專利名稱：自測(cè)試電子組件及測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電子組件測(cè)試領(lǐng)域。更具體地，本發(fā)明涉及一種在制造中用于質(zhì)量控制的以及用于正在進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試和報(bào)告的電子組件自測(cè)試的方法及裝置或裝置網(wǎng)路。
背景技術(shù)：
電子組件制造的逐年擴(kuò)增已提供大量不同的工業(yè)及消費(fèi)產(chǎn)品，而產(chǎn)品之測(cè)試是多種制造所必須納入的。為增強(qiáng)產(chǎn)品之質(zhì)量及性能，制造工程師通常都定義出一些測(cè)試程序、以供某一測(cè)試站之測(cè)試工程師進(jìn)行測(cè)試用，以確保產(chǎn)品質(zhì)量。敏感的類比及數(shù)位電路的測(cè)試設(shè)備一般包含復(fù)雜的外部控制及監(jiān)視硬體，并在許多的制造設(shè)備中顯得較為困難，且通常都是不相同的。
在常用制造系統(tǒng)中，通常技術(shù)人員做完測(cè)試后，一未通過一個(gè)或多個(gè)測(cè)試之組件單元會(huì)馬上轉(zhuǎn)至該區(qū)中，所有部件功能狀態(tài)及電路相關(guān)之廣泛信息通常都沒有保留。雖然技術(shù)人員可對(duì)一組件中之一有故障部件加以手動(dòng)標(biāo)記，但其它有故障系統(tǒng)卻可能不能辨認(rèn)出來，或不能被正確判斷出來。即使一測(cè)試為通過之組件有單一有故障部件或電路被發(fā)現(xiàn)，但該單元中可能還有許多未被檢測(cè)出之有故障。在利用技術(shù)人員手動(dòng)測(cè)試、或由技術(shù)人員在裝置外部進(jìn)行控制之制造設(shè)備來說，只要一有故障被檢測(cè)出，基本的有故障組件標(biāo)記及轉(zhuǎn)送操作或許已足夠，但手工成本卻顯得過高。
授予B.Kennedy的美國專利5,450,576中揭露過一種調(diào)協(xié)＂一多處理器系統(tǒng)之啟始及自測(cè)試操作＂之系統(tǒng)，其能＂調(diào)協(xié)多種不同處理器之共同作用＂。Kennedy揭露儲(chǔ)存＂處理器、存儲(chǔ)器模塊或I/O電路板之每一者的組態(tài)信息、啟始自測(cè)試碼及開機(jī)碼的技術(shù)，這些內(nèi)容系以一不可擴(kuò)充之格式存儲(chǔ)在非揮發(fā)性存儲(chǔ)器中，并將啟始開機(jī)處理器所需用之執(zhí)行碼部份存儲(chǔ)在中央可存取之非揮發(fā)性存儲(chǔ)器。雖然Kennedy揭露了一種調(diào)協(xié)一多處理系統(tǒng)之基本啟始及自測(cè)試操作的系統(tǒng)，但該系統(tǒng)仍不能收集并儲(chǔ)存各部件之可讀信息，其也不能在內(nèi)部對(duì)自測(cè)試結(jié)果加以回復(fù)取得。同樣地，Kennedy還未揭露經(jīng)由回路進(jìn)行之輸出及輸入信號(hào)的自測(cè)試，還未揭露使用該儲(chǔ)存信息之安全架構(gòu)。
授予B.Kennedy的美國專利5,659,748揭露過一種調(diào)協(xié)＂一多處理器系統(tǒng)之啟始及自測(cè)試操作＂之系統(tǒng)，其能＂調(diào)協(xié)多種不同處理器之共同作用＂。Kennedy揭露儲(chǔ)存＂處理器、存儲(chǔ)器模塊或I/O電路板之每一者的組態(tài)信息、啟始自測(cè)試碼及開機(jī)碼的技術(shù)，這些內(nèi)容系以一不可擴(kuò)充之格式存儲(chǔ)在非揮發(fā)性存儲(chǔ)器中，并將啟始開機(jī)處理器所需用之執(zhí)行碼部份存儲(chǔ)在中央可存取之非揮發(fā)性存儲(chǔ)器。雖然Kennedy揭露了一種調(diào)協(xié)一多處理系統(tǒng)之基本啟始及自測(cè)試操作的系統(tǒng)，但該系統(tǒng)仍不能收集并儲(chǔ)存各部件之可讀信息，其也不能在內(nèi)部對(duì)自測(cè)試結(jié)果加以回復(fù)取得。同樣地，Kennedy還未揭露經(jīng)由回路進(jìn)行之輸出及輸入信號(hào)的自測(cè)試，還未揭露使用該儲(chǔ)存信息之安全架構(gòu)。
授予J.Brown及D.Bhavsar的美國專利5,627,842揭露過＂一種延伸電子電路之階層式、中央邊界掃描錯(cuò)誤測(cè)試設(shè)備及方法，其中包含以一單一標(biāo)準(zhǔn)協(xié)定進(jìn)行板內(nèi)測(cè)試。測(cè)試中，每一塊板對(duì)中央測(cè)控制中心都為＂可視＂，與其在被加入延伸系統(tǒng)前各別獨(dú)立時(shí)相同。雖然Brown等人揭示了標(biāo)準(zhǔn)階層系統(tǒng)測(cè)試技術(shù)，但他們卻未揭露各部件之可讀信息的收集及儲(chǔ)存，還未揭露組件內(nèi)部的測(cè)試結(jié)果的回復(fù)取得技術(shù)。同樣地，Brown等人未揭露輸出及輸入信號(hào)可經(jīng)由回路而自測(cè)試，他們也未揭露對(duì)儲(chǔ)存信息的有限存取的安全架構(gòu)。
授予F.Warren，H.Chrisler，R.Jacobson，C.Kim及E.Llewellyn的美國專利4,791,356中揭露過＂一種電路內(nèi)部測(cè)試系統(tǒng)，該系統(tǒng)中包含在任一裝置電路節(jié)點(diǎn)的所需點(diǎn)上激勵(lì)該測(cè)試中裝置的機(jī)制、在任一節(jié)點(diǎn)上可編輯響應(yīng)波形的機(jī)制、及利用經(jīng)編輯的波形于下一電路內(nèi)部測(cè)試中再激勵(lì)該相同裝置的機(jī)制＂。
授予M.Rutenberg的美國專利4,740,887中揭露過＂一種改良一由多自系統(tǒng)組成之電子系統(tǒng)可靠度的方法及系統(tǒng)，其中該等子系統(tǒng)所執(zhí)行之功能彼此互異＂，其中一電子系統(tǒng)被經(jīng)過解析而得判定何者最可能造成錯(cuò)誤，而該些子系統(tǒng)并為一微控制單元監(jiān)視及/或校正＂，其中該微控制單元非為該電子系統(tǒng)之一部份。外部微控制器單元＂監(jiān)視該子系統(tǒng)之輸入及輸出，并決定輸出不再適于輸入之時(shí)間。當(dāng)檢測(cè)得錯(cuò)誤時(shí)，一錯(cuò)誤碼即存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中，以供之后使用。當(dāng)處理器處于校正模式時(shí)，以開集極驅(qū)動(dòng)裝置進(jìn)行一數(shù)位輸出的校正＂。雖然Rutenberg揭露了電子系統(tǒng)的測(cè)試及檢測(cè)得錯(cuò)誤的儲(chǔ)存，但他并未顯露自測(cè)試及測(cè)試結(jié)果的儲(chǔ)存儲(chǔ)在電子系統(tǒng)中。同樣地，Rutenberg未揭露輸出及輸入信號(hào)可經(jīng)由回路而行自測(cè)試，他們也未揭露對(duì)儲(chǔ)存信息之有限存取的安全架構(gòu)。
授予V.Kadakia，C.Holt及R.Moore的美國專利4,000,460揭露過一種＂大型數(shù)位電路模塊的自動(dòng)制造測(cè)試設(shè)備＂，其中一測(cè)試站在計(jì)算機(jī)控制下將測(cè)試位元模型及脈波送至測(cè)試中模塊內(nèi)、分析最后的輸出、及使所有已發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤與一個(gè)或多個(gè)顆IC隔離。測(cè)試站包含模塊的電源供應(yīng)器及空氣冷卻設(shè)備、一鍵盤顯示器及印表機(jī)，由測(cè)試操作員使用之。測(cè)試程序在離線時(shí)開發(fā)完成，并由磁片送入盤裝置中，以供計(jì)算機(jī)之使用＂。雖然Kadakia等人揭露了大型數(shù)位電路模塊的生產(chǎn)測(cè)試設(shè)備，對(duì)每一電路模塊之測(cè)試系由外部控制，且不收集儲(chǔ)存各部件之可讀信息。同樣地，測(cè)試電路模塊不能回復(fù)取得自測(cè)試的結(jié)果。此外，Kadakia等人未揭露輸出及輸入信號(hào)可經(jīng)由回路而行自測(cè)試，他們也未揭露對(duì)儲(chǔ)存信息之有限存取的安全架構(gòu)。
此外，一般都希望在主測(cè)試后提供電子組件與外部源間信息轉(zhuǎn)送通道溝通的安全性，如在該電子組件操作的同時(shí)。所有通訊安全的核心問題皆在于安全密鑰在各通訊中人馬間的散布問題。安全通訊通道的建立前提是每一通訊中的人皆需有適當(dāng)?shù)陌踩荑€，用以計(jì)煉通訊或?qū)νㄓ崝?shù)據(jù)解碼等。
目前，安全密鑰的分布一般都由數(shù)個(gè)單獨(dú)通道完成。舉例而言，安全密鑰可由一般郵件、通過電話連接上口述傳送。這種散布方法并不佳，對(duì)于多數(shù)的消費(fèi)性導(dǎo)向電子組件奠不實(shí)際，如對(duì)分散式電視觀看系統(tǒng)。
＂智能卡＂技術(shù)是另一種安全密鑰分散機(jī)制，其中建有一小微處理器，建立在名片一般大小的封裝中。處理器將密鑰存在安全存儲(chǔ)器中，并提供有通訊協(xié)定，供以對(duì)消息加以鑒別或解碼用。不過這樣的系統(tǒng)仍是不甚令人滿意，其有通訊實(shí)體連接之不可靠性、安全協(xié)定的易損壞性、易復(fù)制及缺乏內(nèi)部運(yùn)作安全性(如如缺乏內(nèi)部儲(chǔ)存裝置的安全性)等缺點(diǎn)。
