專利名稱：在一計算機系統(tǒng)中的bios存儲裝置的自動安全回復(fù)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明有關(guān)在一包括雙基本輸入輸出系統(tǒng)(BIOS)存儲裝置的計算機系統(tǒng)中以一安全回復(fù)BIOS存儲裝置來自動回復(fù)一主BIOS存儲裝置，以避免計算機系統(tǒng)的開機時的啟動運作發(fā)生錯誤而導(dǎo)致計算機開機失敗的方法。
在現(xiàn)今計算機的架構(gòu)中，基本輸入輸出系統(tǒng)(basic input-output system，BIOS)是計算機基本操作中最基礎(chǔ)的軟件。BIOS主要是由計算機低階的指令集所組成，提供計算機運作時最基本的硬件測試、定義計算機的特性并處理基本的工作。比如當計算機開機時，執(zhí)行計算機的開機自我測試，詮釋鍵盤所發(fā)出的信號，與連接端口間信息的傳遞等等。因此，計算機一開機時初始的運作，皆是依照BIOS的內(nèi)容來執(zhí)行運作。倘若BIOS出現(xiàn)問題，計算機一開機便無法執(zhí)行如內(nèi)存(RAM)、硬盤(HD)、中央處理器(CPU)等的測試，則計算機便無法順利地開機。
也因為BIOS在計算機系統(tǒng)中具備了如此重要的地位，一般都會將BIOS的程序指令集快速存儲在一個可以長久不需電源的內(nèi)存中，如Flash ROM、PROM、EPROM、EEPROM等，并將此類BIOS內(nèi)存內(nèi)建于計算機的主機板或放入計算機系統(tǒng)的芯片組中，使其內(nèi)容不受電源供電影響而可永久保存其內(nèi)容。
然而，BIOS內(nèi)存的內(nèi)容并非是完全沒有錯誤的。當BIOS內(nèi)存的電路結(jié)構(gòu)隨著時間而產(chǎn)生退化(degradation)或是受到不可預(yù)測的操作的影響，其內(nèi)容可能會流失或產(chǎn)生錯誤，導(dǎo)致計算機開機執(zhí)行BIOS程序時產(chǎn)生失誤，因而導(dǎo)致計算機無法完成開機。
本發(fā)明的目的在于提供一種自動回復(fù)BIOS存儲裝置的方法，用以在一包括主BIOS存儲裝置與一安全回復(fù)BIOS存儲裝置的雙BIOS存儲裝置的計算機系統(tǒng)中，以安全回復(fù)BIOS存儲裝置回復(fù)有缺陷的主BIOS存儲裝置，再以主BIOS存儲裝置啟動計算機系統(tǒng)的運作。
為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明的自動安全回復(fù)BIOS存儲裝置的方法包括下列步驟提供一第一基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置與一第二基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置，所述第一基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置與所述第二基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置分別儲存一第一計算機程序與一第二計算機程序，所述第一計算機程序與所述第二計算機程序用于啟動所述計算機系統(tǒng)的運作；當所述計算機系統(tǒng)開機時，通電所述第二基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置；檢測所述第一計算機程序是否包含錯誤；以及當檢測所述第一計算機程序包含錯誤，以所述第二計算機程序再程序化所述第一基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置。
根據(jù)上述構(gòu)想，所述第一基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置為可程序化的存儲裝置且所述第二基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置為非可程序化的存儲裝置；所述第一基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置所儲存的第一計算機程序與所述第二基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置所儲存的第二計算機程序可為相同或不同。
上述的通電所述第二基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置的步驟包括提供一芯片通電控制端的芯片通電電路，當所述計算機系統(tǒng)開機時，以所述芯片通電電路裝置的所述芯片通電控制端通電所述第二基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置；上述的芯片通電控制端采用一一般用途的輸入輸出接腳(GPIO pin)。
檢測所述第一計算機程序是否包括錯誤的步驟包括利用一錯誤檢測電路來檢查所述第一計算機程序所包括的一錯誤檢測數(shù)據(jù)值，以供判斷所述第一計算機程序是否包括錯誤。
上述的錯誤檢測數(shù)據(jù)值可為一檢查總和(checksum)數(shù)據(jù)值、一同位檢查(parity check)數(shù)據(jù)值或為一循環(huán)多余檢查(CRC)數(shù)據(jù)值。
為了能夠?qū)λ龅谝换据斎胼敵鱿到y(tǒng)存儲裝置進行再程序化，所述第一基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置或所述第二基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置還包括一快速程序，用于將所述第二計算機程序再程序化所述第一基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置。
