一種適于rfid閱讀器的過溫保護(hù)的方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種適于RFID閱讀器的過溫保護(hù)的方法，包括如下步驟：在RFID閱讀器中的電路上增加帶隙溫度檢測(cè)電路；基于帶隙溫度檢測(cè)電路檢測(cè)位于運(yùn)算放大器上高增益節(jié)點(diǎn)的基集電極電壓VBE電壓；基于基集電極電壓VBE電壓獲取帶隙溫度檢測(cè)電路上的帶隙基準(zhǔn)電壓ΔVBE值；基于ΔVBE與溫度的線性關(guān)系判斷RFID閱讀器上的帶隙基準(zhǔn)電壓ΔVBE值是否超過過溫電壓值；如果超過過溫電壓值則進(jìn)行復(fù)位操作或者休眠RFID閱讀器芯片。通過本發(fā)明實(shí)施例，可以解決RFID閱讀器工作環(huán)境溫度過高，實(shí)現(xiàn)整個(gè)電路的保護(hù)，從而可以引起復(fù)位操作或者RFID閱讀器芯片，從而保障整個(gè)RFID閱讀器不至于在高溫環(huán)境下受損。
【專利說明】一種適于RFID閱讀器的過溫保護(hù)的方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及RFID【技術(shù)領(lǐng)域】，具體涉及一種適于RFID閱讀器的過溫保護(hù)的方法。

【背景技術(shù)】
[0002] 射頻識(shí)別（RadfoFrequencyldentification，簡(jiǎn)稱RFID)技術(shù)是一種非接觸式的 自動(dòng)識(shí)別技術(shù)，它通過電磁波或電感禍合方式傳遞信號(hào)，以完成對(duì)目標(biāo)對(duì)象的自動(dòng)識(shí)別。與 條形碼、磁卡、接觸式IC卡等其它自動(dòng)識(shí)別技術(shù)相比，即RFID技術(shù)具有識(shí)別過程無須人工 干預(yù)、可同時(shí)識(shí)別多個(gè)目標(biāo)、信息存儲(chǔ)量大、可工作于各種惡劣環(huán)境等優(yōu)點(diǎn)。因此，RFID技術(shù) 已經(jīng)被廣泛地應(yīng)用于固定資產(chǎn)管理、生產(chǎn)線自動(dòng)化、動(dòng)物和車輛識(shí)別、公路收費(fèi)、門禁系統(tǒng)、 倉(cāng)儲(chǔ)、商品防偽、航空包裹管理、集裝箱管理等領(lǐng)域。典型的射頻識(shí)別系統(tǒng)可以分為標(biāo)簽、閱 讀器和后端數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)三個(gè)部分。
[0003] 由于RFID閱讀器和卡片工作的環(huán)境多樣化，其對(duì)整個(gè)環(huán)境適應(yīng)性不同，整個(gè)RFID 閱讀器等設(shè)備收時(shí)承受的環(huán)境溫度影響力有限，需要而整個(gè)需要引入溫度檢測(cè)和過溫保護(hù) 系統(tǒng)，避免RFID閱讀器中的芯片過溫受損。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004] 針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中的不足，為了防止溫度過高或者過低而導(dǎo)致芯片不工作出錯(cuò)，本 發(fā)明提供了一種適于RFID閱讀器的過溫保護(hù)的方法，通過精準(zhǔn)檢測(cè)RFID溫度過高而導(dǎo)致 的芯片受損。
[0005] 本發(fā)明提供了一種適于RFID閱讀器的過溫保護(hù)的方法，包括如下步驟：
[0006] 在RFID閱讀器中的電路上增加帶隙溫度檢測(cè)電路；
[0007] 基于帶隙溫度檢測(cè)電路檢測(cè)位于運(yùn)算放大器上高增益節(jié)點(diǎn)的基集電極電壓VBE 電壓；
[0008] 基于基集電極電壓VBE電壓獲取帶隙溫度檢測(cè)電路上的帶隙基準(zhǔn)電壓Λ VBE值； [0009] 基于AVBE與溫度的線性關(guān)系判斷RFID閱讀器上的帶隙基準(zhǔn)電壓AVBE值是否 超過過溫電壓值；
[0010] 如果超過過溫電壓值則進(jìn)行復(fù)位操作或者休眠 RFID閱讀器芯片。
[0011] 所述方法還包括：
[0012] 預(yù)先在RFID閱讀器中設(shè)置過溫電壓值，所述過溫電壓值為影響到RFID閱讀器芯 片的一個(gè)閾值數(shù)。
[0013] 所述帶隙溫度檢測(cè)電路為：工作在不同電流下的雙極晶體管。
[0014] 所述雙極晶體管完全相同。
[0015] 所述方法還包括：如果帶隙基準(zhǔn)電壓AVBE值沒有超過過溫電壓值，則實(shí)時(shí)基于 帶隙溫度檢測(cè)電路檢測(cè)位于運(yùn)算放大器上高增益節(jié)點(diǎn)的基集電極電壓VBE電壓。
[0016] 在本發(fā)明針對(duì)實(shí)際的RFID電路，在RFID閱讀器中引入一個(gè)帶隙溫度檢測(cè)電路，通 過該帶隙溫度檢測(cè)電路檢測(cè)位于運(yùn)算放大器上高增益節(jié)點(diǎn)的基集電極電壓VBE電壓，以及 根據(jù)計(jì)算出的帶隙基準(zhǔn)電壓Δ VBE值與過溫電壓值的比較就可以判斷整個(gè)RFID閱讀器上 的溫度是否超標(biāo)，從而可以解決RFID閱讀器工作環(huán)境溫度過高，實(shí)現(xiàn)整個(gè)電路的保護(hù)，從 而可以引起復(fù)位操作或者RFID閱讀器芯片，從而保障整個(gè)RFID閱讀器不至于在高溫環(huán)境 下受損。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0017] 為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn) 有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本 發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以 根據(jù)這些附圖獲得其它的附圖。
[0018] 圖1是本發(fā)明實(shí)施例中的帶隙基準(zhǔn)源PTAT電路原理圖；
[0019] 圖2是本發(fā)明實(shí)施例中的適于RFID閱讀器的過溫保護(hù)的方法流程圖；
[0020] 圖3是本發(fā)明實(shí)施例中的適于RFID閱讀器中的帶隙基準(zhǔn)源PTAT電路原理圖。

