低的難度級(jí)。
11.一種用于估計(jì)驗(yàn)證問題的難度級(jí)的邏輯，所述邏輯被實(shí)現(xiàn)在介質(zhì)中并且可操作以接收包括設(shè)計(jì)和一組性質(zhì)的輸入，所述性質(zhì)組中的性質(zhì)可操作以針對所述設(shè)計(jì)而被驗(yàn)證；針對所述性質(zhì)組中的每個(gè)性質(zhì)重復(fù)以下步驟對關(guān)于所述設(shè)計(jì)的所述每個(gè)性質(zhì)執(zhí)行多個(gè)驗(yàn)證處理；和根據(jù)所述多個(gè)驗(yàn)證處理，針對所述每個(gè)性質(zhì)建立性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值，所述性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值表示對關(guān)于所述設(shè)計(jì)的所述每個(gè)性質(zhì)進(jìn)行驗(yàn)證的難度級(jí)；以及根據(jù)所述性質(zhì)組的所述多個(gè)性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值確定設(shè)計(jì)可驗(yàn)證性量度值，所述設(shè)計(jì)可驗(yàn)證性量度值表示對關(guān)于所述設(shè)計(jì)的所述性質(zhì)組進(jìn)行驗(yàn)證的難度級(jí)。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的邏輯，其中，所述設(shè)計(jì)包括對電路的電路設(shè)計(jì)；并且所述設(shè)計(jì)可驗(yàn)證性量度值包括電路可驗(yàn)證性量度值。
13.根據(jù)權(quán)利要求11所述的邏輯，其中，所述確定所述設(shè)計(jì)可驗(yàn)證性量度值的步驟還包括以下步驟對所述性質(zhì)組中的每個(gè)性質(zhì)分配權(quán)重；計(jì)算所述性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值的加權(quán)平均，所述性質(zhì)的性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值是根據(jù)分配給所述性質(zhì)的所述權(quán)重進(jìn)行加權(quán)的；以及根據(jù)所述加權(quán)平均生成所述設(shè)計(jì)可驗(yàn)證性量度值。
14.根據(jù)權(quán)利要求11所述的邏輯，其中，所述建立所述性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值的步驟還包括以下步驟針對所述性質(zhì)建立通過性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值，所述通過可驗(yàn)證性量度值表示在假設(shè)所述性質(zhì)通過的情況下對所述性質(zhì)進(jìn)行驗(yàn)證的難度級(jí)。
15.根據(jù)權(quán)利要求11所述的邏輯，其中，所述對關(guān)于所述設(shè)計(jì)的所述每個(gè)性質(zhì)執(zhí)行所述多個(gè)驗(yàn)證處理的步驟還包括以下步驟對所述設(shè)計(jì)執(zhí)行自動(dòng)測試模式生成處理；并且所述建立所述性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值的步驟還包括以下步驟如果所述自動(dòng)測試模式生成處理的運(yùn)行時(shí)間小于運(yùn)行時(shí)間閾值，則建立較低的難度級(jí)。
16.根據(jù)權(quán)利要求11所述的邏輯，其中，所述對關(guān)于所述設(shè)計(jì)的所述每個(gè)性質(zhì)執(zhí)行所述多個(gè)驗(yàn)證處理的步驟還包括以下步驟對所述設(shè)計(jì)執(zhí)行有界模型檢驗(yàn)處理；并且所述建立所述性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值的步驟還包括以下步驟確定所述有界模型檢驗(yàn)處理的多個(gè)時(shí)間幀的生長速率；并且如果所述速率低于速率閾值，則對所述設(shè)計(jì)執(zhí)行抽出處理。
17.根據(jù)權(quán)利要求11所述的邏輯，其中，所述對關(guān)于所述設(shè)計(jì)的所述每個(gè)性質(zhì)執(zhí)行所述多個(gè)驗(yàn)證處理的步驟還包括以下步驟對所述設(shè)計(jì)執(zhí)行抽出處理，以從包括第二數(shù)量個(gè)原始元件的所述設(shè)計(jì)中抽出第一數(shù)量個(gè)被抽出元件，以獲得第三數(shù)量個(gè)剩余元件；并且所述建立所述性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值的步驟還包括以下步驟如果第三數(shù)量個(gè)剩余元件的數(shù)量大于剩余元件閾值，則建立較高的難度級(jí)。
18.根據(jù)權(quán)利要求11所述的邏輯，其中，所述對關(guān)于所述設(shè)計(jì)的所述每個(gè)性質(zhì)執(zhí)行所述多個(gè)驗(yàn)證處理的步驟還包括以下步驟對所述設(shè)計(jì)執(zhí)行抽出處理，以從包括第二數(shù)量個(gè)原始元件的所述設(shè)計(jì)中抽出第一數(shù)量個(gè)被抽出元件，以獲得第三數(shù)量個(gè)剩余元件；并且所述建立所述性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值的步驟還包括以下步驟計(jì)算所述設(shè)計(jì)的可抽出性，所述可抽出性包括第一數(shù)量個(gè)被抽出元件與第二數(shù)量個(gè)原始元件的數(shù)量之比；并且如果所述可抽出性大于可抽出性閾值，則建立較低的難度級(jí)。
