專利名稱：測量靈敏度分布的測量方法和裝置的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種測量靈敏度分布的測量方法和裝置。更具體地說，本發(fā)明涉及一種以高精度和極簡單的方式測量光電傳感器靈敏度分布的測量方法和裝置。
背景技術：
例如在JP-A 2001-312688中公開了一種反射式光電傳感器。該光電傳感器包括投光器和感光器。投光器投射光或光束用于光電探測。感光器接收和探測從投光器發(fā)射后由被探測物質反射的光。光電傳感器用作閱讀器，來讀取形成在卷繞器芯(winder core)的信息代碼，該卷繞器芯作為滾筒芯(core of a roll)用于照片打印機中。
如果使用光電傳感器，為了優(yōu)化光的靈敏度，需要調(diào)整安裝中的定位、輸出的電修正和其他校準。由于調(diào)整和修正需要另外復雜的操作，所以加工費用可能會更高。
為了解決這樣一個問題，在JP-A 2001-175799中介紹了一種光探測裝置，包括放大器、A/D轉換器、微處理器和電阻電路。放大器放大感光器的輸出。A/D轉換器將放大器的輸出轉換為數(shù)字信號。微處理器根據(jù)數(shù)字信號數(shù)據(jù)改變感光器的輸出標準。電阻電路由微處理器控制，用于在放大器之前將感光器的輸出變換成某一點標準輸出。
而且，例如U.S.P 5,473,167(對應于JP-A8-050094)公開了一種光電傳感器靈敏度的測試。
盡管根據(jù)JP-A 2001-175799可以提高光電傳感器的信噪比S/N，但不能詳細地探知光電傳感器的特性?？梢栽诠怆妭鞲衅黛`敏度不是很高的情況下使用光探測裝置。這種結構不適合用于更高精度的探測。

發(fā)明內(nèi)容
考慮到前述問題，本發(fā)明的一個目的是提供一種以高精度和極簡單的方式測量光電傳感器靈敏度分布的測量方法和裝置。
為了實現(xiàn)這個發(fā)明上述的和其他的目的和進步，本發(fā)明提供了一種測量光電傳感器靈敏度分布的測量方法，其中光電傳感器具有一個布置在傳感器表面上的投光器和一個布置在該傳感器表面上的感光器。布置光電傳感器使該傳感器表面與一測試面板相對，該測試面板具有一個形成在它表面上的測試圖案。轉動地并逐步地移動所述光電傳感器，同時使所述傳感器表面與所述測試面板相對。所述測試面板在每次所述光電傳感器的旋轉移位時相對于所述光電傳感器移動。所述測試面板相對地移動時，所述感光器的輸出被監(jiān)控和接收。根據(jù)感光器的輸出確定以二維方式表示的靈敏度分布。在每次的旋轉移位中綜合以二維方式表示的靈敏度分布，來確定以三維方式表示的靈敏度分布。
測試面板以常規(guī)的速度相對于光電傳感器移動。
至少有兩種顏色的測試圖案包含一個高反射比區(qū)域和形成在其中并具有低反射比的參考部分。
具有低反射比的參考部分包含一條參考線。
進一步地，具有一個根據(jù)在具有低反射比的參考線通道上獲得的輸出和位置，來獲得光電傳感器靈敏帶和最高靈敏度點的步驟，所述最高靈敏度點是傳感器表面上靈敏度最高的點，以便確定以二維方式表示的靈敏度分布。
在一個優(yōu)選實施例中，具有低反射比的參考部分包含一條參考線和一個低反射比區(qū)域。
進一步地，根據(jù)在具有低反射比的參考線通道上獲得的輸出和定位，在傳感器表面上獲得最高靈敏度點，在該點上靈敏度最高。根據(jù)在低反射比區(qū)域的通道上獲得的輸出和定位，獲得光電傳感器的靈敏帶，以便確定以二維方式表示的靈敏度分布。
測試面板包含一個沿著其中心旋轉的測試圓盤，和沿著一個圓周的一段圓弧延伸的所述參考線，該圓周與測試圓盤同心。
低反射比區(qū)域被定義，并被一輪廓線圍繞，該輪廓線的至少一部分沿著與測試盤同心的一個圓的一段圓弧延伸。
