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X射線ct系統(tǒng)的制作方法

文檔序號(hào):6650278閱讀:157來源:國知局

專利名稱::X射線ct系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
:本發(fā)明涉及用于醫(yī)學(xué)應(yīng)用或者工業(yè)應(yīng)用的X射線計(jì)算機(jī)斷層成像(CT)系統(tǒng),或者尤其涉及改善三維顯示圖像、多平面重建(MPR)顯示圖像或者最大強(qiáng)度投影(MIP)顯示圖像的質(zhì)量。
背景技術(shù)
:在X射線CT系統(tǒng)中,使用于產(chǎn)生錐形束X射線的設(shè)備和用于檢測(cè)X射線的兩維X射線面探測(cè)器圍繞它們之間的旋轉(zhuǎn)中心旋轉(zhuǎn),其中所述兩維X射線面探測(cè)器位于所述設(shè)備對(duì)面,并且由以矩陣形式排列的探測(cè)器元件構(gòu)成。收集由從躺在該設(shè)備和該探測(cè)器之間的對(duì)象透射的X射線產(chǎn)生的投影數(shù)據(jù)項(xiàng),并且基于所收集的投影數(shù)據(jù)項(xiàng)重建圖像。在圖像顯示裝置上顯示所重建的斷層攝影圖像(例如參見專利文件1)[專利文件1]日本未審專利公開No.2003-334188(第9-10頁,圖17)。在X射線CT系統(tǒng)中,如在圖12所示,當(dāng)進(jìn)行螺旋掃描時(shí),隨著檢查臺(tái)在z方向的移動(dòng),斷層攝影圖像的中心連續(xù)地相互偏移。另外,如在圖13中所示,當(dāng)進(jìn)行常規(guī)(軸向)掃描或者電影掃描時(shí),隨著檢查臺(tái)在z方向移動(dòng),斷層攝影圖像在定義斷層攝影圖像的xy平面上相互偏移。這是由于支架的扭曲、對(duì)象軀體的運(yùn)動(dòng)等。過去,z方向上的切片厚度大,并且像素的尺寸不是各向同性的。因此,當(dāng)三維地顯示斷層攝影圖像時(shí),每幅斷層攝影圖像在x和y方向的位置的精確度可能不是很高。然而,目前在z方向上的切片厚度變得越來越薄。如今,像素的尺寸變得各向同性。因此,就三維顯示圖像、MPR顯示圖像或者M(jìn)IP顯示圖像而論,由于偏移導(dǎo)致在y方向上的連續(xù)或者不連續(xù)的偏移或者階躍,所以圖像中心在xy平面上的偏移引起精確性和圖像質(zhì)量方面的問題。然而,可以利用允許斷層攝影圖像在xy平面上對(duì)準(zhǔn)的參考、即利用對(duì)象的連續(xù)性作為參考來在xy平面上對(duì)準(zhǔn)斷層攝影圖像。本發(fā)明的另一目的是,提供能夠改善通過進(jìn)行常規(guī)(軸向)掃描、電影掃描或者螺旋掃描產(chǎn)生的三維顯示圖像、MPR顯示圖像或者M(jìn)IP顯示圖像的X射線CT系統(tǒng)。
發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明旨在利用圖像重建裝置或者圖像顯示裝置改善三維顯示圖像、MPR顯示圖像或者M(jìn)IP顯示圖像的質(zhì)量,其中所述圖像重建裝置或者圖像顯示裝置基于諸如托架、頭部支架、對(duì)象軀體表面或者對(duì)象骨頭等表現(xiàn)出高CT值的物體在z方向上的連續(xù)性來探測(cè)斷層攝影圖像在水平的x方向上的偏移或者斷層攝影圖像在垂直的y方向上的偏移,并且補(bǔ)償該偏移。為了測(cè)量圖像在x和y方向上的偏移,可以采用特征提取方法、圖案匹配方法、灰度圖案匹配方法等方法。在本發(fā)明的第一方面中,提供了X射線CT系統(tǒng),其包括X射線數(shù)據(jù)收集裝置,其使得X射線發(fā)生器和兩維X射線面探測(cè)器圍繞位于其間的旋轉(zhuǎn)中心旋轉(zhuǎn),并且收集透過躺在其間的對(duì)象的X射線產(chǎn)生的投影數(shù)據(jù)項(xiàng),所述探測(cè)器位于所述X射線發(fā)生器的對(duì)面以便探測(cè)X射線并且由以矩陣形式排列的探測(cè)器元件構(gòu)成;圖像重建裝置,用于根據(jù)由X射線數(shù)據(jù)收集裝置收集的投影數(shù)據(jù)項(xiàng)重建圖像;和圖像顯示裝置,用于顯示所重建的斷層攝影圖像。這里,圖像顯示裝置檢測(cè)每個(gè)斷層攝影圖像中的參考點(diǎn),通過測(cè)量參考點(diǎn)的偏移來測(cè)量每個(gè)斷層攝影圖像在水平的x方向上的偏移及其在垂直的y方向上的偏移,補(bǔ)償所述偏移,并且顯示所得到的斷層攝影圖像。在按照第一方面的X射線CT系統(tǒng)中,按照特征提取方法或者圖案匹配方法檢測(cè)每個(gè)斷層攝影圖像中的參考點(diǎn),并且測(cè)量每一個(gè)斷層攝影圖像與另一斷層攝影圖像的偏移。因此,z方向上連續(xù)定義的斷層攝影圖像在被顯示的同時(shí)在x和y方向上被移動(dòng)所述偏移。因此,偏移被補(bǔ)償。這產(chǎn)生具有改善了質(zhì)量的三維顯示圖像、MPR顯示圖像或者M(jìn)IP顯示圖像。在本發(fā)明的第二方面中,提供了X射線CT系統(tǒng),其包括X射線數(shù)據(jù)收集裝置,其使得X射線發(fā)生器和兩維X射線面探測(cè)器圍繞位于其間的旋轉(zhuǎn)中心旋轉(zhuǎn),并且收集透過躺在其間的對(duì)象的X射線產(chǎn)生的投影數(shù)據(jù)項(xiàng),所述探測(cè)器位于所述X射線發(fā)生器的對(duì)面以便探測(cè)X射線并且由以矩陣形式排列的探測(cè)器元件構(gòu)成;圖像重建裝置,其根據(jù)由X射線數(shù)據(jù)采集裝置收集的投影數(shù)據(jù)項(xiàng)重建圖像;和圖像顯示裝置,其顯示所重建的斷層攝影圖像。這里,圖像重建裝置檢測(cè)每個(gè)斷層攝影圖像中的參考點(diǎn),通過測(cè)量參考點(diǎn)的偏移來測(cè)量每個(gè)斷層攝影圖像在水平的x方向上的偏移及其在垂直的y方向上的偏移,補(bǔ)償所述偏移,并且重建所得到的斷層攝影圖像。在按照第二方面的X射線CT系統(tǒng)中,按照特征提取方法或者圖案匹配方法檢測(cè)每個(gè)斷層攝影圖像中的參考點(diǎn),并且測(cè)量每一個(gè)斷層攝影圖像與另一斷層攝影圖像的偏移。因此,z方向上連續(xù)定義的每一幅斷層攝影圖像在x和y方向被移動(dòng)所述偏移。因此,偏移被補(bǔ)償。這產(chǎn)生質(zhì)量改善的三維顯示圖像、MPR顯示圖像或者M(jìn)IP顯示圖像。在本發(fā)明的第三方面中,提供了X射線CT系統(tǒng),除了包括在X射線數(shù)據(jù)收集裝置中的兩維面探測(cè)器是多陣列X射線探測(cè)器之外,該X射線CT系統(tǒng)與按照第一或者第二方面的X射線CT系統(tǒng)相同。在按照第三方面的X射線CT系統(tǒng)中,雖然所述兩維X射線面探測(cè)器是多陣列X射線探測(cè)器,但是產(chǎn)生了具有改善了質(zhì)量的三維顯示圖像、MPR顯示圖像或者M(jìn)IP顯示圖像。在本發(fā)明的第四方面中,提供了X射線CT系統(tǒng),除了包括在X射線數(shù)據(jù)收集裝置中的兩維面探測(cè)器是以平板X射線探測(cè)器為代表的平面X射線探測(cè)器之外,該X射線CT系統(tǒng)與按照第一或者第二方面的X射線CT系統(tǒng)相同。在按照第四方面所述的X射線CT系統(tǒng)中,雖然所述兩維面探測(cè)器是以平板X射線探測(cè)器為代表的平面X射線探測(cè)器,但是產(chǎn)生了具有改善了質(zhì)量的三維顯示圖像、MPR顯示圖像或者M(jìn)IP顯示圖像。在本發(fā)明的第五方面中,提供了X射線CT系統(tǒng),該X射線CT系統(tǒng)與按照第一至第四方面任一的X射線CT系統(tǒng)相同,只是所述圖像顯示裝置檢測(cè)每個(gè)斷層攝影圖像中的參考點(diǎn),其中所述斷層攝影圖像通過在與定義該斷層攝影圖像的xy平面垂直的z方向上連續(xù)地進(jìn)行螺旋掃描來產(chǎn)生;然后所述圖像顯示裝置通過測(cè)量參考點(diǎn)的偏移來測(cè)量每個(gè)斷層攝影圖像在水平的x方向上的偏移及其在垂直的y方向上的偏移;并且所述圖像顯示裝置補(bǔ)償所述偏移和顯示所得到的斷層攝影圖像。在按照第五方面所述的X射線CT系統(tǒng)中,測(cè)量每幅斷層攝影圖像在x和y方向上的偏移,其中每幅斷層攝影圖像通過在z軸上連續(xù)地進(jìn)行螺旋掃描產(chǎn)生,即每幅斷層攝影圖像被定義成位于用z坐標(biāo)表示的位置處,并且斷層攝影圖像在被顯示的同時(shí)在x和y方向上被移動(dòng)所述偏移。這產(chǎn)生了具有改善了質(zhì)量的三維顯示圖像、MPR顯示圖像或者M(jìn)IP顯示圖像。在本發(fā)明的第六方面中,提供了X射線CT系統(tǒng),該X射線CT系統(tǒng)與按照第一至第四方面任一的X射線CT系統(tǒng)相同,只是所述圖像重建裝置檢測(cè)每個(gè)斷層攝影圖像中的參考點(diǎn),其中所述斷層攝影圖像通過在與定義該斷層攝影圖像的xy平面垂直的z方向上連續(xù)地進(jìn)行螺旋掃描來產(chǎn)生;所述圖像重建裝置通過測(cè)量所述參考點(diǎn)的偏移來測(cè)量每個(gè)斷層攝影圖像在水平的x方向上的偏移及其在垂直的y方向上的偏移;并且所述圖像重建裝置補(bǔ)償所述偏移和重建所得到的斷層攝影圖像。在按照第六方面的x射線CT系統(tǒng)中,測(cè)量每幅斷層攝影圖像在x和y方向上的偏移,其中每幅斷層攝影圖像通過連續(xù)地進(jìn)行螺旋掃描產(chǎn)生的、即所定義的位于利用z坐標(biāo)所指示的位置處的,并且在依據(jù)在x和y方向上的偏移移動(dòng)該斷層攝影圖像的同時(shí),該斷層攝影圖像被顯示。這導(dǎo)致具有改善了質(zhì)量的三維顯示圖像、MPR顯示圖像或者M(jìn)IP顯示圖像。在本發(fā)明的第七方面中,提供了X射線CT系統(tǒng),該X射線CT系統(tǒng)與按照第一至第四方面任一的X射線CT系統(tǒng)相同,只是所述圖像顯示裝置檢測(cè)每個(gè)斷層攝影圖像中的參考點(diǎn),其中所述斷層攝影圖像通過在與定義該斷層攝影圖像的xy平面垂直的z方向上連續(xù)地進(jìn)行常規(guī)(軸向)掃描來產(chǎn)生;所述圖像顯示裝置通過測(cè)量所述參考點(diǎn)的偏移來測(cè)量每個(gè)斷層攝影圖像在水平的x方向上的偏移及其在垂直的y方向上的偏移;并且所述圖像顯示裝置補(bǔ)償所述偏移和顯示所得到的斷層攝影圖像。在按照第七方面的X射線CT系統(tǒng)中,在每次掃描過程中都測(cè)量通過在z方向上連續(xù)地進(jìn)行常規(guī)(軸向)掃描產(chǎn)生的每個(gè)斷層攝影圖像在x和y方向上的偏移。另外,定義成位于利用z坐標(biāo)指示的位置處的每個(gè)斷層攝影圖像在x和y方向上的偏移被測(cè)量。斷層攝影圖像在被顯示的同時(shí)在x和y方向上被移動(dòng)所述偏移。這產(chǎn)生了具有改善了質(zhì)量的三維顯示圖像、MPR顯示圖像或者M(jìn)IP顯示圖像。在本發(fā)明的第八方面中,提供了X射線CT系統(tǒng),該X射線CT系統(tǒng)與按照第一至第四方面任一的X射線CT系統(tǒng)相同,只是所述圖像重建裝置檢測(cè)每個(gè)斷層攝影圖像中的參考點(diǎn),其中所述斷層攝影圖像通過在與定義該斷層攝影圖像的xy平面垂直的z方向上連續(xù)地進(jìn)行常規(guī)(軸向)掃描來產(chǎn)生;所述圖像重建裝置通過測(cè)量所述參考點(diǎn)的偏移來測(cè)量每個(gè)斷層攝影圖像在水平的x方向上的偏移及其在垂直的y方向上的偏移;并且所述圖像重建裝置補(bǔ)償所述偏移和重建所得到的斷層攝影圖像。