本申請涉及老化測試，尤其涉及一種電控老化測試裝置、設(shè)備及系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

1、隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，電機(jī)已步入人們生活中的各個角落，為了更好地操縱電機(jī)以特定的角度以及速度進(jìn)行工作，一般會采用電機(jī)控制器對電機(jī)進(jìn)行控制。在現(xiàn)有技術(shù)中，為保證電機(jī)工作的安全性，對電機(jī)控制器的使用壽命以及工作穩(wěn)定性要求越來越高，通?？梢酝ㄟ^老化測試來評價同一批次內(nèi)生產(chǎn)的電機(jī)控制器的使用壽命以及穩(wěn)定性，因此經(jīng)常會在電機(jī)控制器產(chǎn)品研發(fā)過程中進(jìn)行老化測試，以確定新產(chǎn)品的使用壽命以及工作穩(wěn)定性。而對于傳統(tǒng)的老化測試裝置而言，通常只能通過一組負(fù)載接入一個電機(jī)控制器，單獨(dú)進(jìn)行老化測試，測試效率低，研發(fā)時間長，成本較高。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本申請的主要目的在于提供一種電控老化測試裝置、設(shè)備及系統(tǒng)，旨在解決如何通過同一組負(fù)載對兩個電控模塊同步進(jìn)行老化測試的技術(shù)問題。

2、為實(shí)現(xiàn)上述目的，本申請實(shí)施例提供一種電控老化測試裝置，所述電控老化測試裝置包括：

3、直流電源，分別連接第一電控模塊的直流端以及第二電控模塊的直流端，用于為所述第一電控模塊以及所述第二電控模塊提供直流供電；

4、感抗負(fù)載，分別連接所述第一電控模塊的交流端以及所述第二電控模塊的交流端；

5、控制器，分別連接所述第一電控模塊的控制端以及所述第二電控模塊的控制端，用于在接收到老化測試信號時，發(fā)送控制信號至所述第一電控模塊以及所述第二電控模塊，以控制所述第一電控模塊以及所述第二電控模塊通過所述直流電源以及所述感抗負(fù)載形成測試回路，并在所述測試回路內(nèi)同步進(jìn)行老化測試。

6、在一實(shí)施例中，所述感抗負(fù)載包括多個測試支路，所述第一電控模塊以及所述二電控模塊均包括多路電橋；

7、各所述測試支路分別連接所述第一電控模塊以及所述第二電控模塊對應(yīng)的橋臂；

8、所述控制器的控制信號用于控制同一測試支路兩側(cè)的所述第一電控模塊以及所述第二電控模塊同時導(dǎo)通。

9、在一實(shí)施例中，在所述第一電控模塊內(nèi)連接其中一個所述測試支路的上橋臂導(dǎo)通時，所述第二電控模塊內(nèi)與該所述測試支路連接的下橋臂導(dǎo)通；

10、在所述第一電控模塊內(nèi)連接其中一個所述測試支路的下橋臂導(dǎo)通時，所述第二電控模塊內(nèi)與該所述測試支路連接的上橋臂導(dǎo)通。

11、在一實(shí)施例中，各所述測試支路的第一端分別與所述第一電控模塊的其中一個橋臂一一對應(yīng)連接，各所述測試支路的第二端分別與所述第二電控模塊的其中一個橋臂一一對應(yīng)連接；

12、各所述測試支路均包括：第一電阻以及第一電感；

13、所述第一電阻的第一端連接所述第一電控模塊的其中一個橋臂，所述第一電阻的第二端連接所述第一電感的第一端，所述第一電感的第二端連接所述第二電控模塊的其中一個橋臂。

14、在一實(shí)施例中，各所述第一電阻的阻值相同，各所述第一電感的電感值相同。

15、在一實(shí)施例中，所述第一電控模塊包括第一三相電橋，所述第二電控模塊包括第二三相電橋，各所述測試支路包括第一測試支路、第二測試支路以及第三測試支路；

16、所述第一三相電橋的a相端口通過所述第一測試支路連接至所述第二三相電橋的a’相端口，所述第一三相電橋的b相端口通過所述第二測試支路連接至所述第二三相電橋的b’相端口，所述第一三相電橋的c相端口通過所述第三測試支路連接至所述第二三相電橋的c’相端口，所述第一三相電橋的母線正端分別連接所述第二三相電橋的母線正端以及所述直流電源的正極，所述第一三相電橋的母線負(fù)端分別連接所述第二三相電橋的母線負(fù)端以及所述直流電源的負(fù)極。

17、在一實(shí)施例中，所述電控老化測試裝置還包括：電流檢測模塊；

18、所述電流檢測模塊設(shè)置于所述直流電源與所述第一電控模塊之間，所述電流檢測模塊還連接所述控制器；所述控制器還連接測試主機(jī)；

19、所述電流檢測模塊，用于檢測所述測試回路中的測試電流，并將所述測試電流傳輸至所述控制器；

20、所述控制器，還用于在所述測試電流不符合用戶預(yù)設(shè)的標(biāo)準(zhǔn)電流范圍時，發(fā)送測試失敗信號至所述測試主機(jī)，以使所述測試主機(jī)判定所述第一電控模塊以及所述第二電控模塊老化測試失敗。