在另一個優(yōu)選實施例中，測試面板以這樣一種循環(huán)移動順序移動，該順序在完成移動測試面板后以初始的方式開始。移動順序包括穿過第N個截面沿著第N個移動方向的移動，和穿過在第N個截面的末端開始的第N+1個截面并且沿著不同于第N個移動方向的第N+1個移動方向的移動。所述參考線沿著在移動順序中預先確定的多個移動方向中的至少一個方向延伸。
在又一個優(yōu)選實施例中，具有低反射比的參考部分包含一個參考圓點。
進一步地，光電傳感器以三維方式表示的靈敏度分布被顯示。
高反射比區(qū)域是白色的，具有低反射比的參考部分是黑色的。
根據(jù)本發(fā)明的一個方面，測量包括有從外部投射探測光的投光器元件和接收從外部反射的探測光的感光器元件的光電傳感器的測量裝置包括一個測試面板，該測試面板具有形成在它的表面上的并且具有至少兩種顏色的測試圖案，由光電傳感器光電讀取以便檢測。一個移動機構相對于光電傳感器以常規(guī)速度移動所述測試面板。一個控制器激勵所述移動機構，并估計感光器元件的輸出，為了確定光電傳感器的靈敏度分布。
進一步地，一個移位機構以逐步的方式多次改變光電傳感器的傳感器表面和測試圖案的定位，定義在投光器元件和感光器元件上的傳感器表面。在每次移位機構移位和改變定位時，所述控制器驅動移動機構，根據(jù)在移位機構移位中感光器元件的輸出，確定以二維方式表示的光電傳感器的靈敏度分布，并且綜合多個獲得的靈敏度分布，來確定以三維方式表示的光電傳感器的靈敏度分布。
特別地，一個第一確定單元在所述測試面板相對移動時根據(jù)所述感光器的輸出確定以二維方式表示的所述靈敏度的分布。一個第二確定單元綜合在每次旋轉移位中以二維方式表示的所述靈敏度分布，來確定以三維方式表示的靈敏度分布。
所述測試面板是可旋轉的，其表面具有白色。所述測試圖案具有一個相對于測試面板的旋轉中心偏心的圓周和一條黑線。該圓周具有第一和第二半圓，第一半圓具有一條黑色輪廓線和定義在該輪廓線內(nèi)的白色區(qū)域，第二半圓具有黑色，并且該線由第一和第二半圓之間的邊界線的延長線形成。
測試面板是一個測試圓盤，并且所述線朝著測試圓盤的外圍延伸。
第一確定單元確定了一個點，在該點上根據(jù)在經(jīng)過所述光電傳感器之前的所述輪廓線或所述線區(qū)間的感光器的輸出和旋轉移位，光電傳感器的靈敏度被最大化。根據(jù)在經(jīng)過光電傳感器之前的第二半圓區(qū)間的感光器的輸出和旋轉移位，來確定光電傳感器的靈敏帶。一個具有一個在最大靈敏度點上的頂點和一條沿著靈敏帶的基線的三角形區(qū)域被確定，來定義以二維方式表示的靈敏度分布。
所述測試面板的所述表面具有白色，所述測試圖案具有一條黑線。第一確定單元根據(jù)在經(jīng)過所述光電傳感器之前的所述線區(qū)間的感光器的輸出和旋轉移位，確定一個點和光電傳感器的一個靈敏帶，在該點上光電傳感器的靈敏度被最大化。一個具有一個在最大靈敏度點的頂點和一條沿著靈敏帶的基線的三角形區(qū)域被確定，來定義以二維方式表示的靈敏度分布。
在一個優(yōu)選實施例中，光電傳感器相對于固定的測試面板移動。
測試面板的表面具有白色，測試圖案具有一個基本上呈四邊形形狀的黑色區(qū)域和一條從黑色區(qū)域的一側延伸的黑線。
在另一個優(yōu)選實施例中，測試面板的表面具有一種白色，測試圖案具有至少一個黑色圓點。
因此，可以以高精度和極簡單的方式測量光電傳感器的靈敏度分布，因為有效使用了測試面板上具有簡化結構的測試圖案。


結合附圖閱讀下列詳細描述，本發(fā)明的上述目的和優(yōu)勢將會更加明顯，其中圖1為一種測量裝置的透視圖；圖2為一種測試圓盤的正視圖；
圖3為一種光電傳感器的帶有軌跡的測試圓盤的表面的正視圖；圖4為測試圓盤旋轉一周感光器元件輸出波的波形曲線圖。
圖5為測試圓盤表面的正視圖，其中表示出Lmax，Lmin1和Lmin2。
