專利名稱：具有用于檢測(cè)存儲(chǔ)裝置所存儲(chǔ)信息產(chǎn)生變化的檢測(cè)裝置的數(shù)據(jù)載體的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種包括電路的數(shù)據(jù)載體，該電路包括以下各組件，即設(shè)計(jì)用于可修改的存儲(chǔ)信息、由電路環(huán)境參數(shù)修改的信息的第一存儲(chǔ)裝置，其中環(huán)境參數(shù)作用于該第一存儲(chǔ)裝置。
本發(fā)明還涉及一種包括以下組件的電路，即被設(shè)計(jì)用于可修改的存儲(chǔ)信息、由電路環(huán)境參數(shù)修改的信息的第一存儲(chǔ)裝置，其中環(huán)境參數(shù)作用于該第一存儲(chǔ)裝置。
在文獻(xiàn)DE4205567A1中公開(kāi)了用于上述第一段描述的類型的這種數(shù)據(jù)載體和用于上述第二段中描述的類型的這種電路。
所已知被設(shè)計(jì)用于與讀/寫(xiě)站非接觸性通信并包括已知電路的數(shù)據(jù)載體，包括被設(shè)計(jì)用于可修改的存儲(chǔ)信息的第一存儲(chǔ)裝置。數(shù)據(jù)載體還包括一個(gè)存取控制裝置和位于第一存儲(chǔ)裝置和存取控制裝置之間的總線連接，其中在正常操作中，可通過(guò)期望的電子存取經(jīng)由總線連接而連接到第一存儲(chǔ)裝置的存取控制裝置，來(lái)修改第一存儲(chǔ)裝置中存儲(chǔ)的信息。
在已知數(shù)據(jù)載體的例子中，所出現(xiàn)的問(wèn)題是不僅能夠經(jīng)由總線連接通過(guò)期望的存取來(lái)修改第一存儲(chǔ)裝置中所存儲(chǔ)的信息，而且還能夠以另一方式，即通過(guò)作用于第一存儲(chǔ)裝置的環(huán)境參數(shù)諸如例如短波長(zhǎng)光或電場(chǎng)或高溫之類的非期望的影響來(lái)修改第一存儲(chǔ)裝置中所存儲(chǔ)的信息。通過(guò)這種方式產(chǎn)生的存儲(chǔ)信息的修改可導(dǎo)致數(shù)據(jù)載體的完全失效或危險(xiǎn)性地誤操作該數(shù)據(jù)載體或甚至有可能被用作犯罪目的來(lái)被利用。
本發(fā)明的一個(gè)目的是消除與在上面第一段中描述的類型的數(shù)據(jù)載體以及在上面第二段中描述的類型的電路有關(guān)的上述問(wèn)題，并提供一種改進(jìn)的數(shù)據(jù)載體和改進(jìn)的電路。
為了實(shí)現(xiàn)與在上面第一段中描述的類型的數(shù)據(jù)載體有關(guān)的上述目的，第一存儲(chǔ)裝置包括一個(gè)提供用于存儲(chǔ)測(cè)試信息的測(cè)試存儲(chǔ)區(qū)域，以及提供被設(shè)計(jì)用于不可修改地存儲(chǔ)參考信息的第二存儲(chǔ)裝置，并提供檢測(cè)裝置，其中可以將從第一存儲(chǔ)裝置讀取的測(cè)試信息以及從第二存儲(chǔ)裝置讀取的參考信息提供給該檢測(cè)裝置，并借助所讀取的測(cè)試信息和讀取的參考信息來(lái)設(shè)計(jì)該檢測(cè)裝置以便檢測(cè)通過(guò)作用于第一存儲(chǔ)裝置的環(huán)境參數(shù)對(duì)原始存儲(chǔ)的測(cè)試信息所產(chǎn)生的修改。
為了實(shí)現(xiàn)與以上在第二段中所述類型的電路有關(guān)的上述目的，第一存儲(chǔ)裝置包括一個(gè)提供用于存儲(chǔ)測(cè)試信息的測(cè)試存儲(chǔ)區(qū)域，以及提供被設(shè)計(jì)用于不可修改地存儲(chǔ)參考信息的第二存儲(chǔ)裝置，并提供檢測(cè)裝置，其中可以將從第一存儲(chǔ)裝置讀取的測(cè)試信息以及從第二存儲(chǔ)裝置讀取的參考信息提供給該檢測(cè)裝置，并借助所讀取的測(cè)試信息和讀取的參考信息來(lái)設(shè)計(jì)該檢測(cè)裝置以便檢測(cè)通過(guò)作用于第一存儲(chǔ)裝置的環(huán)境參數(shù)對(duì)原始存儲(chǔ)的測(cè)試信息所產(chǎn)生的修改。
從而實(shí)現(xiàn)了如下優(yōu)點(diǎn)，環(huán)境參數(shù)已經(jīng)或還未修改有關(guān)第一存儲(chǔ)裝置所存儲(chǔ)信息的明確聲明，因此與第一存儲(chǔ)裝置中存儲(chǔ)的信息分別有關(guān)的無(wú)效性或有效性可以以一種可靠和可再現(xiàn)的方式生成。另外，所獲得的優(yōu)點(diǎn)在于存儲(chǔ)信息的修改被無(wú)意識(shí)地產(chǎn)生，即由修改原始存儲(chǔ)信息的環(huán)境參數(shù)意外地產(chǎn)生，或由于純粹的技術(shù)或者甚至是犯罪原因，可以被有意識(shí)地事實(shí)上以百分之百的可靠性而檢測(cè)到，這是因?yàn)闇y(cè)試信息和所述信息一起被存儲(chǔ)在第一存儲(chǔ)裝置中，所以，共同受到作用于第一存儲(chǔ)裝置的環(huán)境參數(shù)的影響并共同經(jīng)受因此產(chǎn)生的修改。