發(fā)展一種制造系統(tǒng)，其中對(duì)受測(cè)組件的所有測(cè)試均內(nèi)部自動(dòng)執(zhí)行、不需技術(shù)人員介入、以及其中所有檢測(cè)缺陷可通過受測(cè)組件所捕獲并內(nèi)部登記到裝置，這種系統(tǒng)的發(fā)展構(gòu)成主要技術(shù)進(jìn)展。這種裝置的另一項(xiàng)發(fā)展為還可以以可檢索方式存儲(chǔ)有關(guān)各個(gè)部件的可讀信息并提供進(jìn)行的現(xiàn)場(chǎng)操作參數(shù)和自測(cè)試，以及以可檢索方式存儲(chǔ)構(gòu)成進(jìn)一步技術(shù)進(jìn)展的測(cè)試結(jié)果。此外，電子組件與外部源之間安全密鑰分布的安全方法的發(fā)展構(gòu)成進(jìn)一步技術(shù)進(jìn)展。
發(fā)明概要一種自測(cè)試電子組件根據(jù)內(nèi)部儲(chǔ)存的測(cè)試程序進(jìn)行部件和電路的自測(cè)試，如診斷或線上測(cè)試。自測(cè)試的結(jié)果存儲(chǔ)在內(nèi)部裝置中，以提供與自測(cè)試電子組件相關(guān)的信息，在制程中或在正在進(jìn)行的現(xiàn)場(chǎng)操作中皆可，尤以后者更佳。一測(cè)試系統(tǒng)較佳地連接至一個(gè)或多個(gè)自測(cè)試電子組件、并提供每一安裝的自測(cè)試電子組件的回路電路，由此自測(cè)試電子組件能進(jìn)一步測(cè)試部件、電路及安全編碼及解碼操作。較佳的測(cè)試機(jī)架還在自測(cè)試電子組件的自測(cè)試期間提供有效并一致的監(jiān)視及質(zhì)量控制。在現(xiàn)場(chǎng)操作中，自測(cè)試電子組件較佳地監(jiān)視操作參數(shù)、并繼續(xù)周期性地執(zhí)行自測(cè)試，同時(shí)將信息存儲(chǔ)在裝置中，較佳地將信息傳至外部位置。
附圖簡(jiǎn)述
圖1為一自測(cè)試電子組件單元的方塊圖；圖2為一多測(cè)試間機(jī)架的方塊圖，其中含有一個(gè)或多個(gè)自測(cè)試電子組件單元，連接至令令單元及一個(gè)或多個(gè)顯視監(jiān)視器；圖3為自測(cè)試系統(tǒng)的回路連接的方塊圖；圖4為一彈簧負(fù)載背面及一背面支撐托架；圖5為背面及背面到組件連接器的前斜視圖；圖6為測(cè)試間機(jī)構(gòu)的后視圖；圖7為測(cè)試間機(jī)構(gòu)的前視圖；圖8為測(cè)試間機(jī)構(gòu)的右視圖；圖9為測(cè)試間機(jī)構(gòu)的前視圖；圖10為測(cè)試間機(jī)構(gòu)的后方上視圖；圖11為多間測(cè)試機(jī)架外殼的前視圖；圖12為多間測(cè)試機(jī)架外殼的側(cè)視圖；圖13為多間測(cè)試機(jī)架外殼的后視圖；圖14為多間測(cè)試機(jī)架外殼的底視圖；圖15為可進(jìn)行自測(cè)試的組件的第一方塊圖；圖16為可進(jìn)行圖15中所示自測(cè)試的組件的第二方塊圖17為制程過程中安全密鑰的產(chǎn)生、儲(chǔ)存及轉(zhuǎn)送的較佳方框圖；圖18為安全微處理器內(nèi)安全密鑰的產(chǎn)生、儲(chǔ)存及轉(zhuǎn)送的系統(tǒng)流程圖；及圖19為安裝的較佳自測(cè)試組件與中央計(jì)算機(jī)進(jìn)行通訊的系統(tǒng)方塊圖。
較佳實(shí)施例的詳細(xì)描述圖1為自測(cè)試電子組件單元10的方塊圖，其包含電路14，該電路至少包含多個(gè)互相部件16，且該些部件16位于基座、底架或外殼12中。一個(gè)或多個(gè)部件16可包含電子可讀信息17，如部件型號(hào)、部件序號(hào)、或部件批號(hào)。此外，圖1中的電路14還包含一處理器18及儲(chǔ)存裝置20。儲(chǔ)存裝置20至少包含一個(gè)或多個(gè)存儲(chǔ)器裝置，如可編程只讀存儲(chǔ)器(PROM)、可編程隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(PRAM)、快閃存儲(chǔ)器、一個(gè)或多個(gè)硬驅(qū)動(dòng)裝置或可移動(dòng)媒體等等。
儲(chǔ)存媒體20包含測(cè)試邏輯22及采樣數(shù)據(jù)23，自測(cè)試電子組件10利用之以進(jìn)行多種不同自測(cè)試，如功能診斷測(cè)試及/或延伸之熔斷測(cè)試。當(dāng)自測(cè)試執(zhí)行之時(shí)，自測(cè)試電子組件10內(nèi)部存儲(chǔ)可檢索的測(cè)試結(jié)果24，如存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器20中。對(duì)于大部份傳統(tǒng)制程而言，產(chǎn)品的測(cè)試是其中一個(gè)相當(dāng)關(guān)鍵費(fèi)時(shí)的工作。自測(cè)試電子組件正能提供10有效且相容之測(cè)試，并能將結(jié)果存儲(chǔ)在內(nèi)部，藉以增加制造速度，并能改善所制成每個(gè)自測(cè)試組件10的質(zhì)量。一般而言，自測(cè)試電子組件10還包含可檢索序號(hào)29；在較佳實(shí)施例中，其包含安全軟件，自測(cè)試電子組件10可利用之而建立密鑰270，272(圖17)。
在一較佳實(shí)施例中，該自測(cè)試電子組件10包含一溫度感測(cè)器28及一冷卻扇26。溫度感測(cè)器28記錄自測(cè)試電子組件10周圍或內(nèi)部操作溫度，此可于測(cè)試開始時(shí)、還可在組件10進(jìn)行操作期間進(jìn)行。在一些實(shí)施例中，處理器18響應(yīng)于溫度感測(cè)器28測(cè)得的升高的環(huán)境溫度或內(nèi)部操作溫度以可控制的方式對(duì)冷卻扇26供電。
自測(cè)試電子組件10有一連接接口30，該接口30包含不同的輸入及輸出信號(hào)連接器及一電源連接器48a。圖1中所示的較佳實(shí)施例有一連接接口30，其包含視頻輸出32a、視頻輸入34a、右通道聲頻輸出36a、左通道聲頻輸出38a、左通道聲頻輸入40a、右通道聲頻輸入42a、一調(diào)制解調(diào)器連接器44a、一射頻連接器47a及一電源連接器48a。另外，較佳實(shí)施例還可選擇性包含S-視頻輸出31a、S-視頻輸入33a；串行端口及紅外線連接。
當(dāng)自測(cè)試組件10較佳實(shí)施例(如圖1所示)由最后用戶安裝(圖17)時(shí)，自測(cè)試組件10典型地連接至一輸入電視頻號(hào)纜線266、一電話線258、一電視機(jī)264及輔助部件，如視頻盒式錄像機(jī)270、一立體聲道系統(tǒng)266、揚(yáng)聲器268a，268b及其它裝置，如遙控器、視頻游戲裝置或網(wǎng)際網(wǎng)路連接裝置等(如WebTVTM操縱臺(tái)及遠(yuǎn)端WebTVTM鍵盤)。
在制造環(huán)境中，自測(cè)試電子組件10的部件及電路的功能質(zhì)量利用內(nèi)部測(cè)試邏輯22自測(cè)試。綜合的自測(cè)試相關(guān)結(jié)果24存儲(chǔ)在組件10中。未能通過一個(gè)或多個(gè)功能或內(nèi)建測(cè)試的部件16或電路14皆可一致并正確地找出，因此技術(shù)人員得先將有故障組件10移離通過之單元10，送至修復(fù)區(qū)82或剔除區(qū)84(圖2)。
存儲(chǔ)在內(nèi)部的詳細(xì)測(cè)試結(jié)果24能提供有價(jià)值并一致的信息24，以供有故障單元10之修復(fù)用。詳細(xì)并記錄過的測(cè)試結(jié)果24與組件10同在，其容易使用，且不需要由技術(shù)人員手動(dòng)標(biāo)上或列出缺陷問題。因此，真正可接受之組件單元10產(chǎn)出率升高，因?yàn)樵搰?yán)格及一致的自測(cè)試得確保通過之組件單元10的高質(zhì)量性，且可固定的組件單元10可得到識(shí)別，并可有效矯正之。
圖2所示為自測(cè)試組件10的測(cè)試系統(tǒng)50的方框圖。該測(cè)試系統(tǒng)50典型上與測(cè)試系統(tǒng)組件10一起使用，部件16、電路14、及自測(cè)試組件10就在里頭進(jìn)行質(zhì)量及性能的測(cè)試，如可在運(yùn)送予顧客前進(jìn)行。多間測(cè)試機(jī)架52典型上包含一個(gè)或多個(gè)測(cè)試儲(chǔ)料器54，其中后者包含多個(gè)測(cè)試間56。多間測(cè)試機(jī)架52能一次進(jìn)行多個(gè)自測(cè)試電子組件10的自測(cè)試，在一個(gè)或多個(gè)制造設(shè)備53處進(jìn)行。當(dāng)多自測(cè)試組件10在多個(gè)外部處制造時(shí)，內(nèi)部測(cè)試程序22存儲(chǔ)在每一組件10當(dāng)中。配以與一個(gè)或多個(gè)多間測(cè)試機(jī)架52一塊使用時(shí)，能在一個(gè)或多個(gè)測(cè)試系統(tǒng)區(qū)50執(zhí)行有效及類似的診斷及執(zhí)行中測(cè)試。
