本發(fā)明屬于模擬集成電路技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種電源抑制性能良好、低溫飄的帶隙基準(zhǔn)電路。
背景技術(shù):
在當(dāng)今的集成電路設(shè)計(jì)中,基準(zhǔn)電壓源是模擬ic中的一個(gè)關(guān)鍵模塊,可應(yīng)用于各類的電源管理芯片、ad/da轉(zhuǎn)換器等電路中,為電路中各部分提供參考電壓?;鶞?zhǔn)電路為保證精確性,要盡量減少對(duì)工藝參數(shù)和溫度等因素的影響,因此,基準(zhǔn)電路對(duì)低溫飄和電源抑制等因素有較高的要求。
在模擬電路中,電源電壓的變化常常對(duì)電路的工作狀態(tài)或輸出電壓造成較大影響,使輸出的模擬量無法維持在一個(gè)精確的范圍內(nèi)。同時(shí),同一個(gè)電路,在不同的工作溫度下,由于電路中各個(gè)電子器件的性質(zhì)有相應(yīng)差異,溫度的變化也會(huì)對(duì)電路輸出的模擬量的精確度造成影響。為了使溫度變化對(duì)電路特性的影響盡可能小,輸出電壓常采用正溫系數(shù)和負(fù)溫系數(shù)相補(bǔ)償?shù)膸痘鶞?zhǔn)電路,得到一個(gè)低溫飄的輸出量。常規(guī)的帶隙基準(zhǔn)中,為了保證產(chǎn)生正溫系數(shù)的兩條支路的偏置電流相等,需要使用運(yùn)算放大器來鉗位兩端電壓相等,或者使用自偏置電流鏡來達(dá)到此目的,但前者涉及到一定性能的運(yùn)算放大器,會(huì)占用額外面積且設(shè)計(jì)復(fù)雜度增加,后者使用自偏置電流鏡,限制了輸出擺幅,且需要設(shè)計(jì)啟動(dòng)電路,在電路的復(fù)雜度方面仍存在一定的劣勢(shì)。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本發(fā)明解決的問題,就是針對(duì)常規(guī)帶隙基準(zhǔn)受電源變化影響大、所占面積大等一系列問題,提供一種電源抑制性能良好、低溫飄、無須運(yùn)放且面積合理的帶隙基準(zhǔn)電路。
為了解決上述問題,本發(fā)明采用如下技術(shù)方案:
一種電源抑制性能良好、低溫飄的帶隙基準(zhǔn)電路,包括預(yù)調(diào)制電壓產(chǎn)生電路、帶隙基準(zhǔn)電路、負(fù)反饋環(huán)路;
所述的預(yù)調(diào)制電壓產(chǎn)生電路1,其特征在于,所述電路部分包含偏置電流產(chǎn)生部分3和低溫飄的預(yù)調(diào)制電壓產(chǎn)生部分4;偏置電流產(chǎn)生部分3包含一個(gè)二極管鏈接形式的mos管mp1和電阻r1,mp1的源端與電源輸入電壓vin相連,mp1的漏端與電阻r1的一端相連,r1的另一端接地;低溫飄的預(yù)調(diào)制電壓產(chǎn)生部分4包含一個(gè)pmos管mp2和nmos管mn1,電容c1,npn管qn1、qn2、qn3、qn4,電阻r1、r2、r3;mp2柵端與mp1柵端相連,其漏端與mn1柵端相連,mp2源端接電源電壓vin;qn1的集電極與mp2漏端相連,qn1基極與qn2基極相連,qn2的基極與集電極短接,qn2集電極與r2一端相連,r2的另一端與mn1的源端相連,mn1的漏端接電源電壓vin;qn1的發(fā)射極與qn3的集電極相連,qn2的發(fā)射極與qn4的集電極相連,qn4的基極與qn1發(fā)射極相連,qn3的基極與qn2的發(fā)射極相連,qn3的發(fā)射極接地,qn4的發(fā)射極與r3一端相連,r3的另一端接地;mn1的源端輸出預(yù)調(diào)制電壓vdd;
所述的帶隙基準(zhǔn)電路2,其特征在于,所述部分包含一對(duì)電流鏡ibias1和ibias2,帶隙電路和帶修調(diào)的電阻;電流鏡ibias1和ibias2的電流大小相等,ibias1的上端接預(yù)調(diào)制電壓vdd,下端接qn5的集電極,qn5的發(fā)射極接r4的一端,r4的另一端接地;ibias2的上端接預(yù)調(diào)制電壓vdd,下端接qn6的集電極,qn6的發(fā)射極接r9的一端,r9的另一端接qn9的集電極,qn9的發(fā)射極接地;qn5的基極與qn6的基極相連,qn9的基極與qn8的集電極相連,qn8的發(fā)射極與電阻r8的一端相連,r8的另一端接地,qn8的集電極還與r7的下端相連;qn7的集電極與qn8的基極相連,同時(shí)連接到r6的一端,r6的另一端與r5的一端相連,qn7的基極與r5、r6的連接點(diǎn)相連;r5與r7的上端相連,且連接到qn5、qn6的基極;電容c2兩端分別連接于qn9的基極和qn6的集電極;
