專利名稱：一種在嵌入式系統(tǒng)中測試內(nèi)存的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及嵌入式系統(tǒng)工裝測試中的內(nèi)存測試技術(shù)。
技術(shù)背景由于嵌入式系統(tǒng)工裝測試中，內(nèi)存測試是一項必不可少的測試項目， 通過檢測內(nèi)存，發(fā)現(xiàn)設(shè)備中內(nèi)存的焊接故障或內(nèi)存本身的故障，提高產(chǎn)品 出廠的合格率。目前比較通行的方法是，通過測試設(shè)備對嵌入式系統(tǒng)的內(nèi) 存進行測試，由于增加了硬件工具，帶來的就是不必要的硬件工具購買和 管理成本。 發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是，為降低測試成本，提供一種能對內(nèi)存進 行全面測試的軟件控制內(nèi)存測試的方法。本發(fā)明為解決上述技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是， 一種在嵌入式系統(tǒng) 中測試內(nèi)存的方法，包括以下步驟a、 在參數(shù)寄存器中設(shè)置內(nèi)存測試標(biāo)志；b、 處理器在ROM中運行基本硬件初始化程序時，判斷是否有內(nèi)存測試 標(biāo)志；若是，進入步驟c;若否，處理器跳轉(zhuǎn)到內(nèi)存中運行系統(tǒng)初始化程序；c、 處理器在ROM中運行內(nèi)存測試程序?qū)?nèi)存進行全面測試d、 測試完畢，保存測試結(jié)果；e、 應(yīng)用程序在內(nèi)存啟動，將測試結(jié)果輸出到用戶界面。 本發(fā)明的有益效果是，利用處理器在ROM中運行基本硬件初始化程序的時候，通過軟件手段判斷是否需要對內(nèi)存進行全面測試。本發(fā)明使用軟 件方法進入內(nèi)存測試模式，不需要硬件提供任何信息，簡化了硬件設(shè)計和 硬件成本。


圖1是本發(fā)明控制流程圖。
具體實施方式
嵌入式系統(tǒng)一般的啟動引導(dǎo)順序系統(tǒng)上電，處理器在ROM中執(zhí)行完基本硬件初始化程序后，跳轉(zhuǎn)到內(nèi)存中運行，加載應(yīng)用程序并初始化應(yīng)用
程序完畢后，系統(tǒng)啟動成功。嵌入式系統(tǒng)在ROM中運行基本硬件初始化程 序時，是對內(nèi)存進行測試的最佳時機，此時可以對內(nèi)存進行全面測試，否 則一旦處理器進入內(nèi)存中運行程序后，就不能對內(nèi)存進行全面測試了 。本發(fā)明中，系統(tǒng)啟動后進入用戶界面，若需要對內(nèi)存進行測試，則輸 入內(nèi)存測試命令，完成在處理器的參數(shù)寄存器中設(shè)置內(nèi)存測試標(biāo)志，即測 試命令執(zhí)行后，系統(tǒng)把一個標(biāo)志進行內(nèi)存測試的值記錄在參數(shù)寄存器中，如以v0作為內(nèi)存測試標(biāo)志，保存v0到參數(shù)寄存器a0;軟件系統(tǒng)重啟，處理器跳轉(zhuǎn)到、0M中運行基本硬件初始化程序，保存 參數(shù)寄存器a0的值到寄存器s0中，處理器在ROM中執(zhí)行完硬件初始化后， 判斷寄存器sO的值是否為v0，若為v0，則對內(nèi)存進行全面測試；測試完畢后，把測試結(jié)果rO保存在參數(shù)寄存器a0中，處理器跳轉(zhuǎn)到 內(nèi)存中運行系統(tǒng)初始化程序，此時，從參數(shù)寄存器a0中取出測試結(jié)果r0， 保存在內(nèi)存中特定的位置adrsO。加載應(yīng)用程序，應(yīng)用程序初始化完成后， 從內(nèi)存中的特定位置adrs0取出測試結(jié)果r0，輸出到用戶界面。若寄存器sO的值是不為v0，則不是測試模式，不對內(nèi)存進行測試，清 零參數(shù)寄存器a0，跳轉(zhuǎn)到內(nèi)存中運行系統(tǒng)初始化程序。