在按照第八方面所述的X射線CT系統(tǒng)中,在每次掃描過程中都測(cè)量通過在z方向上連續(xù)地進(jìn)行常規(guī)(軸向)掃描產(chǎn)生的每個(gè)斷層攝影圖像在x和y方向上的偏移。另外,定義成位于利用z坐標(biāo)指示的位置處的每個(gè)斷層攝影圖像在x和y方向上的偏移被測(cè)量。斷層攝影圖像在被顯示的同時(shí)在x和y方向上被移動(dòng)所述偏移。這產(chǎn)生了具有改善了質(zhì)量的三維顯示圖像、MPR顯示圖像或者M(jìn)IP顯示圖像。在本發(fā)明的第九方面中,提供了X射線CT系統(tǒng),該X射線CT系統(tǒng)與按照第一至第四方面任一的X射線CT系統(tǒng)相同,只是所述圖像顯示裝置檢測(cè)每個(gè)斷層攝影圖像中的參考點(diǎn),其中所述斷層攝影圖像通過在與定義該斷層攝影圖像的xy平面垂直的z方向上連續(xù)地進(jìn)行電影掃描來產(chǎn)生;所述圖像顯示裝置通過測(cè)量所述參考點(diǎn)的偏移來測(cè)量每個(gè)斷層攝影圖像在水平的x方向上的偏移及其在垂直的y方向上的偏移;并且所述圖像顯示裝置補(bǔ)償所述偏移,并且顯示所得到的斷層攝影圖像。在按照第九方面所述的X射線CT系統(tǒng)中,在每次掃描過程中都測(cè)量通過在z方向上連續(xù)地進(jìn)行常規(guī)(軸向)掃描產(chǎn)生的每個(gè)斷層攝影圖像在x和y方向上的偏移。另外,定義成位于利用z坐標(biāo)指示的位置處的每個(gè)斷層攝影圖像在x和y方向上的偏移被測(cè)量。斷層攝影圖像在被顯示的同時(shí)在x和y方向上被移動(dòng)所述偏移。這產(chǎn)生了具有改善了質(zhì)量的三維顯示圖像、MPR顯示圖像或者M(jìn)IP顯示圖像。在本發(fā)明的第十方面中,提供了X射線CT系統(tǒng),該X射線CT系統(tǒng)與按照第一至第四方面任一的X射線CT系統(tǒng)相同,只是所述圖像重建裝置檢測(cè)每個(gè)斷層攝影圖像中的參考點(diǎn),其中所述斷層攝影圖像通過在與定義該斷層攝影圖像的xy平面垂直的z方向上連續(xù)地進(jìn)行電影掃描來產(chǎn)生,所述圖像重建裝置通過測(cè)量所述參考點(diǎn)的偏移來測(cè)量每個(gè)斷層攝影圖像在水平的x方向上的偏移及其在垂直的y方向上的偏移,并且所述圖像重建裝置補(bǔ)償所述偏移,并且重建所得到的斷層攝影圖像。在按照第十方面所述的X射線CT系統(tǒng)中,通過在z方向上連續(xù)地進(jìn)行電影掃描產(chǎn)生的每個(gè)斷層攝影圖像在x和y方向上的偏移在每次掃描過程中都被測(cè)量。另外,定義成位于利用z坐標(biāo)指示的位置處的每個(gè)斷層攝影圖像在x和y方向上的偏移被測(cè)量。斷層攝影圖像在被顯示的同時(shí)在x和y方向上被移動(dòng)所述偏移。這產(chǎn)生具有改善了質(zhì)量的三維顯示圖像、MPR顯示圖像或者M(jìn)IP顯示圖像。在本發(fā)明的第十一方面中,提供了X射線CT系統(tǒng),該X射線CT系統(tǒng)與按照第一至第四方面任一的X射線CT系統(tǒng)相同,只是所述圖像顯示裝置檢測(cè)每個(gè)斷層攝影圖像中的參考點(diǎn),其中所述斷層攝影圖像通過在與定義該斷層攝影圖像的xy平面垂直的z方向上連續(xù)地進(jìn)行可變螺距螺旋掃描來產(chǎn)生;所述圖像顯示裝置通過測(cè)量所述參考點(diǎn)的偏移來測(cè)量每個(gè)斷層攝影圖像在水平的x方向上的偏移及其在垂直的y方向上的偏移;并且所述圖像顯示裝置補(bǔ)償所述偏移,并且顯示所得到的斷層攝影圖像。在按照第十一方面所述的X射線CT系統(tǒng)中,測(cè)量通過在z方向上連續(xù)地進(jìn)行可變螺距螺旋掃描產(chǎn)生的每個(gè)斷層攝影圖像、或者位于利用z坐標(biāo)指示的位置處的每個(gè)斷層攝影圖像在x和y方向上的偏移。斷層攝影圖像在被顯示的同時(shí)在x和y方向上被移動(dòng)所述偏移。這產(chǎn)生了具有改善了質(zhì)量的三維顯示圖像、MPR顯示圖像或者M(jìn)IP顯示圖像。在本發(fā)明的第十二方面中,提供了X射線CT系統(tǒng),該X射線CT系統(tǒng)與按照第一至第四方面任一的X射線CT系統(tǒng)相同,只是所述圖像重建裝置檢測(cè)每個(gè)斷層攝影圖像中的參考點(diǎn),其中所述斷層攝影圖像通過在與定義該斷層攝影圖像的xy平面垂直的z方向上連續(xù)地進(jìn)行可變螺距螺旋掃描來產(chǎn)生;所述圖像重建裝置通過測(cè)量所述參考點(diǎn)的偏移來測(cè)量每個(gè)斷層攝影圖像在水平的x方向上的偏移及其在垂直的y方向上的偏移;并且所述圖像重建裝置補(bǔ)償所述偏移,并且重建所得到的斷層攝影圖像。在按照第十二方面所述的X射線CT系統(tǒng)中,測(cè)量通過在z方向上連續(xù)地進(jìn)行可變螺距螺旋掃描產(chǎn)生的每個(gè)斷層攝影圖像、或者定義位于利用z坐標(biāo)指示的位置處的每個(gè)斷層攝影圖像在x和y方向上的偏移。斷層攝影圖像在x和y方向被移動(dòng)所述偏移,以進(jìn)行圖像重建。這產(chǎn)生了具有改善了質(zhì)量的三維顯示圖像、MPR顯示圖像或者M(jìn)IP顯示圖像。在本發(fā)明的第十三方面中,提供了X射線CT系統(tǒng),該X射線CT系統(tǒng)與按照第一至第十二方面任一的X射線CT系統(tǒng)相同,只是所述圖像顯示裝置使用部分支架的表示作為每個(gè)斷層攝影圖像中的參考點(diǎn)來補(bǔ)償偏移,并且然后顯示所得到的斷層攝影圖像。在按照第十三方面所述的X射線CT系統(tǒng)中,部分支架的表示被用作每個(gè)斷層攝影圖像中的參考點(diǎn)來測(cè)量每個(gè)斷層攝影圖像在x和y方向上的偏移。斷層攝影圖像在被顯示的同時(shí)在x和y方向上被移動(dòng)所述偏移。這產(chǎn)生了具有改善了質(zhì)量的三維顯示圖像、MPR顯示圖像或者M(jìn)IP顯示圖像。在本發(fā)明的第十四方面中,提供了X射線CT系統(tǒng),該X射線CT系統(tǒng)與按照第一至第十二方面任一所述的X射線CT系統(tǒng)相同,只是所述圖像重建裝置使用部分支架的表示作為每個(gè)斷層攝影圖像中的參考點(diǎn)來補(bǔ)償偏移,并且重建所得到的斷層攝影圖像。在按照第十四方面所述的X射線CT系統(tǒng)中,部分支架的表示被用作每個(gè)斷層攝影圖像中的參考點(diǎn),并且測(cè)量每個(gè)斷層攝影圖像在x和y方向上的偏移。斷層攝影圖像在被顯示的同時(shí)在x和y方向上被移動(dòng)所述偏移。這產(chǎn)生了具有改善了質(zhì)量的三維顯示圖像、MPR顯示圖像或者M(jìn)IP顯示圖像。在本發(fā)明的第十五方面中,提供了X射線CT系統(tǒng),該X射線CT系統(tǒng)與按照第一至第十二方面任一所述的X射線CT系統(tǒng)相同,只是所述圖像顯示裝置使用對(duì)象的部分的表示作為每個(gè)斷層攝影圖像中的參考點(diǎn)來補(bǔ)償偏移,并且顯示所得到的斷層攝影圖像。在按照第十五方面所述的X射線CT系統(tǒng)中,對(duì)象的部分的表示被檢測(cè)為每個(gè)斷層攝影圖像中的參考點(diǎn),并且測(cè)量每個(gè)斷層攝影圖像在x和y方向上的偏移。斷層攝影圖像在被顯示的同時(shí)在x和y方向上被移動(dòng)所述偏移。這產(chǎn)生了具有改善了質(zhì)量的三維顯示圖像、MPR顯示圖像或者M(jìn)IP顯示圖像。在本發(fā)明的第十六方面中,提供了X射線CT系統(tǒng),該X射線CT系統(tǒng)與按照第一至第十二方面任一所述的X射線CT系統(tǒng)相同,只是所述圖像重建裝置使用對(duì)象的部分的表示作為每個(gè)斷層攝影圖像中的參考點(diǎn)來補(bǔ)償偏移,以便重建所得到的斷層攝影圖像。在按照第十六方面所述的X射線CT系統(tǒng)中,對(duì)象的部分的表示被檢測(cè)為每個(gè)斷層攝影圖像中的參考點(diǎn),并且測(cè)量每個(gè)斷層攝影圖像在x和y方向上的偏移。斷層攝影圖像在被顯示的同時(shí)在x和y方向上被移動(dòng)所述偏移。這產(chǎn)生了具有改善了質(zhì)量的三維顯示圖像、MPR顯示圖像或者M(jìn)IP顯示圖像。在本發(fā)明的第十七方面中,提供了X射線CT系統(tǒng),該X射線CT系統(tǒng)與按照第一至第十六方面任一所述的X射線CT系統(tǒng)相同,只是所述圖像重建裝置采用三維圖像重建技術(shù)。在按照第十七方面所述的X射線CT系統(tǒng)中,雖然采用所述三維圖像重建技術(shù)作為圖像重建技術(shù),但是產(chǎn)生了具有改善了質(zhì)量的三維顯示圖像、MPR顯示圖像或者M(jìn)IP顯示圖像。在本發(fā)明的第十八方面中,提供了X射線CT系統(tǒng),該X射線CT系統(tǒng)與按照第一至第十七方面任一所述的X射線CT系統(tǒng)相同,只是所述圖像顯示裝置不僅補(bǔ)償斷層攝影圖像在x和y方向上的偏移,而且補(bǔ)償斷層攝影圖像在z方向上的偏移,并且顯示所得到的斷層攝影圖像。在按照第十八方面所述的X射線CT系統(tǒng)中,雖然為了顯示所得到的斷層攝影圖像,不僅斷層攝影圖像在x和y方向上的偏移被補(bǔ)償,而且斷層攝影圖像在z方向上的偏移也被補(bǔ)償,但是產(chǎn)生了具有改善了質(zhì)量的三維顯示圖像、MPR顯示圖像或者M(jìn)IP顯示圖像。在本發(fā)明的第十九方面中,提供了X射線CT系統(tǒng),該X射線CT系統(tǒng)與按照第一至第十七方面任一所述的X射線CT系統(tǒng)相同,只是所述圖像重建裝置不僅補(bǔ)償斷層攝影圖像在x和y方向上的偏移,而且補(bǔ)償斷層攝影圖像在z方向上的偏移,并且重建所得到的斷層攝影圖像。在按照第十九方面所述的X射線CT系統(tǒng)中,雖然為了重建所得到的斷層攝影圖像,不僅斷層攝影圖像在x和y方向上的偏移被補(bǔ)償,而且斷層攝影圖像在z方向上的偏移也被補(bǔ)償,但是產(chǎn)生了改善了質(zhì)量的三維顯示圖像、MPR顯示圖像或者M(jìn)IP顯示圖像。按照本發(fā)明所述的X射線CT系統(tǒng)能夠改善通過進(jìn)行常規(guī)(軸向)掃描、電影掃描或者螺旋掃描產(chǎn)生的三維顯示圖像、MPR顯示圖像或者M(jìn)IP顯示圖像的質(zhì)量。圖1是示出按照本發(fā)明的最佳實(shí)施方案的X射線CT系統(tǒng)的框圖。圖2是示出X射線發(fā)生器(X射線管)和多陣列X射線探測(cè)器的旋轉(zhuǎn)的說明圖。圖3是概括在按照本發(fā)明的最佳實(shí)施例的X射線CT系統(tǒng)中執(zhí)行的動(dòng)作的流程圖。圖4是描述預(yù)處理的流程圖。圖5是描述三維圖像重建的流程圖。圖6是示出在X射線透射方向上在掃描場(chǎng)中投影線的概念圖。圖7是示出投影在探測(cè)器表面上的線的概念圖。圖8是示出投影數(shù)據(jù)項(xiàng)Dr(view,x,y)在掃描場(chǎng)上投影的概念圖。圖9是用作掃描場(chǎng)中的像素的反投影像素?cái)?shù)據(jù)項(xiàng)D2的概念圖。