圖6為感光器元件輸出的第二個半波的波形曲線圖，具有以二維方式表示的靈敏度分布。
圖7是以三維方式表示的靈敏度分布的曲線圖；圖8為測量靈敏度修正值的步驟流程圖；圖9為另一個不同測試面板的優(yōu)選實施例的正視圖；圖10為又一個不同測試面板的優(yōu)選實施例的正視圖。
具體實施例方式
如圖1所示，一種靈敏度分布測量裝置2或傳感器特性取樣裝置2包括一個作為測試面板的測試圓盤11，一個傳感器固定器12，一個作為測試面板固定器的測試圓盤固定器13，第一步進電機14，第二步進電機15和一個主機16。根據(jù)本發(fā)明，被探測的光電傳感器10或光電傳感器單元以一種可旋轉的方式被支撐在傳感器固定器12上。測試圓盤固定器13以一種可選轉的方式支撐測試圓盤11。第一步進電機14作為一種移位機構被容納在傳感器固定器12中，并引起光電傳感器10旋轉。第二步進電機15作為一種移動機構被容納在測試圓盤固定器13中，并引起測試圓盤11旋轉。主機16控制構成測試裝置2整體的不同元件。
光電傳感器10是反射式的光電傳感器，它包括一個作為投光器的投光器元件10a，和一個作為感光器的感光器元件10b。在測試圓盤11的測試表面11a上，投光器元件10a投射用于光電探測的光線或光束。感光器元件10b接收和探測響應于投光器元件10a發(fā)射的并由測試圓盤11反射的光。光電傳感器10中的感光器元件10b產(chǎn)生一種輸出信號，并被傳送到主機16。
步進電機14和15服從主機16輸出的指令信號的控制。第一步進電機14引起帶有投光器元件10a和感光器元件10b的光電傳感器10的傳感器表面或布置表面10c以一預定的角度如45度相對于測試表面11a間歇地旋轉。第二步進電機15引起測試圓盤11相對于光電傳感器10以一常規(guī)的旋轉速度沿箭頭所示的逆時針方向旋轉。
主機16傳送指令信號給步進電機14和15，也接收來自光電傳感器10的感光器元件10b輸出的信號。監(jiān)控器顯示面板16a被包括在主機16的用戶界面內(nèi)，該主機16具有鍵盤、鼠標等。感光器元件10b輸出的波形被顯示在監(jiān)控器顯示面板16a上。另外，監(jiān)控器顯示面板16a還可以顯示被測量的光電傳感器10的靈敏度的分布。
在圖2中，測試圓盤11是圓形的，具有半徑R1和圓心O1。一個偏心圓20形成在測試表面11a上，帶有明顯不同的黑色標記。直徑或弦21延伸通過中心O1。偏心圓20的圓心O2偏離圓心O1的量為E，是一個與測試圓盤11內(nèi)切的圓周，具有半徑R2＝R1-E。測試圓盤11的測試圖案或測試圖像包括一個低反射比或黑色參考線22、一個低反射比或黑色區(qū)域23和一個高反射比或白色區(qū)域24。低反射比參考線22布置在由弦21限定的上半圓中。低反射比區(qū)域23布置在由弦21限定的下半圓中。高反射比區(qū)域24作為剩余部分布置在下半圓。弦21用作每次測試圓盤11旋轉半周時探測測試圓盤11的旋轉參考位置的參考標記。
通過將光電傳感器10和測試圓盤11分別支持在傳感器固定器12和圓盤固定器13中，如虛線所指示的那樣定位光電傳感器10的傳感器表面10c，使其直接面對測試表面11a。當旋轉測試圓盤11時，光電傳感器10相對于測試圓盤11移動，移動順序為低反射比參考線22，高反射比區(qū)域24，弦21，高反射比區(qū)域24，低反射比區(qū)域23，然后是高反射比區(qū)域24。
圖3～8描述了使用測量裝置2測量光電傳感器10的靈敏度分布的操作。首先，光電傳感器10被固定到傳感器固定器12上。傳感器和圓盤固定器12和13被合適地布置。測量出測試圓盤11的中心O1與光電傳感器的靈敏度區(qū)域SE的中心點O3之間的距離Lsens，來定義靈敏度分布。參見圖3。