根據(jù)本發(fā)明的一種解決方案可以例如其特征在于為了安全的原因而以加密的方式存儲(chǔ)測(cè)試信息或參考信息，并且檢測(cè)裝置包括用于解密兩個(gè)信息單元中至少一個(gè)的解密裝置。另外，根據(jù)本發(fā)明的解決方案可以其特征在于檢測(cè)裝置被被設(shè)計(jì)為比較測(cè)試信息的表示與參考信息的表示，這兩種表示可由適當(dāng)?shù)挠?jì)算方法來(lái)計(jì)算。另外，檢測(cè)裝置可被設(shè)計(jì)用于執(zhí)行所謂的重合方法。另外，檢測(cè)裝置可以作為相關(guān)器來(lái)實(shí)現(xiàn)。但是，已經(jīng)證實(shí)提供如權(quán)利要求2或權(quán)利要求7所述的特征是特別有利的。這種有利之處可以如下來(lái)獲得即通過(guò)快速比較，可生成有關(guān)第一存儲(chǔ)裝置中所存儲(chǔ)信息的可能修改以及因此可能無(wú)效的可靠聲明，這可能甚至完全在硬件層次上執(zhí)行。
在根據(jù)本發(fā)明的解決方案中，還已經(jīng)證實(shí)提供如權(quán)利要求3或權(quán)利要求8所述的特征也是有利的。通過(guò)這種方式，所獲得的優(yōu)點(diǎn)是在測(cè)試狀態(tài)時(shí)間周期正如例如在生產(chǎn)電路期間或之后，可以阻止檢測(cè)裝置的運(yùn)行。另外，獲得的有利之處在于可以在明確的時(shí)間開(kāi)啟檢測(cè)裝置的運(yùn)行，以及一旦開(kāi)啟，檢測(cè)裝置的這種運(yùn)行就不能夠被取消，由此，從該時(shí)間起，可以可靠地檢測(cè)由環(huán)境參數(shù)所產(chǎn)生的不論是因?yàn)楹畏N原因?qū)Φ谝淮鎯?chǔ)裝置中所存儲(chǔ)信息的任何修改。
在根據(jù)本發(fā)明的解決方案中，還已經(jīng)證實(shí)提供如權(quán)利要求4或權(quán)利要求9所述的特征是有利的。通過(guò)這種方式，所獲得的優(yōu)點(diǎn)是檢測(cè)到由作用于第一存儲(chǔ)裝置的環(huán)境參數(shù)所引起的對(duì)測(cè)試信息的修改之后，可能影響操作行為以至可靠地阻止任何使用數(shù)據(jù)載體電路的犯罪動(dòng)機(jī)。
在根據(jù)本發(fā)明的解決方案中，還已經(jīng)證實(shí)提供如權(quán)利要求5或權(quán)利要求10所述的特征也是有利的。通過(guò)這種方式，所獲得的優(yōu)點(diǎn)是測(cè)試信息由只具有邏輯值的比特組成的比特序列表示，該邏輯值在生產(chǎn)第一存儲(chǔ)裝置期間不會(huì)發(fā)生，或者在通過(guò)環(huán)境參數(shù)作用于第一存儲(chǔ)裝置所產(chǎn)生的對(duì)第一存儲(chǔ)裝置所存儲(chǔ)的信息的修改之后也不出現(xiàn)，其中可能提及，為了完整起見(jiàn)，在兩個(gè)例子中第一存儲(chǔ)裝置中的每個(gè)比特都表示為邏輯一或邏輯零。
在根據(jù)本發(fā)明的解決方案中，還已經(jīng)證實(shí)提供如權(quán)利要求11所述的特征也是有利的。通過(guò)這種方式，所獲得的優(yōu)點(diǎn)是盡可能大規(guī)模地經(jīng)濟(jì)地生產(chǎn)這種電路。
根據(jù)以下所述實(shí)施例的實(shí)例形成了本發(fā)明的上述方面及其他方面，并參考實(shí)施例的這些實(shí)例來(lái)說(shuō)明這些方面。
參考圖中所示實(shí)施例的實(shí)例將進(jìn)一步描述本發(fā)明，但是，本發(fā)明并不局限于此。


圖1為根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的第一實(shí)例的數(shù)據(jù)載體的方框示意圖。
圖2所示為根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的第一實(shí)例，用于在根據(jù)本發(fā)明的數(shù)據(jù)載體的第一存儲(chǔ)裝置中存儲(chǔ)信息的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。
圖3所示為根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的第二實(shí)例，用于在根據(jù)本發(fā)明的數(shù)據(jù)載體的第一存儲(chǔ)裝置中存儲(chǔ)信息的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。
圖1所示為被設(shè)計(jì)為用于與圖1未示例出的通信站進(jìn)行非接觸式通信的數(shù)據(jù)載體1。為此，將數(shù)據(jù)載體1設(shè)計(jì)用于以非接觸的方式從通信站接收信號(hào)S，其中該信號(hào)由高頻載波形成，以及可能通過(guò)信號(hào)S來(lái)為數(shù)據(jù)載體1供電。另外，可通過(guò)信號(hào)S將詢問(wèn)信息從通信站傳送到數(shù)據(jù)載體1，其中該信號(hào)表現(xiàn)出載波的幅度調(diào)制。另外，可通過(guò)信息S的方式將響應(yīng)信息從數(shù)據(jù)載體1傳送到通信站，其中信號(hào)S表現(xiàn)出可能由數(shù)據(jù)載體1所引起的載波的負(fù)載調(diào)制。應(yīng)該提及，還可以提供載波的相位和頻率調(diào)制以用于通信。