每一測(cè)試間56都提供一可分離的背面連接104(圖4)，連接到自測(cè)試電子組件單元10。此外，每一測(cè)試間56還與狀態(tài)模塊41相接，并經(jīng)由一模擬PSTN電話線連接58及一調(diào)制解調(diào)器60至一終端服務(wù)器62。
通過終端服務(wù)器62，所有單元上的測(cè)試結(jié)果及產(chǎn)出率信息都得以監(jiān)視。此外，該數(shù)據(jù)還可從一遠(yuǎn)端位置處監(jiān)視之。舉例而言，當(dāng)公司設(shè)于一第一位置(如加州)時(shí)，其相關(guān)之制造設(shè)備可設(shè)于國際上的其它遠(yuǎn)端位置(如墨西哥、歐洲等)。因此，在遠(yuǎn)端的用戶可因此監(jiān)視測(cè)視結(jié)果、產(chǎn)出率數(shù)據(jù)及缺陷信息，即時(shí)及動(dòng)態(tài)者皆然。
終端服務(wù)器62連接至一計(jì)算機(jī)站64，其中后者包含一計(jì)算機(jī)66，該計(jì)算機(jī)66包含內(nèi)部儲(chǔ)存裝置63、一連接的監(jiān)視器68、及一個(gè)或多個(gè)輸入裝置70，如鍵盤及鼠標(biāo)器等。計(jì)算機(jī)64自測(cè)試系統(tǒng)軟件通常包含一圖形用戶接口65，其能讓一測(cè)試作者快速重覽測(cè)試系統(tǒng)50的操作。
測(cè)試系統(tǒng)50的能力通過增加更多測(cè)試間54測(cè)試庫54至測(cè)試機(jī)架52可選擇地增加。多測(cè)試機(jī)架52還可串成雛菊鏈，以使可在單個(gè)命令64中可接受測(cè)試及監(jiān)視的自測(cè)試組件10較多。在一測(cè)試系統(tǒng)實(shí)施異50中，每一終端服務(wù)器62都可使測(cè)試信息從八個(gè)測(cè)試間56及八個(gè)自測(cè)試組件單元10送至終端服務(wù)器62，其中該路線系通過八個(gè)專用調(diào)制解調(diào)器60及電話線路連接58而形成。在另一系統(tǒng)實(shí)施例50中，每一終端服務(wù)器62對(duì)十六個(gè)自測(cè)試組件單元10進(jìn)行連接及測(cè)試，以使所有十六個(gè)自測(cè)試組件單元10得獨(dú)立與終端服務(wù)器62及計(jì)算機(jī)64。
一般而言，自測(cè)試電子組件10從一組件區(qū)53送達(dá)測(cè)試區(qū)50，在外殼12上通常沒有刃角或溝緣及蓋件。接著，每一自測(cè)試電子組件10被放至測(cè)試機(jī)架52的一測(cè)試間56中。
圖3為一自測(cè)試系統(tǒng)50中一測(cè)試機(jī)架52的每一測(cè)試間52的回路連接92，其中每一測(cè)試間56較佳地包含背面104(圖4)，其中后者包含調(diào)制解調(diào)器、電源、視頻端口、聲頻端口、串行端口及紅外線接口之回路電路92a-92n。因此，測(cè)試操作者或技術(shù)人員不需要以手動(dòng)方式將纜線連接至一自測(cè)試電子組件10處。
服務(wù)操作員只需要將一建立好之自我測(cè)式組件10置入一測(cè)試盤56的空盤154(圖8及9)中、并將該盤154卡進(jìn)該測(cè)試間56中。當(dāng)一自測(cè)試組件10設(shè)于一測(cè)試間56內(nèi)時(shí)，連接接口30與背面104相接。連接接口30上的連接器31a，32a，33a，34a，36a，38a，40a，42a，44a，46a，47a，48a與背面104上的匹配后連接器相匹配，而盤154及自測(cè)試電子組件10自動(dòng)移回至測(cè)試機(jī)架底板150中(圖8及9)。
背面。圖4為通過彈簧負(fù)載附件106附著于背面支撐托架102的背面104的前視圖100。背面104的移動(dòng)受一個(gè)或多個(gè)背面擋塊108限制，一個(gè)或多個(gè)對(duì)準(zhǔn)孔110位于被平面支撐托架102內(nèi)，并能讓該背面支撐托架相對(duì)一測(cè)試間組件150滑動(dòng)(圖7-10)。圖5為一背面104及背面支撐托架102的斜前視圖，其中背面包含連接器視頻輸出32b、視頻輸入34b、右通道聲頻輸出36b、左通道聲頻輸出38b、左通道聲頻輸入40b、右通道聲頻輸入42b、一調(diào)制解調(diào)器連接器44b、一射頻連接器47b及一電源連接器48b，它們與一自測(cè)試組件10之連接接口30相配接。
測(cè)試間機(jī)構(gòu)。圖6是測(cè)試底座機(jī)構(gòu)150的后視圖。背面104提供至測(cè)試系統(tǒng)50的連接，以及提供至所安裝的自測(cè)試組件的可移動(dòng)連接。圖7是測(cè)試底座機(jī)構(gòu)150的前視圖，具有安裝的組件底座12。組件底座12的連接接口30連接到彈簧負(fù)載背面104的各個(gè)連接器32b-48b。圖8是測(cè)試間機(jī)構(gòu)150的右視圖，它包括移動(dòng)框架154中的一個(gè)或多個(gè)滑塊152。較佳地使用一個(gè)空氣汽缸使移動(dòng)框架154相對(duì)于靜止背框架158移動(dòng)。圖9是測(cè)試間機(jī)構(gòu)150的前透視圖。背面支撐國際中的對(duì)準(zhǔn)孔110沿對(duì)準(zhǔn)滑塊152移動(dòng)。圖10是測(cè)試間機(jī)構(gòu)的后上部透視圖。
測(cè)試間機(jī)構(gòu)150較佳地包括開關(guān)，它感測(cè)自測(cè)試組件10是否被安裝在測(cè)試框架154中。當(dāng)操作者安裝自測(cè)試組件10時(shí)，開關(guān)閉合，然后通過串行端口中的連接接觸被感測(cè)。串行端口反饋到測(cè)試系統(tǒng)51，這允許測(cè)試系統(tǒng)51檢測(cè)是否安裝了自測(cè)試組件10。如果自測(cè)試組件10開始適當(dāng)通信和自測(cè)試，控制系統(tǒng)監(jiān)測(cè)自測(cè)試序列。另一方面，如果安裝了自測(cè)試組件10，但并未對(duì)進(jìn)一步通信作響應(yīng)，控制系統(tǒng)50，51能夠檢測(cè)并顯示組件10的早先故障。在一個(gè)實(shí)施例中，這種故障可以被傳送給測(cè)試間56處的指示燈或者顯示在指令計(jì)算機(jī)用戶接口65上。
測(cè)試間。圖11為一多間測(cè)試機(jī)架外殼52的一測(cè)試艙56的前視圖162，其中該外殼52具有多個(gè)測(cè)試間56、天窗平板164、一供測(cè)試機(jī)架部件或工具、或供應(yīng)設(shè)備冷卻扇置放之下部區(qū)域。此外，測(cè)試艙160還包含滾輪168，用以使測(cè)試艙52得以移動(dòng)，如移動(dòng)于測(cè)試設(shè)備150之內(nèi)。圖12為一測(cè)試機(jī)架外殼52之多間測(cè)試艙160的測(cè)視圖，其中有一前側(cè)162，該前側(cè)162得讓自測(cè)試組件10以可移動(dòng)的方式裝入測(cè)試間56及一背側(cè)172中，其中后者允許后背接入和后門絞鏈170，以供電源連接78及調(diào)制解調(diào)器連接58。圖13是多間測(cè)試機(jī)架外殼52的后視圖。后門174具有通氣天窗176，可以鉸鏈方式安裝在測(cè)試艙160的背面172上。圖14為一多間測(cè)試機(jī)架外殼52的測(cè)試艙160的底視圖。
自測(cè)試組件10一般在其一裝進(jìn)測(cè)試機(jī)架52時(shí)就開始啟動(dòng)自測(cè)試過程，且在進(jìn)行自測(cè)試時(shí)不需要等到測(cè)試機(jī)架52中的每一測(cè)試間56為自測(cè)試組件填滿即可進(jìn)行之。操作中診斷或線上測(cè)試由命令模塊64(圖2)監(jiān)視。
測(cè)試程序軟件22及測(cè)試數(shù)據(jù)23一般被載入并存儲(chǔ)在每一自測(cè)試組件10的存儲(chǔ)器20中，當(dāng)該自測(cè)試組件開始安裝于一測(cè)試間56內(nèi)之時(shí)。
接著，每一自測(cè)試組件10測(cè)試其本身，根據(jù)儲(chǔ)存中的測(cè)試程序22為之。由于每一自測(cè)試組件10皆測(cè)試自身，因此其所需時(shí)間等于測(cè)試大量自測(cè)試組件10的時(shí)間(如200單位)。因此，測(cè)試系統(tǒng)50是可以調(diào)整大小的，且可因加入測(cè)試間56之測(cè)試機(jī)架52而輕易增加測(cè)試能力，同時(shí)沒有增加制造測(cè)試區(qū)50人手的需要，且不增加每一自測(cè)試組件10的測(cè)試所需時(shí)間。
每一自測(cè)試組件10的視頻41及聲頻43，45測(cè)試輸出較佳地連接至一顯示監(jiān)視器76，其中后者接收并顯示每一自測(cè)試組件10送來的測(cè)試結(jié)果信息。測(cè)試機(jī)架52連接72至一個(gè)或多個(gè)測(cè)試顯示監(jiān)視器76。在一實(shí)施異中，一視頻選擇切換器74連接至每一測(cè)試機(jī)架56a，56n的視頻輸出端口72，并以可切換的方式連接至一單一顯示監(jiān)視器76，以使來自一選定自測(cè)試組件10的輸出信號(hào)可選擇地為一操作員所監(jiān)視。