如圖1所示，操作的具體流程如下(1) 把內(nèi)存測試標(biāo)志vO寫到處理器參數(shù)寄存器aO中，并將處理器跳 轉(zhuǎn)到ROM的對應(yīng)的入口地址；(2) 處理器在ROM運行基本硬件初始化程序之前,保存參數(shù)寄存器a0 的值到處理器寄存器s0。然后運行基本硬件初始化程序；(3) 處理器基本硬件初始化；(4) 判斷參數(shù)寄存器s0的值是否為內(nèi)存測試標(biāo)志v0，若是則執(zhí)行 (5)，否則，處理器跳轉(zhuǎn)到內(nèi)存執(zhí)行系統(tǒng)初始化程序；(5) 對內(nèi)存進行全面測試；(6) 把測試結(jié)果保存在參數(shù)寄存器中aO;跳轉(zhuǎn)到內(nèi)存運行系統(tǒng)初始化 程序，把測試結(jié)果寫在內(nèi)存的指定位置adrsO;(7) 應(yīng)用程序在內(nèi)存啟動；(8) 輸出測試結(jié)果。
權(quán)利要求
1. 一種在嵌入式系統(tǒng)中測試內(nèi)存的方法，其特征在于，包括以下步驟a、在參數(shù)寄存器中設(shè)置內(nèi)存測試標(biāo)志；b、處理器在ROM中運行基本硬件初始化程序時，判斷是否有內(nèi)存測試標(biāo)志；若是，進入步驟c；若否，處理器跳轉(zhuǎn)到內(nèi)存中運行系統(tǒng)初始化程序；c、處理器在ROM中運行內(nèi)存測試程序?qū)?nèi)存進行全面測試；d、測試完畢，保存測試結(jié)果；e、應(yīng)用程序在內(nèi)存啟動，將測試結(jié)果輸出到用戶界面。
2、 如權(quán)利要求1所述一種在嵌入式系統(tǒng)中測試內(nèi)存的方法，其特征在 于，所述步驟a具體是系統(tǒng)進入用戶界面，用戶輸入測試命令，完成向 參數(shù)寄存器中寫入測試標(biāo)志。
3、 如權(quán)利要求2所述一種在嵌入式系統(tǒng)中測試內(nèi)存的方法，其特征在 于，所述步驟a中還包括以下步驟用戶輸入測試命令后，重啟軟件系統(tǒng)， 處理器跳轉(zhuǎn)到ROM運行基本硬件初始化程序。
4、 如權(quán)利要求1、 2或3所述一種在嵌入式系統(tǒng)中測試內(nèi)存的方法， 其特征在于，步驟d所述保存測試結(jié)果具體包括以下步驟dl、處理器將測試結(jié)果保存到其參數(shù)寄存器； d2、處理器跳轉(zhuǎn)到內(nèi)存運行系統(tǒng)初始化程序；d3、處理器將參數(shù)寄存器保存的測試結(jié)果保存到內(nèi)存中特定的位置。
全文摘要
本發(fā)明涉及嵌入式系統(tǒng)工裝測試中的內(nèi)存測試技術(shù)。本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是，為降低測試成本，提供一種能對內(nèi)存進行全面測試的軟件控制內(nèi)存測試的方法。所采用的技術(shù)方案是，一種在嵌入式系統(tǒng)中測試內(nèi)存的方法，包括以下步驟a.在參數(shù)寄存器中設(shè)置內(nèi)存測試標(biāo)志；b.處理器在ROM中運行基本硬件初始化程序時，判斷是否有內(nèi)存測試標(biāo)志；若是，進入步驟c；若否，處理器跳轉(zhuǎn)到內(nèi)存中運行系統(tǒng)初始化程序；c.處理器在ROM中運行內(nèi)存測試程序?qū)?nèi)存進行全面測試；d.測試完畢，保存測試結(jié)果；e.應(yīng)用程序在內(nèi)存啟動，將測試結(jié)果輸出到用戶界面。本發(fā)明的有益效果是，不需要硬件提供任何信息，簡化了硬件設(shè)計和硬件成本。
文檔編號G06F11/22GK101211291SQ20061002273
公開日2008年7月2日 申請日期2006年12月31日 優(yōu)先權(quán)日2006年12月31日
發(fā)明者何三波 申請人:邁普(四川)通信技術(shù)有限公司