數(shù)據(jù)載體1包括電子集成電路2。該電路2包括設(shè)計(jì)用于接收信號(hào)S的收發(fā)信機(jī)裝置3的組件。為此，收發(fā)信機(jī)裝置3表現(xiàn)出與電路2相耦合的傳輸線圈結(jié)構(gòu)，在圖1中未示出，從而可以將在傳輸線圈結(jié)構(gòu)出現(xiàn)的信號(hào)S提供給電路2。另外使用信號(hào)S來(lái)設(shè)計(jì)收發(fā)信機(jī)裝置3，以便為電路2產(chǎn)生相對(duì)于參考電勢(shì)GND的電源電壓V。另外設(shè)計(jì)收發(fā)信機(jī)裝置3以便解調(diào)在本例中所調(diào)制的接收信號(hào)S并輸出通過(guò)調(diào)制的接收信號(hào)S而傳送的詢問(wèn)數(shù)據(jù)RD。另外設(shè)計(jì)收發(fā)信機(jī)裝置3用來(lái)接收響應(yīng)數(shù)據(jù)AD，并且為了發(fā)送該響應(yīng)數(shù)據(jù)AD，用于負(fù)載調(diào)制在本例中未經(jīng)調(diào)制的接收信號(hào)S。
電路2還包括采用硬連線邏輯電路形式的數(shù)據(jù)處理裝置4。該數(shù)據(jù)處理裝置4還可以采用微計(jì)算機(jī)的形式。數(shù)據(jù)處理裝置4被設(shè)計(jì)用于接收詢問(wèn)數(shù)據(jù)RD并處理該詢問(wèn)數(shù)據(jù)RD，以及作為詢問(wèn)數(shù)據(jù)RD的函數(shù)，產(chǎn)生響應(yīng)數(shù)據(jù)AD并輸出該響應(yīng)數(shù)據(jù)AD給收發(fā)信機(jī)裝置3。
電路2包括設(shè)計(jì)用于可修改地存儲(chǔ)信息I的第一存儲(chǔ)裝置5，該信息I可通過(guò)電路2的環(huán)境參數(shù)來(lái)進(jìn)行修改，其中環(huán)境參數(shù)作用于該第一存儲(chǔ)裝置5。在當(dāng)前的例子中，第一存儲(chǔ)裝置5采用EEPROM的形式。但是應(yīng)該提及，在這點(diǎn)上第一存儲(chǔ)裝置5還可以采用其他非易失性讀/寫(xiě)存儲(chǔ)器的形式，例如EPROM、閃存或磁的RAM。根據(jù)本發(fā)明，只要第一存儲(chǔ)裝置5受環(huán)境參數(shù)，諸如例如，短波長(zhǎng)光、相對(duì)較強(qiáng)電磁場(chǎng)的高溫的影響，就會(huì)由該環(huán)境參數(shù)引起對(duì)存儲(chǔ)信息I的修改。這種修改通常刪除信息I或至少使它不可用。第一存儲(chǔ)裝置5包括第一用戶存儲(chǔ)區(qū)域6和測(cè)試存儲(chǔ)區(qū)域7。測(cè)試存儲(chǔ)區(qū)域7被提供用于存儲(chǔ)測(cè)試信息TI。用戶存儲(chǔ)區(qū)域6被提供用于存儲(chǔ)用戶信息UI。可以存儲(chǔ)在第一存儲(chǔ)裝置5中的信息I因此由用戶信息UI和測(cè)試信息TI構(gòu)成。通過(guò)大量的比特表示信息I，其中這些比特被組織為所謂的面向扇區(qū)的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。
圖2所示為用于在第一存儲(chǔ)裝置5中存儲(chǔ)信息I的這種面向扇區(qū)的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。第一用戶存儲(chǔ)區(qū)域6包括大量的數(shù)據(jù)扇區(qū)，如該圖中作為代表示出的第一數(shù)據(jù)扇區(qū)8和第二數(shù)據(jù)扇區(qū)9以及第三數(shù)據(jù)扇區(qū)10。大量數(shù)據(jù)扇區(qū)中的每一個(gè)都包括一個(gè)扇區(qū)存取控制字節(jié)11和四個(gè)扇區(qū)數(shù)據(jù)字節(jié)12、13、14和15，第一數(shù)據(jù)扇區(qū)8示例了這種情形，并作為大量數(shù)據(jù)扇區(qū)的代表。扇區(qū)存取控制字節(jié)11被提供用于存儲(chǔ)控制數(shù)據(jù)，通過(guò)它啟動(dòng)(enable)或阻止存取四個(gè)扇區(qū)數(shù)據(jù)字節(jié)12、13、14和15。扇區(qū)數(shù)據(jù)字節(jié)12、13、14和15被提供用于存儲(chǔ)用于表示用戶信息UI的用戶數(shù)據(jù)。測(cè)試存儲(chǔ)區(qū)域7由位于第一存儲(chǔ)裝置5的最高存儲(chǔ)地址中的測(cè)試信息字節(jié)形成。應(yīng)該提及，在這種背景下還可以提供其他的位于第一存儲(chǔ)裝置5內(nèi)的存儲(chǔ)地址。另外還應(yīng)該提及，存儲(chǔ)的信息I不必專門以字節(jié)的形式存儲(chǔ)，而是還可以存儲(chǔ)為每個(gè)都包括有4個(gè)比特的邏輯半字節(jié)，或每個(gè)由16比特組成或通過(guò)任何其他比特組成的邏輯字。
圖1中所示例的電路2還包括兩個(gè)采用ROM形式的存儲(chǔ)裝置16。第二存儲(chǔ)裝置16包括第二用戶存儲(chǔ)區(qū)域17和參考存儲(chǔ)區(qū)域18。第二用戶存儲(chǔ)區(qū)域17被提供用于不可修改地存儲(chǔ)常量，這些常量是通過(guò)數(shù)據(jù)處理裝置4處理數(shù)據(jù)或產(chǎn)生響應(yīng)數(shù)據(jù)AD所需要的，但是以下將不對(duì)其進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。設(shè)計(jì)參考存儲(chǔ)區(qū)域18用于不可修改地存儲(chǔ)參考信息RI。同第一存儲(chǔ)裝置5一樣，通過(guò)大量的比特來(lái)表示常量和參考信息RI，這些比特組織是類似于第一存儲(chǔ)裝置5中數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)的一種數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。但是應(yīng)該提及，第二存儲(chǔ)裝置16內(nèi)出現(xiàn)的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)理論上可獨(dú)立于，即不同于第一存儲(chǔ)裝置5中出現(xiàn)的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。