【具體實(shí)施方式】
[0021] 下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完 整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；?本發(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其它 實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
[0022] 首先結(jié)合圖 1 中的帶隙基準(zhǔn)源 PTAT (Proportional to Absolute Temperature) 電壓產(chǎn)生原理作個(gè)簡(jiǎn)單說明，兩個(gè)工作在不同的電流下的雙極晶體管的VBE與溫度成正比 兩個(gè)雙極晶體管完全相同，它們的工作電流分別為nIO和10,則根據(jù)VBE的公式可以計(jì)算出 Δ VBE的值為：

【權(quán)利要求】
1. 一種適于RFID閱讀器的過溫保護(hù)的方法，其特征在于，包括如下步驟： 在RFID閱讀器中的電路上增加帶隙溫度檢測(cè)電路； 基于帶隙溫度檢測(cè)電路檢測(cè)位于運(yùn)算放大器上高增益節(jié)點(diǎn)的基集電極電壓VBE電壓； 基于基集電極電壓VBE電壓獲取帶隙溫度檢測(cè)電路上的帶隙基準(zhǔn)電壓A VBE值； 基于A VBE與溫度的線性關(guān)系判斷RFID閱讀器上的帶隙基準(zhǔn)電壓A VBE值是否超過 過溫電壓值； 如果超過過溫電壓值則進(jìn)行復(fù)位操作或者休眠RFID閱讀器巧片。
2. 如權(quán)利要求1所述的適于RFID閱讀器的過溫保護(hù)的方法，其特征在于，所述方法還 包括： 預(yù)先在RFID閱讀器中設(shè)置過溫電壓值，所述過溫電壓值為影響到RFID閱讀器巧片的 一個(gè)闊值數(shù)。
3. 如權(quán)利要求2所述的適于RFID閱讀器的過溫保護(hù)的方法，其特征在于，所述帶隙溫 度檢測(cè)電路為；工作在不同電流下的雙極晶體管。
4. 如權(quán)利要求3所述的適于RFID閱讀器的過溫保護(hù)的方法，其特征在于，所述雙極晶 體管完全相同。
5. 如權(quán)利要求1至4任一項(xiàng)所述的適于RFID閱讀器的過溫保護(hù)的方法，其特征在于， 所述方法還包括： 如果帶隙基準(zhǔn)電壓A VBE值沒有超過過溫電壓值，則實(shí)時(shí)基于帶隙溫度檢測(cè)電路檢測(cè) 位于運(yùn)算放大器上高增益節(jié)點(diǎn)的基集電極電壓VBE電壓。
【文檔編號(hào)】G05F1/569GK104460813SQ201410635525
【公開日】2015年3月25日 申請(qǐng)日期:2014年11月12日 優(yōu)先權(quán)日:2014年11月12日
【發(fā)明者】吳勁, 段志奎, 丁一, 郝志剛, 王德明 申請(qǐng)人:廣州中大微電子有限公司, 中山大學(xué), 廣州中大數(shù)碼科技有限公司