19.根據(jù)權(quán)利要求11所述的邏輯，其中，所述對關(guān)于所述設(shè)計(jì)的所述每個(gè)性質(zhì)執(zhí)行所述多個(gè)驗(yàn)證處理的步驟還包括以下步驟基于關(guān)于所述設(shè)計(jì)的一個(gè)或更多個(gè)二叉判定圖，執(zhí)行符號(hào)模型檢驗(yàn)處理；并且所述建立所述性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值的步驟還包括以下步驟計(jì)算所述二叉判定圖的生長速率；并且如果所述生長速率高于生長速率閾值，則選擇較高的難度級(jí)。
20.根據(jù)權(quán)利要求11所述的邏輯，其中，所述對關(guān)于所述設(shè)計(jì)的所述每個(gè)性質(zhì)執(zhí)行所述多個(gè)驗(yàn)證處理的步驟還包括以下步驟基于關(guān)于所述設(shè)計(jì)的一個(gè)或更多個(gè)二叉判定圖，執(zhí)行符號(hào)模型檢驗(yàn)處理；并且所述建立所述性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值的步驟還包括以下步驟計(jì)算所述二叉判定圖的轉(zhuǎn)變關(guān)系規(guī)模；并且如果所述轉(zhuǎn)變關(guān)系規(guī)模小于轉(zhuǎn)變關(guān)系規(guī)模閾值，則選擇較低的難度級(jí)。
21.一種用于估計(jì)驗(yàn)證問題的難度級(jí)的系統(tǒng)，其包括用于接收包括設(shè)計(jì)和一組性質(zhì)的輸入的裝置，所述性質(zhì)組中的性質(zhì)可操作以針對所述設(shè)計(jì)而被驗(yàn)證；用于針對所述性質(zhì)組中的每個(gè)性質(zhì)重復(fù)以下步驟的裝置對關(guān)于所述設(shè)計(jì)的所述每個(gè)性質(zhì)執(zhí)行多個(gè)驗(yàn)證處理；和根據(jù)所述多個(gè)驗(yàn)證處理針對所述每個(gè)性質(zhì)建立性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值，所述性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值表示對關(guān)于所述設(shè)計(jì)的所述每個(gè)性質(zhì)進(jìn)行驗(yàn)證的難度級(jí)；以及根據(jù)所述性質(zhì)組的所述多個(gè)性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值來確定設(shè)計(jì)可驗(yàn)證性量度值，所述設(shè)計(jì)可驗(yàn)證性量度值表示對關(guān)于所述設(shè)計(jì)的所述性質(zhì)組進(jìn)行驗(yàn)證的難度級(jí)。
22.一種用于估計(jì)驗(yàn)證問題的難度級(jí)的方法，其包括以下步驟接收包括設(shè)計(jì)和一組性質(zhì)的輸入，所述設(shè)計(jì)包括對電路的電路設(shè)計(jì)，所述性質(zhì)組中的性質(zhì)可操作以針對所述設(shè)計(jì)而被驗(yàn)證；針對所述性質(zhì)組中的每個(gè)性質(zhì)重復(fù)以下步驟對關(guān)于所述設(shè)計(jì)的所述每個(gè)性質(zhì)執(zhí)行多個(gè)驗(yàn)證處理；和根據(jù)所述多個(gè)驗(yàn)證處理，針對所述每個(gè)性質(zhì)建立性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值，所述性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值表示對關(guān)于所述設(shè)計(jì)的所述每個(gè)性質(zhì)進(jìn)行驗(yàn)證的難度級(jí)，所述建立所述性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值的步驟還包括以下步驟針對所述性質(zhì)建立通過性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值，所述通過可驗(yàn)證性量度值表示在假設(shè)所述性質(zhì)通過的情況下對所述性質(zhì)進(jìn)行驗(yàn)證的難度級(jí)；和根據(jù)所述性質(zhì)組的所述多個(gè)性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值來確定設(shè)計(jì)可驗(yàn)證性量度值，所述設(shè)計(jì)可驗(yàn)證性量度值包括電路可驗(yàn)證性量度值，所述設(shè)計(jì)可驗(yàn)證性量度值表示對關(guān)于所述設(shè)計(jì)的所述性質(zhì)組進(jìn)行驗(yàn)證的難度級(jí)，所述確定所述設(shè)計(jì)可驗(yàn)證性量度值的步驟還包括以下步驟對所述性質(zhì)組中的每個(gè)性質(zhì)分配權(quán)重；計(jì)算所述性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值的加權(quán)平均，所述性質(zhì)的性