圖10是示出通過逐個(gè)像素地將從所有視圖中產(chǎn)生的反投影像素?cái)?shù)據(jù)項(xiàng)D2相加來產(chǎn)生反投影數(shù)據(jù)項(xiàng)D3的說明圖。圖11是示出在X射線透射方向在圓形掃描場(chǎng)中投影線的概念圖。圖12示出在常規(guī)三維顯示圖像、MPR顯示圖像或MIP顯示圖像中觀查到的通過螺旋掃描產(chǎn)生的斷層攝影圖像的中心的偏移。圖13示出在常規(guī)三維顯示圖像、MPR顯示圖像或MIP顯示圖像中觀察到的通過軸向掃描產(chǎn)生的斷層攝影圖像的中心的偏移。圖14示出在z方向上連續(xù)進(jìn)行的常規(guī)(軸向)掃描或者電影掃描。圖15示出在z方向上連續(xù)進(jìn)行的常規(guī)(軸向)掃描或者電影掃描。圖16示出在z方向上連續(xù)進(jìn)行的常規(guī)(軸向)掃描或者電影掃描。圖17示出在z方向上連續(xù)定義的斷層攝影圖像在y方向上的偏移。圖18說明通過基于邊緣分布測(cè)量的特征參數(shù)提取對(duì)在y方向上的偏移的補(bǔ)償。圖19說明通過基于邊緣分布的特征參數(shù)提取對(duì)在x和y方向上的偏移的補(bǔ)償。圖20說明通過基于邊緣分布的特征參數(shù)提取對(duì)在x和y方向上的偏移的補(bǔ)償。圖21示出用于擴(kuò)展的邏輯濾波器。圖22示出用于收縮的邏輯濾波器。圖23示出根據(jù)圖案匹配方法對(duì)在x和y方向上的偏移的補(bǔ)償。圖24示出根據(jù)將托架圖案與投影數(shù)目項(xiàng)匹配的方法來校正偏移的x坐標(biāo)和y坐標(biāo)的方法。圖25示出在方向θ將X射線投影到托架產(chǎn)生并事先記錄的投影數(shù)據(jù)項(xiàng)、通過再投影包含在斷層攝影圖像中并以方向θ采集的數(shù)據(jù)項(xiàng)所產(chǎn)生的投影數(shù)據(jù)項(xiàng)、和通過再投影斷層攝影圖像所產(chǎn)生的投影數(shù)據(jù)項(xiàng)之中的坐標(biāo)最大值表示的坐標(biāo)S(θ)的軌跡。圖26說明在圖像顯示過程中校正在常規(guī)(軸向)掃描、電影掃描或者螺旋掃描中得到的偏移坐標(biāo)的例子。圖27的例子說明了在圖像顯示過程中校正在連續(xù)螺旋掃描中出現(xiàn)的偏移坐標(biāo),同時(shí)使z方向上偏移被補(bǔ)償?shù)奈恢米儽?。圖28示出用于支持頭部的頭部支架。圖29說明利用對(duì)象軀體表面作為參考校正偏移的x坐標(biāo)和y坐標(biāo)。圖30示出利用投影數(shù)據(jù)項(xiàng)測(cè)量邊緣分布的方法。圖31示出在掃描機(jī)臺(tái)架傾斜時(shí)通過連續(xù)進(jìn)行常規(guī)(軸向)掃描或者電影掃描成像的切片的轉(zhuǎn)換。圖32。示出在掃描機(jī)臺(tái)架傾斜時(shí)通過連續(xù)進(jìn)行螺旋掃描成像的切片的轉(zhuǎn)換。具體實(shí)施例方式下面,將以所示出的實(shí)施例為例描述本發(fā)明。應(yīng)該注意的是,不應(yīng)將本發(fā)明限制于該實(shí)施方案。圖1是示出按照?qǐng)?zhí)行本發(fā)明的最佳方式的X射線CT系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)的框圖。X射線CT系統(tǒng)100包括操作人員控制臺(tái)1、射線照相臺(tái)10和掃描器臺(tái)架20。操作人員控制臺(tái)1包括接收操作人員的輸入的輸入設(shè)備2;進(jìn)行預(yù)處理、圖像重建和后處理的中央處理器3;數(shù)據(jù)收集緩沖器5,收集X射線探測(cè)器數(shù)據(jù)項(xiàng),即由包括在掃描器臺(tái)架20中的X射線探測(cè)器采集的數(shù)據(jù)項(xiàng);顯示器6,其上顯示基于投影數(shù)據(jù)項(xiàng)重建的斷層攝影圖像,所述投影數(shù)據(jù)項(xiàng)通過對(duì)X射線探測(cè)器數(shù)據(jù)項(xiàng)進(jìn)行預(yù)處理產(chǎn)生;和存儲(chǔ)單元7,其中存儲(chǔ)有程序、X射線探測(cè)器數(shù)據(jù)項(xiàng)、投影數(shù)據(jù)項(xiàng)和X射線斷層攝影圖像。射線照相臺(tái)10包括將躺在其上的對(duì)象運(yùn)進(jìn)或者運(yùn)離掃描器臺(tái)架20的孔的托架12。托架12通過結(jié)合在射線照相臺(tái)10中的電動(dòng)機(jī)升起或者降下,并且相對(duì)于射線照相臺(tái)10直線運(yùn)動(dòng)。掃描器臺(tái)架20包括X射線管21;X射線控制器22;準(zhǔn)直器23;多陣列X射線探測(cè)器24;數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)(DAS)25;旋轉(zhuǎn)器控制器26,控制X射線管21和圍繞對(duì)象軀體軸旋轉(zhuǎn)的其它部件;和控制單元29,其將控制信號(hào)和其它信號(hào)傳送到操作人員控制臺(tái)1或射線照相臺(tái)10或者從控制臺(tái)1或射線照相臺(tái)10傳送控制信號(hào)和其它信號(hào)。另外,掃描器臺(tái)架傾斜控制器27使該掃描器臺(tái)架20以大約±30°向前或者向后傾斜。圖2是示出X射線管和多陣列X射線探測(cè)器24的幾何布置的說明圖。X射線管21和多陣列X射線探測(cè)器24圍繞旋轉(zhuǎn)中心IC旋轉(zhuǎn)。假設(shè)垂直方向是y方向,水平方向是x方向,而與x和y方向垂直的射線照相臺(tái)的前進(jìn)方向是z方向,X射線管和多陣列X射線探測(cè)器24在其上旋轉(zhuǎn)的旋轉(zhuǎn)平面是xy平面。托架12的運(yùn)動(dòng)方向是z方向。X射線管21產(chǎn)生稱為錐形束的X射線束。當(dāng)錐形束的中心軸方向平行于y方向時(shí),表示視角或者掃描器臺(tái)架的角度是0°。多陣列X射線探測(cè)器24包括例如256個(gè)探測(cè)器陣列。每個(gè)探測(cè)器陣列包括例如1024個(gè)探測(cè)器通道。X射線被輻射之后,投影數(shù)據(jù)被產(chǎn)生并被收集。由多陣列X射線探測(cè)器24產(chǎn)生的投影數(shù)據(jù)由DAS25進(jìn)行模擬-數(shù)字轉(zhuǎn)化,并且經(jīng)由滑環(huán)30被傳送到數(shù)據(jù)收集緩沖器5。根據(jù)從存儲(chǔ)單元7中讀取的程序,中央處理器3處理該被傳送到數(shù)據(jù)收集緩沖器5的數(shù)據(jù)。根據(jù)處理后的數(shù)據(jù)重建斷層攝影圖像,并且然后將其顯示在顯示器6上。在本發(fā)明中所采用的掃描技術(shù)包括常規(guī)(軸向)掃描、電影掃描和螺旋掃描。稍后,將根據(jù)第一和第二實(shí)例描述掃描這些技術(shù)。圖3是概括在按照本發(fā)明的X射線CT系統(tǒng)中進(jìn)行的動(dòng)作的流程圖。首先,在步驟S1,X射線管21和多陣列X射線探測(cè)器24圍繞對(duì)象旋轉(zhuǎn),并且直線地移動(dòng)包括在射線照相臺(tái)中的托架12,以便連續(xù)進(jìn)行螺旋掃描或者可變螺距的螺旋掃描。收集由X射線探測(cè)器采集的數(shù)據(jù)項(xiàng),即X射線探測(cè)器數(shù)據(jù)項(xiàng)D0(view,j,i),同時(shí)z方向(射線照相臺(tái)沿該方向直線地移動(dòng))上的位置Ztable(view)被附加在每個(gè)X射線探測(cè)器數(shù)據(jù)上,其中每個(gè)數(shù)據(jù)項(xiàng)D0(view,j,i)都用視角view、探測(cè)器陣列數(shù)目j、通道數(shù)目i表示。對(duì)于常規(guī)(軸向)掃描或者電影掃描,包括在射線照相臺(tái)10中的托架12以等于或者小于通過旋轉(zhuǎn)中心的X射線束在z軸上的寬度D為單位被移動(dòng)。于是,為了收集每個(gè)都用視角view、探測(cè)器陣列數(shù)目j、通道數(shù)目i標(biāo)識(shí)的X射線探測(cè)器數(shù)據(jù)項(xiàng)D0(view,j,i),在z方向上連續(xù)地進(jìn)行常規(guī)(軸向)掃描或者電影掃描,z方向(射線照相臺(tái)沿該方向直線地移動(dòng))上的位置ztable(view)被附加到每個(gè)X射線探測(cè)器數(shù)據(jù)上。在步驟S2,X射線探測(cè)器項(xiàng)D0(view,j,i)被預(yù)處理,并且被轉(zhuǎn)化成投影數(shù)據(jù)項(xiàng)。如圖4所述,預(yù)處理包括步驟S21的消除偏移(offsetnulling)、步驟S22的對(duì)數(shù)轉(zhuǎn)換、步驟S23的X射線劑量校正和步驟S24的靈敏度校正。在步驟S3,包含在每個(gè)預(yù)處理的投影數(shù)據(jù)項(xiàng)D1(view,j,i)中的射束硬化偽影被補(bǔ)償。在步驟S3的射束硬化偽影補(bǔ)償過程中,假設(shè)已經(jīng)經(jīng)歷包括在步驟S2的預(yù)處理中的步驟S24的靈敏度校正的投影數(shù)據(jù)是數(shù)據(jù)Din,而在步驟S3經(jīng)過射束硬化偽影補(bǔ)償?shù)臄?shù)據(jù)是Dout,由下列多項(xiàng)式表示步驟S3的射束硬化偽影補(bǔ)償公式1Dout(view,j,i)=Din(view,j,i)·(B0(j,i)+B1(j,i)Din(view,j,i)+B2(j,i)·Din(view,j,i)2)這時(shí),對(duì)由每個(gè)探測(cè)器陣列j產(chǎn)生的投影數(shù)據(jù)進(jìn)行該射束硬化補(bǔ)償。如果在數(shù)據(jù)收集系統(tǒng)之間球管電流作為射線照相條件之一被不同地規(guī)定,那么屬于每個(gè)探測(cè)器陣列的探測(cè)器元件的X射線光子能量特征之間的差別可被補(bǔ)償。在步驟S4,利用z濾波器卷積經(jīng)歷射束硬化補(bǔ)償?shù)耐队皵?shù)據(jù)項(xiàng)Dout(view,j,i),也就是說,在z方向(陣列方向)上濾波投影數(shù)據(jù)項(xiàng)Dout(view,j,i)。在步驟S4,能夠處理由在陣列方向上并列的五個(gè)探測(cè)器元件產(chǎn)生的投影數(shù)據(jù)項(xiàng)的z濾波器被應(yīng)用于投影數(shù)據(jù)項(xiàng)Det(ch,row)(ch從1變化到CH,row從1變化到ROW),數(shù)據(jù)項(xiàng)Det(ch,row)在每個(gè)視角由多陣列X射線探測(cè)器產(chǎn)生并由相應(yīng)的數(shù)據(jù)收集系統(tǒng)預(yù)處理。如下表示濾波器(w1(ch),w2(ch),w3(ch),w4(ch),w5(ch))在這里,應(yīng)該滿足由下列公式提供的條件。