在另一不同實(shí)施例中，每一測(cè)試機(jī)架56a-56n之視頻輸出端口72的每一者皆連接至一獨(dú)立專用顯示監(jiān)視器76，以使來自數(shù)個(gè)選定之自測(cè)試組件10的輸出信號(hào)可同時(shí)為操作員所監(jiān)視。在一實(shí)施例中，使用的監(jiān)視器為獨(dú)立專用13英寸電視監(jiān)視器76，其中每一者皆具有混合信號(hào)(即聲頻及視頻)連接。各專用監(jiān)視器76置于每一測(cè)試間56的作法得使操作員輕易觀測(cè)測(cè)試進(jìn)行中的自測(cè)試組件，并可讓操作員輕易分辨通過之單元10及有缺陷之單元10。故而，通過之自測(cè)試組件10得避免被置入剔除區(qū)84，同時(shí)有缺陷之組件10更能完全避免被置入一通過區(qū)80中。
測(cè)試機(jī)架52可為一功能診斷用自測(cè)試平臺(tái)，或可為＂熔斷＂自測(cè)試平臺(tái)。一般而言，功能診斷用測(cè)試平臺(tái)可一次執(zhí)行所有的功能測(cè)試工作，而一熔斷平臺(tái)則執(zhí)行重復(fù)執(zhí)行功能測(cè)試，以使自測(cè)試組件10在一般狀況下可工作數(shù)個(gè)小時(shí)(如4，8或24小時(shí))。一測(cè)試機(jī)架52每一測(cè)試間56一般都是可各別重組的，以進(jìn)行功能測(cè)試或＂熔斷＂測(cè)試。當(dāng)一自測(cè)試組件10被置入一測(cè)試間56時(shí)，命臺(tái)64一般都顯示目前某經(jīng)所選間56正進(jìn)行之測(cè)試類別。一般而言，在一單一裝備中所有測(cè)試間56的組織皆類似(如一測(cè)試機(jī)架中的每一測(cè)試間56，或以該測(cè)試機(jī)架中的每一測(cè)試間56作為熔斷測(cè)試用)。
命令臺(tái)64上的用戶接口顯示器65以為彩色編碼為佳，以使執(zhí)行中的測(cè)試類型得以分辨。雖然一顯示監(jiān)視器76接收并顯示一單一自測(cè)試組件10之測(cè)試信息及結(jié)果，命令臺(tái)64之用戶接口65仍可同時(shí)顯示一個(gè)或多個(gè)自測(cè)試組件之測(cè)試狀態(tài)。當(dāng)顯示一自測(cè)試組件之狀態(tài)時(shí)，組件的顯示顏色通常用以區(qū)分＂通過＂組件與＂缺陷＂組件。舉一實(shí)施例而言，在用戶接口65上一測(cè)試機(jī)架的顯示顏色以綠色代表一＂通過＂單元，以紅色代表＂缺陷＂單元。測(cè)試進(jìn)行當(dāng)中，帶有顏色的指示器閃爍，并在測(cè)試完成之后維持固定(可為紅色或綠色)。
在另一實(shí)施例中，每一自測(cè)試組件10或者是裝有一自測(cè)試組件10之測(cè)試機(jī)架包含發(fā)光二極體(LED)，以供測(cè)試用，且其與用戶接口65上的顯示顏色及操作類似。若一自測(cè)試組件10發(fā)生問題，一紅測(cè)試LED即在自測(cè)試組件10上打開；然若自測(cè)試組件全部通過測(cè)試，那么該自測(cè)試組件10上便會(huì)以綠色測(cè)試LED顯示。當(dāng)自測(cè)試組件正進(jìn)行測(cè)試當(dāng)中，綠色測(cè)試LED閃爍。一自測(cè)試組件10之底座12上的測(cè)試LED以能提供測(cè)試狀態(tài)的有效區(qū)域決定功能為佳，以使一測(cè)試操作員或技術(shù)人員可快速準(zhǔn)確地辨認(rèn)并轉(zhuǎn)送通過或缺陷自測(cè)試組件。
診斷測(cè)試。一旦自測(cè)試組件10被置入測(cè)試機(jī)架52中，便能自動(dòng)通電。在一實(shí)施例中，處理器建立一PPP連接，并執(zhí)行一FTP的取得(get)功能，以獲取并儲(chǔ)存所需測(cè)試邏輯22。
接著，處理器18執(zhí)行一診斷測(cè)試碼，根據(jù)儲(chǔ)存中的測(cè)試邏輯22為之。當(dāng)自測(cè)試組件10設(shè)于測(cè)試機(jī)架52中時(shí)執(zhí)行多道診斷測(cè)試。當(dāng)自測(cè)試電子組件10執(zhí)行診斷測(cè)試時(shí)，自測(cè)試組件10更新服務(wù)器62之結(jié)果，可為測(cè)試當(dāng)中連續(xù)更新或以一最后總測(cè)試報(bào)告之骯式為之。每一測(cè)試都能使一自測(cè)試組件10的信心度提高，因?yàn)闇y(cè)試能核對(duì)部件16及電路14，如快閃存儲(chǔ)器、系統(tǒng)RAM盤、及信號(hào)編碼器與解碼器(圖15，16)。
每一自測(cè)試組件10中進(jìn)行的診斷測(cè)試為一獨(dú)立過程，因?yàn)闇y(cè)試邏輯及控制單元22存儲(chǔ)在自測(cè)試組件10中，而處理器18得執(zhí)行所需之測(cè)試，并建立一報(bào)告卡24。由于每一自測(cè)試電子組件10負(fù)責(zé)其本身之測(cè)試工作，故一測(cè)試機(jī)架52中自測(cè)試電子組件單元10的數(shù)目并不增加測(cè)試時(shí)間，其測(cè)試32個(gè)單元10所需時(shí)間同于測(cè)試一單一單元10者。
自測(cè)試電子組件10能制執(zhí)行多部件16及電路14的測(cè)試，其方式為送出信號(hào)32，36，38，46并使通過回路電路82a-92n、并處理或比較接收到的信號(hào)34，40，42，47(如聲頻或視頻)與原始信號(hào)23，以確定部件及組件性能。在回路測(cè)試中，處理器18以控制的方式在輸初端口處送出一個(gè)或多個(gè)儲(chǔ)存中測(cè)試信號(hào)23，該等信號(hào)23接著猶送回至自測(cè)試組件單元10之輸入端口。接著，對(duì)返回信號(hào)加以處理(如經(jīng)由解碼部件16)，處理器再比較接收及礎(chǔ)理過之信號(hào)至原始儲(chǔ)存信號(hào)23，以確認(rèn)該返回信號(hào)為正確者(如等于存儲(chǔ)在儲(chǔ)存裝置20上之原始儲(chǔ)存測(cè)試影像)。在一實(shí)施例中，自測(cè)試組件單元10還可接收一標(biāo)準(zhǔn)便視頻號(hào)供入(如具有視頻及聲頻之信號(hào)者)，并可執(zhí)行聲頻及視頻回路測(cè)試。
除了視頻及聲頻的回路測(cè)試外，自測(cè)試組件單元10可執(zhí)行其它數(shù)據(jù)之傳送接收、處理、編碼及解碼，傳遞路徑可為經(jīng)連接之序列調(diào)制解調(diào)器60等。
在一實(shí)施例中，自測(cè)試組件單元10得對(duì)信號(hào)進(jìn)行全面解碼及編碼。自測(cè)試組件10測(cè)試該編碼及解碼操作(典型上為一測(cè)試信號(hào))，如儲(chǔ)存中數(shù)據(jù)23或接收得之信號(hào)數(shù)據(jù)，該測(cè)試信號(hào)編碼該信號(hào)，經(jīng)由輸出端口(如32，36，38)、透過回路電路92送出該信號(hào)，并送至該輸入端口)如34，40，42，其中該自測(cè)試組件對(duì)該編碼數(shù)據(jù)進(jìn)行解碼、比較該經(jīng)解碼數(shù)據(jù)及該原始信號(hào)23，并分辨該自測(cè)試組件單元10是否已收到與原始編碼及傳送相同的信號(hào)23。
測(cè)試服務(wù)器62上運(yùn)行的用戶接口65負(fù)責(zé)顯示測(cè)試之持續(xù)或最后狀態(tài)。正處于測(cè)試中的自測(cè)試組件10顯示于用戶接口65內(nèi)的選定測(cè)試機(jī)架56中，并由黃色指出，上面還有一顯示消息，以指出其正處于＂TESTING(測(cè)試中)＂狀態(tài)。若自測(cè)試電子組件10通過所有必要的測(cè)試，則自測(cè)試電子組件10的顯示測(cè)試間變成綠色，并顯示＂SHIP IT(載運(yùn)之)＂之消息，操作員于是可將所需的自測(cè)試組件10從測(cè)試機(jī)架52移開，并將之置入一封裝及載運(yùn)區(qū)80(圖2)。另者，若顯示指示器量起紅燈、并顯示一＂FAILED(有故障)＂消息，于是操作員可將所需的自測(cè)試組件10從測(cè)試機(jī)架52移開，并將之置入一修復(fù)區(qū)80或一剔除區(qū)84(圖2)處。
如上所討論的，若自測(cè)試組件10中的主處理器18不能操作，那么命令模塊64快速接收一指出該自測(cè)試組件10的一個(gè)或多個(gè)主功能區(qū)14，16為缺陷的信號(hào)，以使該組件得被正確導(dǎo)引至一修復(fù)區(qū)82或一剔除區(qū)84。
一旦一測(cè)試組件單元10完成自測(cè)試，那么自測(cè)試組件單元就將測(cè)試結(jié)果24存成一可檢索的之記錄文件，外部操作者無需決定裝置之何部份有缺陷，也不需要加以標(biāo)記?？蓹z索的之記錄文件24，因此若該文件24從測(cè)試區(qū)傳送至一修復(fù)區(qū)82存儲(chǔ)在該裝置10中，則該文件24與該組件10同在。在一修復(fù)區(qū)82處，記錄文件24可檢索的，并被配以一序號(hào)29(圖1)，該序號(hào)29在底座12上。
試車測(cè)試。試車測(cè)試通常是以取樣的方式進(jìn)行的，在功能診斷測(cè)試前后進(jìn)行皆可。在一實(shí)施例中，在功能診斷測(cè)試之前，自測(cè)試組件單元10之一選定百分比(如10％)接受較長時(shí)間的測(cè)試(如4小時(shí))。