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值是根據(jù)分配給所述性質(zhì)的所述權(quán)重而進(jìn)行加權(quán)的；以及根據(jù)所述加權(quán)平均生成所述設(shè)計(jì)可驗(yàn)證性量度值，其中所述對關(guān)于所述設(shè)計(jì)的所述每個(gè)性質(zhì)執(zhí)行所述多個(gè)驗(yàn)證處理的步驟還包括以下步驟對所述設(shè)計(jì)執(zhí)行自動(dòng)測試模式生成處理；所述建立所述性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值的步驟還包括以下步驟如果所述自動(dòng)測試模式生成處理的運(yùn)行時(shí)間小于運(yùn)行時(shí)間閾值，則建立較低的難度級(jí)；所述對關(guān)于所述設(shè)計(jì)的所述每個(gè)性質(zhì)執(zhí)行所述多個(gè)驗(yàn)證處理的步驟還包括以下步驟對所述設(shè)計(jì)執(zhí)行有界模型檢驗(yàn)處理；所述建立所述性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值的步驟還包括以下步驟確定所述有界模型檢驗(yàn)處理的多個(gè)時(shí)間幀的生長速率；并且如果所述速率低于速率閾值，則對所述設(shè)計(jì)執(zhí)行抽出處理；并且所述對關(guān)于所述設(shè)計(jì)的所述每個(gè)性質(zhì)執(zhí)行所述多個(gè)驗(yàn)證處理的步驟還包括以下步驟對所述設(shè)計(jì)執(zhí)行抽出處理，以從包括第二數(shù)量個(gè)原始元件的所述設(shè)計(jì)中抽出第一數(shù)量個(gè)被抽出元件，以得到第三數(shù)量個(gè)剩余元件；所述建立所述性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值的步驟還包括以下步驟如果第三數(shù)量個(gè)剩余元件的數(shù)量大于剩余元件閾值，則建立較高的難度級(jí)；所述對關(guān)于所述設(shè)計(jì)的所述每個(gè)性質(zhì)執(zhí)行所述多個(gè)驗(yàn)證處理的步驟還包括以下步驟對所述設(shè)計(jì)執(zhí)行抽出處理，以從包括第二數(shù)量個(gè)原始元件的所述設(shè)計(jì)中抽出第一數(shù)量個(gè)被抽出元件，以獲得第三數(shù)量個(gè)剩余元件；所述建立所述性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值的步驟還包括以下步驟計(jì)算所述設(shè)計(jì)的可抽出性，所述可抽出性包括第一數(shù)量個(gè)被抽出元件的與第二數(shù)量個(gè)原始元件的數(shù)量之比；并且如果所述可抽出性大于可抽出性閾值，則建立較低的難度級(jí)；所述對關(guān)于所述設(shè)計(jì)的所述每個(gè)性質(zhì)執(zhí)行所述多個(gè)驗(yàn)證處理的步驟還包括以下步驟基于關(guān)于所述設(shè)計(jì)的一個(gè)或更多個(gè)二叉判定圖，執(zhí)行符號(hào)模型檢驗(yàn)處理；所述建立所述性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值的步驟還包括以下步驟計(jì)算所述二叉判定圖的生長速率；并且如果所述生長速率高于生長速率閾值，則選擇較高的難度級(jí)；所述對關(guān)于所述設(shè)計(jì)的所述每個(gè)性質(zhì)執(zhí)行所述多個(gè)驗(yàn)證處理的步驟還包括以下步驟基于關(guān)于所述設(shè)計(jì)的一個(gè)或更多個(gè)二叉判定圖，執(zhí)行所述符號(hào)模型檢驗(yàn)處理；并且所述建立所述性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值的步驟還包括以下步驟計(jì)算所述二叉判定圖的轉(zhuǎn)變關(guān)系規(guī)模；并且如果所述轉(zhuǎn)變關(guān)系規(guī)模小于轉(zhuǎn)變關(guān)系規(guī)模閾值，則選擇較低的難度級(jí)。
全文摘要
估計(jì)形式驗(yàn)證問題的難度級(jí)。對驗(yàn)證問題的難度級(jí)的估計(jì)包括以下步驟接收輸入，該輸入包括設(shè)計(jì)和可以被驗(yàn)證的關(guān)于該設(shè)計(jì)的性質(zhì)。針對關(guān)于該設(shè)計(jì)的每個(gè)性質(zhì)執(zhí)行驗(yàn)證處理。根據(jù)所述驗(yàn)證處理，針對每個(gè)性質(zhì)建立性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值，其中性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值表示對關(guān)于設(shè)計(jì)的性質(zhì)進(jìn)行驗(yàn)證的難度級(jí)。根據(jù)所述多個(gè)性質(zhì)可驗(yàn)證性量度值來確定設(shè)計(jì)可驗(yàn)證性量度值，其中，所述設(shè)計(jì)可驗(yàn)證性量度值表示對所述設(shè)計(jì)進(jìn)行驗(yàn)證的難度級(jí)。
文檔編號(hào)G06F17/50GK1900937SQ20061010594
公開日2007年1月24日 申請日期2006年7月19日 優(yōu)先權(quán)日2005年7月19日
發(fā)明者因德拉迪普·高希, 穆庫爾·R·普拉薩德 申請人:富士通株式會(huì)社