公式2Σk=15wk(ch)=1]]>如下表示校正后的探測(cè)器數(shù)據(jù)項(xiàng)Dcor(ch,row)公式3Dcor(ch,j)=Σk=15(Det(ch,i-k-3)·wk(ch))]]>假設(shè)最大通道數(shù)目是CH,最大陣列數(shù)目是ROW,則建立下列關(guān)系公式4Det(ch,-1)=Det(ch,0)=Det(ch,1)Det(ch,ROW)=Det(ch,ROW+1)=Det(ch,ROW+2)當(dāng)逐個(gè)通道地改變應(yīng)用于由在陣列方向上并列的五個(gè)探測(cè)器元件產(chǎn)生的投影數(shù)據(jù)項(xiàng)的濾波系數(shù)時(shí),可以根據(jù)距掃描場(chǎng)中心的距離控制切片的厚度,其中所述掃描場(chǎng)是重建圖像場(chǎng)。通常,由斷層攝影圖像覆蓋的切片厚度在掃描場(chǎng)的周圍比在掃描場(chǎng)的中心處大。針對(duì)屬于中央通道的探測(cè)器元件,大幅改變應(yīng)用于由在陣列方向上并列的五個(gè)探測(cè)器元件產(chǎn)生的投影數(shù)據(jù)項(xiàng)的濾波系數(shù),而針對(duì)屬于外圍通道的探測(cè)器元件稍微地改變?cè)摓V波系數(shù)。在這種情況下,切片厚度在掃描場(chǎng)的周圍和掃描場(chǎng)的中心變得相等。由于如上所述地控制應(yīng)用于由屬于多陣列X射線探測(cè)器24的中央通道的探測(cè)器元件或者屬于其外圍通道的探測(cè)器元件產(chǎn)生的投影數(shù)據(jù)項(xiàng)的濾波系數(shù),所以可以根據(jù)切片與掃描場(chǎng)的中心有關(guān)還是與其周圍有關(guān)來控制切片厚度。當(dāng)待應(yīng)用于由在陣列方向上并列的探測(cè)器元件產(chǎn)生的投影數(shù)據(jù)項(xiàng)的濾薄系數(shù)被用于略微增加切片厚度時(shí),偽影和噪聲可令人滿意地被消除。因此,可以控制偽影或者噪聲的消除程度。也就是說,可以控制三維重建斷層攝影圖像的質(zhì)量、即xy平面上的圖像質(zhì)量?;蛘撸_定待應(yīng)用于由在陣列方向(z方向)上并列的探測(cè)器元件產(chǎn)生的投影數(shù)據(jù)項(xiàng)的濾波系數(shù),以實(shí)現(xiàn)去卷積,由此可以重建覆蓋小切片厚度的斷層攝影圖像。在步驟S5,利用重建函數(shù)進(jìn)行卷積。具體地,進(jìn)行傅立葉變換,應(yīng)用重建函數(shù),并且然后進(jìn)行傅立葉逆變換。在步驟S5的重建函數(shù)卷積過程中,假設(shè)已利用z濾波器被卷積的數(shù)據(jù)是數(shù)據(jù)Din,已利用重建函數(shù)被卷積的數(shù)據(jù)是數(shù)據(jù)Dout,且用于卷積的重建函數(shù)是函數(shù)Kernel(j),如下表示該重建函數(shù)卷積公式5Dout(view,j,i)=Din(view,j,i)*Kernel(j)由于重建函數(shù)Kernel(j)允許在每個(gè)探測(cè)器陣列j上單獨(dú)地進(jìn)行重建函數(shù)卷積,所以屬于每個(gè)探測(cè)器陣列的探測(cè)器元件之間的噪聲特征和分辨率特征的差異可被補(bǔ)償。在步驟S6,為了產(chǎn)生反投影數(shù)據(jù)項(xiàng)D3(x,y),在已利用重建函數(shù)被卷積的投影數(shù)據(jù)項(xiàng)D0(view,j,i)上進(jìn)行三維反投影。在定義為與z軸垂直的平面、即xy平面上三維地重建圖像。在下文中,掃描場(chǎng)P應(yīng)該平行于xy平面。以后將參照?qǐng)D5描述三維反投影??梢詫?duì)從三維反投影中得出的斷層攝影圖像進(jìn)行以后將描述的步驟11中的x和y方向上的偏移補(bǔ)償。另外,考慮到在步驟12中補(bǔ)償?shù)膠方向的偏移,可以進(jìn)行三維反投影。在步驟S7,為了完成斷層攝影圖像,對(duì)反投影數(shù)據(jù)項(xiàng)D3(x,y)進(jìn)行包括圖像濾波卷積和CT值轉(zhuǎn)換的后處理。可以對(duì)其CT值已轉(zhuǎn)換的斷層攝影圖像進(jìn)行以后將描述的步驟S11的x和y方向偏移補(bǔ)償。在包括于后處理的圖像濾波卷積的過程中,假設(shè)經(jīng)過三維反投影的數(shù)據(jù)是數(shù)據(jù)Din(x,y,z),經(jīng)過圖像濾波卷積的數(shù)據(jù)是數(shù)據(jù)Dout(x,y,z),且圖像濾波器是濾波器Filter(z),如下表示圖像濾波器卷積公式6Dout(x,y,z)=Din(x,y,z)*Filter(z)由于可以單獨(dú)地對(duì)每個(gè)探測(cè)器陣列j進(jìn)行圖像濾波卷積,所以可以補(bǔ)償屬于每個(gè)陣列的探測(cè)器元件之間的噪聲特征和分辨率特征的差別。在步驟S8,所得到的斷層攝影圖像被顯示在顯示器6上。在步驟S9,根據(jù)三維圖像像顯示技術(shù)、MPR圖像顯示技術(shù)或者M(jìn)IP圖像顯示技術(shù)顯示斷層攝影圖像,這些圖像通過連續(xù)地進(jìn)行常規(guī)(軸向)掃描、電影掃描、螺旋掃描或者可變螺距螺旋掃描產(chǎn)生,從而依次在z方向被定義。對(duì)于三維圖像顯示,可以進(jìn)行以后將描述的x和y方向偏移補(bǔ)償。另外,可以針對(duì)三維顯示補(bǔ)償z方向偏移。圖5是描述三維反投影的流程圖(圖4中的步驟S6)。根據(jù)本發(fā)明,采用螺旋掃描。在定義為垂直于z軸的平面、即xy平面上三維地重建圖像。在下文中,掃描場(chǎng)P應(yīng)該平行于xy平面。在步驟S61,用作包含在掃描場(chǎng)P中的像素的投影數(shù)據(jù)項(xiàng)Dr被采樣為重建斷層攝影圖像所需的所有視圖中的一個(gè)(即覆蓋360°的視圖或者覆蓋180°和扇形束的角度之和的視圖)。如圖6(a)和圖6(b)所示,掃描場(chǎng)P應(yīng)該是包含以行和列排列的512個(gè)像素并且平行于xy平面的方形域。例如,像素行L0開始于y坐標(biāo)0并且平行于x軸,像素行L63開始于y坐標(biāo)63,像素行L127開始于y坐標(biāo)127,像素行L191開始于y坐標(biāo)191,像素行L255開始于y坐標(biāo)255,像素行L319開始于y坐標(biāo)319,像素行L383開始于y坐標(biāo)383,像素行L447開始于y坐標(biāo)447,且像素行L511開始于y坐標(biāo)511。圖7中所示的行T0至T511的投影數(shù)據(jù)項(xiàng)被采樣為像素行L0至L511的投影數(shù)據(jù)項(xiàng)Dr,將像素行L0至L511沿X射線的透射方向投影到多陣列X射線探測(cè)器24的表面上得到行T0至T511的投影數(shù)據(jù)項(xiàng)。利用在X射線管21的焦點(diǎn)、像素、和多陣列X射線探測(cè)器24的幾何位置確定X射線的透射方向。z坐標(biāo)z(view)作為指示在射線照相臺(tái)直線移動(dòng)的z方向上的位置Ztable(view)的值,被附加到X射線探測(cè)器數(shù)據(jù)D0(view,j,i)中。因此,即使在加速或者減速過程中產(chǎn)生投影數(shù)據(jù)D0(view,j,i),也可以精確地探測(cè)X射線的透射方向。當(dāng)一行的投影數(shù)據(jù)以與例如獲得行T0的方式部分地從通道方向上的多陣列X射線探測(cè)器24獲得時(shí),投影數(shù)據(jù)Dr被設(shè)置為0s,其中在X射線透射方向上將像素行L0投影到多陣列X射線探測(cè)器24的表面上獲得T0。另外,當(dāng)一行的一部分得自z方向上的多陣列X射線探測(cè)器時(shí),投影數(shù)據(jù)Dr被內(nèi)插。因此,如圖8所示,對(duì)用作包含在掃描場(chǎng)P中的像素的投影數(shù)據(jù)項(xiàng)Dr(view,x,y)進(jìn)行采樣。參照?qǐng)D5,在步驟S62,為了產(chǎn)生如圖9所示的投影數(shù)據(jù)項(xiàng)D2(view,x,y),使投影數(shù)據(jù)項(xiàng)Dr(view,x,y)乘以錐形束重建加權(quán)系數(shù)。這里,下面將說明錐形束重建加權(quán)系數(shù)w(i,j)。通常,對(duì)于重建扇形束圖像,假設(shè)連接X射線管21的焦點(diǎn)和視角view=βa處的掃描場(chǎng)P(xy平面)中的像素g(x,y)的直線與x射線束的中心軸Bc相交的角度是γ,而對(duì)視角是view=βb,如下表示對(duì)視角βb=βa+180°-2γ假設(shè)穿過掃描場(chǎng)P中的像素g(x,y)的x射線束與掃描場(chǎng)P相交的角度和反向X射線束與掃描場(chǎng)P相交的角度分別是αa和αb,使反投影數(shù)據(jù)項(xiàng)與依賴于角度的錐形束重建加權(quán)系數(shù)ωa和ωb的乘積相加,以便產(chǎn)生反投影像素?cái)?shù)據(jù)D2(0,x,y)。公式7D2(0,x,y)=ωa·D2(0,x,y)_a+ωb·D2(0,x,y)_b錐形束重建加權(quán)系數(shù)的和ωa+ωb是一(1)。由于反投影數(shù)據(jù)項(xiàng)與依賴于角度的錐形束重建加權(quán)系數(shù)ωa和ωb的乘積被相加,所以錐形角偽影可被最小化。例如,可以如下計(jì)算錐形束重建加權(quán)系數(shù)ωa和ωb。假設(shè)扇形束的半角是γmax,建立以下關(guān)系公式8ga=f(γmax,αa,βa)gb=f(γmax,αb,βb)xa=2·gaq/(gaq+gbq)xb=2·gbq/(gaq+gbq)wa=xa2·(3-2xa)wb=xb2·(3-2xb)(例如,q=1)例如,假設(shè)max[]表示提供最大值的函數(shù),如下表示ga和gb公式9ga=max·|tan(αa)|gb=max·|tan(αb)|對(duì)于扇形束圖像重建,使掃描場(chǎng)P中的像素與距離系數(shù)相乘。假設(shè)從X射線管的焦點(diǎn)到屬于包括在多陣列X射線探測(cè)器24中的探測(cè)器陣列j和通道i并且產(chǎn)生投影數(shù)據(jù)Dr的探測(cè)器元件的距離是r0,而從X射線管21的焦點(diǎn)到與投影數(shù)據(jù)Dr有關(guān)聯(lián)的掃描場(chǎng)P中的像素的距離是r1,距離系數(shù)被表示為(r1/r0)2。對(duì)于平行束圖像重建,使掃描場(chǎng)P中的像素僅僅與錐形束重建加權(quán)系數(shù)w(i,j)相乘。在步驟S63,如圖10所示,投影數(shù)據(jù)項(xiàng)D2(view,x,y)被逐像素地與反投影數(shù)據(jù)項(xiàng)D3(x,y)相加。在步驟S64,針對(duì)重建斷層攝影圖像所需所有視圖(即覆蓋360°的視圖或者覆蓋180°+扇形束角度的視圖)重復(fù)執(zhí)行步驟S61至S63。這產(chǎn)生如圖10所示的反投影數(shù)據(jù)項(xiàng)D3(x,y)。如圖11(a)和圖11(b)所示,掃描場(chǎng)P可以是圓形的。圖12、圖13、圖17、圖18、圖19、圖20、圖23、圖24和圖25與圖3中所述的步驟S11的x和y方向偏移補(bǔ)償有關(guān)。在X射線CT系統(tǒng)中,當(dāng)采用螺旋掃描時(shí),隨著射線照相臺(tái)在z方向上的移動(dòng),斷層攝影圖像的中心不斷地彼此偏移,如圖12所示。當(dāng)采用常規(guī)(軸向)掃描或者電影掃描時(shí),在z方向中定義的并且通過進(jìn)行掃描產(chǎn)生的斷層攝影圖像的中心隨著檢查臺(tái)在z方向上的移動(dòng)而在xy平面上彼此偏移。