在測量了距離Lsens之后，第二步進電機15通過主機16的控制而被驅動。使測試圓盤11相對于光電傳感器10以常規(guī)的速度做逆時針旋轉。逆時針方向通過附圖中的箭頭指示出。傳感器表面10c的中心O3的投影點的移動形成軌跡30，如在測試表面11a上所觀察到的。軌跡30通過圖3中的虛線被指示出。
軌跡30是一個圓周，具有關于旋轉中心O1的半徑Lsens，并延伸著連續(xù)穿過點a，b，c，d，e和f作為第一個半圓。點a是投影到測試表面11a上的傳感器表面10c的一半重疊到低反射比區(qū)域23上的位置。點b是傳感器表面10c從低反射比區(qū)域23離開并完全投影到高反射比區(qū)域24的位置。點c是傳感器表面10c的一部分開始重疊到低反射比參考線22上的位置。點d是傳感器表面10c的中心O3移動經(jīng)過低反射比參考線22的位置。點e是傳感器表面10c離開低反射比參考線22并完全投影到高反射比區(qū)域24的位置。點f是傳感器表面10c的中心O3移動經(jīng)過弦21的位置。然后軌跡30延伸著并連續(xù)穿過點g，h，i和j，然后是點a作為第二個半圓。點g是傳感器表面10c的一部分開始重疊在低反射比區(qū)域23的位置。點h是傳感器表面10c的中心O3移動經(jīng)過作為由低反射比區(qū)域23和高反射比區(qū)域24之間限定的邊界線的輪廓線25的位置。點i和j是傳感器表面10c離開低反射比參考線22并完全投影到低反射比區(qū)域23的位置。
隨著光電傳感器10在軌跡30上移動，感光器元件10b的輸出具有以圖表的形式示于圖4的波形。在點a的附近，投影到測試表面11a的傳感器表面10c的一半重疊到低反射比區(qū)域23上。輸出處于大約50％的水平，該水平在探測高反射比區(qū)域24上的高水平和探測低反射比區(qū)域23上的低水平之間。當傳感器表面10c從低反射比區(qū)域23離開時，傳感器表面10c從傳感器表面10c進入高反射比區(qū)域24的位置點b移動到傳感器表面10c的一部分開始重疊到低反射比參考線22上的位置點c。然后沿著高反射比區(qū)域24的通道，輸出處于高水平。當傳感器表面10c從點c移動到傳感器表面10c的中心O3移動經(jīng)過低反射比參考線22的位置點d時，由于低反射比參考線22的通道輸出從高水平變?yōu)楦?。靈敏度在點d附近為最高。
在從點d附近到點e附近的部分中，傳感器表面10c從低反射比參考線22處離開，變?yōu)榘ㄔ诟叻瓷浔葏^(qū)域24中，根據(jù)低反射比參考線22的通道在輸出中產(chǎn)生一個上升。在點e附近，輸出再一次達到高水平。在傳感器表面10c的中心O3移動經(jīng)過弦21的位置點f附近，根據(jù)弦21的通道輸出中產(chǎn)生下降然后上升。這表示測試圓盤11相對于光電傳感器10旋轉半周。
在開始于點f附近結束于點g附近的部分中，傳感器表面10c開始重疊到高反射比區(qū)域24之后的低反射比區(qū)域23上，由于高反射比區(qū)域24的通道感光器元件10b的輸出處于高水平。在開始于點g附近結束于點i附近的部分中，傳感器表面10c覆蓋在低反射比區(qū)域23中，由于低反射比區(qū)域23的通道感光器元件10b的輸出從高水平下降到低水平。幾乎在點i和點g之間的點h上或在傳感器表面10c的中心O3經(jīng)過在低反射比區(qū)域23和高反射比區(qū)域24之間限定的輪廓線25的位置點h上靈敏度或輸出被最大化。在點i和j之間的部分，輸出在低反射比區(qū)域23中處于低水平。在點a附近，輸出再一次處于50％的水平。
在圖5中，讓P1為定位在傳感器表面10c上的點和光電傳感器10的靈敏度被最大化的地方。再參見圖7。讓Q1為低反射比參考線22上的點并通過投影點P1到測試表面11a上獲得。點Q1存在于點d的附近，在此感光器元件10b的輸出最低。主機16通過公式Lmax＝Ecosθ+[(R2)2-(E sinθ)2]1/2確定從點Q1到測試圓盤11的中心O1間的距離Lmax。