電路2還包括檢測(cè)裝置19，其中可以將可能從第一存儲(chǔ)裝置5所讀取的測(cè)試信息TI和可能從第二存儲(chǔ)裝置16所讀取的參考信息RI提供給該檢測(cè)裝置，并且借助所讀取的測(cè)試信息TI和所讀取的參考信息RI來(lái)設(shè)計(jì)該檢測(cè)裝置，以檢測(cè)通過(guò)作用于第一存儲(chǔ)裝置的環(huán)境參數(shù)引起的對(duì)原始存儲(chǔ)的測(cè)試信息TI的修改。為此，檢測(cè)裝置19包括第一比較裝置20，它被設(shè)計(jì)用于存取第一存儲(chǔ)裝置5(具體而言是存取測(cè)試存儲(chǔ)區(qū)域7)以讀取測(cè)試信息TI。另外還將第一比較裝置2 0設(shè)計(jì)用于存取第二存儲(chǔ)裝置16(具體而言是存取參考存儲(chǔ)區(qū)域18)以讀取參考信息RI。第一比較裝置20另外被設(shè)計(jì)用于比較存儲(chǔ)的測(cè)試信息TI與存儲(chǔ)的參考信息RI。另外還設(shè)計(jì)檢測(cè)裝置19以產(chǎn)生并輸出指示符信號(hào)DS，其中該指示符信號(hào)D被提供用來(lái)指示已經(jīng)發(fā)生通過(guò)作用于第一存儲(chǔ)裝置的環(huán)境參數(shù)引起的對(duì)原始存儲(chǔ)的測(cè)試信息TI的修改，由作為測(cè)試信息TI與參考信息RI的比較結(jié)果而獲得的第一比較裝置20的比較結(jié)果形成該指示符信號(hào)DS。
應(yīng)該提及，指示符信號(hào)DS還可以采用表示比較結(jié)果的形式。另外還應(yīng)該提及，指示符信號(hào)DS還提供了對(duì)原始存儲(chǔ)的測(cè)試信息TI修改的永久指示。例如當(dāng)指示符信號(hào)DS表示PROM形式的存儲(chǔ)單元的內(nèi)容時(shí)或當(dāng)指示符信號(hào)DS表示一次性(single-use)熔絲的導(dǎo)電狀態(tài)時(shí)，就是這種情形。在本例中可以在所述數(shù)據(jù)處理之前，當(dāng)每次產(chǎn)生足夠用于數(shù)據(jù)處理的電源電壓V時(shí)，檢測(cè)對(duì)原始存儲(chǔ)的測(cè)試信息TI的修改。但是應(yīng)該提及，還可以在數(shù)據(jù)處理期間周期性或非周期性地執(zhí)行所述檢測(cè)。
數(shù)據(jù)處理裝置4經(jīng)由所謂的總線連接B連接到第一存儲(chǔ)裝置5和第二存儲(chǔ)裝置16，其中借助于總線連接B，可以將用戶信息UI寫(xiě)入到第一存儲(chǔ)裝置5的第一用戶存儲(chǔ)區(qū)域6或從所述第一用戶存儲(chǔ)區(qū)域6讀取用戶信息以及可以從第二用戶存儲(chǔ)區(qū)域17讀取表示存儲(chǔ)常量的信息I。當(dāng)接收到指示符信號(hào)DS時(shí)，數(shù)據(jù)處理裝置4被設(shè)計(jì)用于阻止存取第一存儲(chǔ)裝置5和/或第二存儲(chǔ)裝置16。另外，數(shù)據(jù)處理裝置4還被設(shè)計(jì)用于產(chǎn)生并輸出響應(yīng)數(shù)據(jù)AD，該數(shù)據(jù)指示已經(jīng)發(fā)生通過(guò)作用于第一存儲(chǔ)裝置5的環(huán)境參數(shù)引起對(duì)原始存儲(chǔ)的測(cè)試信息TI的修改。一旦已經(jīng)接收到指示符信號(hào)DS，就永久性阻止數(shù)據(jù)處理裝置4繼續(xù)處理數(shù)據(jù)。因此，電路2還被設(shè)計(jì)用于作為指示符信號(hào)DS的函數(shù)影響它的操作行為。
通過(guò)通信裝置可以將響應(yīng)數(shù)據(jù)AD傳送到讀/寫(xiě)站，這里可能輸出該數(shù)據(jù)給數(shù)據(jù)載體1的用戶，可選地以可視顯示信息的形式。
電路2還包括不可逆地啟動(dòng)檢測(cè)裝置19功能的啟動(dòng)裝置(enabling means)21。為此，將啟動(dòng)裝置21設(shè)計(jì)用于產(chǎn)生并輸出可以表示啟動(dòng)狀態(tài)或禁止?fàn)顟B(tài)的狀態(tài)信號(hào)SC。檢測(cè)裝置19的第一比較裝置20被設(shè)計(jì)用于接收該狀態(tài)信號(hào)SC，其中如果表示啟動(dòng)狀態(tài)，則啟動(dòng)檢測(cè)裝置19的功能，如果表示禁止?fàn)顟B(tài)，則不啟動(dòng)檢測(cè)裝置19的功能。因此，設(shè)計(jì)檢測(cè)裝置19被涉及為與啟動(dòng)裝置21協(xié)作。
