專利名稱：監(jiān)控仿真芯片內(nèi)部eeprom的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及仿真開發(fā)技術(shù)，尤其涉及一種實(shí)現(xiàn)監(jiān)控仿真芯片內(nèi)部EEPROM的方法。
背景技術(shù)：
隨著集成電路技術(shù)的飛速發(fā)展，以及應(yīng)用要求的日益增加，微處理器產(chǎn)品的集成度也越來越高。為了滿足實(shí)際應(yīng)用的具體要求，在新型微處理器中除了包含傳統(tǒng)的程序存儲(chǔ)器(ROM)和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器(RAM)以外，還增加了較大容量的片內(nèi)EEPROM。這部分EEPROM可以作為非易失性存儲(chǔ)器由目標(biāo)程序?qū)懭氩⒋娣判枰４娴臄?shù)據(jù)。
在微處理器技術(shù)發(fā)展的同時(shí)，也要求與之相配套的仿真器技術(shù)的同步發(fā)展。為了達(dá)到仿真效果的真實(shí)性，一般仿真器內(nèi)都使用與要求仿真的目標(biāo)微處理器結(jié)構(gòu)、特性等都非常接近的仿真芯片，仿真芯片是仿真器仿真、調(diào)試功能、性能的根本基礎(chǔ)。相對(duì)于目標(biāo)微處理器而言，由于技術(shù)復(fù)雜、產(chǎn)量較少等原因，仿真芯片的價(jià)格一般也比較昂貴。
從仿真芯片內(nèi)各種存儲(chǔ)器的工藝角度來看，易失性存儲(chǔ)器，例如RAM、SRAM等，由于不需要在掉電以后繼續(xù)保存數(shù)據(jù)，有著非常長(zhǎng)的讀、寫壽命。而非易失性存儲(chǔ)器，例如EEPROM、Flash等，一般以頁為最小單位進(jìn)行寫入操作，且需要在掉電以后繼續(xù)保存數(shù)據(jù)，實(shí)現(xiàn)的工藝與易失性存儲(chǔ)器完全不同。它們的特點(diǎn)是讀的壽命非常長(zhǎng)，而每個(gè)存儲(chǔ)頁面寫的壽命一般在10萬次以內(nèi)。
使用仿真器仿真、調(diào)試目標(biāo)程序的過程是一個(gè)不可預(yù)知的過程，在調(diào)試的過程中，目標(biāo)程序中的一個(gè)沒有被察覺的循環(huán)寫仿真芯片內(nèi)EEPROM的錯(cuò)誤在全速仿真運(yùn)行過程中，可能在很短的時(shí)間內(nèi)就對(duì)仿真芯片內(nèi)的EEPROM的某個(gè)頁面進(jìn)行了成千上萬次的寫入操作。如果累計(jì)寫入次數(shù)超過了壽命，仿真芯片內(nèi)EEPROM的該頁就發(fā)生了損壞，由于損壞的僅僅是該頁，其他頁仍能正常工作，且該損壞又沒有任何的征兆或警示，調(diào)試工程師不可能發(fā)現(xiàn)仿真芯片內(nèi)EEPROM的某個(gè)頁已經(jīng)發(fā)生了損壞。如果在隨后的目標(biāo)程序的其它部分又確實(shí)需要用到這個(gè)已經(jīng)損壞的頁，對(duì)調(diào)試的工程師而言是很難發(fā)現(xiàn)是由于仿真芯片內(nèi)EEPROM的損壞，還是目標(biāo)程序本身的錯(cuò)誤，導(dǎo)致了程序執(zhí)行的錯(cuò)誤或不正常。