在弦21與通過點Q1和測試圓盤11的旋轉中心O1的線之間限定了一個角θ(弧度)。見圖4，其中T1為當感光器元件10b的輸出在接近點a的第一點和點Q1之間移動時消耗的測量時間，第一點為感光器元件10b輸出在50％時的位置。T2為當感光器元件10b的輸出從點Q1到接近點f的一點出現(xiàn)時消耗的測量時間。角θ的值通過T1和T2表示如下θ＝πT1/(T1+T2)主機16在旋轉光電傳感器10四分之一周的基礎上估算Lmax的初始距離和Lmax的第二距離，并在二維坐標中確定點Q的位置。而且，主機16根據(jù)Lmax和Lsens的初始和第二距離的關系確定光電傳感器10上的最高靈敏度點P1。
使Q1′作為位于作為低反射比區(qū)域23和高反射比區(qū)域24之間的邊界線的輪廓線25上的一點，并且該點通過將最大靈敏度點P1投影到測試表面11a上被定義，這時光電傳感器10的靈敏度在傳感器表面10c的中心O3經(jīng)過點h之后被最大化。點Q1′在點h附近。而且，根據(jù)測試圓盤11和偏心圓20的對稱形式，點Q1′與點Q1相對于作為對稱軸的弦21對稱地定位。換句話說，點Q1′定義在一點，在該點低反射比區(qū)域23和高反射比區(qū)域24之間的輪廓線25被以測試圓盤11的中心O1為圓心具有直徑Lmax的圓所分割。點Q1′在順時針方向上旋轉地偏移點f一個角(π-θ)。因此，從靠近點f的點到點Q1′部分的測量時間等于從點Q1到點f部分的測量時間T2。
使P2和P3為定位在光電傳感器10的靈敏區(qū)域端點上的點。也參見圖7，使Q2和Q3為在輪廓線25上的點，并通過將點P2和P3投影到測試表面11a上獲得。點Q2存在于感光器元件10b的輸出開始從高水平下降的點g附近，點Q3存在于感光器元件10b的輸出開始保持低水平的點i附近。然后主機16確定從點Q2到測試圓盤11的中心O1的距離Lmin1，和從點Q3到測試圓盤11的距離Lmin2，通過公式Lmin1＝[(R2)2-E sinφ)2]1/2-EcosφLmin2＝[(R2)2-(E sinδ)2]1/2-E cosδ在弦21和通過點Q2和測試圓盤11的旋轉中心O1的線之間定義角φ(弧度)。參見圖4，其中T3為當測試圓盤11的相位在靠近點f的一個點和點Q2之間出現(xiàn)時消耗的測量時間。T2也表示當測試圓盤11的相位在靠近點f的一個點和點Q1′之間出現(xiàn)時消耗的測量時間。角φ的值由T2和T3表示如下φ＝(π-θ)T3/T2在弦21和穿過點Q3和測試圓盤11的旋轉中心O1的線之間定義角δ(弧度)。參見圖4，其中T4為當測試圓盤11的相位在靠近點f的一點和點Q3之間出現(xiàn)時消耗的測量時間。T2也表示當測試圓盤11的相位在靠近點f的一點和點Q1′之間出現(xiàn)時消耗的測量時間。角δ的值由T2和T4表示如下δ＝(π-θ)T4/T2主機16在Lmin1，Lmin2和Lmax之間的Lmin1-Lmax和Lmax-Lmin2的差值的基礎上，計算并獲得光電傳感器10的靈敏度分布的靈敏帶W。參見圖7。然后主機16通過考慮二維空間內(nèi)的不同參數(shù)確定靈敏度分布D2，這些參數(shù)包括Lsens，Lmax，Lmin1，Lmin2，W和感光器元件10b的輸出。參見圖6的較低部分。注意到在該附圖中較低部分曲線的水平軸是針對標準化的靈敏度值繪制的，假定當靈敏度在點h附近被最大化時，感光器元件10b的輸出為1。
主機16控制第一步進電機14旋轉，引起傳感器表面10c相對于測試表面11a旋轉45度或1/8轉。每次驅動第二步進電機15，使得測試圓盤11以常規(guī)速度相對于光電傳感器10沿逆時針方向旋轉一周，如箭頭所示。以與上述相似的過程確定靈敏度分布D2。主機16管理傳送到第一步進電機14的驅動脈沖的數(shù)量，并以相同的操作重復實現(xiàn)，直到在該位置中傳感器表面10c和測試表面11a之間的關系達到它們的初始關系。獲得靈敏度分布D2的七個數(shù)據(jù)，并通過它們的彼此結合來綜合數(shù)據(jù)，從而得到如圖7所示的以三維方式表示的靈敏度分布D3。