為了產(chǎn)生狀態(tài)信號(hào)SC，啟動(dòng)裝置21包括一個(gè)被設(shè)計(jì)用于輸出測(cè)試信號(hào)SS給第一鋸弓(saw bow)部件23的測(cè)試信號(hào)發(fā)生器22，該第一鋸弓部件23構(gòu)成了電路2的一個(gè)組件。啟動(dòng)裝置21還包括被設(shè)計(jì)用于接收可輸出到第一鋸弓部件23的測(cè)試信號(hào)SS的第二比較裝置24。第二比較裝置24另外還連接到第二鋸弓部件25，并且被設(shè)計(jì)用于接收可通過(guò)電路2的第二鋸弓部件25提供的比較信號(hào)SS’。第二比較裝置24還被另外設(shè)計(jì)用于比較測(cè)試信號(hào)SS與比較信號(hào)SS’，如果測(cè)試信號(hào)SS與比較信號(hào)SS’一致，則輸出表示禁止?fàn)顟B(tài)的狀態(tài)信號(hào)SC。如果測(cè)試信號(hào)SS與比較信號(hào)SS’不一致，則設(shè)計(jì)第二比較裝置24輸出表示啟動(dòng)狀態(tài)的狀態(tài)信號(hào)SC。
第一鋸弓部件23和第二鋸弓部件25是“鋸弓”的組件，在布于晶片(wafer)內(nèi)的集成電路2的例子中，鋸弓形成了晶片鋸區(qū)內(nèi)的第一鋸弓部件23和第二鋸弓部件25之間的電導(dǎo)連接，以便可以根據(jù)電路2建立鋸弓，電路2安排在晶片內(nèi)并且可以執(zhí)行測(cè)試，并設(shè)計(jì)在將電路2從晶片分離開(kāi)來(lái)之后，具體而言是在電路2從晶片上鋸下來(lái)之后不可以執(zhí)行這些測(cè)試。如果從晶片上分離出該電路2，將鋸弓切成方塊，以便當(dāng)電路2已從晶片上分離時(shí)，只有第一鋸弓部件23和第二鋸弓部件25作為原始鋸弓的組件仍然位于電路2內(nèi)。因此，當(dāng)鋸弓完整無(wú)缺時(shí)，由測(cè)試信號(hào)SS形成比較信號(hào)SS’，而當(dāng)鋸弓已經(jīng)被切斷或損壞時(shí)，只留下第一鋸弓部件23和第二鋸弓部件25位于電路2內(nèi)，兩個(gè)信號(hào)SS和SS’彼此不相同。在專利文獻(xiàn)WO 02/09153 A2中公開(kāi)了這種鋸弓，其公開(kāi)的內(nèi)容在此被包含。
在如圖3所示例的第一存儲(chǔ)裝置5的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)中，測(cè)試存儲(chǔ)區(qū)域7分布于每個(gè)數(shù)據(jù)扇區(qū)上，以便每個(gè)數(shù)據(jù)扇區(qū)都具有分配給它的通過(guò)測(cè)試信息比特對(duì)BP、BPA和BPB所分別表示的“自己的”測(cè)試信息TI，首先的三個(gè)數(shù)據(jù)扇區(qū)8、9和10被示例為大量數(shù)據(jù)扇區(qū)的代表。在每個(gè)扇區(qū)存取控制字節(jié)11、11A和11B中，為分別分配給相應(yīng)數(shù)據(jù)扇區(qū)8、9和10的測(cè)試信息TI、TIA和TIB保留兩個(gè)比特。通過(guò)這種方式，可獲得的優(yōu)點(diǎn)在于，即使環(huán)境參數(shù)以分離的方式作用于第一存儲(chǔ)裝置5的一個(gè)區(qū)，實(shí)際上也可以百分之百可靠地檢測(cè)出通過(guò)作用于第一存儲(chǔ)裝置5的環(huán)境參數(shù)引起的分別對(duì)原始存儲(chǔ)的測(cè)試信息TI、TIA或ITB的修改。但是應(yīng)該提及，在這點(diǎn)上，可以在每個(gè)數(shù)據(jù)扇區(qū)8、9和10內(nèi)提供多于兩個(gè)的比特以分別表示相應(yīng)的測(cè)試信息TI、TIA和TIB，并且各個(gè)比特不必彼此相鄰地排列。
在上述實(shí)施例的兩個(gè)實(shí)例中，參考了基于數(shù)據(jù)扇區(qū)的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。但是應(yīng)該提及，還可以為第一存儲(chǔ)裝置5使用任何其他的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。
以下參考根據(jù)圖1的數(shù)據(jù)載體2的應(yīng)用實(shí)例來(lái)說(shuō)明數(shù)據(jù)載體1的操作模式。根據(jù)該應(yīng)用實(shí)例，應(yīng)當(dāng)假設(shè)，在數(shù)據(jù)載體1的電路2位于半導(dǎo)體制造商晶片內(nèi)以及鋸弓完整無(wú)缺的時(shí)間點(diǎn)上，鋸弓的第一鋸弓部件23和第二鋸弓部件25電導(dǎo)連接在一起構(gòu)成了電路2的組件，由比特序列“01010110”表示的測(cè)試信息存儲(chǔ)在第一存儲(chǔ)裝置5的測(cè)試存儲(chǔ)區(qū)域7中。還應(yīng)當(dāng)假設(shè)只使用大量數(shù)據(jù)扇區(qū)中的第一扇區(qū)8并且控制數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在扇區(qū)存取控制字節(jié)11中，該控制字節(jié)使得能夠加密存取四個(gè)扇區(qū)數(shù)據(jù)字節(jié)12、13、14和15。四個(gè)扇區(qū)數(shù)據(jù)字節(jié)12、13、14和15被提供用于存儲(chǔ)表示用戶信息UI的用戶數(shù)據(jù)，其中用戶數(shù)據(jù)允許明確地識(shí)別數(shù)據(jù)載體1的用戶。用戶數(shù)據(jù)可以由為用戶提供數(shù)據(jù)載體1的服務(wù)提供商使用加密存取四個(gè)扇區(qū)數(shù)據(jù)字節(jié)12、13、14和15的代碼從而存儲(chǔ)在用戶數(shù)據(jù)存儲(chǔ)區(qū)域6中。還應(yīng)當(dāng)假設(shè)與測(cè)試存儲(chǔ)區(qū)域7中存儲(chǔ)的比特序列相同的比特序列存儲(chǔ)在參考存儲(chǔ)區(qū)域18中。然后，將從晶片上鋸切電路2而將其從晶片切斷，其中鋸弓被破壞以及兩個(gè)鋸弓部件23和25在電路2內(nèi)互相保持電氣隔離。從該時(shí)間點(diǎn)開(kāi)始，再也不能修改該第一測(cè)試信息TI。