21、在一實(shí)施例中，所述電控老化測試裝置還包括：電壓檢測模塊；

22、所述電壓檢測模塊并聯(lián)于所述直流電源，所述電壓檢測模塊還連接所述控制器；所述控制器還連接測試主機(jī)；

23、所述電壓檢測模塊，用于檢測所述直流電源兩端的測試電壓，并將所述測試電壓傳輸至所述控制器；

24、所述控制器，還用于在所述測試電壓不符合用戶預(yù)設(shè)的標(biāo)準(zhǔn)電壓范圍時，發(fā)送測試失敗信號至所述測試主機(jī)，以使所述測試主機(jī)判定所述第一電控模塊以及所述第二電控模塊老化測試失敗。

25、此外，為實(shí)現(xiàn)上述目的，本申請還提供一種電控老化測試設(shè)備，所述電控老化測試設(shè)備采用如上文所述的電控老化測試裝置。

26、此外，為實(shí)現(xiàn)上述目的，本申請還提供一種電控老化測試系統(tǒng)，所述電控老化測試系統(tǒng)采用如上文所述的電控老化測試設(shè)備。

27、本申請實(shí)施例提供了一種電控老化測試裝置、設(shè)備及系統(tǒng)，所述電控老化測試裝置包括：直流電源，分別連接第一電控模塊的直流端以及第二電控模塊的直流端，用于為所述第一電控模塊以及所述第二電控模塊提供直流供電；感抗負(fù)載，分別連接所述第一電控模塊的交流端以及所述第二電控模塊的交流端；控制器，分別連接所述第一電控模塊的控制端以及所述第二電控模塊的控制端，用于在接收到老化測試信號時，發(fā)送控制信號至所述第一電控模塊以及所述第二電控模塊，以控制所述第一電控模塊以及所述第二電控模塊通過所述直流電源以及所述感抗負(fù)載形成測試回路，并在所述測試回路內(nèi)同步進(jìn)行老化測試。通過控制器控制感抗負(fù)載兩側(cè)的第一電控模塊以及第二電控模塊同時導(dǎo)通，使得直流電源、第一電控模塊、感抗負(fù)載以及第二電控模塊形成測試回路，并在測試回路中使第一電控模塊以及第二電控模塊同步進(jìn)行老化測試，既提高了老化測試的效率，也減少了老化測試所需要的感抗負(fù)載數(shù)量，節(jié)約成本。

技術(shù)特征：

1.一種電控老化測試裝置，其特征在于，所述電控老化測試裝置包括：

2.如權(quán)利要求1所述的電控老化測試裝置，其特征在于，所述感抗負(fù)載包括多個測試支路，所述第一電控模塊以及所述二電控模塊均包括多路電橋；

3.如權(quán)利要求2所述的電控老化測試裝置，其特征在于，在所述第一電控模塊內(nèi)連接其中一個所述測試支路的上橋臂導(dǎo)通時，所述第二電控模塊內(nèi)與該所述測試支路連接的下橋臂導(dǎo)通；

4.如權(quán)利要求2所述的電控老化測試裝置，其特征在于，各所述測試支路的第一端分別與所述第一電控模塊的其中一個橋臂一一對應(yīng)連接，各所述測試支路的第二端分別與所述第二電控模塊的其中一個橋臂一一對應(yīng)連接；

5.如權(quán)利要求4所述的電控老化測試裝置，其特征在于，各所述第一電阻的阻值相同，各所述第一電感的電感值相同。

6.如權(quán)利要求2所述的電控老化測試裝置，其特征在于，所述第一電控模塊包括第一三相電橋，所述第二電控模塊包括第二三相電橋，各所述測試支路包括第一測試支路、第二測試支路以及第三測試支路；

7.如權(quán)利要求1-6中任一項所述的電控老化測試裝置，其特征在于，所述電控老化測試裝置還包括：電流檢測模塊；

8.如權(quán)利要求1-6中任一項所述的電控老化測試裝置，其特征在于，所述電控老化測試裝置還包括：電壓檢測模塊；

9.一種電控老化測試設(shè)備，其特征在于，所述老化測試設(shè)備采用如權(quán)利要求1-8中任一項所述的電控老化測試裝置。

10.一種電控老化測試系統(tǒng)，其特征在于，所述電控老化測試系統(tǒng)采用如權(quán)利要求9所述的電控老化測試設(shè)備。

技術(shù)總結(jié)
本申請公開了一種電控老化測試裝置、設(shè)備及系統(tǒng)，涉及老化測試技術(shù)領(lǐng)域，該裝置包括：直流電源，分別連接第一電控模塊的直流端以及第二電控模塊的直流端；感抗負(fù)載，分別連接第一電控模塊的交流端以及第二電控模塊的交流端；控制器，分別連接所述第一電控模塊的控制端以及所述第二電控模塊的控制端。通過控制器控制感抗負(fù)載兩側(cè)的第一電控模塊以及第二電控模塊同時導(dǎo)通，使得直流電源、第一電控模塊、感抗負(fù)載以及第二電控模塊形成測試回路，并在測試回路中使第一電控模塊以及第二電控模塊同步進(jìn)行老化測試，既提高了老化測試的效率，也減少了老化測試所需要的感抗負(fù)載數(shù)量，節(jié)約成本。

技術(shù)研發(fā)人員：孫澤,劉暢
受保護(hù)的技術(shù)使用者：蘇州匯川聯(lián)合動力系統(tǒng)股份有限公司
技術(shù)研發(fā)日：20240529
技術(shù)公布日：2025/1/6