因此，以三維方式表示的光電傳感器10的靈敏度分布D3的獲得僅僅通過以常規(guī)速度旋轉測試圓盤11一周，得到感光器元件10b的輸出并多次重復傳感器表面10c相對于測試圓盤11的旋轉。使用光電傳感器10，被光電探測的物質可以被投影在具有最高靈敏度的點P1。光電傳感器10的探測可以通過使用其探測性能以最高精度被優(yōu)化。
注意根據(jù)本發(fā)明，對具有偏心圓20的測試圓盤11沒有特別的限制。測試圓盤11可以具有一種圖案或標記，而不是低反射比參考線22或低反射比區(qū)域23。
另一個優(yōu)選的測試面板40示于圖9。測試面板40具有規(guī)則的四邊形的形狀。在一個測試圖案或測試圖像中的低反射比或黑色參考線41的形成是從中心O4朝著測試面板40的上側線的中點延伸。低反射比或黑色區(qū)域42投影到較低側線和左側線上，并具有測試面板40的四分之一大小的面積。而且，高反射比或白色區(qū)域43被定義為測試面板40上的剩余區(qū)域。特別地，光電傳感器10和測試面板40中的一個以常規(guī)的速度被移動，為了沿著軌跡44移動測試表面10c的中心O3。對于軌跡44，參見附圖中的虛線。感光器元件10b的輸出與測試面板40的中心O4和傳感器表面10c的中心O3的相對位置被考慮，以便確定靈敏度分布D2。傳感器表面10c相對于傳感器表面或布置表面40a被旋轉，從而得到靈敏度分布D2的多個值。在此之后，多個值被結合在一起，以便確定以三維方式表示的靈敏度分布D3。注意對應著上述實施例中的點a-i，從a′到j′的幾個點被指出。在測試圖案中的參考線45用來表示以類似于上述實施例中的弦21的方式轉動軌跡44一半的位置。
進一步地，傳感器表面10c相對于測試表面11a的旋轉角可以是比45度小的值，例如是5度，使用靈敏度分布D3中的更高精度該角是有效的?？蛇x擇地，可以使用較低精度的靈敏度分布，特別是在靈敏度分布中從點P2到點P1或從點P1到點P3的傾斜的較低精度特性。一個以二維方式表示的靈敏度分布D2可以通過低反射比參考線22的通道、估算在圖4中從點c的附近到點e的附近感光器元件10b的輸出和估算傳感器表面10c和測試表面11a的相對位置來確定。
在圖10中，說明了又一個優(yōu)選的測試面板50。測試圖案或測試圖像中的低反射比或黑色參考圓點51形成在測試面板50的中心O5。高反射比或白色區(qū)域52由低反射比參考圓點51周圍的測試面板50的剩余部分所定義。軌跡53在附圖中通過虛線指出。光電傳感器10和測試面板50中的一個沿著軌跡53的水平方向以常規(guī)的速度移動，為了引起傳感器表面10c的中心O3移動一個量ΔX。感光器元件10b的輸出在這區(qū)間被估算出，來獲得二維的靈敏度分布D2。每次重復光電傳感器10和測試面板50中的一個在軌跡53的垂直方向上移位一個量ΔY，以便獲得靈敏度分布D2的多個結果。然后這多個結果通過結合被綜合起來，以便獲得三維的靈敏度分布D3。注意低反射比參考圓點51的優(yōu)選尺寸可以是充分大以便保持感光器元件10b的輸出是可分析的。
在上述實施例中，測試圓盤11、測試面板40和50中的每一個都有一個黑白兩色的圖案。然而，根據(jù)本發(fā)明的測試面板上的兩步反射測試圖案或測試圖像可以是反射比值彼此不同的任意兩種顏色。
注意測試圓盤11可以不以常規(guī)速度旋轉。圖4中，水平軸可以被認為測試圓盤11的旋轉位置，表現(xiàn)為施加到步進電機的脈沖數(shù)。