這是由于托架的彎曲或者對(duì)象軀體的運(yùn)動(dòng)引起的。圖17示出在z方向上定義的斷層攝影圖像在y方向上的偏移的幅度。通常,根據(jù)常規(guī)(軸向)掃描、電影掃描、或者螺旋掃描由X射線CT系統(tǒng)產(chǎn)生的每個(gè)斷層攝影圖像在x和y方向上的偏移取決于z方向上的位置,并且應(yīng)該分別由Dx(Gi)和Dy(Gi)來表示。如下測(cè)量偏移Dx(Gi)和Dy(Gi)。圖18、圖19和圖20涉及特征點(diǎn)提取方法,圖23涉及圖案匹配方法,圖24涉及投影數(shù)據(jù)圖案匹配方法。圖18描述一種按照基于邊緣分布測(cè)量的特征參數(shù)方法所遵循的程序。如果局部放大的斷層攝影圖像沒有示出托架,那么從中采集原始數(shù)據(jù)項(xiàng)以便產(chǎn)生投影數(shù)據(jù)項(xiàng)的掃描視場(chǎng)被用于重建顯示托架的圖像。在步驟S1101,表示托架的CT值的范圍被設(shè)置為從CT值CTCL到CT值CTCH,并且二進(jìn)制編碼包含在掃描場(chǎng)中的像素,以便表示CT值的范圍的像素可以是1s。二進(jìn)制編碼使表示托架和對(duì)象的一部分的像素為1s。因此,托架的至少一種表示的形狀和位置被提取。在步驟S1102,利用由包含在二進(jìn)制編碼的圖像中的像素表示和得自在x方向上采集的數(shù)據(jù)項(xiàng)的值產(chǎn)生分布(邊緣分布),從在y方向上采集的數(shù)據(jù)項(xiàng)中測(cè)量指示托架表示的最低位置的下限yCL。在x方向上對(duì)在步驟S1102產(chǎn)生的在二進(jìn)制編碼的圖像中表示1s的像素的數(shù)目進(jìn)行計(jì)數(shù),由此,產(chǎn)生在x方向上測(cè)量的值的分布圖(邊緣分布)。如圖16所示,在x方向上的邊緣分布的最低點(diǎn)對(duì)應(yīng)于表示托架底部的坐標(biāo),并且該坐標(biāo)被認(rèn)為是下限yCL,該下限yCL是指示托架表示的最低位置的z坐標(biāo)。在步驟S1103,檢查在z方向上定義的所有斷層攝影圖像G1至Gn來查看它們是否被處理過,以便檢測(cè)下限yCL(Gi)。如果沒有檢測(cè)出下限,則執(zhí)行步驟S1101。如果檢測(cè)出下限,則執(zhí)行步驟S1104。因此,在斷層攝影圖像中表示托架的z坐標(biāo)被檢測(cè)到。在步驟S1104,在y方向上指示托架表示的最低位置的下限yCL(Gi)與托架表示的參考位置y0的差Dy(Gi)=y(tǒng)CL(Gi)-y0被認(rèn)為是斷層攝影圖像Gi在y方向上偏移的補(bǔ)償值。計(jì)算在斷層攝影圖像中的托架表示的位置與托架表示的參考位置y0的偏移,并且在y方向上的偏移的補(bǔ)償值被計(jì)算。在步驟S1105,在校正CT值之后通過三維反投影或者在圖像重建過程中通過三維顯示,將斷層攝影圖像在y方向上移動(dòng)偏差補(bǔ)償值D(Gi)。因此,在x和y方向上的偏移被補(bǔ)償。當(dāng)在為了顯示而重建的過程中移動(dòng)圖像時(shí),掃描場(chǎng)的中心被移動(dòng)偏差補(bǔ)償值。因此,所重建的斷層攝影圖像被移動(dòng)。替代步驟S1102,可以直接從投影數(shù)據(jù)項(xiàng)的邊緣分布中探測(cè)托架表示的位置。圖30示出投影數(shù)據(jù)項(xiàng)的邊緣分布。在視角0°產(chǎn)生的投影數(shù)據(jù)項(xiàng)的邊緣分布(分布圖)和在視角90°產(chǎn)生的投影數(shù)據(jù)的邊緣分布(分布圖)可以通過重投影斷層攝影圖像來產(chǎn)生。另外,利用扇形束產(chǎn)生的投影數(shù)據(jù)項(xiàng)可以被轉(zhuǎn)換成利用平行光線束產(chǎn)生的投影數(shù)據(jù)項(xiàng),并且所得到的數(shù)據(jù)項(xiàng)可以在x或者y方向上等距地被定義。即使在這種情況下,類似于圖18所示的情況,發(fā)生在y方向上的托架表示的位置偏移的幅度也可被測(cè)量。下面,將描述按照基于圖19和圖20所述的特征參數(shù)測(cè)量的特征參數(shù)提取方法要遵循的程序。如果局部放大的斷層攝影圖像沒有示出托架,那么從中采集原始數(shù)據(jù)項(xiàng)以便產(chǎn)生投影數(shù)據(jù)項(xiàng)的掃描視場(chǎng)被用于重建顯示托架的圖像。在步驟S1111,表示托架的CT值的范圍被設(shè)置為從CT值CTCL到CT值CTCH,并且二進(jìn)制編碼包含在掃描場(chǎng)中的像素,以便表示CT值的范圍的像素可以是1s。二進(jìn)制編碼使表示托架和對(duì)象的一部分的像素為1s。因此,托架的至少一種表示的形狀和位置被提取。在步驟S1112,利用用于擴(kuò)展的邏輯濾波器,將二進(jìn)制編碼的圖像擴(kuò)展m1倍。圖21示出用于擴(kuò)展的邏輯濾波器的例子。在步驟S1113,利用用于收縮的邏輯濾波器,將已被擴(kuò)展的二進(jìn)制編碼的圖像收縮m2次。圖22示出用于收縮的邏輯濾波器的例子。在步驟S1114,通過標(biāo)記對(duì)連續(xù)位的域編號(hào)。標(biāo)記可能包括四個(gè)或者八個(gè)鄰域。在步驟S1115,測(cè)量各個(gè)域的特征參數(shù)。要測(cè)量的特征參數(shù)被認(rèn)為包括面積、外接矩形的縱向和橫向長(zhǎng)度、周長(zhǎng)、圓度、平均密度(平均CT值)、和密度(CT值)的標(biāo)準(zhǔn)差。在步驟S1116,邏輯上檢查各個(gè)域的特征參數(shù),以便提取表示托架的域。應(yīng)該事先確定可被認(rèn)為表示托架的特征參數(shù)值的容許范圍。在這種情況下,應(yīng)該關(guān)于每組射線照相條件,確定涉及任意射線照相條件的特征參數(shù)的值的容許范圍。在步驟S1117,檢查在z方向上連續(xù)定義的所有斷層攝影圖像G1至Gn來查看它們是否被處理過,以便測(cè)量指示托架表示的最低位置的下限yCL(Gi)或者指示托架表示在橫向(x方向)上的中心位置的中心值Xc(Gi)。如果沒有處理過所有斷層攝影圖像G1至Gn,則執(zhí)行步驟S1111。如果已經(jīng)處理了所有斷層攝影圖像G1至Gn,則執(zhí)行步驟S1118。因此,在每個(gè)斷層攝影圖像中指示托架表示的位置的z坐標(biāo)被探測(cè)到。在步驟S1118,指示托架表示的最低位置的下限yCL(Gi)與托架表示在y方向上的參考最低位置y0的差Dy(Gi)=y(tǒng)CL(Gi)-y0,和指示托架表示中心位置的中心值Xc(Gi)與指示托架表示在x方向上的中心位置的參考中心值Xc的差Dx(Gi)=Xc(Gi)-Xc,分別被認(rèn)為是相應(yīng)的斷層攝影圖像Gi在y方向上的偏移補(bǔ)償值及其在x方向上的偏移補(bǔ)償值。因此,在相應(yīng)斷層攝影圖像中的托架表示的位置與托架表示的參考位置y0的偏差被檢測(cè),并且在y方向上的偏差補(bǔ)償值被計(jì)算。在步驟S1119,在校正CT值之后通過三維反投影或者在圖像重建過程中通過三維顯示,將斷層攝影圖像在x和y方向上移動(dòng)偏差補(bǔ)償值Dx(Gi)和Dy(Gi)。因此,在x和y方向上的偏移被補(bǔ)償。當(dāng)在圖像重建的過程中移動(dòng)圖像時(shí),掃描場(chǎng)的中心被移動(dòng)偏差補(bǔ)償值。因此,所重建的斷層攝影圖像被移動(dòng)。下面,將描述圖23所述的按照?qǐng)D案匹配方法遵循的程序。順便提及,如果局部放大的斷層攝影圖像沒有顯示托架,那么從中采集原始數(shù)據(jù)項(xiàng)以便產(chǎn)生投影數(shù)據(jù)項(xiàng)的掃描視場(chǎng)被完全用于重建顯示托架的圖像。在步驟S1121,表示托架的CT值的范圍被設(shè)置為從CT值CTCL到CT值CTCH,并且二進(jìn)制編碼包含在掃描場(chǎng)中的像素,以便表示CT值的范圍的像素可以是1s。二進(jìn)制編碼使表示托架和對(duì)象的一部分的像素為1s。因此,托架的至少一種表示的形狀和位置被提取。在步驟S1122,使事先記錄的標(biāo)準(zhǔn)托架圖案的二進(jìn)制編碼的圖像與二進(jìn)制編碼的圖像相匹配,以便測(cè)量相關(guān)性水平Ci(x,y)。由用大的相關(guān)性水平標(biāo)識(shí)的x坐標(biāo)和y坐標(biāo)指示的位置指的是托架表示的位置。公式10相關(guān)性水平Ci(x,y)=B(X,Y)*P(X-x,Y-y)|B(x,y)|·|P(x,y)|]]>通過在x方向和然后在y方向上掃描事先記錄的標(biāo)準(zhǔn)托架圖案并且通過在由x坐標(biāo)和y坐標(biāo)指示的圖像中掃描所有點(diǎn),來計(jì)算相關(guān)性水平Ci(x,y)。當(dāng)表示類似形狀的域適合托架圖案時(shí),相關(guān)性水平采取大的值。如果事先已知斷層攝影圖像顯示托架的事實(shí),那么用采取最大值的相關(guān)性水平Ci(x,y)表示的點(diǎn)被認(rèn)為是托架表示的位置。為了計(jì)算相關(guān)性水平Ci(x,y),事先記錄的標(biāo)準(zhǔn)托架圖案和要檢查以查看它是否顯示托架的斷層攝影圖像可能是二進(jìn)制編碼的圖像或者由灰度(CT值)表示的灰度圖像。通常,已知使用灰度圖像來保證位置檢測(cè)中的高精度。在步驟S1123,檢查在z方向上連續(xù)定義的所有斷層攝影圖像G1至Gn,來查看它們是否被處理過,以便測(cè)量指示托架表示的最低位置的下限yCL(Gi)或者測(cè)量指示托架表示的橫向(x方向)上的中心位置的中心值Xc(Gi)。如果沒有處理過所有斷層攝影圖像G1至Gn,則執(zhí)行步驟S1121。如果已經(jīng)處理了所有斷層攝影圖像G1至Gn,則執(zhí)行步驟S1124。因此,在每個(gè)斷層攝影圖像中指示托架表示的位置的z坐標(biāo)被探測(cè)。在步驟S1124,下限yCL(Gi)與托架表示在y方向上的參考最低位置y0的差Dy(Gi)=y(tǒng)CL(Gi)-y0,和指示托架表示的中心位置的中心值Xc(Gi)與指示托架表示在x方向上的參考中心位置Xc的差Dx(Gi)=Xc(Gi)-Xc,分別被認(rèn)為是相應(yīng)的斷層攝影圖像Gi在y方向上的偏移補(bǔ)償值及其在x方向的偏移補(bǔ)償值。因此,在相應(yīng)斷層攝影圖像中的托架表示的位置與托架表示的參考位置y0的偏移被測(cè)量,并且在y方向上的偏移補(bǔ)償值被測(cè)量。在步驟S1125,在校正CT值之后通過三維反投影或者在圖像重建過程中通過三維顯示,將斷層攝影圖像在x和y方向上移動(dòng)偏移補(bǔ)償值Dx(Gi)和Dy(Gi)。因此,在x和y方向上的偏移被補(bǔ)償。當(dāng)在圖像重建的過程中移動(dòng)圖像時(shí),掃描場(chǎng)的中心被移動(dòng)偏移補(bǔ)償值。因此,所重建的斷層攝影圖像被移動(dòng)。下面,將描述圖24所述的按照投影數(shù)據(jù)圖案匹配方法遵循的程序。順便提及,如果局部放大的斷層攝影圖像沒有顯示托架,那么從中采集原始數(shù)據(jù)項(xiàng)以便產(chǎn)生投影數(shù)據(jù)項(xiàng)的掃描視場(chǎng)被完全用于重建顯示托架的圖像。在步驟S1131,通過在投影方向θ用X射線照射托架事先產(chǎn)生投影數(shù)據(jù)項(xiàng)ProjC(θ,S)。