雖然試車測(cè)試一般包含與功能測(cè)試相同之測(cè)試，但功能測(cè)試系在某定義的執(zhí)行區(qū)間重復(fù)進(jìn)行。用以進(jìn)行試車測(cè)試的測(cè)試機(jī)架52還可設(shè)計(jì)成得執(zhí)行較長時(shí)間的測(cè)試。由于功能及較長時(shí)間之執(zhí)行中(熔斷)測(cè)試較佳地為相同的固定裝置52，因此測(cè)試固定裝置不需為分離者、維修不需分別為之、還不需訓(xùn)練操作不同的測(cè)試機(jī)架52。
對(duì)試車測(cè)試，自測(cè)試電子組件10如上述被置于測(cè)試機(jī)架52中。輸出信號(hào)端口(如聲頻及視頻端口)自動(dòng)拉成回路，拉至輸入信號(hào)端口，由測(cè)試機(jī)架背面連接104為之。此外，測(cè)試機(jī)架52還自動(dòng)負(fù)責(zé)與測(cè)試服務(wù)器72、一個(gè)或多個(gè)顯示監(jiān)視器76及電源78的連接。
關(guān)于功能診斷自測(cè)試，每個(gè)自測(cè)試組件10可在其安裝進(jìn)一測(cè)試間56之時(shí)啟動(dòng)試車測(cè)試，也可以在一次即啟動(dòng)全部的自測(cè)試組件10，如在一測(cè)試機(jī)架52中的所有測(cè)試間56皆含有一自測(cè)試組件10時(shí)。
在命令模塊64上運(yùn)行的用戶接口65一般顯示在試車測(cè)試任何時(shí)候的測(cè)試狀態(tài)。此外，在測(cè)試一完成時(shí)，與系統(tǒng)50相接之顯示監(jiān)視器68.76顯示＂PASS(通過)＂或＂FAIL(缺陷)＂消息。缺陷消息儲(chǔ)存儲(chǔ)在每一自測(cè)試組件10當(dāng)中，并還較佳地存儲(chǔ)在控制單元64之盤裝置63的記錄文件內(nèi)。
關(guān)于測(cè)試的詳細(xì)信息選擇性顯示于命令單元64上，當(dāng)一測(cè)試操作員鍵壓用戶接口65內(nèi)一所選間時(shí)。每一測(cè)試結(jié)果皆以一標(biāo)準(zhǔn)記錄文件24及一相關(guān)之錯(cuò)誤記錄表示。測(cè)試用戶接口65收集所有的制程信息，并儲(chǔ)存產(chǎn)率資耀及錯(cuò)誤信息，以使操作員不需手動(dòng)操作，不管為測(cè)試或SPC數(shù)據(jù)收集。
診斷及試車測(cè)試一成功完成，自測(cè)試組件即自動(dòng)離開自測(cè)試模式。就一般而言，通過之自測(cè)試組件接著由操作員手動(dòng)或自動(dòng)在一機(jī)器人制造及測(cè)試設(shè)備53，50中移動(dòng)至一封裝區(qū)80。外蓋件及角緣接著裝于通過自測(cè)試組件10上，接著并準(zhǔn)備運(yùn)送(如目視觀測(cè)及打包等)，接著封裝，通常與一些補(bǔ)充材料封裝在一塊，如連接纜線及手冊(cè)等。
修復(fù)及排除故障。測(cè)試后，＂缺陷＂自測(cè)試組件10的可檢索的數(shù)據(jù)24較佳地用于狀況處理及修復(fù)區(qū)82。每一測(cè)試都在測(cè)試結(jié)果中建立一標(biāo)準(zhǔn)輸出及一標(biāo)準(zhǔn)錯(cuò)誤記錄。根據(jù)這些標(biāo)準(zhǔn)輸出及標(biāo)準(zhǔn)錯(cuò)誤記錄24，最有可能的錯(cuò)誤來源便可決定之(如一特定視頻路徑或一個(gè)或多個(gè)晶片)?？蓹z索的數(shù)據(jù)24較佳地用以錯(cuò)誤分析及修復(fù)中，如此便可減少操作者手動(dòng)標(biāo)記或數(shù)據(jù)輸入的步驟。
修復(fù)區(qū)計(jì)算機(jī)83連接至自測(cè)試組件10，檢索所儲(chǔ)存的測(cè)試結(jié)果及錯(cuò)誤文件24。修復(fù)區(qū)計(jì)算機(jī)83較佳地包含錯(cuò)誤分析軟件，以分析取得之測(cè)試報(bào)告，并得知可能存在的問題，并得有解決之道。舉異而言，修復(fù)區(qū)計(jì)算機(jī)83可建議修復(fù)人員測(cè)試一個(gè)或多個(gè)部件16(如建議修人員測(cè)量微處理機(jī)上的幾根針腳上的電壓)。修復(fù)區(qū)計(jì)算機(jī)63較佳地還顯示所需(或有問題)采樣針腳信號(hào)波形。在對(duì)一個(gè)或多個(gè)部件16或電路14測(cè)試或診斷時(shí)，軟件接著以能指出更進(jìn)一步分析結(jié)果或解決之道為佳。
在另一較佳實(shí)施例中，修復(fù)區(qū)計(jì)算機(jī)83的統(tǒng)計(jì)顯示會(huì)伴隨潛在報(bào)告問題出現(xiàn)。以自測(cè)試組件10所檢測(cè)到的問題而言，不管為自測(cè)試組件10或修復(fù)區(qū)計(jì)算機(jī)83皆以能報(bào)告所報(bào)導(dǎo)可能發(fā)生問題之來源統(tǒng)計(jì)可能性為佳(如＂在第一部件16a處有百分之九十發(fā)生問題的機(jī)會(huì)，其由檢測(cè)第1腳及第8腳的電壓而得；而百分之十的機(jī)會(huì)會(huì)發(fā)生在第二部件處16b，其由檢測(cè)第1腳及第16腳的電壓而得＂)。因此，自測(cè)試組件10、測(cè)試系統(tǒng)50及修復(fù)區(qū)計(jì)算機(jī)83可建立排解組件10問題的＂智慧＂，其依據(jù)一個(gè)或多個(gè)自測(cè)試組件10上之前的測(cè)試及解決之道而得到者，并還可由技術(shù)人員及工程師處獲得。
因此，每一自測(cè)試組件中的儲(chǔ)存測(cè)試報(bào)告24提供了一個(gè)能輔助技術(shù)人員克服問題、并修復(fù)自測(cè)試組件10的寶貴工具。因此，儲(chǔ)存中可檢索的之測(cè)試報(bào)告24還有效輔助對(duì)問題之診斷及使正確化的功能，并降低些復(fù)人員所需的技術(shù)層級(jí)，故還降低了自測(cè)試組件10的成本。
統(tǒng)計(jì)測(cè)試概述。在測(cè)試漂移或工作日末尾，在命令計(jì)算機(jī)64處有一摘要文件備制于該處，并較佳地被打印，顯示受測(cè)自測(cè)試電子組件10數(shù)量、每一受測(cè)組件10的序號(hào)29、每一組件10的測(cè)試結(jié)果、總體成品率(即通過自測(cè)試電子組件10之百分比)、及整個(gè)測(cè)試天或工作天受拒及錯(cuò)誤種類的摘要。服務(wù)器62較佳地還互連至制造區(qū)53，以使測(cè)試狀態(tài)的結(jié)果、受測(cè)單位及良率可選擇性受到察看，不管該些數(shù)據(jù)為即時(shí)或儲(chǔ)存以供以后使用、或供覆閱及報(bào)告用戶皆然。
在測(cè)試系統(tǒng)50操作的任何選定時(shí)間(如下五兩點(diǎn))時(shí)，測(cè)試系統(tǒng)50較佳地能報(bào)告已受測(cè)之組件10究為何者、及本設(shè)備53，50在目前時(shí)段中的良率。在一工作天之末尾，每日良率即可取得。在每周之末尾，每周之良率皆可取得。雖然這種報(bào)告在制造環(huán)境中顯較不適用，但自測(cè)試組件10及自測(cè)試系統(tǒng)50所提供的自動(dòng)化卻是唯一的。再者，由每一自測(cè)試組件10所提供的診斷測(cè)試程度及排除問題信息還是唯一的。
內(nèi)部部件信息跟蹤。在延伸制造系統(tǒng)中，相似電子組件通常在不同位置處制造，如相同組織的不同工廠內(nèi)，或由不同供應(yīng)商制造，如合約制造場(chǎng)商。自測(cè)試電子組件單元10一般包含一特有之識(shí)別號(hào)(如序號(hào))29，其能讓測(cè)試操作員或用戶判定制早日期及制造地點(diǎn)。
在一些傳統(tǒng)電子制造系統(tǒng)中，部件及底座上的條碼有時(shí)可作為識(shí)別用。條碼讀取器一般與部件及底座上條碼(沿組件線)保持目視接觸。外部裝置(如備用計(jì)算機(jī))可用以記錄此供識(shí)別之條碼，以跟蹤該等部件及其相關(guān)組件。
自測(cè)試電子組件10與這種傳統(tǒng)跟蹤系統(tǒng)不同，其系在內(nèi)部跟蹤及記錄其部件的身份。自測(cè)試組件10中的部件16通常都有唯一系統(tǒng)識(shí)別號(hào)17，其通常由處理器18判知。舉例而言，每一驅(qū)動(dòng)裝置20皆有一唯一序號(hào)17，因此每一自測(cè)試組件單元10皆有唯一系統(tǒng)識(shí)別子29及驅(qū)動(dòng)裝置序號(hào)17。
自測(cè)試組件單元10的諸多其它部件包含識(shí)別信息，其可被檢測(cè)及儲(chǔ)存。除了盤驅(qū)動(dòng)裝置20之序號(hào)外，CPU 18及其它部件16上的步進(jìn)號(hào)碼17還可被識(shí)別，該其它部件之例可為解碼器或編碼器等。
因此，當(dāng)每一自測(cè)試組件10初始化(即開機(jī))并開始行自測(cè)試時(shí)，自測(cè)試組件10較佳地從部件16讀取所有可供使用的識(shí)別字串17、并記錄可使用識(shí)別字串17，這些部件16包含該種信息17(如供編碼用者)。自測(cè)試電子組件10以能跟蹤所有可使用信息17、并自動(dòng)將它們連接至每一自測(cè)試電子組件10為佳。因此，一自測(cè)試電子組件10內(nèi)部的儲(chǔ)存狀態(tài)以包含功能測(cè)試信息及所有可讀取部件17為更佳。
