專利名稱：光電識(shí)別卡片、射頻筆識(shí)讀的學(xué)習(xí)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種光電識(shí)別卡片、射頻筆識(shí)讀的學(xué)習(xí)裝置。
背景技術(shù)：
目前，用于早期教育的電子圖書設(shè)備基本上可以分為兩大類其一是以散張卡片為圖形、文字載體，在每張卡片的特定、相同區(qū)域打上能夠代表本張卡片序號(hào)編碼的透孔，早期教育設(shè)備上設(shè)置一片多個(gè)按鍵組成的薄膜開關(guān)片，和用于檢測(cè)卡片編碼的成排的彈片式機(jī)械開關(guān)；預(yù)先對(duì)每張卡片對(duì)應(yīng)于薄膜開關(guān)片上不同開關(guān)的位置上繪制相應(yīng)的圖形或文字，配以對(duì)應(yīng)的聲音，并編成表格存儲(chǔ)于存儲(chǔ)器中。操作時(shí)將卡片逐一置于薄膜開關(guān)片上，由成排的彈片式機(jī)械開關(guān)檢測(cè)卡片上的孔從而獲知卡片編碼，按動(dòng)卡片上不同位置的圖形或文字，即可透過卡片使下面的對(duì)應(yīng)位置的開關(guān)閉合，集成片CPU檢測(cè)到卡片的編碼和被按下的開關(guān)編碼后，通過查表，調(diào)用預(yù)先錄入的聲音，通過揚(yáng)聲器播出，完成“手指圖形文字，設(shè)備即可對(duì)應(yīng)發(fā)聲”的操作過程，可稱“卡片式設(shè)備”。但由于彈片式機(jī)械開關(guān)在結(jié)構(gòu)上的缺陷，使開關(guān)在環(huán)境變化、使用頻繁、機(jī)械磨擦、觸點(diǎn)氧化、環(huán)境灰塵顆粒污染等諸多因素下，不可避免會(huì)出現(xiàn)彈片變形和接觸不良等故障，造成卡片檢測(cè)錯(cuò)誤；同時(shí)，通過壓力按壓，迫使下面薄膜開關(guān)閉合的方式，存在低齡兒童按壓困難、技術(shù)含量低等缺陷。
其二是設(shè)備由用于接收電磁場(chǎng)的筆式天線、用于控制電磁場(chǎng)發(fā)射接受和計(jì)算強(qiáng)度的電子部分、用于存儲(chǔ)語(yǔ)音的存儲(chǔ)器和作為圖文載體的成冊(cè)裝訂的紙質(zhì)圖書，以及揚(yáng)聲器等外圍元器件構(gòu)成。預(yù)先對(duì)圖書的每頁(yè)的各部分圖形和文字配以對(duì)應(yīng)的聲音，編成表格并存儲(chǔ)，圖書的每一頁(yè)在不同位置印刷一個(gè)符號(hào)，并將此位置座標(biāo)預(yù)先列表存儲(chǔ)。操作時(shí)將圖書置于發(fā)射薄膜上，用筆式天線點(diǎn)擊圖書上的圖文，集成電路CPU根據(jù)筆式天線接收到的信號(hào)強(qiáng)度獲知筆尖對(duì)應(yīng)的坐標(biāo)，從而獲知當(dāng)前圖書頁(yè)碼和筆尖指向的圖文，通過查表調(diào)用對(duì)應(yīng)聲音并播放，完成“筆點(diǎn)圖文，設(shè)備發(fā)聲”的操作過程，稱“書冊(cè)式設(shè)備”。但由于需要對(duì)打開的書冊(cè)正反兩面進(jìn)行操作，需要設(shè)置面積相同的兩塊電磁發(fā)射薄膜，成本較高，同時(shí)，該設(shè)備存在的一個(gè)致命缺陷是設(shè)備不能檢測(cè)到翻頁(yè)的操作，每次翻頁(yè)后需要首先成功地點(diǎn)擊標(biāo)示本頁(yè)頁(yè)碼的符號(hào)，通知集成電路CPU“發(fā)生翻頁(yè)”，此后的語(yǔ)音才能與當(dāng)前頁(yè)的圖文對(duì)應(yīng)，操作起來受到極大限制，特別對(duì)于低齡兒童，極易忘記首先點(diǎn)擊頁(yè)碼符號(hào)。