另外,進(jìn)行再投影,以便產(chǎn)生投影數(shù)據(jù)項(xiàng)ProjC(θ,S)。為了使投影數(shù)據(jù)與通過在方向θ用X射線照射托架產(chǎn)生并事先記錄的投影數(shù)據(jù)項(xiàng)相關(guān)聯(lián),包含在斷層攝影圖像中的在方向θ上采集的數(shù)據(jù)項(xiàng)被再投影,以便產(chǎn)生投影數(shù)據(jù)項(xiàng)。在步驟S1132,將在步驟S1131通過在每個(gè)投影方向上再投影從托架中采集的數(shù)據(jù)項(xiàng)所產(chǎn)生的投影數(shù)據(jù)項(xiàng)ProjC(θ,S),與通過在每個(gè)相同的投影方向θ用X射線照射對(duì)象產(chǎn)生的投影數(shù)據(jù)項(xiàng)ProjC(θ,S)相關(guān)聯(lián)。然后測(cè)量一致坐標(biāo)S(θ)。為了測(cè)量一致坐標(biāo)S(θ),針對(duì)所有投影方向θ執(zhí)行這些步驟。在方向θ通過將X射線投影到托架產(chǎn)生并事先記錄的投影數(shù)據(jù)項(xiàng)、通過再投影包含在斷層攝影圖像中并在方向θ采集的數(shù)據(jù)項(xiàng)所產(chǎn)生的投影數(shù)據(jù)項(xiàng)、和通過再投影斷層攝影圖像所產(chǎn)生的投影數(shù)據(jù)項(xiàng)之間的相關(guān)性C(S,θ)的值被檢查,以便測(cè)量用最大相關(guān)值C(S,θ)表示的坐標(biāo)S(θ)。在步驟S1133,使在步驟S1132測(cè)量的坐標(biāo)S(θ)的軌跡與正弦曲線A=sin(θ+a)擬和,以便檢測(cè)最佳A和a。托架被定位于距離旋轉(zhuǎn)中心A處。托架的位置在利用投影角所確定的方向a上被檢測(cè)。在步驟S1134,檢查在z方向上連續(xù)定義的所有斷層攝影圖像G1至Gn來查看它們是否被處理過,以便測(cè)量指示托架表示的最低位置的下限yCL(Gi)或者指示托架表示的橫向(x方向)上的中心位置的中心值Xc(Gi)。如果沒有處理過所有斷層攝影圖像G1至Gn,則執(zhí)行步驟S1131。如果已經(jīng)處理了所有斷層攝影圖像G1至Gn,則執(zhí)行步驟S1135。因此,在每個(gè)斷層攝影圖像中指示托架表示的位置的z坐標(biāo)可以被檢測(cè)。在步驟S1135,指示托架表示的最低位置的下限yCL(Gi)與托架表示在y方向上的參考最低位置y0的差Dy(Gi)=y(tǒng)CL(Gi)-y0,和指示托架表示中心位置的中心值Xc(Gi)與指示托架表示在x方向上的參考中心位置Xc的差Dx(Gi)=Xc(Gi)-Xc,分別被認(rèn)為是相應(yīng)的斷層攝影圖像Gi在y方向和x方向上的偏移補(bǔ)償值。因此,在相應(yīng)斷層攝影圖像中的托架表示的位置與托架表示的參考位置y0的偏移被識(shí)別,并且在y方向上的偏移補(bǔ)償值被測(cè)量。在步驟S1136,在校正CT值之后通過三維反投影或者在圖像重建過程中通過三維顯示,將斷層攝影圖像在x和y方向上移動(dòng)偏移補(bǔ)償值Dx(Gi)和Dy(Gi)。因此,在x和y方向上的偏移被補(bǔ)償。當(dāng)通過圖像重建移動(dòng)圖像時(shí),掃描場(chǎng)的中心被移動(dòng)偏移補(bǔ)償值,并且得到的掃描場(chǎng)被用于重建圖像。因此,所重建的斷層攝影圖像被移動(dòng)。在上述描述中,托架被用于表示斷層攝影圖像的參考位置。尤其當(dāng)頭部被掃描時(shí),如圖28所示的頭部支持架可被用于表示參考位置。特征參數(shù)可被測(cè)量,以便檢測(cè)頭部支持架的表示的位置,或者相關(guān)性函數(shù)可被用于檢測(cè)該位置??紤]到對(duì)象的連續(xù)性,可以利用代表表示對(duì)象表面或其骨頭的高CT值的像素檢測(cè)在xy平面上定義的對(duì)象的運(yùn)動(dòng),并且可基于所檢測(cè)的運(yùn)動(dòng)補(bǔ)償斷層攝影圖像在x和y方向上的偏移。圖29是描述利用對(duì)象軀體的表面作為參考修正偏移的x坐標(biāo)和y坐標(biāo)的流程圖。在步驟S1151,值i被初始化為1。在步驟S1152,在第i個(gè)斷層攝影圖像中表示對(duì)象軀體的表面的CT值的范圍被設(shè)為從CT值CTBL至CT值CTBH。組成第i個(gè)斷層攝影圖像的像素是二進(jìn)制編程的,使得代表該CT值范圍的像素為1s。此時(shí),允許消除托架和緊接對(duì)象軀體表面的其他物體的表示的CT值的范圍被確定。在步驟S1153,進(jìn)行編號(hào)(標(biāo)記)。如果由于圖像中的噪聲不能進(jìn)行標(biāo)記,那么前述擴(kuò)展邏輯濾波器和收縮濾波器被用于改善計(jì)數(shù)行。然后重新進(jìn)行標(biāo)記。在步驟S1154,所標(biāo)記的域的特征參數(shù)被測(cè)量。在步驟S1155,不表示對(duì)象軀體表面的域在邏輯上被清除。為了有效提取表示對(duì)象軀體表面的域,與哪些域被檢查相關(guān)的邏輯或者閾值應(yīng)該根據(jù)諸如對(duì)象頭部或者腹部的區(qū)域被改變。在步驟S1156,使第i+1或者第i二進(jìn)制編碼的斷層攝影圖像彼此相匹配,以便測(cè)量相關(guān)性水平Ci(x,y)。用大的相關(guān)性水平標(biāo)識(shí)的坐標(biāo)對(duì)(x,y)被認(rèn)為是表示偏移(Δx,Δy)的偏移的坐標(biāo)。公式11相關(guān)性水平Ci=G1(x,y)*Gi+1(x,y)|G1(x,y)|·|Gi+1(x,y)|]]>在這種情況下,代替利用二進(jìn)制編碼的圖像計(jì)算相關(guān)性水平,可以使用灰度圖像計(jì)算相關(guān)性水平。使用灰度圖像將提高精度。在步驟S1157,在z方向上定義的所有斷層攝影圖像G1至Gn被檢查以查看它們是否被處理,以便測(cè)量表示偏移(Δx,Δy)的偏移的坐標(biāo)P。如果所有斷層攝影圖像G1至Gn已被處理,那么控制被轉(zhuǎn)到步驟S1158。如果沒有處理所有斷層攝影圖像G1至Gn,那么控制被轉(zhuǎn)到步驟S1159。在步驟S1158,一個(gè)斷層攝影圖像與另一斷層攝影圖像的偏移被補(bǔ)償。公式12Gi(x′,y′)=Gi(x+Δx,y+Δy)在步驟S1159,增加斷層攝影圖像的數(shù)目。然后,控制被轉(zhuǎn)到步驟S1152,并且下一斷層攝影圖像被處理。第一實(shí)例將關(guān)于常規(guī)(軸向)掃描或者電影掃描描述第一實(shí)例。如圖14所示,尤其在步驟S1,以等于或者小于穿過旋轉(zhuǎn)中心的X射線束在z軸上的寬度D的長(zhǎng)度為單位移動(dòng)射線照相臺(tái)10的支架12。為了從并列于z方向上的對(duì)象切片中采集數(shù)據(jù)項(xiàng),進(jìn)行常規(guī)(軸向)掃描或者電影掃描,由此采集X射線探測(cè)器數(shù)據(jù)項(xiàng)。這里,X射線探測(cè)器數(shù)據(jù)項(xiàng)D0(view,j,i)中的每一個(gè)用視角view、探測(cè)器陣列數(shù)目j、和通道數(shù)目i標(biāo)識(shí),并且每一個(gè)都被附加射線照相臺(tái)直線移動(dòng)的z方向上的位置Ztalbe(view)。當(dāng)在z方向上連續(xù)地進(jìn)行常規(guī)(軸向)掃描或者電影掃描時(shí),可以在連續(xù)掃描之間沒有間隔的情況下在z方向上連續(xù)地進(jìn)行掃描,如圖15所示。如圖16所示,可以在z方向上連續(xù)地進(jìn)行常規(guī)(軸向)掃描或者電影掃描,使得連續(xù)掃描將部分地彼此一致。在圖16所示的情況下,因?yàn)閳D像質(zhì)量由于大的錐角而下降,可以在z方向上連續(xù)地進(jìn)行掃描,以便連續(xù)掃描將部分地彼此一致,所述大的錐角即由包含X射線探測(cè)器元件陣列中遠(yuǎn)離中心的那些的平面定義的X射線束的大角度,其中所述X射線探測(cè)器元件在z方向上并列并且包括在多陣列X射線探測(cè)器或者兩維X射線面探測(cè)器中??梢酝ㄟ^使斷層攝影圖像相加改善圖像質(zhì)量。在步驟S2,進(jìn)行前述預(yù)處理。在步驟S3,補(bǔ)償射束硬化偽影。在步驟S4,使用z濾波器進(jìn)行卷積。在步驟S5,使用重建函數(shù)來進(jìn)行卷積。在步驟S6,進(jìn)行三維反投影。在步驟S6的圖像重建過程中,或者在步驟S7或步驟S8的圖像顯示過程中,可以進(jìn)行步驟S11的在y方向或者在x方向上的偏移補(bǔ)償和步驟S21的在z方向上的偏移補(bǔ)償。當(dāng)如在圖24中的步驟S1131至S1136所述,采取投影數(shù)據(jù)圖案匹配方法時(shí),在步驟S2、S3、S4和S5中任一個(gè)根據(jù)投影數(shù)據(jù)圖案匹配方法,檢測(cè)待用作參考的在相應(yīng)斷層攝影圖像中的托架表示的位置。在步驟S6的三維反投影過程中,掃描場(chǎng)的中心移動(dòng)偏移補(bǔ)償值。因此,在x和y方向上的偏移被補(bǔ)償。在y方向上的偏移可以利用通過如在圖18的步驟S1101至S1105所述的邊緣分布測(cè)量所提取的特征參數(shù)被補(bǔ)償。在x和y方向上的偏移可以利用通過在圖19的步驟S1111至S1116所述的邊緣分布測(cè)量所提取的特征參數(shù)被補(bǔ)償。在x和y方向上的偏移可以根據(jù)在圖19的步驟S1121至S1125所述的圖案匹配方法被補(bǔ)償。根據(jù)基于邊緣分布的特征參數(shù)提取方法、基于特征參數(shù)測(cè)量的特征參數(shù)提取方法和圖案匹配方法這三種方法,通過三維反投影重建的斷層攝影圖像被用于測(cè)量偏移。在步驟S7的后處理、步驟S8的斷層攝影圖像顯示、或者步驟S9的三維圖像顯示的過程中,在y方向上的偏移或者在x和y方向上的偏移可被補(bǔ)償。即使當(dāng)如圖24所述采用投影數(shù)據(jù)匹配方法時(shí),在步驟S7的后處理、步驟S8的斷層攝影圖像顯示、或者步驟S9的三維圖像顯示的過程中,在y方向上的偏移或者在x和y方向上的偏移也可被補(bǔ)償。如圖26所述進(jìn)行操作。在步驟H1,連續(xù)地進(jìn)行常規(guī)(軸向)掃描、電影掃描、或者螺旋掃描,以便重建斷層攝影圖像。在步驟H2,計(jì)算在圖像被重建的地方獲得的托架12的高度和這些地方的位置。在步驟H3,使用在步驟H2所計(jì)算的托架12的高度來計(jì)算表示x和y方向的偏移或者發(fā)生在z方向上的位置處的y方向的偏移的坐標(biāo)矢量。在步驟H4,將表示x和y方向的偏移或者y方向的偏移的坐標(biāo)矢量記錄在包含圖像數(shù)據(jù)的文件或者不同于圖像數(shù)據(jù)文件的文件中。在步驟H5,在三維圖像顯示、MPR圖像顯示或者M(jìn)IP圖像顯示過程中,使用在步驟H3被計(jì)算的表示偏移的坐標(biāo)矢量來補(bǔ)償在y方向上的偏移或者在x和y方向上的偏移。在常規(guī)(軸向)掃描或者電影掃描中,在每次掃描中測(cè)量指示在射線照相臺(tái)被移動(dòng)的z方向上所掃描的位置的坐標(biāo)。因此,可以補(bǔ)償z方向上的偏移。第二實(shí)例在該第二實(shí)例中,采用螺旋掃描。不補(bǔ)償所有斷層攝影圖像在y方向上的偏移,但是補(bǔ)償變薄的斷層攝影圖像在y方向上的偏移??梢灶A(yù)期與使用常規(guī)(軸向)掃描或者電影掃描所提供的優(yōu)點(diǎn)相同的優(yōu)點(diǎn)。