根據(jù)本發(fā)明另一方面的構(gòu)想，本發(fā)明提供一種啟動一計算機系統(tǒng)運作的方法，所述方法包括下列步驟提供一第一基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置與一第二基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置，所述第一基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置與所述第二基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置分別儲存一第一計算機程序與一第二計算機程序，其中所述第一計算機程序與所述第二計算機程序用于啟動所述計算機系統(tǒng)的運作；當所述計算機系統(tǒng)開機時，通電所述第二基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置，并檢測所述第一計算機程序是否包含錯誤；當檢測所述第一計算機程序包含錯誤時，以所述第二計算機程序再程序化所述第一基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置；接著，通電所述第一基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置而斷電所述第二基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置；最后，以所述第一基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置啟動所述計算機系統(tǒng)的運作。
根據(jù)以上構(gòu)想，所述第一基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置包括一可程序化存儲裝置，所述第二基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置包括一非可程序化存儲裝置；所述第一基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置所儲存的所述第一計算機程序與所述第二基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置所儲存的所述第二計算機程序可為相同或不同。
其中通電所述第二基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置的步驟包括提供一芯片通電控制端的芯片通電電路，當所述計算機系統(tǒng)開機時，以所述芯片通電電路的所述芯片通電控制端通電所述第二基本輸入輸出系統(tǒng)裝置；上述的芯片通電控制端采用一一般用途的輸入輸出接腳(GPIOpin)。
檢測所述第一計算機程序是否包含錯誤的步驟，乃是利用一錯誤檢測電路來檢查所述第一計算機程序所包含的一錯誤檢測數(shù)據(jù)值，以供判斷所述第一計算機程序是否包含錯誤。
上述的錯誤檢測數(shù)據(jù)值系可為一檢查總和(checksum)數(shù)據(jù)值、一同位檢查(parity check)數(shù)據(jù)值或為一循環(huán)多余檢查(CRC)數(shù)據(jù)值。
為了能夠?qū)λ龅谝换据斎胼敵鱿到y(tǒng)存儲裝置進行再程序化，所述第一基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置或所述第二基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置還包括一快速程序，用于將所述第二計算機程序再程序化所述第一基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置。
本發(fā)明的目的、特點和優(yōu)點通過下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的一較佳實施例的詳細說明可獲得更深入的了解。


圖1為根據(jù)本發(fā)明的一較佳實施例的包括雙BIOS存儲裝置的計算機系統(tǒng)功能方塊圖；以及圖2為根據(jù)本發(fā)明的一較佳實施例的一計算機系統(tǒng)中的BIOS存儲裝置自動安全回復(fù)方法流程圖。
較佳實施例說明請參見圖1，根據(jù)本發(fā)明的一較佳實施例，本發(fā)明的雙BIOS存儲裝置的計算機系統(tǒng)10包括一中央處理器11，一內(nèi)存12，一芯片通電電路13，一錯誤檢測電路15，以及兩BIOS存儲裝置，分別為一主BIOS存儲裝置(main BIOS memory device)17以及一安全回復(fù)BIOS存儲裝置(safe recovery BIOS memory device)16。其中主BIOS存儲裝置17為一可程序化的存儲裝置，如一快速只讀存儲器(Flash ROM)或電子可抹除可程序化只讀存儲器(EEPROM)所組成，而安全回復(fù)BIOS存儲裝置16可為一非可程序化存儲裝置，如一只讀存儲器(ROM)所組成。
主BIOS存儲裝置17與安全回復(fù)BIOS存儲裝置16所儲存的BIOS程序可為相同的BIOS程序，也可為不同的BIOS程序。而兩者所儲存的BIOS程序皆是由用于啟動計算機系統(tǒng)10的運作的計算機程序指令集所組成。為了要能夠在主BIOS存儲裝置17所儲存的BIOS程序被檢測包含錯誤時，能夠回復(fù)主BIOS存儲裝置17所儲存的BIOS程序，主BIOS存儲裝置17或安全回復(fù)BIOS存儲裝置16還包括一快速程序(flashutility)，用于將安全回復(fù)BIOS存儲裝置16所儲存的BIOS程序再程序化主BIOS存儲裝置17，借以回復(fù)主BIOS存儲裝置17的內(nèi)容。