所述負(fù)反饋環(huán)路,其特征在于,包含一個(gè)采樣網(wǎng)絡(luò)分壓部分,前饋放大級(jí)5,由2個(gè)源隨器構(gòu)成的緩沖級(jí)6;采樣網(wǎng)絡(luò)分壓部分由r12、r7、qn8和r8構(gòu)成;前饋放大級(jí)的輸出為qn6的集電極;緩沖級(jí)由nmos源隨器mn2和pmos源隨器mp5以及偏置部分mp3、mp4、r11構(gòu)成;mn2的柵極連qn6的集電極,mn2的漏端接預(yù)調(diào)制電壓vdd,源端接r10的一端,r10的另一端接地;mn2的源端接mp5的柵端,mp5的柵端接mn2的源端,mp5的漏端接地,mp5的源端接mp4的漏端,mp4的柵端與mp3的柵端相連,源端接預(yù)調(diào)制電壓vdd;mp3柵漏短接,源端接預(yù)調(diào)制電壓vdd,漏端接電阻r11的一端,r11的另一端接地;,mp5的源端與r12一端相連,r12的另一端與r7、r5相連,r12為可通過修調(diào)調(diào)整的電阻;mp5的源端即為輸出基準(zhǔn)電壓vref。
本發(fā)明的益處在于,通過產(chǎn)生預(yù)調(diào)制電壓,使得產(chǎn)生基準(zhǔn)的電路能工作于一個(gè)相對(duì)穩(wěn)定的次級(jí)預(yù)調(diào)制電源電壓vdd下,從而獲得更好的電源抑制性能;在帶隙基準(zhǔn)產(chǎn)生部分,本發(fā)明既未使用傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)中的自偏置電流鏡或差分運(yùn)放,也無須啟動(dòng)電路;為了穩(wěn)定輸出電壓的穩(wěn)定性,引入負(fù)反饋環(huán)路并進(jìn)行相應(yīng)補(bǔ)償;本發(fā)明在保證帶隙基準(zhǔn)的輸出精度、低溫飄、電源抑制良好等特性的情況下,對(duì)電路復(fù)雜度和設(shè)計(jì)所需面積成本進(jìn)行了優(yōu)化。
附圖說明
圖1是實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的系統(tǒng)原理架構(gòu)圖;
圖2是該發(fā)明中預(yù)調(diào)制電壓產(chǎn)生電路原理圖;
圖3是該發(fā)明中帶隙基準(zhǔn)產(chǎn)生電路與負(fù)反饋環(huán)路的電路原理圖;
圖4是該發(fā)明中負(fù)反饋環(huán)路的結(jié)構(gòu)框架圖;
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖,給出本發(fā)明的最佳實(shí)施例,并給予詳細(xì)的描述。
圖1所示為實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的系統(tǒng)原理架構(gòu)圖,包含:預(yù)調(diào)制電壓產(chǎn)生電路1、帶隙基準(zhǔn)電路2。
整個(gè)系統(tǒng)電路的輸入電壓源為vin,該電壓可能會(huì)隨著應(yīng)用情況的改變而改變,且該電源可能含有電源噪聲,會(huì)對(duì)電路的精度造成影響。經(jīng)過預(yù)調(diào)制電路部分,得到的后續(xù)電路的次級(jí)電源電壓vdd,是一個(gè)相對(duì)低溫飄且具有一定電源抑制能力的電壓源,可為后續(xù)的帶隙基準(zhǔn)電路供電。
圖2是預(yù)調(diào)制電壓產(chǎn)生部分的具體電路圖。二極管連接形式的mos管mn1和電阻r1共同作用為整個(gè)電路提供了原始的偏置電流,該電流經(jīng)mp2鏡像至其所在支路。qn1、qn2、qn3的發(fā)射結(jié)面積相同,qn4的發(fā)射結(jié)面積為qn3的n1倍,由于qn1和qn2發(fā)射結(jié)面積相同,其發(fā)射極電流也大致相等,交叉耦合的qn3和qn4能保證它們偏置狀態(tài)大致相同,且形成了一條從qn2的基極到地的pn結(jié)通路,即:
vbe2+vbe3=vbe1+vbe4+i0·r3····································································(1)
vbe表示對(duì)應(yīng)npn管的基極-發(fā)射極結(jié)電壓,vbe1=vbe2,i0為流經(jīng)r3所在支路的電流;
由(1)式可推得
因此,vdd的電壓為:
由式(2)可見,vdd電壓由一個(gè)正溫系數(shù)項(xiàng)和負(fù)溫系數(shù)項(xiàng)相加,所以通過電阻r2、r3比例與qn3、qn4發(fā)射結(jié)面積比例的調(diào)節(jié),可使vdd達(dá)到一個(gè)相對(duì)較低的溫飄系數(shù);