目前，在各種微處理器仿真器的設(shè)計(jì)中，都沒有考慮到這些問題。因此，需要開發(fā)設(shè)計(jì)一種新的仿真器功能，解決這一問題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明解決的技術(shù)問題是提供一種監(jiān)控仿真芯片內(nèi)部EEPROM的方法，它能隨時(shí)提供仿真芯片內(nèi)EEPROM各個(gè)頁的累計(jì)寫入次數(shù)信息，了解目標(biāo)程序?qū)EPROM的寫入操作執(zhí)行信息，并在接近EEPROM壽命極限時(shí)發(fā)出提示信息。
為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明監(jiān)控仿真芯片內(nèi)部EEPROM的方法，仿真芯片通過一個(gè)告知信號(hào)線與仿真器連接，當(dāng)仿真芯片檢測(cè)出其內(nèi)部的EEPROM開始執(zhí)行頁寫入操作時(shí)，向仿真器發(fā)出告知信號(hào)，同時(shí)把當(dāng)前操作的EEPROM頁地址存入仿真芯片內(nèi)的寄存器中，仿真器通過通信接口訪問該寄存器；仿真器內(nèi)設(shè)有一個(gè)存放所述EEPROM各頁累計(jì)寫入次數(shù)的記錄，在仿真調(diào)試過程中，每一次EEPROM頁的寫入操作都被對(duì)應(yīng)保存到累計(jì)寫入次數(shù)的記錄中，并可以隨時(shí)察看該記錄；仿真器可以隨時(shí)監(jiān)控EEPROM各頁累計(jì)寫入次數(shù)的記錄，當(dāng)發(fā)現(xiàn)EEPROM的任意頁執(zhí)行寫入操作的次數(shù)超過門限值1時(shí)發(fā)出提示信息；仿真器還可以在執(zhí)行某一段程序前后監(jiān)控片內(nèi)EEPROM所有頁的累計(jì)寫入次數(shù)的變化，當(dāng)發(fā)現(xiàn)執(zhí)行該段程序前后，仿真芯片內(nèi)EEPROM任一頁或指定頁執(zhí)行寫入操作的次數(shù)超過門限值2時(shí)，發(fā)出提示信息。
采用本發(fā)明的方法，在仿真調(diào)試過程中，每一次仿真芯片內(nèi)EEPROM頁的寫入操作信息都會(huì)被保存到仿真器設(shè)置的記錄中。調(diào)試工程師可以隨時(shí)察看這一記錄，了解EEPROM各頁的累計(jì)寫入次數(shù)。當(dāng)仿真器發(fā)現(xiàn)EEPROM某一頁的累計(jì)寫入次數(shù)達(dá)到預(yù)先設(shè)定的門限值1時(shí)，可以向調(diào)試工程師發(fā)出提示或警告信息，由調(diào)試工程師判斷是否需要更換仿真芯片。在調(diào)試目標(biāo)程序的過程中，執(zhí)行某一段程序前后，仿真器如果發(fā)現(xiàn)仿真芯片內(nèi)EEPROM某一頁或指定頁執(zhí)行寫入操作的次數(shù)超過預(yù)先設(shè)定的門限值2時(shí)，可以發(fā)出提示信息，幫助調(diào)試工程師發(fā)現(xiàn)目標(biāo)程序中錯(cuò)誤的EEPROM循環(huán)寫入操作。防止程序執(zhí)行錯(cuò)誤或不正常情況發(fā)生。


下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的說明附圖是本發(fā)明仿真器與仿真芯片之間的信號(hào)傳輸示意圖。
具體實(shí)施例方式
如圖所示，本發(fā)明監(jiān)控仿真芯片內(nèi)部EEPROM的方法，仿真芯片通過一個(gè)告知信號(hào)線與仿真器連接，并提供配套的寄存器。在使用仿真器進(jìn)行仿真、調(diào)試過程中，當(dāng)仿真芯片發(fā)現(xiàn)其內(nèi)部的EEPROM開始執(zhí)行頁寫入操作時(shí)，在告知信號(hào)線上向仿真器發(fā)出告知信號(hào)，同時(shí)把當(dāng)前操作的EEPROM頁地址存入仿真芯片內(nèi)一個(gè)寄存器中。供仿真器查詢執(zhí)行此次寫入操作的是EEPROM的哪一頁。在本實(shí)施例中，采用兩個(gè)8位的頁地址寄存器，最多可對(duì)應(yīng)寄存64K EEPROM的頁。仿真芯片和仿真器之間存在一個(gè)通信接口，通過它仿真器可以訪問仿真芯片內(nèi)的寄存器。