實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)存在的不足之處，提供一種操作可靠、順暢，成本低、壽命長(zhǎng)的光電識(shí)別卡片、射頻筆識(shí)讀的學(xué)習(xí)裝置。
旨在上述目的，本實(shí)用新型的光電識(shí)別卡片、射頻筆識(shí)讀的學(xué)習(xí)裝置，包括集成電路及與集成電路電連接的識(shí)讀筆、揚(yáng)聲器、電磁發(fā)射膜、發(fā)光元件和光識(shí)別器件。由識(shí)讀筆讀取電磁發(fā)射膜的信號(hào)以確定識(shí)讀筆的坐標(biāo)。與光電識(shí)別卡片、射頻筆識(shí)讀的學(xué)習(xí)裝置配套的卡片上設(shè)有對(duì)應(yīng)該卡片編碼的透光的標(biāo)識(shí)孔，學(xué)習(xí)裝置對(duì)應(yīng)標(biāo)識(shí)孔的兩側(cè)安裝有與集成電路電連接的至少一個(gè)發(fā)光元件和至少一個(gè)光識(shí)別器件，每個(gè)光識(shí)別器件與卡片上的一個(gè)標(biāo)識(shí)孔對(duì)應(yīng)。本文所述之識(shí)讀筆，即為射頻筆。
本實(shí)用新型還存在如下技術(shù)特征所述裝置還包括卡片安放區(qū)、識(shí)讀筆、安放槽、揚(yáng)聲器發(fā)聲孔，在安放區(qū)內(nèi)層設(shè)置電磁發(fā)射膜，并在一端設(shè)置發(fā)光元件和光識(shí)別器件。所述裝置的安放區(qū)設(shè)有容納卡片的插槽，標(biāo)識(shí)孔置于插槽內(nèi)。
集成電路設(shè)置有引腳DO4，與發(fā)光元件LED相連。引腳DI3通過比較器A1與光識(shí)別器件5相連，本例8個(gè)光識(shí)別器件5與開關(guān)電路IC1的引腳X0～X7連接，進(jìn)而通過開關(guān)電路IC1與集成電路引腳DO5～DO7相連接。集成電路還設(shè)有環(huán)境檢測(cè)電路，另一光識(shí)別器件5與電阻Rb并聯(lián)后，一端與比較器A1的反極性端連接，另一端串聯(lián)電阻Ra后與IC1的X8引腳電連接，該光識(shí)別器件置于裝置主板的左上角檢測(cè)孔的下方。Ra、Rb用于設(shè)置低亮度閾值，CPU將對(duì)環(huán)境亮度檢測(cè)動(dòng)作等同于對(duì)一個(gè)卡片編碼標(biāo)識(shí)孔3來巡檢，巡檢該標(biāo)識(shí)孔3后如使DI3為低電平時(shí)為環(huán)境亮度過低，本裝置作出語(yǔ)音提示并拒絕提供學(xué)服務(wù)，達(dá)到保護(hù)使用者視力不從心之目的。集成電路引腳DO16～DOn與引腳DOn+1～DOn+m連接縱橫交叉排列的掃描線，構(gòu)成電磁發(fā)射膜。引腳DI5連接整形、濾波、放大電路A2，再通過屏蔽線連接識(shí)讀筆。引腳SPK與揚(yáng)聲器相連；引腳VCC和GND分別連接電源和接地。
所述裝置還包括彩色燈球，集成電路引腳DO8和DO13分別與三組雙色LED的L1、L2、L3電連接。
集成電路引腳DO0與功放電路IC3及話筒電路電連接。
所述裝置包括功能按鍵，功能按鍵與集成電路引腳DI1、DI2及DO1～DO4電連接。配套的錄放電路通過SPK、DO0、DO14、DO15和DI4引腳與集成電路電連接。
開關(guān)電路IC1所用集成片型號(hào)為4051。
集成電路CPU所用集成片型號(hào)為SPC1000。