在使部件16與經(jīng)識(shí)別之自測(cè)試單元相關(guān)的制造區(qū)53中，命令臺(tái)64較佳地提供顯示或警示，如供通知多個(gè)缺陷自測(cè)試組件已經(jīng)發(fā)現(xiàn)等。舉例而言，若一新批編碼器抵達(dá)一制造設(shè)備53(每一者皆有一可跟蹤步進(jìn)號(hào)碼17)，且大量百分比之自測(cè)試組件未通過編碼及解碼回路測(cè)試，此時(shí)測(cè)試系統(tǒng)51以能識(shí)別這種常見問題為佳，并以能將問題與新批解馬器之相似記錄步進(jìn)號(hào)碼17相關(guān)聯(lián)為佳。
自測(cè)試組件的較佳電路。圖15為一較佳自測(cè)試電子組件的第一電路方塊圖170a。圖16為圖15所示自測(cè)試電子組件10的第二電路方塊圖170b。雖然基本自測(cè)試組件10可適用于極多種成品，但圖15和16所示的較佳自測(cè)試組件實(shí)施例10能接收電視節(jié)目預(yù)告數(shù)據(jù)、提供電視收看的時(shí)間平移系統(tǒng)、及提供節(jié)目導(dǎo)引吱料及控制。
在一較佳自測(cè)試電子組件10的較佳實(shí)施例中，處理器18為IBMPPC403GCX處理器。處理器18的串行端口172連接到粘貼邏輯174、安全微處理器176、紅外線板及紅外線輸出口180。處理器18還連接至復(fù)位182及地址總線194及數(shù)據(jù)總線186。一序列地址多工器188接至地址總線184及一數(shù)據(jù)總線186?？扉W存儲(chǔ)器192還連接至地址總線184及數(shù)據(jù)總線186。同時(shí)一DSS端口UART 194連接至地址總線184及數(shù)據(jù)總線186，并連接至DSS端口XVR 196及一DSS I/O插座198。一調(diào)制解調(diào)器MCU 200(在一實(shí)施例中其為洛克韋爾(Rockwell)part No.RC336LU)連接至地址總線184及數(shù)據(jù)總線186，并連接至一調(diào)制解調(diào)器MDP 202，其中后者在一實(shí)施例中為Rockwell part No.RC336LU。快閃存儲(chǔ)器204及SRAM存儲(chǔ)器206還連接至調(diào)制解調(diào)器MCU 200及調(diào)制解調(diào)器MDP 202。此外，與調(diào)制解調(diào)器MDP 202連結(jié)者爙有DAA裝置208，210及212，其中后者在一實(shí)施例中分別為Krypton part Nos.K951C、K934L、K952。DAA 212還連接至RJ11連接器214。一12C總線216連接至一時(shí)脈晶片218及一電池220。
圖16還示出，地址總線184、數(shù)據(jù)總線186及12C總線216接附至媒體切換器ASIC 222。媒體憋換器ASIC 222接附至一IDE接口224、一MPEG2 A/V解碼器226(在一實(shí)施例中其為IBM CS22)及一MPEG2視頻編碼器228(在一實(shí)施例中其為Sony Part No.CXD1922Q)。測(cè)試邏輯22由IDE接口224輸入。一MPEG2聲頻編碼器還連接至該媒體切換器ASIC 222及MPEG2視頻編碼器228。MPEG2視頻編碼器228使用之存儲(chǔ)器為SDRAM。一總線切換器234還連接至地址總線184、數(shù)據(jù)總線186、及MPEG2視頻編碼器228及MPEG2聲頻編碼器230。一NTSC視頻編碼器236(在一實(shí)施例中其為Brooktree part No.BT865A)連接至一雙運(yùn)算放大器238(在一實(shí)施例中其為Elantec Part No.EL2250C)，其中后者接附至RCA堆棧240，242。NSTC視頻編碼器236還包含S-視頻輸出連接31。一聲頻混合晶體44(在一實(shí)施例中其為IBM Part No.CS4333)接附至媒體切換器ASIC 222及一四運(yùn)算放大器246(在一實(shí)施例中其為Motorola part No.MS33204D)，其中后者包含RCA堆棧連接器36，38。一3合1調(diào)諧器248(在一實(shí)施例中其為一ALPs Part No.TMDH2xxxx系列部件)接至NTSC視頻編碼器236、四運(yùn)算放大器246及一MTS聲頻解碼器250與一NTSC視頻解碼器252。
系統(tǒng)安全性。圖15和16中所示的自測(cè)試組件10被當(dāng)作傳遞一分散式電視服務(wù)的平臺(tái)。欲提供一經(jīng)劑且可實(shí)行之分散式電視服務(wù)，安全、每一接收器自測(cè)試組件經(jīng)鑒別之通訊及一電視收看信息之中央數(shù)據(jù)庫264(第19圖)皆是其中的關(guān)鍵。因此，自測(cè)試電子組件10的較佳實(shí)施例系操作在一安全組織下。同時(shí)，安全且經(jīng)鑒別之通訊是其它自測(cè)試組件10還中意擁有的。
圖17所示為一安全軟件模塊25(第1圖)轉(zhuǎn)送至安全微處理器176的詳細(xì)方塊圖，其并負(fù)責(zé)制程中安全微處理器176之安全密鑰270，272的轉(zhuǎn)送。安全軟件模塊25包含一鑒別算法258、一加密及解意算法260及一主要產(chǎn)生算法262。圖18為一安全微處理器176內(nèi)安全密鑰270，272的產(chǎn)生、儲(chǔ)存及轉(zhuǎn)送的流程圖278。
當(dāng)自測(cè)試電子組件10在初始啟動(dòng)時(shí)(或當(dāng)自測(cè)試完成時(shí))，該組件即產(chǎn)生其本身之密秘密鑰270，以限制對(duì)該組件10的使用。當(dāng)自測(cè)試電子組件10位于一測(cè)試機(jī)架52之一測(cè)試間56并受到測(cè)試時(shí)，內(nèi)部安全微處倚器176下載該安全軟件模塊25至內(nèi)部存儲(chǔ)器266。接著，安全微處理器176執(zhí)行內(nèi)部程序化之安全軟件25，以產(chǎn)生一安全密鑰對(duì)268，該對(duì)安全密鑰對(duì)268至少包含一公用鑰墀272及一專用密鑰270，其中前者272與測(cè)試數(shù)據(jù)一起被送276至命令單元62，64。如第18圖所示，接著安全微處理器176以使安全微處理器軟件環(huán)境(如熔斷硬線保險(xiǎn)絲)為佳，以避免未經(jīng)授權(quán)的使用、處理或改變。
專用密鑰270被當(dāng)作將一期間密鑰遞交給自測(cè)試組件10的鑒別及安全機(jī)制，其絕不出現(xiàn)在任何自測(cè)試組件10上，也絕不從組件10傳出。外部系統(tǒng)利用專用密鑰270與自測(cè)試組件10溝通，并控制之，并使該系統(tǒng)50對(duì)該自測(cè)試組件10鑒別，藉以使用自測(cè)試組件10之?dāng)?shù)據(jù)及運(yùn)作歷史。因此，自測(cè)試組件10產(chǎn)生其本身之密鑰270，并轉(zhuǎn)送公用密鑰276，以讓系統(tǒng)50與該自測(cè)試組件10溝通。
由于每一自測(cè)試組件10皆在內(nèi)部產(chǎn)生其各自的專用密鑰270、并不將專用密鑰270分散于外部，因此對(duì)自測(cè)試組件10的使用得受到嚴(yán)格控制。一個(gè)合格的外部系統(tǒng)(如測(cè)試系統(tǒng)51或其它合格系統(tǒng))僅需對(duì)公用密鑰272保密。且每一公用密鑰272僅適合于一特定自測(cè)試組件10，因此自測(cè)試組件10可謂對(duì)合格的外部系統(tǒng)建立了一安全、經(jīng)加密通訊通道。
較佳實(shí)施例的詳細(xì)診斷測(cè)試。第15及16中，較佳電路14之診斷測(cè)試包含一系統(tǒng)之核心功能測(cè)試單元，其中后者被設(shè)計(jì)為核心0功能測(cè)試、核心1功能測(cè)試及核心2功能測(cè)試。
核心0功能測(cè)試程序22位于快閃存儲(chǔ)器中，在一實(shí)施例中其并由快閃存儲(chǔ)器/CRC測(cè)試、Power PC內(nèi)部測(cè)試、系統(tǒng)RAM存儲(chǔ)器測(cè)試及盤/IDE部件測(cè)試。
核心1功能測(cè)試程序22一般皆存儲(chǔ)在核心存儲(chǔ)器內(nèi)，并常由一序列的集成電路等級(jí)的寄存器測(cè)試組成。在所示之實(shí)施例中其包含用戶階層安全測(cè)試、媒體切換器寄存器測(cè)試、MPEG視頻編碼器寄存器測(cè)試、MPEG聲頻編碼器寄存器測(cè)試、一12C寄存器測(cè)試(NTSC編碼器、NTSC解碼器立體(MSP)編碼器、RTC及調(diào)諧器)、12S寄存器測(cè)試、MPEG解碼器寄存器測(cè)試、MPEG AV解碼器SDRAM測(cè)試及MPEG視頻編碼器SDRAM測(cè)試。
核心2功能測(cè)試程序22由全部的聲頻/視頻(A/V)、紅外線及串行端口回路測(cè)試組成。核心2功能測(cè)試程序位于核心存儲(chǔ)器中，且通常由YUV顏色條及其編碼視頻表示法表示，這些表示位于儲(chǔ)存裝置、一序列之聲頻的解碼、編碼、解碼及比較、VBI測(cè)試(執(zhí)行于射頻、混合信號(hào)及S-視頻I/O中)、紅外線回路及程序化、溫度感測(cè)、時(shí)間及數(shù)據(jù)設(shè)定操作、冷卻用扇之測(cè)試、序列步測(cè)試、紅外線連接器測(cè)試、及調(diào)制解調(diào)器命令測(cè)試。典型上，調(diào)制解調(diào)器測(cè)試由UUT開始，該UUT經(jīng)由一PSTN模擬器58撥接一外部調(diào)制解調(diào)器(如測(cè)試調(diào)制解調(diào)器60等)，并經(jīng)由一終端服務(wù)器62而送出一測(cè)試文件至測(cè)試PC 64上。診斷測(cè)試完成時(shí)，即便早期有錯(cuò)誤或多個(gè)錯(cuò)誤被記錄。錯(cuò)誤信息被存儲(chǔ)在自測(cè)試組件驅(qū)動(dòng)裝置20的記錄文件24中。