仿真器內(nèi)設(shè)有一個(gè)存放所述EEPROM各頁累計(jì)寫入次數(shù)的記錄，該記錄可以存放在仿真器的硬件存儲(chǔ)器中，也可以以文件形式存放在仿真器的上位機(jī)，例如PC機(jī)中。在更換新的仿真芯片后，所述仿真器內(nèi)的記錄必須被清空。仿真器在接收到來自仿真芯片的告知信號(hào)后，立即通過通信接口查詢仿真芯片內(nèi)的EEPROM頁地址寄存器，獲得正在寫入頁的地址。然后，把此次寫入操作和對(duì)應(yīng)的頁地址信息添加到累計(jì)的EEPROM各頁寫入次數(shù)的記錄中去。
在仿真調(diào)試過程中，每一次仿真芯片內(nèi)EEPROM頁寫入操作都會(huì)執(zhí)行上述操作過程，相應(yīng)的操作信息會(huì)被保存到仿真器的記錄中去。調(diào)試工程師可以隨時(shí)察看該記錄信息，了解仿真芯片內(nèi)EEPROM各頁的累計(jì)寫入次數(shù)情況。
仿真器隨時(shí)監(jiān)控其內(nèi)部所述記錄的信息，當(dāng)發(fā)現(xiàn)仿真芯片內(nèi)EEPROM的任意頁的累計(jì)寫入次數(shù)達(dá)到門限值1時(shí)，可以發(fā)出提示或警告信息，由調(diào)試工程師判斷是否需要更換仿真芯片。所述門限值1可以根據(jù)所采用的仿真芯片的EEPROM寫入次數(shù)的額定值進(jìn)行設(shè)置。例如，仿真芯片內(nèi)EEPROM寫入次數(shù)的額定值是10萬次，就可以設(shè)置EEPROM的任意頁超過累計(jì)8萬次寫操作時(shí)，發(fā)出提示信息。
調(diào)試目標(biāo)程序的過程中，還可以要求仿真器在執(zhí)行某一段程序前后，監(jiān)控其內(nèi)部的記錄。如果仿真器發(fā)現(xiàn)執(zhí)行該段程序前后，仿真芯片內(nèi)EEPROM任一頁或者指定頁執(zhí)行寫入操作的次數(shù)超過門限值2時(shí)，發(fā)出提示信息，及時(shí)發(fā)現(xiàn)目標(biāo)程序中錯(cuò)誤的EEPROM寫入操作。所述門限值2根據(jù)待調(diào)試的程序段預(yù)期的將執(zhí)行EEPROM寫入操作的次數(shù)設(shè)置。監(jiān)控的頁地址可以是EEPROM所有的頁，也可以是任意指定的一個(gè)或若干個(gè)頁。
所述指定頁可以是一頁也可以是若干頁，頁地址可根據(jù)待調(diào)試的程序段預(yù)期的將執(zhí)行EEPROM寫入操作的頁的地址設(shè)置。
在本發(fā)明的方法中，仿真芯片內(nèi)的EEPROM可以使用其它非易失性存儲(chǔ)器代替，例如Flash。
權(quán)利要求