本實(shí)用新型相比現(xiàn)有技術(shù)具有下面優(yōu)點(diǎn)，由于使用光電識(shí)卡片結(jié)構(gòu)代替現(xiàn)有技術(shù)中識(shí)別卡片的彈簧結(jié)構(gòu)，既解決了機(jī)械結(jié)構(gòu)本身因接觸不良、材料疲勞變形帶來的可靠性差、使用壽命短等一系列問題，又使卡片的插入、抽出操作順暢，無(wú)卡頓感，無(wú)彈簧片撕裂卡片問題。采用裝置上的電磁發(fā)射與識(shí)讀筆指向位置的坐標(biāo)，借鑒了書冊(cè)式設(shè)備之坐標(biāo)檢測(cè)原理，代替現(xiàn)有的書冊(cè)翻頁(yè)形式僅需安置一片電磁發(fā)射膜即可實(shí)現(xiàn)，保持了其技術(shù)含量，但較書冊(cè)式設(shè)備提高了可靠性，降低了成本，采用光電原理檢測(cè)頁(yè)碼，使制造、檢驗(yàn)工序的復(fù)雜性大為降低。多個(gè)功能按鍵及配套使用的三色彩色燈球、卡拉OK電路、錄放音配置，可完成復(fù)讀、跟讀和對(duì)比功能，使本設(shè)備功能齊全，增加了使用者的趣味性。設(shè)置的光線檢測(cè)器件，可用于保護(hù)使用者的視力。


圖1為本實(shí)用新型總體配置圖；
圖2為卡片及插槽結(jié)構(gòu)圖；圖3集成電路結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)圖。
具體實(shí)施方式
參見圖1本實(shí)用新型所述光電識(shí)別卡片、射頻筆識(shí)讀的學(xué)習(xí)裝置，它包括集成電路及與集成電路電連接的識(shí)讀筆1、揚(yáng)聲器9、電磁發(fā)射膜2。與該裝置配套的卡片上設(shè)有標(biāo)識(shí)孔3，由于標(biāo)識(shí)孔3的位置、是否透光，排列方式的不同，代表著不同卡片，成為不同卡片的編碼。在標(biāo)識(shí)孔3兩側(cè)安裝有與集成電路電連接的至少一個(gè)發(fā)光元件4和至少一個(gè)光識(shí)別器件5，發(fā)光元件4和對(duì)應(yīng)的一個(gè)光識(shí)別器件5組成一組光路，一組光路與一個(gè)標(biāo)識(shí)孔3對(duì)應(yīng)。標(biāo)識(shí)孔3兩側(cè)安裝與集成電路電連接的發(fā)光元件4和光識(shí)別器件5，一組光路與一個(gè)卡片編碼標(biāo)識(shí)孔3對(duì)應(yīng)。CPU通過檢測(cè)各光識(shí)別器件5是否受光獲得在機(jī)卡片的編碼。同時(shí)，由識(shí)讀筆1指向卡片某區(qū)域，使識(shí)讀筆1的接收天線端進(jìn)入電磁發(fā)射膜2的有效發(fā)射范圍內(nèi)，識(shí)讀筆1讀取電磁發(fā)射膜2的信號(hào)從而確定識(shí)讀筆1所在位置的坐標(biāo)。CPU綜合獲得者的卡片編碼和識(shí)讀筆1坐標(biāo)兩組信息，通過查表播放對(duì)應(yīng)語(yǔ)音，驅(qū)動(dòng)揚(yáng)聲器9發(fā)聲。
光電識(shí)別卡片、射頻筆識(shí)讀的學(xué)習(xí)裝置整體可采用平面結(jié)構(gòu)，如為攜帶方便也可制成可折疊的盒式。在平面上設(shè)置卡片安放區(qū)6、識(shí)讀筆1安放槽7和功能按鍵11。在安放區(qū)6內(nèi)設(shè)置電磁發(fā)射膜2，并在一端設(shè)置發(fā)光元件4和光識(shí)別器件5以及容納卡片的插槽8，參見圖2。與該裝配套的卡片一端設(shè)有卡片編碼標(biāo)識(shí)孔3，使用時(shí)將卡片帶編碼標(biāo)識(shí)孔3的一端插入插槽8內(nèi)，整張卡片安放在安放區(qū)6內(nèi)，落在電磁發(fā)射膜2正上方?？