在用戶信息UI傳送到服務(wù)提供商之后，通過(guò)半導(dǎo)體制造商使用提交給服務(wù)提供商的代碼將識(shí)別用戶所需的該用戶信息UI存儲(chǔ)在數(shù)據(jù)載體1中，因此可以使用數(shù)據(jù)載體1來(lái)啟動(dòng)存取限制存取的工業(yè)公司的區(qū)域。
在使用中，循環(huán)的數(shù)據(jù)載體1受極大范圍環(huán)境的影響，環(huán)境影響由數(shù)據(jù)載體1或電路2的環(huán)境參數(shù)來(lái)表征。在當(dāng)前例子中，應(yīng)當(dāng)假設(shè)將數(shù)據(jù)載體1無(wú)意中帶入高頻焊接設(shè)備的附近，其中通過(guò)高頻焊接設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)大的高頻場(chǎng)刪除了第一存儲(chǔ)裝置5的內(nèi)容。存儲(chǔ)內(nèi)容返回到“原始狀態(tài)”，正如在生產(chǎn)第一存儲(chǔ)裝置5之后原始存在的內(nèi)容一樣并且其中第一存儲(chǔ)裝置5只包括表示邏輯一的比特。
沒(méi)有或確實(shí)不能注意到第一存儲(chǔ)裝置5內(nèi)容的這種刪除的用戶，將數(shù)據(jù)載體1帶入讀/寫(xiě)站的通信區(qū)域以獲得存取該受限制的存取區(qū)。收發(fā)信機(jī)裝置3接收讀/寫(xiě)站輸出的信號(hào)S，信號(hào)S由高頻載波形成，并且它被提供用于與數(shù)據(jù)載體1通信并用于為數(shù)據(jù)載體1供電。首先，收發(fā)信機(jī)裝置3產(chǎn)生電路2的電源電壓V。
只要電源電壓已經(jīng)超出門限值，那么測(cè)試信號(hào)發(fā)生器22就會(huì)產(chǎn)生測(cè)試信號(hào)SS并把它輸出到第一鋸弓部件23和第二比較裝置24。同時(shí)，第二比較裝置24接收與測(cè)試信號(hào)SS不匹配的比較信號(hào)SS’，不匹配是因?yàn)殇徆辉陔娐?內(nèi)部分存在。第二比較裝置24然后產(chǎn)生表示啟動(dòng)狀態(tài)的狀態(tài)信號(hào)SC并將該狀態(tài)信號(hào)SC輸出到第一比較裝置20。
在第一比較裝置20，表示啟動(dòng)狀態(tài)的狀態(tài)信號(hào)SC導(dǎo)致第一比較裝置20存取第一存儲(chǔ)裝置5并讀取通過(guò)環(huán)境參數(shù)修改的測(cè)試信息TI，該測(cè)試信息TI在這點(diǎn)上表示為比特序列“11111111”。比較裝置20還存取第二存儲(chǔ)裝置16并讀取不能由環(huán)境參數(shù)修改的原始存儲(chǔ)的比特序列“01010110”形式的參考信息RI。然后通過(guò)第一比較裝置20比較測(cè)試信息TI與參考信息RI，其中比較發(fā)現(xiàn)已經(jīng)通過(guò)作用于第一存儲(chǔ)裝置的環(huán)境參數(shù)引起對(duì)原始存儲(chǔ)的測(cè)試信息TI的修改，這是因?yàn)闇y(cè)試信息TI不匹配參考信息RI。這種修改的測(cè)試信息TI的檢測(cè)通過(guò)指示符信號(hào)DS被指示給數(shù)據(jù)處理裝置4，借此在產(chǎn)生并輸出響應(yīng)數(shù)據(jù)AD之后停止數(shù)據(jù)處理裝置4中任何進(jìn)一步的處理，響應(yīng)數(shù)據(jù)AD表示指示符信號(hào)DS的意義。通過(guò)收發(fā)信機(jī)裝置3將響應(yīng)數(shù)據(jù)AD傳送到讀/寫(xiě)站并在那里被解釋為數(shù)據(jù)載體1已經(jīng)變?yōu)闊o(wú)效的效果，這是因?yàn)橐呀?jīng)修改了原始存儲(chǔ)的測(cè)試信息TI并且因此可能假設(shè)任何使用第一存儲(chǔ)裝置5存儲(chǔ)的其他信息I也很可能已經(jīng)被修改。
根據(jù)本發(fā)明在數(shù)據(jù)載體1或電路2的情況下提供這些測(cè)量已經(jīng)證實(shí)是有利的，因?yàn)槌艘呀?jīng)刪除扇區(qū)存取控制字節(jié)11以外，實(shí)際上可借此百分之百可靠地阻止非法使用第一數(shù)據(jù)扇區(qū)8，這本身斷開(kāi)了有欺詐性動(dòng)機(jī)地使用數(shù)據(jù)載體2的道路。
在當(dāng)前的例子中，已經(jīng)描述了在根據(jù)本發(fā)明的數(shù)據(jù)載體1中使用根據(jù)本發(fā)明的電路2。但是應(yīng)該提及，根據(jù)本發(fā)明的電路2還可以例如用于蜂窩電話或個(gè)人計(jì)算機(jī)中。應(yīng)該提及，在這種背景下電路2可以包括存儲(chǔ)器芯片，該芯片包括第一存儲(chǔ)裝置5、第二存儲(chǔ)裝置16和檢測(cè)裝置19，這種存儲(chǔ)器芯片可例如用于所謂的SIM模塊中，其中SIM模塊當(dāng)前被用在蜂窩電話中來(lái)識(shí)別一個(gè)用戶。還應(yīng)該提及，在這種背景下，除了第一存儲(chǔ)裝置5和第二存儲(chǔ)裝置16以及檢測(cè)裝置19以外，根據(jù)本發(fā)明的電路2還包括微處理器或接口芯片，以便例如通過(guò)根據(jù)本發(fā)明的電路2可以提供微處理器。