安裝的自測(cè)試組件的操作。自測(cè)試組件10我用的技術(shù)可實(shí)施于諸多成品上。第15及16圖所示之較佳自測(cè)試組件實(shí)施例10接收電視節(jié)目預(yù)告數(shù)據(jù)、提供收看電視之時(shí)間平移系統(tǒng)、并還提供以節(jié)目導(dǎo)引數(shù)據(jù)及控制。第19圖所示為一較佳自測(cè)試組件10之系統(tǒng)方塊圖，其中該組件10與一中央計(jì)算機(jī)284進(jìn)行通訊。在一遠(yuǎn)端位置282處(如家中)，一自測(cè)試組件10典型上連接至電源298、一輸入地贍信號(hào)纜線292、一電視線290及一電視機(jī)294，及補(bǔ)充用部件(如視頻盒式錄像機(jī)295、一立體系統(tǒng)286、聲頻揚(yáng)聲器298a，298b及其它裝置(如遠(yuǎn)端控制器、視頻游戲裝置或網(wǎng)際網(wǎng)路連接裝置(如一WebTVTM控制板及遠(yuǎn)端WebTVTM板)))。此外，自測(cè)試組件還應(yīng)連接，如經(jīng)由電話網(wǎng)路290通至一中央系統(tǒng)284。
較佳自測(cè)試組件10選擇性捕獲編程信號(hào)、并儲(chǔ)存之(如存至一內(nèi)部盤裝置中)，以供以后檢索和觀看。程序?qū)б龜?shù)據(jù)輔助裝置以可控制的方式補(bǔ)捉及儲(chǔ)存該名觀眾選定的節(jié)目，并以能建議與該觀看者輸入之?dāng)?shù)據(jù)相匹配得可得節(jié)目為佳。較佳自測(cè)試組件10選擇性對(duì)進(jìn)一步的看暗建議，根據(jù)觀看者收視習(xí)慣為之(如自測(cè)試組件10可檢測(cè)一觀看者是否常收看DIY類型節(jié)目，并以能建議類似節(jié)目會(huì)即將賞演節(jié)目之部份為佳，其中即將上演節(jié)目提供有相關(guān)之節(jié)目內(nèi)容，如制木、園藝或持家節(jié)目)。
較佳自測(cè)試組件10還可與中央系統(tǒng)284溝通(如操作參數(shù)(如經(jīng)測(cè)得之溫度))，并可取得周期性地自我策試的測(cè)試結(jié)果(因此得跟蹤該組件之長期性能)。較佳自測(cè)試組件10還可選擇性使電視收看歷史與一中央系統(tǒng)溝通，中央系統(tǒng)284此時(shí)通常聚集多個(gè)觀看者之收看信息，其中聚集得之觀看數(shù)據(jù)能能提供寶貴的信息，不需使用或散布各觀眾之收視數(shù)據(jù)。
現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試及記錄。在一較佳實(shí)施例中，當(dāng)組件單元10被分散并在操作于一外部位置282時(shí)每一自測(cè)試組件單元10繼續(xù)監(jiān)視其本身，并跟蹤外部操作條件，如電源錯(cuò)誤、周圍或內(nèi)部操作溫度。如以上所述者，溫度感測(cè)器28以用于跟蹤周圍或操作溫度為佳，以使扇26在需要時(shí)可操作。在該實(shí)施例中，自測(cè)試組件繼續(xù)測(cè)量溫度，并將信息存儲(chǔ)在其內(nèi)部。
自測(cè)試組件單元10周期性地從現(xiàn)場(chǎng)與中央服務(wù)器284相通(經(jīng)由調(diào)制解調(diào)器連接44)，并傳送該種所儲(chǔ)存信息。中央服務(wù)器284從一個(gè)或多個(gè)組件件單元10接收并儲(chǔ)存監(jiān)視信息，其或一經(jīng)連接之計(jì)算機(jī)64較佳地能將每一組件單元10現(xiàn)場(chǎng)性能與原始測(cè)試數(shù)據(jù)及該組件單元10及內(nèi)部部件16a-16n，20，22，26，28的制造日期相關(guān)聯(lián)。因此，該系統(tǒng)提供該等組件錯(cuò)誤的統(tǒng)計(jì)平均時(shí)間及組件內(nèi)經(jīng)跟蹤部件之任何者。
現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試及數(shù)據(jù)至中央系統(tǒng)的傳送。自測(cè)試組件10提供關(guān)鍵部件的信息，此可在測(cè)試中為之，還可于測(cè)試后為之。關(guān)鍵部件一般定義為一能提供該等組件之高制造成本百分比如90％)及可靠功能測(cè)試組件的少量百分比部件(如10％)。在第15及16圖所示的較佳實(shí)施例中，處理器18及存儲(chǔ)器20可現(xiàn)下被當(dāng)作關(guān)鍵部件16，因?yàn)槠涑杀鞠喈?dāng)之高，且其相對(duì)平均錯(cuò)誤時(shí)間(與組件10中其它部件16相較而言)。
自測(cè)試組件10較佳地根據(jù)部件及一段時(shí)間的測(cè)試結(jié)果建立一數(shù)據(jù)庫記錄，其中數(shù)據(jù)庫記錄周期性地送至中央系統(tǒng)，并有一中央數(shù)據(jù)庫隨時(shí)間建立，以供每一自測(cè)試組件10及相關(guān)之自測(cè)試組件10(如相似之部件16、電路或制造日期)用。
以及，自測(cè)試組件10較佳地包含至用戶的輸出，視輸出為操作參數(shù)或測(cè)試結(jié)果而定。舉例而言，測(cè)得超過130F工作溫度的自測(cè)試組件10較佳地能夠輸出一消息給用戶，以核對(duì)安裝位置(如靠近陽光直照窗口，或靠近加熱器)。
在此處，雖然自測(cè)試電子組件10及其使用方法系與視頻及聲頻處理及儲(chǔ)存一塊說明，但該設(shè)備及技術(shù)實(shí)可用于其它裝置或其它測(cè)試及操作環(huán)境中。同時(shí)，雖然自測(cè)試電子組件10及其使用方法在此處系配合某些特定硬體為之(如處理器、編碼器、解碼器及信號(hào)處理裝置)，但該等設(shè)備及技術(shù)實(shí)可用于其它類比或數(shù)位部件及電路、或上述幾者之組合上，只要需要即可應(yīng)用之。
上述之說明僅為本發(fā)明中的較佳實(shí)施例，而非用以限定本發(fā)明之范圍，故利用這些實(shí)施例所進(jìn)行的修改或更動(dòng)都不脫離在所附專利范圍所言明之范圍外，本發(fā)明之范圍當(dāng)以后述的專利申請(qǐng)范圍為基準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種自測(cè)試系統(tǒng)，所述自測(cè)試系統(tǒng)包含包含多個(gè)互連部件的電子電路；連接至所述電子電路的一個(gè)或多個(gè)存儲(chǔ)器儲(chǔ)存裝置，所述一個(gè)或多個(gè)存儲(chǔ)器儲(chǔ)存裝置中至少一個(gè)包含測(cè)試所述電子電路的測(cè)試邏輯；以及位于所述系統(tǒng)內(nèi)并連接至所述電子電路的處理器，所述處理器適合于從一個(gè)或多個(gè)所述存儲(chǔ)器儲(chǔ)存裝置檢索測(cè)試所述電子電路的所述測(cè)試邏輯、根據(jù)所述測(cè)試邏輯執(zhí)行所述測(cè)試、和把所述測(cè)試結(jié)果儲(chǔ)存儲(chǔ)在至少一個(gè)所述存儲(chǔ)器儲(chǔ)存裝置上。
2.如權(quán)利要求1所述的自測(cè)試系統(tǒng)，其中所述多個(gè)互連部件中至少一個(gè)包含可讀信息，以及其中所述處理器讀取所述可讀信息、并將所述可讀信息儲(chǔ)存儲(chǔ)在至少一個(gè)所述存儲(chǔ)器儲(chǔ)存裝置上。
3.如權(quán)利要求1所述的自測(cè)試系統(tǒng)，其中所述電子電路包含用以發(fā)送輸出信號(hào)的裝置及接收輸入信號(hào)的裝置，其中還包含回路電路，用以連接所述傳送輸出信號(hào)的裝置到所述接收輸入信號(hào)的裝置；及由此所述處理器包含在所述回路電路上傳送測(cè)試信號(hào)以測(cè)試所述發(fā)送輸出信號(hào)的裝置和所述接收輸入信號(hào)的裝置。
4.如權(quán)利要求3所述的自測(cè)試系統(tǒng)，其中所述輸出信號(hào)及所述輸入信號(hào)為聲頻信號(hào)。
5.如權(quán)利要求3所述的自測(cè)試系統(tǒng)，其中所述輸出信號(hào)及所述輸入信號(hào)為視頻信號(hào)。
6.如權(quán)利要求3所述的自測(cè)試系統(tǒng)，其中所述輸出信號(hào)及所述輸入信號(hào)為數(shù)據(jù)信號(hào)。
7.如權(quán)利要求3所述的自測(cè)試系統(tǒng)，其中所述輸出信號(hào)及所述輸入信號(hào)為編碼信號(hào)。
8.如權(quán)利要求1所述的自測(cè)試系統(tǒng)，其中所述處理器響應(yīng)于所述測(cè)試結(jié)果發(fā)送信號(hào)。
9.如權(quán)利要求1所述的自測(cè)試系統(tǒng)，還包含一連接的計(jì)算機(jī)，其中所述測(cè)試的所述儲(chǔ)存結(jié)果可通過所述計(jì)算機(jī)取得。