ㄆ總€(gè)編碼標(biāo)識(shí)孔3恰好在一組發(fā)光元件4和光識(shí)別器件5組成的光路中間。根據(jù)每個(gè)編碼標(biāo)識(shí)孔3為一透光的通孔，或?yàn)檎诠獠婚_孔，通孔位置的光識(shí)別器件5能夠受到足夠光線，而不開孔位置的光線被卡片遮斷，對(duì)應(yīng)光識(shí)別器件5不能接受到光線，CPU通過檢測(cè)所有光識(shí)別器件5的狀態(tài)是否受光，即可獲得對(duì)應(yīng)卡片的編碼。本實(shí)施例編碼標(biāo)識(shí)孔為7個(gè)，設(shè)在卡片一端，編碼標(biāo)識(shí)孔3越多，學(xué)習(xí)裝置能夠識(shí)別的卡片數(shù)量就越多。光識(shí)別器件5根據(jù)發(fā)光元件發(fā)出光線的頻譜可選擇紅外接收元件、光敏電阻、光敏二極管、光敏三極管或光電池等。所述功能按鍵11分別有開關(guān)、學(xué)習(xí)、測(cè)驗(yàn)、重復(fù)、錄音、跟讀等多個(gè)學(xué)習(xí)功能的按鍵，也可根據(jù)設(shè)計(jì)規(guī)劃改變按鍵功能定義、增減按鍵數(shù)量，其功能按鍵11的相應(yīng)技術(shù)的實(shí)現(xiàn)，根據(jù)要求在現(xiàn)有技術(shù)中選取，不作詳敘。
所述實(shí)施例電路之一例由圖3表示，集成電路裝配在一塊集成片上，卡片識(shí)別由DO4～DO7和DI3引腳及其外圍電路構(gòu)成。其中DO4為卡片識(shí)別電路的電源控制端，該引腳輸出高電平時(shí)卡片識(shí)別電路得電工作，卡片識(shí)別機(jī)構(gòu)的發(fā)光元件4LED被燃亮，提供恒亮度光源，同時(shí)比較器A1、多選一模擬開關(guān)電路IC1上電工作，開關(guān)電路IC1所用集成片型號(hào)為4051。DO5～DO7輸出二進(jìn)制編碼，使連接于IC1之X0～X7各腳的光識(shí)別器件5逐一與X腳地電位接通，則在比較器A1反極性輸入端逐一得到各光識(shí)別器件5的狀態(tài)，卡片開孔則光識(shí)別器件5受光，A1反極性輸入端電位低于正極性輸入端，A1對(duì)應(yīng)輸出低電平，引腳DI3通過比較器A1與光識(shí)別器件5相連，比較器A1選用通用型號(hào)。集成電路CPU自DO5～DO7輸出光識(shí)別器件5編碼后檢測(cè)DI3狀態(tài)獲知對(duì)應(yīng)位置是否開孔，然后輸出下一個(gè)光識(shí)別器件5編碼，如此循環(huán)重復(fù)，不斷檢測(cè)卡片的編碼。當(dāng)所有光識(shí)別器件5全部受光時(shí)，即認(rèn)為卡片已被抽走，為無(wú)卡片狀態(tài)。為節(jié)省電源，在卡片識(shí)別間隙，即不檢測(cè)卡片期間，可通過DO4關(guān)斷卡片識(shí)別電路及光源的電源。
電磁發(fā)射膜2坐標(biāo)檢測(cè)由識(shí)讀筆和電磁發(fā)射膜2二部份構(gòu)成，電磁發(fā)射膜2由不連接的平行導(dǎo)線行組成，為加強(qiáng)發(fā)射效果，布線時(shí)根據(jù)網(wǎng)格尺寸將平行導(dǎo)線條設(shè)計(jì)為一定寬度或形狀，電磁發(fā)射膜2可以使用覆銅電路板或印刷薄膜等，兩層網(wǎng)絡(luò)的引出線直接與CPU的DO16～DOn+m端一一對(duì)應(yīng)電連接，其中DO16～DOn和DOn+1～DOn+m分別連接縱坐標(biāo)和橫坐標(biāo)的掃描線，并構(gòu)成電磁發(fā)射膜2。