盡管本發(fā)明已經(jīng)通過它的優(yōu)選實施例并參照附圖得到充分地描述，但對于本領域普通技術人員來說，各種的變化和修改是顯而易見的。因此，除非另外這些變化和修改脫離了本發(fā)明的范圍，否則它們應該被解釋為包括在其范圍之內(nèi)。
權利要求
1.一種測量光電傳感器靈敏度分布的測量方法，其中所述光電傳感器具有一個布置在傳感器表面上的投光器和一個布置在所述傳感器表面上的感光器，所述測量方法包含下列步驟布置所述光電傳感器，使傳感器的表面與測試面板相對，該測試面板具有一個形成在它的表面上的測試圖案；當所述傳感器表面與所述測試面板相對時，旋轉地并逐步地移位所述光電傳感器；在每次旋轉移位所述光電傳感器時，相對于所述光電傳感器移動所述測試面板；當所述測試面板相對地移動時，監(jiān)控和接收所述感光器的輸出；根據(jù)所述感光器的所述輸出確定以二維方式表示的所述靈敏度分布；和綜合每次所述旋轉移位時以二維方式表示的所述靈敏度分布，來確定以三維方式表示的靈敏度分布。
2.一種如權利要求1所述的測量方法，其特征在于所述測試面板以常規(guī)速度相對于所述光電傳感器移動。
3.一種如權利要求2所述的測量方法，其特征在于進一步包含一個顯示所述以三維方式表示的靈敏度分布的步驟。
4.一種如權利要求2所述的測量方法，其特征在于所述測試面板是可旋轉的，所述測試面板的表面具有白色；所述測試圖案具有一個相對于所述測試面板的旋轉中心偏心的圓周，和一條黑線；所述圓周具有第一和第二半圓，所述第一半圓具有一條黑色和白色區(qū)域的輪廓線，所述黑色和白色區(qū)域定義在所述輪廓線內(nèi)部，所述第二半圓具有一種黑色，并且所述線由所述第一和第二半圓之間的邊界線的延長線構成。
5.一種如權利要求4所述的測量方法，其特征在于所述測試面板是一個測試圓盤，并且所述線朝著所述測試圓盤的外圍延伸。
6.一種如權利要求5所述的測量方法，其特征在于所述確定以二維方式表示的靈敏度分布的步驟包括確定一點，在該點上根據(jù)經(jīng)過所述光電傳感器之前的所述輪廓線或所述線區(qū)間所述感光器的輸出和所述旋轉移位，所述光電傳感器的靈敏度被最大化；根據(jù)在經(jīng)過所述光電傳感器之前的所述第二半圓區(qū)間所述感光器的輸出和所述旋轉移位，確定所述光電傳感器的靈敏度帶；和確定一個具有一個在所述最大靈敏度點的頂點和一條沿所述靈敏帶的基線的三角形區(qū)域，來定義所述的以二維方式表示的靈敏度分布。
7.一種如權利要求2所述的測量方法，其特征在于所述測試面板的表面具有一白色，所述測試圖案具有一條黑線；確定所述以二維方式表示的靈敏度分布的所述步驟包括根據(jù)在經(jīng)過所述光電傳感器之前的所述線區(qū)間的所述感光器的輸出和所述旋轉移位，確定一個所述光電傳感器的靈敏度被最大化的點和所述光電傳感器的靈敏帶；和確定一個具有一個在所述最大靈敏度點的頂點和一條沿所述靈敏度帶的基線的三角形區(qū)域，來定義所述以二維方式表示的靈敏度分布。
8.一種如權利要求2所述的測量方法，其特征在于所述光電傳感器相對于所述固定的測試面板移動。
9.一種如權利要求8所述的測量方法，其特征在于進一步包含一個顯示所述的以三維方式表示的靈敏度分布的步驟。
10.一種如權利要求8所述的測量方法，其特征在于所述測試面板的表面具有一白色，所述測試圖案具有一個基本上為四邊形形狀的黑色區(qū)域和一條從所述黑色區(qū)域的一側邊延伸的黑線。
11.一種如權利要求8所述的測量方法，其特征在于所述測試面板的表面具有一白色，所述測試圖案具有至少一個黑色圓點。