還應(yīng)該提及，數(shù)據(jù)載體1的收發(fā)信機(jī)裝置3還可以采用天線結(jié)構(gòu)的形式。
還應(yīng)該提及，還可以設(shè)計(jì)收發(fā)裝置3用于電容性的(capacitive)通信或光通信中。
另外應(yīng)該提及，還可以設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)載體1用于傳統(tǒng)的接觸式通信。
另外還應(yīng)該提及，數(shù)據(jù)載體1還可以包括它自己的電源，電源可采用例如至少一個(gè)電池或一個(gè)太陽(yáng)能電池結(jié)構(gòu)的形式。
應(yīng)該提及，啟動(dòng)裝置21可以采用一次可編程的PROM存儲(chǔ)單元的一個(gè)比特的形式，其中在完成制造和測(cè)試電路2之后以及交付該電路2給消費(fèi)者之前編程該P(yáng)ROM存儲(chǔ)單元。該比特所表示的邏輯值構(gòu)成了啟動(dòng)檢測(cè)裝置19功能的啟動(dòng)裝置21的狀態(tài)。在本文中，還應(yīng)該提及，還可以代替單個(gè)比特而提供比特模式。如果第二存儲(chǔ)裝置16采用PROM的形式，那么還可以使用該P(yáng)ROM的至少一個(gè)存儲(chǔ)單元以提供啟動(dòng)裝置21。
應(yīng)當(dāng)提及，如果啟動(dòng)裝置21采用一次可編程裝置的形式，例如PROM或熔絲之類的形式，那么啟動(dòng)裝置21可以被編程以便啟動(dòng)檢測(cè)裝置19，其中不是由電路2的制造商進(jìn)行編程而是由數(shù)據(jù)載體的制造商或服務(wù)提供者進(jìn)行編程，其中數(shù)據(jù)載體制造商使用電路2來(lái)生產(chǎn)數(shù)據(jù)載體1，服務(wù)提供者將數(shù)據(jù)載體1交付給終端用戶。
另外應(yīng)該提及，啟動(dòng)裝置21采用在電路2中所提供的熔絲的形式，其中在交付電路2給消費(fèi)者之前熔斷該熔絲，以及熔絲的熔斷狀態(tài)即熔絲的非導(dǎo)電狀態(tài)構(gòu)成了啟動(dòng)裝置21啟動(dòng)檢測(cè)裝置19功能的狀態(tài)。
另外應(yīng)該提及，可以類似于數(shù)據(jù)處理裝置4而提供作為硬連線邏輯電路一部分的第二存儲(chǔ)區(qū)域16。另外應(yīng)該提及，在這種背景下第二存儲(chǔ)裝置16還可以采用微處理器的程序存儲(chǔ)器的形式，其中參考信息RI還可以采用程序代碼一部分的形式。另外應(yīng)該提及，可以單獨(dú)提供用于存儲(chǔ)參考信息RI的第二存儲(chǔ)裝置16。
另外應(yīng)該提及，可以使用數(shù)據(jù)處理裝置4從有關(guān)的存儲(chǔ)裝置5和16讀取測(cè)試信息TI和參考信息RI并將其提供給檢測(cè)裝置19。
另外應(yīng)該提及，指示符信號(hào)DS還可以輸出給兩個(gè)存儲(chǔ)裝置5和16，并且兩個(gè)存儲(chǔ)裝置5和16中的至少可以被設(shè)計(jì)為作為指示符信號(hào)DS的函數(shù)影響它的存取性。本發(fā)明的一種可能的實(shí)施例的特征在于，當(dāng)提供指示對(duì)原始存儲(chǔ)的測(cè)試信息TI修改的指示符信號(hào)DS時(shí)，不再可能存取存儲(chǔ)裝置5或16。
另外應(yīng)該提及，指示符信號(hào)DS還可以輸出給收發(fā)信機(jī)裝置3，并且收發(fā)信機(jī)裝置3可以被設(shè)計(jì)為作為指示符信號(hào)DS函數(shù)影響它們的通信能力。
另外應(yīng)該提及，在第一存儲(chǔ)裝置5中，還可以為每種情況中的一個(gè)應(yīng)用提供硬件密封的存儲(chǔ)區(qū)域，以及這些存儲(chǔ)區(qū)域中的每一個(gè)都可以包括它自己的測(cè)試信息TI。
權(quán)利要求
1.一種包括電路(2)的數(shù)據(jù)載體(1)，該電路(2)包括以下組件，即被設(shè)計(jì)用于可修改地存儲(chǔ)信息(I)的第一存儲(chǔ)裝置(5)，該信息(I)可通過(guò)電路(2)的環(huán)境參數(shù)修改，該環(huán)境參數(shù)作用于第一存儲(chǔ)裝置(5)，其特征在于，第一存儲(chǔ)裝置(5)包括提供用于存儲(chǔ)測(cè)試信息(TI；TI、TIA、TIB)的測(cè)試存儲(chǔ)區(qū)域(7)，和提供了被設(shè)計(jì)用于不可修改地存儲(chǔ)參考信息(RI)的第二存儲(chǔ)裝置(16)，和提供了檢測(cè)裝置(19)，可以將可能從第一存儲(chǔ)裝置(5)所讀取的測(cè)試信息(TI；TI、TIA、TIB)和可能從第二存儲(chǔ)裝置(16)所讀取的參考信息(RI)提供給該檢測(cè)裝置(19)，借助讀取的測(cè)試信息(TI；TI、TIA、TIB)和讀取的參考信息(RI)，檢測(cè)裝置(19)被設(shè)計(jì)用來(lái)檢測(cè)通過(guò)作用于第一存儲(chǔ)裝置(5)的環(huán)境參數(shù)引起的對(duì)原始存儲(chǔ)的測(cè)試信息(TI；TI、TIA、TIB)的修改。