圖27是描述該程序的流程圖。在步驟H1,連續(xù)地進(jìn)行螺旋掃描。在z方向的相應(yīng)地方重建一些斷層攝影圖像。在步驟H2,計(jì)算在圖像被重建的地方獲得的托架12的高度和這些地方的位置。在步驟H3,在步驟H2所計(jì)算的托架12的高度被用于計(jì)算表示在z方向的位置處出現(xiàn)的y方向上的偏移的坐標(biāo)矢量。在步驟H4,表示y方向上的偏移的坐標(biāo)矢量被記錄為圖像數(shù)據(jù)的部分。在步驟H5,在三維顯示、MPR顯示、或者M(jìn)IP顯示過程中,表示在步驟H3所計(jì)算的偏移的坐標(biāo)矢量被用于補(bǔ)償偏移。第三實(shí)例如圖31所示,在該第三實(shí)例中,在掃描機(jī)臺(tái)架20傾斜的情況下在掃描位置連續(xù)地進(jìn)行常規(guī)(軸向)掃描或者電影掃描。由于在x和y方向上的偏移、在y方向上的偏移、或者在x、y和z方向上的偏移得到補(bǔ)償,由切片轉(zhuǎn)換產(chǎn)生的圖像將比通常情況具有更好的質(zhì)量。第四實(shí)例如圖32所示,在該第四例子中,在掃描機(jī)臺(tái)架20傾斜的情況下連續(xù)地進(jìn)行螺旋掃描。對(duì)所產(chǎn)生的圖像進(jìn)行處理,以便補(bǔ)償在x和y方向上的偏移、在y方向上的偏移、或者在x、y和z方向上的偏移。由切片轉(zhuǎn)換產(chǎn)生的圖像比通常情況具有更好的質(zhì)量。在X射線CT系統(tǒng)100中,如果實(shí)現(xiàn)按照本發(fā)明的X射線CT系統(tǒng)或者X射線成像方法,那么可以改善通過連續(xù)進(jìn)行常規(guī)(軸向)掃描、電影掃描或者螺旋掃描產(chǎn)生的三維顯示圖像、MPR顯示圖像或者M(jìn)IP顯示圖像的質(zhì)量。關(guān)于圖像重建方法,可以采用基于已知的Feldkamp技術(shù)的三維圖像重建方法。其他三維圖像重建方法或者兩維圖像重建方法也可以。另外,在本實(shí)施方案中,與由并列于陣列方向(在z方向)的探測(cè)器元件產(chǎn)生的投影數(shù)據(jù)項(xiàng)卷積的濾波系數(shù)根據(jù)探測(cè)器陣列被改變。尤其當(dāng)采用常規(guī)(軸向)掃描時(shí),調(diào)整由于錐角差引起的圖像質(zhì)量的差別,使得每個(gè)探測(cè)器陣列都可以實(shí)現(xiàn)均勻的切片厚度,并且保證均勻的圖像質(zhì)量(就偽影和噪聲而言)??梢砸愿鞣N方式大概地確定濾波系數(shù)??傊?,能夠給出相同的優(yōu)點(diǎn)。不僅能夠?qū)⒈景l(fā)明應(yīng)用于醫(yī)學(xué)用途的X射線CT系統(tǒng),而且能夠應(yīng)用于工業(yè)用途的X射線CT系統(tǒng),或者應(yīng)用于諸如X射線CTPET系統(tǒng)和X射線CTSPECT系統(tǒng)的與其他系統(tǒng)組合的X射線CT系統(tǒng)。附圖標(biāo)記1操作人員控制臺(tái)2.輸入設(shè)備3中央處理器5數(shù)據(jù)收集緩沖器6顯示器7存儲(chǔ)單元10射線照相臺(tái)12托架15旋轉(zhuǎn)器20掃描機(jī)臺(tái)架21X射線管22X射線控制器23準(zhǔn)直器24多陣列X射線探測(cè)器25數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)(DAS)26旋轉(zhuǎn)器控制器27掃描機(jī)臺(tái)架傾斜控制器29控制單元30滑環(huán)dp探測(cè)器表面P掃描場(chǎng)PP投影平面IC旋轉(zhuǎn)中心(等角點(diǎn))圖3S1采集數(shù)據(jù)S2進(jìn)行預(yù)處理S3補(bǔ)償射束硬化偽影S4利用z濾波器進(jìn)行卷積S5利用重建函數(shù)進(jìn)行卷積S6進(jìn)行三維反投影S7進(jìn)行后處理S8顯示斷層攝影圖像S9顯示三維圖像圖4S21進(jìn)行偏移消除S22進(jìn)行對(duì)數(shù)轉(zhuǎn)換S23校正X射線劑量S24校正靈敏度圖5S61對(duì)用作包含在掃描場(chǎng)P中的像素的投影數(shù)據(jù)項(xiàng)進(jìn)行采樣S62使投影數(shù)據(jù)項(xiàng)Dr乘以錐形束重建加權(quán)系數(shù),從而產(chǎn)生反投影數(shù)據(jù)項(xiàng)D2S63逐個(gè)像素地將反投影數(shù)據(jù)項(xiàng)D2加到反投影數(shù)據(jù)項(xiàng)D3S64從圖像重建所需的所有視圖中產(chǎn)生的反投影數(shù)據(jù)項(xiàng)D2已被相加?圖18步驟S1101將表示托架的CT值范圍設(shè)置為從CTCL至CTCH,并且二進(jìn)制編碼像素,以便表示CT值范圍的像素為1s步驟S1102產(chǎn)生包含在二進(jìn)制編碼的圖像中并且得自在x方向上采集的數(shù)據(jù)項(xiàng)的像素的值的分布圖(邊緣分布),并且檢測(cè)在y方向上指示托架表示的最低位置的下限yCL步驟S1103在z方向上定義的所有斷層攝影圖像G1至Gm均已被處理以檢測(cè)下限yCL(Gi)?步驟S1104把托架表示的最低位置的下限yCL(Gi)與托架表示在y方向上的參考位置y0的差Dy(Gi)=y(tǒng)CL(Gi)-y0看作斷層攝影圖像Gi在y方向上偏移的補(bǔ)償值步驟S1105在校CT值之后通過三維反投影或者在圖像重建過程中通過三維顯示,將斷層攝影圖像在y方向上移動(dòng)偏移的補(bǔ)償值D(Gi)圖19步驟S1111將表示托架的CT值的范圍設(shè)置為從CTCL至CTCH,并且二進(jìn)制編碼像素,使得表示CT值范圍的像素為1s步驟S1112利用用于擴(kuò)展的邏輯濾波器將二進(jìn)制編碼的圖像擴(kuò)展m1次步驟S1113利用用于收縮的邏輯濾波器將二進(jìn)制編碼的圖像收縮m2次步驟S1114通過標(biāo)記對(duì)連續(xù)位的域編號(hào)步驟S1115測(cè)量各個(gè)域的特征參數(shù)步驟S1116邏輯檢查各個(gè)域的特征參數(shù),以便提取表示托架的域圖20步驟S1117在z方向上連續(xù)定義的所有斷層攝影圖像G1至Gn已被處理以檢測(cè)指示托架表示的最低位置的下限yCL(Gi)?另外,指示托架表示在橫向(x方向)上的中心位置的中心值Xc(Gi)已被檢測(cè)?步驟S1118指示托架表示的最低位置的下限yCL(Gi)與托架表示在y方向上的參考最低位置y0的差Dy(Gi)=y(tǒng)CL(Gi)-y0,和指示托架表示中心位置的中心值Xc(Gi)與指示托架表示在x方向上的參考中心位置Xc的差Dx(Gi)=Xc(Gi)-Xc,分別被認(rèn)為是斷層攝影圖像Gi在y方向上的偏移補(bǔ)償值及其在x方向上的偏移補(bǔ)償值步驟S1119在校正CT值之后通過三維反投影或者在圖像重建過程中通過三維顯示,將斷層攝影圖像在x和y方向上移動(dòng)偏移補(bǔ)償值Dx(Gi)和Dy(Gi)圖23步驟S1121將表示托架的CT值的范圍設(shè)置為從CTCL至CTCH,并且二進(jìn)制編碼像素,使得表示CT值范圍的像素為1s步驟S1122使托架圖案的二進(jìn)制編碼圖像與二進(jìn)制編碼圖像相匹配,以便測(cè)量相關(guān)性水平Ci(x,y),并且根據(jù)用大的相關(guān)性水平Ci(x,y)=B(X,Y)*P(X-x,Y-y)|B(x,y)|·|P(x,y)|]]>表示的x坐標(biāo)和y坐標(biāo)檢測(cè)托架表示的位置步驟S1123在z方向上連續(xù)定義的所有斷層攝影圖像G1至Gn已被處理以檢測(cè)指示托架表示的最低位置的下限yCL(Gi)?另外,指示托架表示在橫向(x方向)上的中心位置的中心值Xc(Gi)已被檢測(cè)?步驟S1124分別把指示托架表示的最低位置的下限yCL(Gi)與托架表示在y方向上的參考最低位置y0的差Dy(Gi)=y(tǒng)CL(Gi)-y0,和指示托架表示中心位置的中心值Xc(Gi)與托架表示在x方向上的參考中心值Xc的差Dx(Gi)=Xc(Gi)-Xc,認(rèn)為是斷層攝影圖像Gi在y方向上偏移的補(bǔ)償值及其在x方向偏移的補(bǔ)償值步驟S1125在校正CT值之后通過三維反投影或者在圖像重建過程中通過三維顯示,將斷層攝影圖像在x和y方向上移動(dòng)偏移的補(bǔ)償值Dx(Gi)和Dy(Gi)圖24步驟S1131通過在投影方向θ用X射線照射托架事先產(chǎn)生投影數(shù)據(jù)項(xiàng)ProjC(θ,S),或者進(jìn)行再投影來產(chǎn)生投影數(shù)據(jù)項(xiàng)ProjC(θ,S)步驟S1132使在步驟S1121通過在投影方向θ上再投影從托架采集的數(shù)據(jù)項(xiàng)所產(chǎn)生的投影數(shù)據(jù)項(xiàng)ProjC(θ,S)與通過在相同的投影方向用X射線照射對(duì)象所產(chǎn)生的投影數(shù)據(jù)項(xiàng)ProjC(θ,S)相關(guān)聯(lián),以便測(cè)量一致坐標(biāo)S(θ)針對(duì)所有投影方向θ重復(fù)相同處理,以便測(cè)量相同的坐標(biāo)S(θ)步驟S1133將坐標(biāo)S(θ)與正弦曲線A=sin(θ+a)擬和,以便檢測(cè)離托架所在的旋轉(zhuǎn)中心的距離,和利用托架位于距離A時(shí)所在的投影角度確定的方向步驟S1134在z方向上連續(xù)定義的所有斷層攝影圖像G1至Gn已被處理,以檢測(cè)指示托架表示的最低位置的下限yCL(Gi)?另外,指示托架表示在橫向(x方向)上的中心位置的中心值Xc(Gi)已被檢測(cè)?步驟S1135分別把指示托架表示的最低位置的下限yCL(Gi)與托架表示在y方向上的參考最低位置y0的差Dy(Gi)=y(tǒng)CL(Gi)-y0,和指示托架表示中心位置的中心值Xc(Gi)與托架表示在x方向上的參考中心位置Xc的差Dx(Gi)=Xc(Gi)-Xc,認(rèn)為是斷層攝影圖像Gi在y方向上偏移的補(bǔ)償值及其在x方向偏移的補(bǔ)償值步驟S1136在校正CT值之后通過三維反投影或者在圖像重建過程中通過三維顯示,將斷層攝影圖像在x和y方向上移動(dòng)偏移的補(bǔ)償值Dx(Gi)和Dy(Gi)圖26步驟H1連續(xù)地進(jìn)行常規(guī)(軸向)掃描、電影掃描或者螺旋掃描,以便重建所有斷層攝影圖像步驟H2計(jì)算在圖像被重建的地方得到的托架12的高度和這些地方的位置步驟H3使用在步驟H2所計(jì)算的托架12的高度來計(jì)算表示在x和y方向上的偏移或者發(fā)生在z方向上的位置上的y方向上的偏移的坐標(biāo)矢量步驟H4將表示x和y方向上的偏移或者y方向或者x和y方向上的偏移的坐標(biāo)矢量記錄在包含圖像數(shù)據(jù)的文件或者其它文件中步驟H5在三維顯示、MPR顯示或者M(jìn)IP顯示過程中,使用在步驟H3所計(jì)算的表示偏移的坐標(biāo)矢量來補(bǔ)償x和y方向上的偏移圖27步驟H11連續(xù)地進(jìn)行螺旋掃描并且在z方向上的相應(yīng)位置重建一些圖像步驟H12計(jì)算在圖像被重建地方獲得的托架12的高度和這些地方的位置步驟H13使用在步驟H12所計(jì)算的托架12的高度來計(jì)算表示在x和y方向上的偏移或者發(fā)生在z方向上的位置上的y方向上的偏移的坐標(biāo)矢量步驟H14將表示x和y方向上的偏移或者y方向上的偏移的坐標(biāo)矢量記錄在包含圖像數(shù)據(jù)的文件或者其它文件中步驟H15在三維顯示、MPR顯示或者M(jìn)IP顯示過程中使用在步驟H13所計(jì)算的坐標(biāo)矢量來補(bǔ)償偏移圖29步驟S1151將值i初始化為1步驟S1152將在第i個(gè)斷層攝影圖像中表示對(duì)象軀體表面的CT值的范圍設(shè)置為從CTBL至CTBH,并且二進(jìn)制編碼像素,以便表示CT值范圍的像素為1s步驟S1153通過標(biāo)記對(duì)域進(jìn)行編號(hào)步驟S1154測(cè)量所標(biāo)記的域的特征參數(shù)步驟S1155邏輯清除不表示對(duì)象軀體表面的域步驟S1156使第i+1或者第i二進(jìn)制編碼的斷層攝影圖像彼此相匹配,以便測(cè)量相關(guān)性水平Ci(x,y),并且把用大的相關(guān)性水平表示的x坐標(biāo)和y坐標(biāo)對(duì)看作表示偏移(Δx,Δy)的偏移的坐標(biāo)。