卡片畫面的布局以電磁發(fā)射膜2網(wǎng)格為基準(zhǔn)，最小的識(shí)別區(qū)域?yàn)閱蝹€(gè)網(wǎng)格區(qū)域。根據(jù)設(shè)計(jì)需要可通過改變電磁發(fā)射膜2引出線的多少來調(diào)節(jié)坐標(biāo)識(shí)別精度或有效范圍。識(shí)讀筆1由一條封裝在非電磁屏蔽材料內(nèi)的接收天線、帶屏蔽層的延長(zhǎng)線、微弱信號(hào)放大、濾波、整形電路A2構(gòu)成，放大、濾波、整形電路A2為普通技術(shù)。用于接收由電磁發(fā)射膜2發(fā)射的電磁信號(hào)，并進(jìn)行、濾波、整形處理，向CPU的DI5端輸出接收到的信號(hào)。操作者用識(shí)讀筆1端指向卡片上的某個(gè)區(qū)域，則接收天線靠近或點(diǎn)擊電磁發(fā)射膜2，進(jìn)入接收范圍，接收范圍由A2的靈敏度來設(shè)定，引腳DI5連接整形電路A2。由CPU循環(huán)、輪流自DO16～DOn和DOn+1～DOn+m端輸出一定頻率的方波，同時(shí)檢測(cè)DI5端信號(hào)，如果DI5端沒有出現(xiàn)同頻率方波，則認(rèn)為識(shí)讀筆1端未處在當(dāng)前正在發(fā)射方波的一條導(dǎo)線有效區(qū)域內(nèi)，CPU停止在該輸出端輸出方波，繼而轉(zhuǎn)向下一個(gè)輸出端輸出方波。如果DI5端出現(xiàn)同頻率方波，則認(rèn)為識(shí)讀筆1端正處在當(dāng)前正在發(fā)射方波一條導(dǎo)線條有效區(qū)域內(nèi)，由此獲得識(shí)讀筆1端所在位置的縱、橫坐標(biāo)之一，當(dāng)CPU轉(zhuǎn)向另一層輸出方波時(shí)，則可獲得識(shí)讀筆1端所在位置的另一個(gè)坐標(biāo)值。至此，識(shí)讀筆1所在位置的坐標(biāo)即可完全獲知，CPU通過引腳SPK與揚(yáng)聲器9相連，查表播放約定的語(yǔ)音或輸出光顯示。其微弱信號(hào)的接收、放大、整形等電路均為成熟技術(shù)。集成電路CPU所用集成片型號(hào)為SPC1000。整機(jī)電路所需電源可用市電整流或電池供給，本文未予敘及，電路中VCC、GND分別為電源供給和接地符號(hào)。
所述裝置包括功能按鍵11，功能按鍵11與集成電路引腳DI1、DI2及DO1～DO4電連接。配套的錄放電路通過SPK、DO0、DO14、DO15和DI4引腳與集成電路電連接，集成電路引腳DO0與功放電路IC3及話筒電路電連接，由此控制功放電路及話筒電路和電源，實(shí)現(xiàn)卡拉OK功能。所述錄放電路配合相應(yīng)的集成電路有多種現(xiàn)有技術(shù)可供選擇。該集成電路可進(jìn)行卡拉OK操作，進(jìn)入卡拉OK功能時(shí)，DO0輸出高電平，由MIC拾取音頻，由SPK揚(yáng)聲器9放音。
此外，為了使本卡片學(xué)習(xí)裝置功能更加齊備，集成電路還具有彩色燈球10發(fā)光，錄、放音功能。所述彩色燈球10集成電路引腳DO8和DO13分別與三組雙色LED的L1、L2、L3電連接，可使三色燈光元件發(fā)光，也可使三色元件發(fā)生旋轉(zhuǎn)、流動(dòng)等效果，增加趣味性。另設(shè)有環(huán)境檢測(cè)電路，一光識(shí)別器件5與電阻Rb并聯(lián)后，一端與比較器A1的反極性端連接，另一端串聯(lián)電阻Ra后與IC1的X8引腳電連接，該光識(shí)別器件5置于圖1裝置主板的左上角所示檢測(cè)孔12的下方，如外界光線較暗，將迫使集成電路停止工作，保護(hù)使用者的視力。