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)載體(1)，其特征在于，檢測(cè)裝置(19)包括用于比較存儲(chǔ)的測(cè)試信息(TI；TI、TIA、TIB)與存儲(chǔ)的參考信息(RI)的比較裝置(20)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)載體(1)，其特征在于，啟動(dòng)裝置(21)被提供以用于不可逆地啟動(dòng)檢測(cè)裝置(19)的功能，以及檢測(cè)裝置(19)被設(shè)計(jì)用于與啟動(dòng)裝置(21)協(xié)作。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)載體(1)，其特征在于設(shè)計(jì)檢測(cè)裝置(19)用于產(chǎn)生并輸出指示符信號(hào)(DS)，并該指示符信號(hào)(DS)被提供用來(lái)指示通過(guò)作用于第一存儲(chǔ)裝置(5)的環(huán)境參數(shù)引起的對(duì)原始存儲(chǔ)的測(cè)試信息(TI；TI、TIA、TIB)的修改，和該電路(2)被設(shè)計(jì)用來(lái)作為該指示符信號(hào)(DS)的函數(shù)影響它的操作行為。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)載體(1)，其特征在于，測(cè)試信息(TI；TI、TIA、TIB)由至少兩個(gè)比特形成，其中至少兩個(gè)比特關(guān)于其邏輯值方面彼此不同。
6.一種包括以下組件的電路(2)，即被設(shè)計(jì)用于可修改地存儲(chǔ)信息(I)的第一存儲(chǔ)裝置(5)，該信息(I)可通過(guò)電路(2)的環(huán)境參數(shù)修改，該環(huán)境參數(shù)作用于第一存儲(chǔ)裝置(5)，其特征在于，第一存儲(chǔ)裝置(5)包括提供用于存儲(chǔ)測(cè)試信息(TI；TI、TIA、TIB)的測(cè)試存儲(chǔ)區(qū)域(7)，和提供了被設(shè)計(jì)用于不可修改地存儲(chǔ)參考信息(RI)的第二存儲(chǔ)裝置(16)，和提供了檢測(cè)裝置(19)，可以將可能從第一存儲(chǔ)裝置(5)所讀取的測(cè)試信息(TI；TI、TIA、TIB)和可能從第二存儲(chǔ)裝置(16)所讀取的參考信息(RI)提供給該檢測(cè)裝置(19)，借助讀取的測(cè)試信息(TI；TI、TIA、TIB)和讀取的參考信息(RI)，檢測(cè)裝置(19)被設(shè)計(jì)用來(lái)檢測(cè)通過(guò)作用于第一存儲(chǔ)裝置(5)的環(huán)境參數(shù)引起的對(duì)原始存儲(chǔ)的測(cè)試信息(TI；TI、TIA、TIB)的修改。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的電路(2)，其特征在于，檢測(cè)裝置(19)包括用于比較存儲(chǔ)的測(cè)試信息(TI；TI、TIA、TIB)與存儲(chǔ)的參考信息(RI)的比較裝置(20)。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的電路(2)，其特征在于，啟動(dòng)裝置(21)被提供用于不可逆地啟動(dòng)檢測(cè)裝置(19)的功能，以及檢測(cè)裝置(19)被設(shè)計(jì)用于與啟動(dòng)裝置(21)協(xié)作。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的電路(2)，其特征在于，檢測(cè)裝置(19)被設(shè)計(jì)用于產(chǎn)生并輸出指示符信號(hào)(DS)，該指示符信號(hào)(DS)被提供用來(lái)指示通過(guò)作用于第一存儲(chǔ)裝置(5)的環(huán)境參數(shù)引起的對(duì)原始存儲(chǔ)的測(cè)試信息(TI；TI、TIA、TIB)的修改，并且該電路(2)被設(shè)計(jì)用來(lái)作為該指示符信號(hào)(DS)的函數(shù)影響它的操作行為。
10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的電路(2)，其特征在于，測(cè)試信息(TI；TI、TIA、TIB)由至少兩個(gè)比特形成，其中該至少兩個(gè)比特關(guān)于其邏輯值方面彼此不同。
11.根據(jù)權(quán)利要求6所述的電路(2)，其特征在于，所述電路(2)采用集成電路的形式。
全文摘要
在包括用于可修改的存儲(chǔ)信息(I)的第一存儲(chǔ)裝置(5)的電路(2)中，電路(2)的環(huán)境參數(shù)可修改該信息(I)，環(huán)境參數(shù)作用于該第一存儲(chǔ)裝置(5)，首先，在第一存儲(chǔ)裝置(5)中提供了用于存儲(chǔ)測(cè)試信息(TI)的測(cè)試存儲(chǔ)區(qū)域(7)，其次提供了用于不可修改地存儲(chǔ)參考信息(RI)的第二存儲(chǔ)裝置(16)，再者提供了檢測(cè)裝置(19)，可以將可能從第一存儲(chǔ)裝置所讀取的測(cè)試信息(TI)和可能從第二存儲(chǔ)裝置(16)所讀取的參考信息(RI)提供給該檢測(cè)裝置(19)，并借助讀取的測(cè)試信息(TI)和讀取的參考信息(RI)設(shè)計(jì)檢測(cè)裝置(19)以檢測(cè)通過(guò)作用于第一存儲(chǔ)裝置(5)的環(huán)境參數(shù)引起的對(duì)原始存儲(chǔ)的測(cè)試信息(TI)的修改。
文檔編號(hào)G06F12/16GK1666225SQ03815082
公開(kāi)日2005年9月7日 申請(qǐng)日期2003年5月16日 優(yōu)先權(quán)日2002年6月28日
發(fā)明者M·波施, H·哈爾 申請(qǐng)人:皇家飛利浦電子股份有限公司