10.如權(quán)利要求9所述的自測(cè)試系統(tǒng)，其中所述連接的計(jì)算機(jī)位于所述電子電路的遠(yuǎn)端。
11.如權(quán)利要求9所述的自測(cè)試系統(tǒng)，其中所述連接的計(jì)算機(jī)為一測(cè)試計(jì)算機(jī)。
12.如權(quán)利要求9所述的自測(cè)試系統(tǒng)，其中所述連接的計(jì)算機(jī)為一修復(fù)計(jì)算機(jī)。
13.如權(quán)利要求1所述的自測(cè)試系統(tǒng)，其中所述電子電路包含監(jiān)視所述組件的操作參數(shù)的裝置，以及其中所述處理器以可檢索方式儲(chǔ)存所述監(jiān)視的操作參數(shù)在至少一個(gè)所述存儲(chǔ)器儲(chǔ)存裝置上。
14.如權(quán)利要求1所述的自測(cè)試系統(tǒng)，其中所述一個(gè)或多個(gè)存儲(chǔ)器儲(chǔ)存裝置中至少一個(gè)包含安全軟件，并還包含具有內(nèi)部存儲(chǔ)器的安全微處理器，所述安全微處理器包含用以接收所述安全軟件的裝置、產(chǎn)生包含公用密鑰及專用密鑰的安全密鑰對(duì)的裝置、將所述專用密鑰存儲(chǔ)在所述內(nèi)部存儲(chǔ)器內(nèi)的裝置、及發(fā)送所述公用密鑰的裝置。
15.如權(quán)利要求1所述的自測(cè)試系統(tǒng)，其中所述安全微處理器包含使所述安全軟件不受到改變的裝置。
16.一種電子組件測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述系統(tǒng)包含具有多個(gè)互連部件的電子電路；儲(chǔ)存儲(chǔ)在所述多個(gè)互連部件中至少一個(gè)內(nèi)的測(cè)試程序；根據(jù)所述儲(chǔ)存測(cè)試程序而測(cè)試所述多個(gè)互連部件中至少一個(gè)的裝置；及測(cè)試結(jié)果以可檢索方式存儲(chǔ)在所述多個(gè)互連部件的至少一個(gè)之內(nèi)
17.如權(quán)利要求16所述的電子組件測(cè)試系統(tǒng)，其中所述多個(gè)互連部件中至少一個(gè)包含可讀信息，以及其中所述可讀信息以可檢索方式存儲(chǔ)在所述多個(gè)互連部件中至少一個(gè)內(nèi)。
18.如權(quán)利要求16所述的電子組件測(cè)試系統(tǒng)，其中所述電子電路包含發(fā)送輸出信號(hào)的裝置及接收輸入信號(hào)的裝置，還包含連接所述傳送輸出信號(hào)的裝置至所述接收輸出信號(hào)的裝置的回路電路；及由此所述測(cè)試裝置包含在所述回路電路上傳送測(cè)試信號(hào)以測(cè)試所述發(fā)送輸出信號(hào)的裝置和所述接收輸入信號(hào)的裝置。
19.如權(quán)利要求18所述的電子組件測(cè)試系統(tǒng)，其中所述輸出信號(hào)及所述輸入信號(hào)為聲頻信號(hào)。
20.如權(quán)利要求18所述的電子組件測(cè)試系統(tǒng)，其中所述輸出信號(hào)及所述輸入信號(hào)為視頻信號(hào)。
21.如權(quán)利要求18所述的電子組件測(cè)試系統(tǒng)，其中所述輸出信號(hào)及所述輸入信號(hào)為數(shù)據(jù)信號(hào)。
22.如權(quán)利要求18所述的電子組件測(cè)試系統(tǒng)，其中所述輸出信號(hào)及所述輸入信號(hào)為編碼信號(hào)。
23.如權(quán)利要求16所述的電子組件測(cè)試系統(tǒng)，其中所述測(cè)試裝置響應(yīng)于所述測(cè)試結(jié)果發(fā)送一信號(hào)。
24.如權(quán)利要求16所述的電子組件測(cè)試系統(tǒng)，還包含連接至所述電子組件的遠(yuǎn)端測(cè)試計(jì)算機(jī)，其中所述儲(chǔ)存的測(cè)試結(jié)果可通過所述遠(yuǎn)端測(cè)試計(jì)算機(jī)取得。
25.如權(quán)利要求16所述的電子組件測(cè)試系統(tǒng)，還包含連接至所述電子組件的遠(yuǎn)端修復(fù)計(jì)算機(jī)，其中所述存儲(chǔ)的測(cè)試結(jié)果可通過所述遠(yuǎn)端修復(fù)計(jì)算機(jī)取得。
26.如權(quán)利要求16所述的電子組件測(cè)試系統(tǒng)，其中所述電子電路包含監(jiān)視所述組件的操作參數(shù)的裝置，以及其中所述被監(jiān)視操作參數(shù)以可檢索方式存儲(chǔ)在所述多個(gè)互連部件中至少一個(gè)內(nèi)。
27.如權(quán)利要求16所述的電子組件測(cè)試系統(tǒng)，還包含存儲(chǔ)在所述多個(gè)互連部件中至少一個(gè)內(nèi)的安全軟件；及具有內(nèi)部存儲(chǔ)器的安全微處理器，所述安全微處理器包含接收所述安全軟件的裝置、產(chǎn)生包含公用密鑰及專用密鑰的安全密鑰對(duì)的裝置、將所述專用密鑰儲(chǔ)存在所述內(nèi)部存儲(chǔ)器中的裝置、及發(fā)送所述公用密鑰的裝置。
28.如權(quán)利要求16所述的電子組件測(cè)試系統(tǒng)，其中所述安全微處理器包含使所述安全軟件不受到改變的裝置。
29.一種自測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述系統(tǒng)包含具有多個(gè)測(cè)試間的測(cè)試間機(jī)架，每一測(cè)試間有一背面連接器，所述背面連接器具有至少一個(gè)信號(hào)連接、一個(gè)電源連接和至少一個(gè)回路電路；通過所述背面連接器安裝在所述多個(gè)測(cè)試間之一內(nèi)的至少一個(gè)自測(cè)試組件，所述自測(cè)試電子組件包含一電子電路，所述電子電路包含多個(gè)互連部件、連接至所述電子電路的一個(gè)或多個(gè)存儲(chǔ)器儲(chǔ)存裝置，所述一個(gè)或多個(gè)存儲(chǔ)器儲(chǔ)存裝置中至少一個(gè)包含用以測(cè)試所述電子電路的測(cè)試邏輯；以及在所述組件內(nèi)的并連接至所述電子電路的處理器，所述處理器適合于從一個(gè)或多個(gè)所述存儲(chǔ)器儲(chǔ)存裝置檢索用于測(cè)試所述電子電路的所述測(cè)試邏輯、根據(jù)所述測(cè)試邏輯執(zhí)行所述測(cè)試、并將所述測(cè)試結(jié)果存儲(chǔ)在至少一個(gè)所述存儲(chǔ)器儲(chǔ)存裝置中；及具有連接到所述測(cè)試間機(jī)架的計(jì)算機(jī)，所述計(jì)算機(jī)包含監(jiān)視至少一個(gè)所述安裝的自測(cè)試電子組件的所述測(cè)試的裝置。
30.如權(quán)利要求29所述的自測(cè)試系統(tǒng)，其中所述計(jì)算機(jī)位于所述測(cè)試間機(jī)架的遠(yuǎn)端。
31.如權(quán)利要求29所述的自測(cè)試系統(tǒng)，其中所述計(jì)算機(jī)連接為一電話線連接。
32.如權(quán)利要求29所述的自測(cè)試系統(tǒng)，其中所述計(jì)算機(jī)連接為一因特網(wǎng)連接。
33.如權(quán)利要求29所述的自測(cè)試系統(tǒng)，還包含連接至所述測(cè)試機(jī)架的至少一個(gè)所述信號(hào)連接的至少一個(gè)測(cè)試顯示監(jiān)視器。
34.如權(quán)利要求29所述的自測(cè)試系統(tǒng)，其中所述至少一個(gè)自測(cè)試電子組件中的每一個(gè)包含存儲(chǔ)在至少一個(gè)所述存儲(chǔ)器儲(chǔ)存裝置內(nèi)的安全軟件，并還包含具有內(nèi)部存儲(chǔ)器的安全微處理器，所述安全微處理器包含用以接收所述安全軟件的裝置、產(chǎn)生包含公用密鑰及專用密鑰的安全密鑰對(duì)的裝置、將所述專用密鑰儲(chǔ)存在所述內(nèi)部存儲(chǔ)器內(nèi)的裝置、及傳送所述公用密鑰的裝置。
35.如權(quán)利要求29所述的自測(cè)試系統(tǒng)，其中所述安全微處理器包含使所述安全軟件不受到改變的裝置。
全文摘要
一種自測(cè)試電子系統(tǒng)的自測(cè)試,如診斷或線上部件及電路的測(cè)試等,其中測(cè)試的依據(jù)為內(nèi)部儲(chǔ)存的測(cè)試程序。自測(cè)試結(jié)果存儲(chǔ)在內(nèi)部的裝置中,其提供關(guān)于自測(cè)試電子組件的寶貴信息,此可在制程中、并以在正在進(jìn)行的現(xiàn)場(chǎng)操作進(jìn)行中進(jìn)行為佳。測(cè)試系統(tǒng)以連接至一個(gè)或多個(gè)自測(cè)試電子組件為佳,并能提供每一自測(cè)試電子組件的回路電路,以使自測(cè)試電子組件可進(jìn)一步測(cè)試部件、電路及安全編碼與解碼操作。較佳測(cè)試機(jī)架還提供對(duì)自測(cè)試單元組件的有效及一致監(jiān)視及質(zhì)量控制。在正在進(jìn)行的現(xiàn)場(chǎng)操作中,自測(cè)試電子組件以能監(jiān)視操作參數(shù)為佳,并在儲(chǔ)存裝置中信息時(shí)得繼續(xù)定期執(zhí)行自測(cè)試,并以將信息傳至外部位置為佳。
文檔編號(hào)G06F11/22GK1375085SQ00813004
公開日2002年10月16日 申請(qǐng)日期2000年7月12日 優(yōu)先權(quán)日1999年7月19日
發(fā)明者J·M·巴頓, S·塔赫瑪賽比, D·普萊特 申請(qǐng)人:提維股份有限公司