12.一種測量光電傳感器靈敏度分布的測量裝置，其特征在于所述光電傳感器具有一個布置在傳感器表面的投光器，和一個布置在所述傳感器表面的感光器，所述測量裝置包含一測試面板，具有形成在其表面上的測試圖案；一旋轉機構，用于當所述傳感器表面與所述測試面板相對時旋轉地和逐步地移位所述光電傳感器；一移動機構，用于在每次旋轉移位所述光電傳感器時相對于所述光電傳感器移動所述測試面板；第一確定單元，用于當所述測試面板相對地移動時根據(jù)所述感光器的輸出確定以二維方式表示的所述靈敏度分布；第二確定單元，用于綜合每次所述旋轉移位時以二維方式表示的所述的靈明度分布，來確定以三維方式表示的靈敏度分布。
13.一種如權利要求12所述的測量裝置，其特征在于所述移動機構以常規(guī)速度移動所述測試面板和所述光電傳感器中的一個。
14.一種如權利要求13所述的測量裝置，其特征在于進一步包含一個用于顯示所述的以三維方式表示的靈敏度分布的顯示面板。
15.一種如權利要求13所述的測量裝置，其特征在于所述測試面板是可旋轉的，所述測試面板的表面具有白色；所述測試圖案具有一個相對于所述測試面板的旋轉中心偏心的圓周，和一條黑線；所述圓周具有第一和第二半圓，所述第一半圓具有一條黑色的輪廓線和定義在所述輪廓線內(nèi)部的白色區(qū)域，所述第二半圓具有黑色，并且所述線由所述第一和第二半圓之間的邊界線的延長線構成。
16.一種如權利要求15所述的測量裝置，其特征在于所述測試面板是一個測試圓盤，并且所述線朝著所述測試圓盤的外圍延伸。
17.一種如權利要求16所述的測量裝置，其特征在于所述第一確定單元確定一個點，在該點上根據(jù)在經(jīng)過所述光電傳感器之前的所述輪廓線或所述線區(qū)間所述感光器的輸出和所述旋轉移位，所述光電傳感器的靈敏度被最大化；根據(jù)在經(jīng)過所述光電傳感器之前的所述第二半圓區(qū)間的所述感光器的輸出和所述旋轉移位，確定所述光電傳感器的靈敏度帶；和確定一個具有一個在所述最大靈敏度點的頂點和一條沿著所述靈敏度帶的基線的三角形區(qū)域，來定義所述的以二維方式表示的靈敏度分布。
18.一種如權利要求13所述的測量裝置，其特征在于所述測試面板的表面具有白色，所述測試圖案具有黑線；所述第一確定單元根據(jù)在經(jīng)過所述光電傳感器之前的所述線區(qū)間的所述感光器的所述輸出和所述旋轉移位，確定一個所述光電傳感器的靈敏度在此被最大化的點和所述光電傳感器的靈敏帶；和確定一個具有一個在所述最大靈敏度點的頂點和一條沿所述靈敏帶的基線的三角形區(qū)域，來定義以二維方式表示的所述靈敏度分布。
19.一種如權利要求13所述的測量裝置，其特征在于所述光電傳感器相對于所述固定的測試圓盤移動。
20.一種如權利要求19所述的測量裝置，其特征在于所述測試面板的表面具有白色，并且所述測試圖案具有一個基本呈四邊形形狀的黑色區(qū)域和一條從所述黑色區(qū)域的一側邊延伸出的黑線。
21.一種如權利要求19所述的測量裝置，其特征在于所述測試面板的表面具有白色，并且所述測試圖案具有至少一個黑色圓點。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種測量裝置，該測量裝置測量一個光電傳感器的靈敏度分布和光電地探測一種物質，該光電傳感器包括一個用于從外部投射探測光的投光器元件和一個用于接收從外部反射的探測光的感光器元件。該測量裝置包括一個測試面板，該測試面板具有一個形成在它表面上并至少呈兩種顏色的測試圖案，用于為了檢查通過光電傳感器被光電地讀取。一種移動機構相對于光電傳感器以常規(guī)速度移動測試面板。一個控制器激勵移動機構，并估算來自感光器元件的輸出，以便根據(jù)其來確定光電傳感器的靈敏度分布。光電傳感器的靈敏度分布最初以二維方式表示。而且，根據(jù)獲得的多個靈敏度分布確定以三維方式表示的光電傳感器的靈敏度分布。
文檔編號G06K7/10GK1702681SQ20051006977
公開日2005年11月30日 申請日期2005年4月5日 優(yōu)先權日2004年4月5日
發(fā)明者宇都宮大介 申請人:富士膠片株式會社