圖1所示的芯片通電電路13具有一芯片通電控制端131，例如采用一一般用途的輸入輸出接腳(GPIO pin)，用于送出一通電信號至主BIOS存儲裝置17的芯片通電(CE)接腳171與安全回復(fù)BIOS存儲裝置16的芯片通電(CE)接腳161，來切換欲通電的BIOS存儲裝置。
而本發(fā)明的一較佳實施例的一計算機系統(tǒng)中的BIOS存儲裝置自動安全回復(fù)方法，可由圖2的流程圖得到充份的了解。請參見圖2。本發(fā)明的自動安全回復(fù)BIOS存儲裝置的方法由步驟21開始，當計算機系統(tǒng)開機后(步驟22)，芯片通電電路的GPIO接腳便會使得安全回復(fù)BIOS存儲裝置通電(步驟23)。此時，計算機的錯誤檢測電路便會去檢查儲存于主BIOS存儲裝置中的BIOS程序是否包含錯誤(判斷式24)。而錯誤檢測的技術(shù)，可以利用檢查位于主BIOS存儲裝置的一預(yù)定的存儲地址的檢查總和(checksum)數(shù)據(jù)值或同位檢查(parity check)數(shù)據(jù)值或循環(huán)多余檢查(CRC)數(shù)據(jù)值是否正確來判斷是否主BIOS存儲裝置的內(nèi)容包含錯誤。若沒有檢測到任何主BIOS存儲裝置內(nèi)容的錯誤，則芯片通電電路的GPIO接腳便會使安全回復(fù)BIOS存儲裝置斷電而使主BIOS存儲裝置通電(步驟26)，計算機開機的運作便由主BIOS存儲裝置來繼續(xù)進行(步驟27)。若檢測到主BIOS存儲裝置內(nèi)容包含錯誤，則主BIOS存儲裝置或安全回復(fù)BIOS存儲裝置中所儲存的快速程序則會被執(zhí)行，以便將安全回復(fù)BIOS存儲裝置所儲存的BIOS程序再程序化主BIOS存儲裝置，借以回復(fù)主BIOS存儲裝置的內(nèi)容(步驟25)。當再程序化的步驟完成后，芯片通電電路的GPIO接腳便會使安全回復(fù)BIOS存儲裝置斷電而使主BIOS存儲裝置通電(步驟26)，計算機開機的運作便由主BIOS存儲裝置來繼續(xù)進行(步驟27)。這樣，計算機系統(tǒng)的開機程序便可順利地完成，絲毫不會受到主BIOS存儲裝置所儲存的BIOS程序是否包含有錯誤的影響。
綜上所述，本發(fā)明利用一個與主BIOS存儲裝置分別儲存一BIOS程序的安全回復(fù)BIOS存儲裝置來做為當主BIOS存儲裝置被檢測包含錯誤時的安全回復(fù)裝置，并且將快速程序一并儲存于主BIOS存儲裝置或安全回復(fù)BIOS存儲裝置中，使得主BIOS存儲裝置的內(nèi)容被檢測出錯誤時，執(zhí)行所述快速程序以安全回復(fù)BIOS裝置所儲存的BIOS程序來回復(fù)主BIOS存儲裝置的內(nèi)容。這樣的方法可以避免BIOS程序執(zhí)行時發(fā)生錯誤而導(dǎo)致計算機無法開機的結(jié)果，使計算機的啟動運作得以順利進行。
權(quán)利要求
1.一種在一計算機系統(tǒng)中用以回復(fù)一基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置的方法，其特征在于，所述方法包括下列步驟提供一第一基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置與一第二基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置，所述第一基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置與所述第二基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置分別儲存一第一計算機程序與一第二計算機程序，所述第一計算機程序與所述第二計算機程序用于啟動所述計算機系統(tǒng)的運作；當所述計算機系統(tǒng)開機時，通電所述第二基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置；檢測所述第一計算機程序是否包含錯誤；以及當檢測所述第一計算機程序包含錯誤，以所述第二計算機程序再程序化所述第一基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置包括一可程序化存儲裝置，所述第二基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置包括一非可程序化存儲裝置。
3.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一計算機程序與所述第二計算機程序為相同。
4.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一計算機程序與所述第二計算機程序系為互不相同。
5.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，通電所述第二基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置的步驟系包括下列步驟提供一具有一芯片通電控制端的芯片通電電路；以及當所述計算機系統(tǒng)開機時，以所述芯片通電電路裝置的所述芯片通電控制端通電所述第二基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置。
6.如權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述芯片通電控制端為一一般用途的輸入輸出接腳(GPIO pin)。
