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一種列控中心測試系統(tǒng)的制作方法

文檔序號(hào):10462802閱讀:781來源:國知局
一種列控中心測試系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本申請(qǐng)涉及自動(dòng)化技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種列控中心測試系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]在鐵路技術(shù)領(lǐng)域中,列控中心是設(shè)置于各車站或中繼站的列控安全設(shè)備,與軌道電路、計(jì)算機(jī)聯(lián)鎖、臨時(shí)限速服務(wù)器、其他站列控中心、應(yīng)答器地面電子單(LEU)、CTC和信號(hào)集中檢測連接,實(shí)現(xiàn)對(duì)軌道電路、有源應(yīng)答器、區(qū)間方向和閉塞控制等功能。列控中心根據(jù)調(diào)度命令、進(jìn)路狀態(tài)、線路參數(shù)等產(chǎn)生進(jìn)路及臨時(shí)限速等相關(guān)空車信息,通過有源應(yīng)答器及軌道電路向列車動(dòng)態(tài)傳送,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)列車運(yùn)行的動(dòng)態(tài)控制。
[0003]為了保證列控中心的軟件程序的正確性,需要對(duì)列控中心的軟件程序進(jìn)行測試。目前,通常將列控中心與實(shí)體的繼電器組合柜進(jìn)行連接,用繼電器組合柜來營造測試環(huán)境,以此來實(shí)現(xiàn)對(duì)列控中心進(jìn)行測試的目的。
[0004]由于每輛列車的列控中心功能不同,所以其自身結(jié)構(gòu)也不盡相同,進(jìn)而與繼電器組合柜的連接關(guān)系也不相同。所以,在對(duì)每個(gè)列控中心測試之前,均需要將列控中心與繼電器組合柜進(jìn)行一次線路連接,以便實(shí)現(xiàn)當(dāng)前列控中心的測試環(huán)境。
[0005]由于繼電器組合柜中繼電器數(shù)量非常多、種類也比較多,所以將列控中心與繼電器組合柜進(jìn)行線路連接的過程非常復(fù)雜。這導(dǎo)致技術(shù)人員需要花費(fèi)較長時(shí)間來進(jìn)行線路連接,降低了列控中心的測試效率。
[0006]因此,現(xiàn)在需要一種自動(dòng)化測試系統(tǒng),以便可以來自動(dòng)化對(duì)列控中心進(jìn)行測試?!緦?shí)用新型內(nèi)容】
[0007]本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N列控中心測試系統(tǒng),可以來自動(dòng)化對(duì)列控中心進(jìn)行測試。
[0008]為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘韵录夹g(shù)手段:
[0009]一種列控中心測試系統(tǒng),包括:
[0010]用于發(fā)送測試環(huán)境信息指令的上位機(jī);
[0011]與所述上位機(jī)的數(shù)據(jù)輸出接口相連的控制器,所述控制器包括用于接收所述測試環(huán)境信息指令的數(shù)據(jù)輸入接口,用于利用所述環(huán)境測試信息指令并生成測試環(huán)境信息的CPU,以及用于輸出所述測試環(huán)境信息的數(shù)據(jù)輸出接口;
[0012]與所述控制器的數(shù)據(jù)輸出接口相連的列控中心。
[0013]優(yōu)選的,所述控制器為單片機(jī)、可編程邏輯控制器(Programmable LogicController,PLC)或現(xiàn)場可編程門陣列(Field Programmable Gate Array ,FPGA) ο
[0014]優(yōu)選的,所述上位機(jī)的數(shù)據(jù)輸出接口通過RS232接口或RS485接口與所述控制器的數(shù)據(jù)輸入接口相連。
[0015]優(yōu)選的,還包括:
[0016]與所述列控中心相連的,用于顯示測試結(jié)果的顯示器。
[0017]優(yōu)選的,還包括:
[0018]與所述列控中心相連的,用于發(fā)出報(bào)警提示的指示燈。
[0019]優(yōu)選的,還包括:
[0020]與所述列控中心相連的,用于發(fā)出報(bào)警提示的蜂鳴器。
[0021]優(yōu)選的,與所述控制器相連的直流電源。
[0022]優(yōu)選的,所述直流電源為24V。
[0023]通過以上技術(shù)手段可以看出本申請(qǐng)具有以下有益效果:
[0024]本申請(qǐng)中提供了一種列控中心測試系統(tǒng),本申請(qǐng)利用上位機(jī)、控制器和列控中心來組成測試系統(tǒng)。在本測試系統(tǒng)中列控中心僅僅需要與控制器的數(shù)據(jù)輸出接口相連即可,由上位機(jī)來下發(fā)測試環(huán)境信息指令,控制器依據(jù)測試環(huán)境信息指令生成測試環(huán)境信息,并將測試環(huán)境信息傳輸至列控中心即可。由于測試環(huán)境信息可以由上位機(jī)與控制器來實(shí)現(xiàn),所以可以實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化對(duì)列控中心進(jìn)行測試的目的。由于避免了技術(shù)人員人工將列控中心與繼電器組合柜進(jìn)行線路連接的過程,所以,可以大大提高了測試效率。
[0025]另外,由于避免使用繼電器組合柜,所以可以大大減少繼電器組合柜的占地面積,使得測試系統(tǒng)占用較小的空間,進(jìn)而方便技術(shù)人員使用。
【附圖說明】
[0026]為了更清楚地說明本申請(qǐng)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案,下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本申請(qǐng)的一些實(shí)施例,對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0027]圖1為本實(shí)施例提供的一種列控中心測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖;
[0028]圖2為本實(shí)施例提供的又一種列控中心測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0029]下面將結(jié)合本申請(qǐng)實(shí)施例中的附圖,對(duì)本申請(qǐng)實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實(shí)施例僅僅是本申請(qǐng)一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例?;诒旧暾?qǐng)中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都屬于本申請(qǐng)保護(hù)的范圍。
[0030]如圖1所示,本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N列控中心測試系統(tǒng),包括:
[0031](I)用于發(fā)送測試環(huán)境信息指令的上位機(jī)100。
[0032]當(dāng)需要列控中心進(jìn)行測試時(shí),可以在上位機(jī)設(shè)置需要使用的繼電器種類和數(shù)量,并確定這些繼電器的開關(guān)狀態(tài)。然后,將這些繼電器的開關(guān)狀態(tài)作為測試環(huán)境信息指令發(fā)送至控制器。
[0033](2)與所述上位機(jī)100的數(shù)據(jù)輸出接口 101相連的控制器200,所述控制器200包括用于接收所述測試環(huán)境信息指令的數(shù)據(jù)輸入接口 201,用于利用所述環(huán)境測試信息指令并生成測試環(huán)境信息的CPU 202,以及用于輸出所述測試環(huán)境信息的數(shù)據(jù)輸出接口203。
[0034]控制器上一個(gè)數(shù)據(jù)輸入接口和一個(gè)數(shù)據(jù)輸出接口可以模擬一個(gè)繼電器,在控制器具有多組數(shù)據(jù)輸入接口和數(shù)據(jù)輸出接口,所以在控制器上可以實(shí)現(xiàn)模擬多組繼電器的目的。
[0035]控制器的CPU可以接收測試環(huán)境信息指令,并根據(jù)測試環(huán)境指令來決定各個(gè)數(shù)據(jù)輸出接口的輸出數(shù)據(jù),從而實(shí)現(xiàn)模擬各個(gè)繼電器開關(guān)狀態(tài)??刂破鰿HJ的執(zhí)行過程已有相應(yīng)的現(xiàn)有技術(shù)。
[0036]例如,控制器模擬有四個(gè)繼電器,依次為繼電器1、繼電器2、繼電器3和繼電器4。假設(shè)上位機(jī)發(fā)送的測試環(huán)境信息指令為“0101”,這個(gè)指令代表使得繼電器2和繼電器4閉合,繼電器I和繼電器3斷開。
[0037]控制器接收測試環(huán)境信息指令之后,可以控制與繼電器I對(duì)應(yīng)的控制數(shù)據(jù)輸出接口 I為低電平,與繼電器2對(duì)應(yīng)的控制數(shù)據(jù)輸出接口 2為高電平,可以控制與繼電器3對(duì)應(yīng)的控制數(shù)據(jù)輸出接口 3為低電平,與繼電器4對(duì)應(yīng)的控制數(shù)據(jù)輸出接口 4為高電平,從生成繼電器2和繼電器4閉合,繼電器I和繼電器3斷開的測試環(huán)境信息。
[0038](3
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