使用本光電識(shí)別卡片、射頻筆識(shí)讀的學(xué)習(xí)裝置時(shí)，將識(shí)別卡片具有標(biāo)識(shí)孔3的一端插入插槽8中，通過檢測(cè)卡片編碼標(biāo)識(shí)孔3的透光和不透光組合識(shí)別卡片的編碼。再用識(shí)讀筆1靠近卡片上不同圖文區(qū)域，電磁發(fā)射膜2配合識(shí)讀筆1內(nèi)的接收天線確定識(shí)讀筆1所在位置的坐標(biāo)，CPU獲取上述卡片編碼和識(shí)讀筆1端所在位置的坐標(biāo)兩組數(shù)據(jù)后，即時(shí)可通過查表調(diào)用并播放對(duì)應(yīng)語(yǔ)音，驅(qū)動(dòng)揚(yáng)聲器9發(fā)聲。還可通過功能按鍵11選取所需學(xué)習(xí)類型，或錄放功能，或卡拉OK功能，配合燈光元件L1、L2、L3和揚(yáng)聲器9進(jìn)行工作。當(dāng)環(huán)境光線不充足時(shí)，通過檢測(cè)孔12及其下方的光電識(shí)別器件5的作用，可阻止該學(xué)習(xí)裝置的正常工作。
權(quán)利要求1.一種光電識(shí)別卡片、射頻筆識(shí)讀的學(xué)習(xí)裝置，包括集成電路及與集成電路電連接的識(shí)讀筆(1)、揚(yáng)聲器(9)、電磁發(fā)射膜(2)、發(fā)光元件(4)和光識(shí)別器件(5)，由識(shí)讀筆(1)讀取電磁發(fā)射膜(2)的信號(hào)以確定識(shí)讀筆(1)的坐標(biāo)，其特征在于與光電識(shí)別卡片、射頻筆識(shí)讀的學(xué)習(xí)裝置配套的卡片上設(shè)有對(duì)應(yīng)該卡片編碼的透光的標(biāo)識(shí)孔(3)，學(xué)習(xí)裝置對(duì)應(yīng)標(biāo)識(shí)孔(3)兩側(cè)安裝有與集成電路電連接的至少一個(gè)發(fā)光元件(4)和至少一個(gè)光識(shí)別器件(5)，每個(gè)光識(shí)別器件(5)與卡片上的一個(gè)標(biāo)識(shí)孔(3)對(duì)應(yīng)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述之光電識(shí)別卡片、射頻筆識(shí)讀的學(xué)習(xí)裝置，其特征在于所述裝置還包括卡片安放區(qū)(6)、識(shí)讀筆(1)安放槽(7)、揚(yáng)聲器(9)發(fā)聲孔，在安放區(qū)(6)內(nèi)層設(shè)置電磁發(fā)射膜(2)，并在一端設(shè)置發(fā)光元件(4)和光識(shí)別器件(5)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述之光電識(shí)別卡片、射頻筆識(shí)讀的學(xué)習(xí)裝置，其特征在于所述裝置的安放區(qū)(6)設(shè)有容納卡片的插槽(8)，標(biāo)識(shí)孔(3)置于插槽(8)內(nèi)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述之光電識(shí)別卡片、射頻筆識(shí)讀的學(xué)習(xí)裝置，其特征在于集成電路設(shè)置有引腳DO4，與發(fā)光元件(4)LED相連；引腳DI3通過比較器A1與光識(shí)別器件(5)相連，光識(shí)別器件5與開關(guān)電路IC1的引腳X0～X7連接，進(jìn)而通過開關(guān)電路IC1與集成電路引腳DO5～DO7相連接；集成電路引腳DO16～DOn與引腳DOn+1～DOn+m連接縱橫交叉排列的掃描線，構(gòu)成電磁發(fā)射膜(2)；引腳DI5連接整形、濾波、放大電路A2，再通過屏蔽線連接識(shí)讀筆(1)；引腳SPK與揚(yáng)聲器(9)相連；引腳VCC和GND分別連接電源和接地。