1.一種監(jiān)控仿真芯片內(nèi)部EEPROM的方法，其特征在于仿真芯片通過一個(gè)告知信號(hào)線與仿真器連接，當(dāng)仿真芯片檢測(cè)出其內(nèi)部的EEPROM開始執(zhí)行頁寫入操作時(shí)，向仿真器發(fā)出告知信號(hào)，同時(shí)把當(dāng)前操作的EEPROM頁地址存入仿真芯片內(nèi)的寄存器中，仿真器通過通信接口訪問該寄存器；仿真器內(nèi)設(shè)有一個(gè)存放所述EEPROM各頁累計(jì)寫入次數(shù)的記錄，在仿真調(diào)試過程中，每一次EEPROM頁的寫入操作都被對(duì)應(yīng)保存到累計(jì)寫入次數(shù)的記錄中，并可以隨時(shí)察看該記錄；仿真器可以隨時(shí)監(jiān)控EEPROM各頁累計(jì)寫入次數(shù)的記錄，當(dāng)發(fā)現(xiàn)EEPROM的任意頁執(zhí)行寫入操作的次數(shù)超過門限值1時(shí)發(fā)出提示信息；仿真器還可以在執(zhí)行某一段程序前后監(jiān)控片內(nèi)EEPROM所有頁的累計(jì)寫入次數(shù)的變化，當(dāng)發(fā)現(xiàn)執(zhí)行該段程序前后，仿真芯片內(nèi)EEPROM任一頁或指定頁執(zhí)行寫入操作的次數(shù)超過門限值2時(shí)，發(fā)出提示信息。
2.如權(quán)利要求1所述的監(jiān)控仿真芯片內(nèi)部EEPROM的方法，其特征在于所述記錄可以存放在仿真器的硬件存儲(chǔ)器中或者以文件形式存放在仿真器的上位機(jī)中。
3.如權(quán)利要求1所述的監(jiān)控仿真芯片內(nèi)部EEPROM的方法，其特征在于所述門限值1根據(jù)所述EEPROM寫入次數(shù)的額定值設(shè)置。
4.如權(quán)利要求1所述的監(jiān)控仿真芯片內(nèi)部EEPROM的方法，其特征在于所述門限值2根據(jù)待調(diào)試的程序段預(yù)期的將執(zhí)行EEPROM寫入操作的次數(shù)設(shè)置。
5.如權(quán)利要求1所述的監(jiān)控仿真芯片內(nèi)部EEPROM的方法，其特征在于所述指定頁可以是一頁也可以是若干頁，頁地址可根據(jù)待調(diào)試的程序段預(yù)期的將執(zhí)行EEPROM寫入操作的頁的地址設(shè)置。
6.如權(quán)利要求1所述的監(jiān)控仿真芯片內(nèi)部EEPROM的方法，其特征在于所述EEPROM可用Flash或者其它非易失性存儲(chǔ)器替代。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種監(jiān)控仿真芯片內(nèi)部EEPROM的方法，當(dāng)仿真芯片檢測(cè)到其內(nèi)部的EEPROM執(zhí)行頁寫入操作時(shí)，向仿真器發(fā)出告知信號(hào)，并將當(dāng)前操作的EEPROM頁地址存入寄存器中；仿真器收到該告知信號(hào)后，立即查詢仿真芯片內(nèi)的寄存器，得出當(dāng)前寫入頁的地址，并把此次寫入操作和對(duì)應(yīng)的頁地址添加到累計(jì)EEPROM各頁寫入次數(shù)的記錄中；通過監(jiān)控該記錄，仿真器實(shí)現(xiàn)對(duì)EEPROM的監(jiān)控。應(yīng)用本發(fā)明，仿真器能隨時(shí)提供EEPROM各頁的累計(jì)寫入次數(shù)信息，監(jiān)控目標(biāo)程序?qū)EPROM的寫操作，發(fā)現(xiàn)目標(biāo)程序中錯(cuò)誤的EEPROM寫入操作，并在接近EEPROM壽命極限時(shí)提醒更換仿真芯片。本發(fā)明可用于使用仿真器進(jìn)行仿真、測(cè)試目標(biāo)程序的過程中。
文檔編號(hào)G06F11/30GK1673969SQ20041001712
公開日2005年9月28日 申請(qǐng)日期2004年3月23日 優(yōu)先權(quán)日2004年3月23日
發(fā)明者許國(guó)泰 申請(qǐng)人:上海華虹集成電路有限責(zé)任公司