7.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，檢測所述第一計算機程序是否包含錯誤的步驟包括下列步驟提供一錯誤檢測電路；以所述錯誤檢測電路檢查所述第一計算機程序所包含的一錯誤檢測數(shù)據(jù)值，以供判斷所述第一計算機程序是否包含錯誤。
8.如權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，所述錯誤檢測數(shù)據(jù)值包括一檢查總和(checksum)數(shù)據(jù)值。
9.如權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，所述錯誤檢測數(shù)據(jù)值包括一同位檢查(parity check)數(shù)據(jù)值。
10.如權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，所述錯誤檢測數(shù)據(jù)值包括一循環(huán)多余檢查(CRC)數(shù)據(jù)值。
11.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置還包括一快速程序，用以將所述第二計算機程序再程序化所述第一基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置。
12.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置還包括一快速程序，用于將所述第二計算機程序再程序化所述第一基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置。
13.一種啟動一計算機系統(tǒng)運作的方法，其特征在于，所述方法系包括下列步驟提供一第一基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置與一第二基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置，所述第一基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置與所述第二基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置分別儲存一第一計算機程序與一第二計算機程序，所述第一計算機程序與所述第二計算機程序用以啟動所述計算機系統(tǒng)的運作；當所述計算機系統(tǒng)開機時，通電所述第二基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置；檢測所述第一計算機程序是否包含錯誤；當檢測所述第一計算機程序包含錯誤，以所述第二計算機程序再程序化所述第一基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置；通電所述第一基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置而斷電所述第二基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置；以及以所述第一基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置啟動所述計算機系統(tǒng)的運作。
14.如權(quán)利要求13所述的方法，其特征在于，通電所述第二基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置的步驟還包括下列步驟提供一具有一芯片通電控制端的芯片通電電路；以及當所述計算機系統(tǒng)開機時，以所述芯片通電電路裝置的所述芯片通電控制端通電所述第二基本輸入輸出系統(tǒng)存儲電路。
15.如權(quán)利要求13所述的方法，其特征在于，檢測所述第一計算機程序是否包含錯誤的步驟更包括下列步驟提供一錯誤檢測電路；以所述錯誤檢測電路檢查所述第一計算機程序所包含的一錯誤檢測數(shù)據(jù)值，以供判斷所述第一計算機程序是否包括錯誤。
16.如權(quán)利要求13所述的方法，其特征在于，所述第一基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置還包括一快速程序，用以將所述第二計算機程序再程序化所述第一基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置，而所述第二基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置還包括一快速程序，用以將所述第二計算機程序再程序化所述第一基本輸入輸出系統(tǒng)存儲裝置。
全文摘要
一種使在計算機系統(tǒng)中BIOS存儲裝置自動安全回復(fù)的方法,系統(tǒng)有分別儲存用于啟動計算機系統(tǒng)的第一BIOS程序與第二BIOS程序的主BIOS存儲裝置和安全回復(fù)BIOS存儲裝置;其中之一還包括一BIOS快速程序。開機時先使安全回復(fù)BIOS存儲裝置通電,由錯誤檢測電路檢查第一BIOS程序,如有錯誤則通過BIOS快速程序?qū)踩貜?fù)BIOS存儲裝置的內(nèi)容再程序化主BIOS存儲裝置。芯片通電電路接著使前者斷電而使后者通電,由后者繼續(xù)計算機系統(tǒng)的開機程序。
文檔編號G06F11/34GK1371052SQ0110472
公開日2002年9月25日 申請日期2001年2月20日 優(yōu)先權(quán)日2001年2月20日
發(fā)明者林火元 申請人:技嘉科技股份有限公司