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述之光電識(shí)別卡片、射頻筆識(shí)讀的學(xué)習(xí)裝置，其特征在于所述裝置還包括彩色燈球(10)，集成電路引腳DO8和DO13分別與三組雙色LED的L1、L2、L3電連接。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述之光電識(shí)別卡片、射頻筆識(shí)讀的學(xué)習(xí)裝置，其特征在于所述裝置包括功能按鍵(11)，功能按鍵(11)與集成電路引腳DI1、DI2及DO1～DO4電連接；配套的錄放電路通過SPK、DO0、DO14、DO15和DI4引腳與集成電路電連接。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述之光電識(shí)別卡片、射頻筆識(shí)讀的學(xué)習(xí)裝置，其特征在于集成電路引腳DO0與功放電路IC3及話筒電路電連接。
8.根據(jù)權(quán)利要求1或4所述之光電識(shí)別卡片、射頻筆識(shí)讀的學(xué)習(xí)裝置，其特征在于集成電路還設(shè)有環(huán)境檢測(cè)電路，一光識(shí)別器件(5)與電阻Rb并聯(lián)后，一端與比較器A1的反極性端連接，另一端串聯(lián)電阻Ra后與IC1的X8引腳電連接，該光識(shí)別器件(5)置于裝置主板的左上角檢測(cè)孔(12)的下方。
9.根據(jù)權(quán)利要求4所述之光電識(shí)別卡片、射頻筆識(shí)讀的學(xué)習(xí)裝置，其特征在于開關(guān)電路IC1所用集成片型號(hào)為4051。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述之光電識(shí)別卡片、射頻筆識(shí)讀的學(xué)習(xí)裝置，其特征在于集成電路CPU所用集成片型號(hào)為SPC1000。
專利摘要本實(shí)用新型為一種光電識(shí)別卡片、射頻筆識(shí)讀的學(xué)習(xí)裝置，包括集成電路及與集成電路電連接的識(shí)讀筆、揚(yáng)聲器、電磁發(fā)射膜、發(fā)光元件和光識(shí)別器件。由識(shí)讀筆讀取電磁發(fā)射膜的信號(hào)以確定識(shí)讀筆的坐標(biāo)。與光電識(shí)別卡片、射頻筆識(shí)讀的學(xué)習(xí)裝置配套的卡片上設(shè)有對(duì)應(yīng)該卡片編碼的透光的標(biāo)識(shí)孔，學(xué)習(xí)裝置對(duì)應(yīng)標(biāo)識(shí)孔的兩側(cè)安裝有與集成電路電連接的至少一個(gè)發(fā)光元件和至少一個(gè)光識(shí)別器件，每個(gè)光識(shí)別器件與卡片上的一個(gè)標(biāo)識(shí)孔對(duì)應(yīng)。所述裝置還包括卡片安放區(qū)、識(shí)讀筆、安放槽、揚(yáng)聲器發(fā)聲孔，在安放區(qū)設(shè)置電磁發(fā)射膜，并在一端設(shè)置發(fā)光元件和光識(shí)別器件。本裝置以非接觸的光電識(shí)別裝置代替現(xiàn)有技術(shù)中的機(jī)械結(jié)構(gòu)，壽命長(zhǎng)，可靠性高，成本低，設(shè)備功能齊全。
文檔編號(hào)G06K7/10GK2708399SQ0324449
公開日2005年7月6日 申請(qǐng)日期2003年4月3日 優(yōu)先權(quán)日2003年4月3日
發(fā)明者高明 申請(qǐng)人:高明