當(dāng)電源電壓有一個(gè)上升趨勢(shì)的變化,原本經(jīng)過mn1使vdd也跟著上升,但電源的該上升趨勢(shì)使mp1的柵極電壓上升,從而mp2的柵壓也獲得一個(gè)上升的電壓,該上升的電壓經(jīng)過共源級(jí)mp2和源隨器mn1到達(dá)vdd,經(jīng)歷了一次反相,可抑制vdd的上升趨勢(shì);同時(shí),電容c1能濾去部分電源高頻噪聲。因此,vdd電壓能在一定程度上抑制電源電壓的變化帶來的影響。
圖3是該發(fā)明中帶隙基準(zhǔn)產(chǎn)生電路與負(fù)反饋環(huán)路的電路原理圖。電流鏡ibias1與ibias2為共柵共源型的電流鏡,鏡像比例1:1,保證qn5和qn6的集電極電流相等;qn5、qn6、qn7、qn9的發(fā)射極面積相等,qn8的發(fā)射極面積為qn7的n2倍;電阻r4、r5、r7的電阻值相等,電阻r6、r8的電阻相等;
由qn5為起點(diǎn),經(jīng)qn5-r4、r5-qn7、r7-qn9三條支路到地,可列電壓方程組:
vbe5+ibias1·r4=iq7·r5+vbe7······································································(3)
vbe5+ibias1·r4=ir7·r7+vbe9·····································································(4)
忽略基極電流,iq7為qn7集電極電流,ir7為流經(jīng)r7的電流,r4=r5=r7;
由式(3)可得:
由
由r5與r6的連接點(diǎn)到地,可得電壓方程:
vbe7=ibias1·r6+vbe8+ibias1·r8=vbe8+2ibias1·r8················································(5)
由式(5)可得:
帶隙基準(zhǔn)電壓vref由一個(gè)正溫系數(shù)項(xiàng)與負(fù)溫系數(shù)項(xiàng)相加,通過對(duì)r12、r5、r8電阻值的調(diào)節(jié),可達(dá)到一個(gè)很低的溫飄系數(shù)。
圖4是該發(fā)明中負(fù)反饋環(huán)路的結(jié)構(gòu)框架圖;a1為圖3中共射極qn9形成的增益級(jí),a2為共射級(jí)qn6形成的增益級(jí),c3是為保證環(huán)路穩(wěn)定性的密勒補(bǔ)償電容;vin為從輸出電壓反饋網(wǎng)絡(luò)中獲得電壓,這里作為前饋增益級(jí)的小信號(hào)輸入,kvin同樣為從輸出電壓反饋網(wǎng)絡(luò)中獲得電壓,與vin存在一個(gè)由反饋網(wǎng)絡(luò)決定的系數(shù)k的倍數(shù)關(guān)系;vin對(duì)應(yīng)圖3中qn9的基極,kvin對(duì)應(yīng)圖3中的qn6基極;vo為前饋增益級(jí)的小信號(hào)輸出電壓,對(duì)應(yīng)圖3中mn2柵極;n-buffer與p-buffer為由源隨器mn2和源隨器mp5構(gòu)成的緩沖級(jí);vref與vo同相,僅有直流電平的差異。
由kvin和vin至vo的信號(hào)通路,可列方程:vo=a2·(k·vin-a1·vin);經(jīng)補(bǔ)償提升環(huán)路穩(wěn)定性后,負(fù)反饋環(huán)路使得該帶隙基準(zhǔn)輸出電壓更加精確穩(wěn)定。
綜上所述,本發(fā)明通過預(yù)調(diào)制電壓部分,提高了帶隙基準(zhǔn)的電源噪聲抑制能力,并為帶隙基準(zhǔn)產(chǎn)生部分提供一個(gè)相對(duì)低溫飄的預(yù)調(diào)制電壓;負(fù)反饋環(huán)路提高了電路的穩(wěn)定性與輸出電壓的精度;帶隙基準(zhǔn)產(chǎn)生部分通過對(duì)電阻比例的設(shè)計(jì),在產(chǎn)生低溫飄輸出電壓的同時(shí),未使用運(yùn)放和自偏置電流鏡,無須啟動(dòng)電路,對(duì)電路復(fù)雜度和設(shè)計(jì)所需面積成本進(jìn)行了優(yōu)化。
以上對(duì)本發(fā)明的其中一種實(shí)施方式做了詳細(xì)說明,但僅僅是本發(fā)明的較佳實(shí)施實(shí)例而已。本發(fā)明并不限于上述實(shí)施方式,在本技術(shù)領(lǐng)域技術(shù)人員所具備的知識(shí)范圍內(nèi),還可以在不脫離本發(fā)明宗旨的前提下做出許多可能的變動(dòng)和修飾,或修改為等同變化的等效實(shí)施事例。因此,凡是未脫離本發(fā)明技術(shù)方案的內(nèi)容,依據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實(shí)質(zhì)對(duì)以上實(shí)施例所做的任何修改、等同變化及修飾,均仍屬于本發(fā)明技術(shù)方案保護(hù)的范圍內(nèi)。