相關(guān)性水平Ci=G1(x,y)*Gi+1(x,y)|G1(x,y)|·|Gi+1(x,y)|]]>步驟S1157在z方向上連續(xù)定義的所有斷層攝影圖像Gi至Gn已被檢查,以查看它們是否被處理以測(cè)量表示偏移(Δx,Δy)的偏移的坐標(biāo)步驟S1158補(bǔ)償一個(gè)斷層攝影圖像與另一斷層攝影圖像的偏移步驟S1159使值i增加1。權(quán)利要求1.一種X射線CT系統(tǒng),包括X射線數(shù)據(jù)收集裝置,其使得X射線發(fā)生器和兩維X射線面探測(cè)器圍繞位于其間的旋轉(zhuǎn)中心旋轉(zhuǎn),并且收集透過躺在其間的對(duì)象的X射線產(chǎn)生的投影數(shù)據(jù)項(xiàng),所述兩維X射線面探測(cè)器位于所述X射線發(fā)生器的對(duì)面以便探測(cè)X射線,并且由以矩陣的形式排列的探測(cè)器元件構(gòu)成;圖像重建裝置,其根據(jù)由X射線數(shù)據(jù)收集裝置收集的投影數(shù)據(jù)項(xiàng)重建圖像;和圖像顯示裝置,其顯示所重建的斷層攝影圖像,其中該圖像顯示裝置檢測(cè)每個(gè)斷層攝影圖像中的參考點(diǎn),通過測(cè)量參考點(diǎn)的偏移來測(cè)量每個(gè)斷層攝影圖像在水平的x方向上的偏移及其在垂直的y方向上的偏移,補(bǔ)償所述偏移,并且顯示所得到的斷層攝影圖像。2.一種X射線CT系統(tǒng),包括X射線數(shù)據(jù)收集裝置,其使得X射線發(fā)生器和兩維X射線面探測(cè)器圍繞位于其間的旋轉(zhuǎn)中心旋轉(zhuǎn),并且收集透過躺在其間的對(duì)象的X射線產(chǎn)生的投影數(shù)據(jù)項(xiàng),所述兩維X射線面探測(cè)器位于所述X射線發(fā)生器的對(duì)面以便探測(cè)X射線,并且由以矩陣的形式排列的探測(cè)器元件構(gòu)成;圖像重建裝置,其根據(jù)由X射線數(shù)據(jù)收集裝置收集的投影數(shù)據(jù)項(xiàng)重建圖像;和圖像顯示裝置,其顯示所重建的斷層攝影圖像,其中該圖像重建裝置檢測(cè)每個(gè)斷層攝影圖像中的參考點(diǎn),通過測(cè)量參考點(diǎn)的偏移來測(cè)量每個(gè)斷層攝影圖像在水平的x方向上的偏移及其在垂直的y方向上的偏移,補(bǔ)償所述偏移,并且重建所得到的斷層攝影圖像。3.按照權(quán)利要求1或者2所述的X射線CT系統(tǒng),其中包括在X射線數(shù)據(jù)收集裝置中的兩維X射線面探測(cè)器是多陣列X射線探測(cè)器。4.按照權(quán)利要求1或者2所述的X射線CT系統(tǒng),其中包括在X射線數(shù)據(jù)收集裝置中的兩維X射線面探測(cè)器是以平板X射線探測(cè)器為代表的平面X射線探測(cè)器。5.按照權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)所述的X射線CT系統(tǒng),其中圖像顯示裝置檢測(cè)每個(gè)斷層攝影圖像中的參考點(diǎn),所述斷層攝影圖像通過在與定義該斷層攝影圖像的xy平面垂直的z方向上連續(xù)地進(jìn)行螺旋掃描而產(chǎn)生;通過測(cè)量參考點(diǎn)的偏移來測(cè)量每個(gè)斷層攝影圖像在水平的x方向上的偏移和及其在垂直的y方向上的偏移;補(bǔ)償所述偏移;并且顯示所得到的斷層攝影圖像。6.按照權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)所述的X射線CT系統(tǒng),其中圖像重建裝置檢測(cè)每個(gè)斷層攝影圖像中的參考點(diǎn),所述斷層攝影圖像通過在與定義該斷層攝影圖像的xy平面垂直的z方向上連續(xù)地進(jìn)行螺旋掃描而產(chǎn)生;通過測(cè)量參考點(diǎn)的偏移來測(cè)量每個(gè)斷層攝影圖像在水平的x方向上的偏移和及其在垂直的y方向上的偏移;補(bǔ)償所述偏移;并且重建所得到的斷層攝影圖像。7.按照權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)所述的X射線CT系統(tǒng),其中圖像顯示裝置檢測(cè)每個(gè)斷層攝影圖像中的參考點(diǎn),所述斷層攝影圖像通過在與定義該斷層攝影圖像的xy平面垂直的z方向上連續(xù)地進(jìn)行常規(guī)(軸向)掃描而產(chǎn)生;通過測(cè)量參考點(diǎn)的偏移來測(cè)量每個(gè)斷層攝影圖像在水平的x方向上的偏移和及其在垂直的y方向上的偏移;補(bǔ)償所述偏移;并且顯示所得到的斷層攝影圖像。8.按照權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)所述的X射線CT系統(tǒng),其中圖像重建裝置檢測(cè)每個(gè)斷層攝影圖像中的參考點(diǎn),所述斷層攝影圖像通過在與定義該斷層攝影圖像的xy平面垂直的z方向上連續(xù)地進(jìn)行常規(guī)(軸向)掃描而產(chǎn)生;通過測(cè)量參考點(diǎn)的偏移來測(cè)量每個(gè)斷層攝影圖像在水平的x方向上的偏移和及其在垂直的y方向上的偏移;補(bǔ)償所述偏移;并且重建所得到的斷層攝影圖像。9.按照權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)所述的X射線CT系統(tǒng),其中圖像顯示裝置檢測(cè)每個(gè)斷層攝影圖像中的參考點(diǎn),所述斷層攝影圖像通過在與定義該斷層攝影圖像的xy平面垂直的z方向上連續(xù)地進(jìn)行電影掃描而產(chǎn)生;通過測(cè)量參考點(diǎn)的偏移來測(cè)量每個(gè)斷層攝影圖像在水平的x方向上的偏移和及其在垂直的y方向上的偏移;補(bǔ)償所述偏移;并且顯示所得到的斷層攝影圖像。10.按照權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)所述的X射線CT系統(tǒng),其中圖像重建裝置檢測(cè)每個(gè)斷層攝影圖像中的參考點(diǎn),所述斷層攝影圖像通過在與定義該斷層攝影圖像的xy平面垂直的z方向上連續(xù)地進(jìn)行電影掃描而產(chǎn)生;通過測(cè)量參考點(diǎn)的偏移來測(cè)量每個(gè)斷層攝影圖像在水平的x方向上的偏移和及其在垂直的y方向上的偏移;補(bǔ)償所述偏移;并且重建所得到的斷層攝影圖像。11.按照權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)所述的X射線CT系統(tǒng),其中圖像顯示裝置檢測(cè)每個(gè)斷層攝影圖像中的參考點(diǎn),所述斷層攝影圖像通過在與定義該斷層攝影圖像的xy平面垂直的z方向上連續(xù)地進(jìn)行可變螺距螺旋掃描而產(chǎn)生;通過測(cè)量參考點(diǎn)的偏移來測(cè)量每個(gè)斷層攝影圖像在水平的x方向上的偏移和及其在垂直的y方向上的偏移;補(bǔ)償所述偏移;并且顯示所得到的斷層攝影圖像。12.按照權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)所述的X射線CT系統(tǒng),其中圖像重建裝置檢測(cè)每個(gè)斷層攝影圖像中的參考點(diǎn),所述斷層攝影圖像通過在與定義該斷層攝影圖像的xy平面垂直的z方向上連續(xù)地進(jìn)行可變螺距螺旋掃描而產(chǎn)生;通過測(cè)量參考點(diǎn)的偏移來測(cè)量每個(gè)斷層攝影圖像在水平的x方向上的偏移和及其在垂直的y方向上的偏移;補(bǔ)償所述偏移;并且重建所得到的斷層攝影圖像。13.按照權(quán)利要求1至12中任一項(xiàng)所述的X射線CT系統(tǒng),其中圖像顯示裝置使用對(duì)象支撐單元的表示的部分或者全部作為每個(gè)斷層攝影圖像中的參考點(diǎn)來補(bǔ)償偏移。14.按照權(quán)利要求1至12中任一項(xiàng)所述的X射線CT系統(tǒng),其中圖像重建裝置使用對(duì)象支撐單元的表示的部分或者全部作為每個(gè)斷層攝影圖像中的參考點(diǎn)來補(bǔ)償偏移。15.按照權(quán)利要求1至12中任一項(xiàng)所述的X射線CT系統(tǒng),其中圖像顯示裝置使用部分或者整個(gè)對(duì)象支撐單元的表示作為每個(gè)斷層攝影圖像中的參考點(diǎn)來顯示斷層攝影圖像。16.按照權(quán)利要求1至12中任一項(xiàng)所述的X射線CT系統(tǒng),其中圖像重建裝置使用部分或者整個(gè)對(duì)象支撐單元的表示作為每個(gè)斷層攝影圖像中的參考點(diǎn)來重建斷層攝影圖像。17.按照權(quán)利要求1至16中任一項(xiàng)所述的X射線CT系統(tǒng),其中圖像重建裝置采用三維圖像重建。18.按照權(quán)利要求1至17中任一項(xiàng)所述的X射線CT系統(tǒng),其中圖像顯示裝置不僅補(bǔ)償斷層攝影圖像在x和y方向上的偏移,而且補(bǔ)償其在z方向上的偏移,并且顯示所得到的斷層攝影圖像。19.按照權(quán)利要求1至17中任一項(xiàng)所述的X射線CT系統(tǒng),其中所述圖像重建裝置不僅補(bǔ)償斷層攝影圖像在x和y方向上的偏移,而且補(bǔ)償其在z方向上的偏移,并且重建所得到的斷層攝影圖像。全文摘要本發(fā)明旨在改善通過X射線CT系統(tǒng)提供的三維顯示圖像、MPR顯示圖像或者M(jìn)IP顯示圖像的質(zhì)量,其中所述X射線CT系統(tǒng)進(jìn)行常規(guī)(軸向)掃描、電影掃描或者螺旋掃描。該X射線CT系統(tǒng)包括圖像重建單元或者圖像顯示單元。該圖像重建單元或者圖像顯示單元根據(jù)表現(xiàn)高CT值的物體在z方向上的連續(xù)性來測(cè)量斷層攝影圖像在水平的x方向上的偏移及其在垂直的y方向上的偏移,并且所述物體被看作斷層攝影圖像中的參考;諸如托架、頭部支架、對(duì)象軀體表面、或者骨頭。然后,圖像重建單元或者圖像顯示單元補(bǔ)償所述偏移。文檔編號(hào)G06T3/00GK1955725SQ20051011851公開日2007年5月2日申請(qǐng)日期2005年10月27日優(yōu)先權(quán)日2005年10月27日發(fā)明者王學(xué)禮,西出明彥,萩原明,森川琴子申請(qǐng)人:Ge醫(yī)療系統(tǒng)環(huán)球技術(shù)有限公司
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