一種x射線探傷機(jī)檢校輔助臺(tái)的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種X射線探傷機(jī)檢校輔助臺(tái)，包括驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)、校驗(yàn)平臺(tái)、防護(hù)系統(tǒng)。所述驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)包括：推桿電機(jī)、測(cè)量探頭放置臺(tái)；第一推桿電機(jī)、B位于校驗(yàn)平臺(tái)的上方，第三推桿電機(jī)用于驅(qū)動(dòng)校驗(yàn)平臺(tái)的上下移動(dòng)，使其與測(cè)量探頭放置臺(tái)的距離可調(diào)節(jié)；測(cè)量探頭放置臺(tái)是一個(gè)水平的平臺(tái)，置于校驗(yàn)平臺(tái)正下方中間位置。所述校驗(yàn)平臺(tái)為中空的框架結(jié)構(gòu)，該框架結(jié)構(gòu)的校驗(yàn)平臺(tái)由液壓支撐柱支撐。所述防護(hù)系統(tǒng)一端的鉛板防護(hù)罩為U型，以達(dá)到完全遮擋射線出口位置。本實(shí)用新型可以減小X射線束發(fā)生干涉、散射、折射等物理效應(yīng)帶來的影響。
【專利說明】
一種X射線探傷機(jī)檢校輔助臺(tái)
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本實(shí)用新型涉及核輻射、X射線輻射的測(cè)量領(lǐng)域，具體地說是一種對(duì)X射線探傷機(jī)檢校輔助臺(tái)。
【背景技術(shù)】
[0002]X射線探傷(x-ray Inspect1n)是利用X射線能夠穿透金屬材料，并由于材料對(duì)射線的吸收和散射作用的不同，從而使膠片感光不一樣，于是在底片上形成黑度不同的影像，據(jù)此來判斷材料內(nèi)部缺陷情況的一種檢驗(yàn)方法。X射線探傷機(jī)是現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)中質(zhì)量檢測(cè)、質(zhì)量控制、質(zhì)量保證的重要手段，一般用于金屬，非金屬等材料制成的零部件，鑄造及焊接部件進(jìn)行無損檢測(cè)，以確定其內(nèi)部缺陷，如夾渣，裂紋，氣孔，未焊透，未融合等。在機(jī)械、石油、化工、航空、造船、國(guó)防軍工等部門，特別是在鍋爐壓力容器焊縫的檢測(cè)中有極為廣泛的應(yīng)用。因此，必須對(duì)各類X射線探傷機(jī)檢測(cè)，以確保它在使用過程中性能良好，數(shù)據(jù)準(zhǔn)確，避免出現(xiàn)誤判、錯(cuò)判等事故。
[0003]現(xiàn)有的檢定方法是依據(jù)檢定規(guī)程JJG40_2011《X射線探傷機(jī)》來操作。開啟劑量計(jì)預(yù)熱，將劑量計(jì)的電離室放置于射線探傷機(jī)主射線束軸上，同時(shí)按下劑量計(jì)的測(cè)量鍵和射線探傷機(jī)的工作鍵，得到相應(yīng)數(shù)據(jù)。
[0004]由于X射線探傷機(jī)分為定向和周向兩種類型，所以探傷機(jī)工作時(shí)定向射線探傷機(jī)的射線束成錐形輻射，而周向射線探傷機(jī)的射線束繞探傷機(jī)主機(jī)軸向四周輻射，這就造成產(chǎn)生的X射線產(chǎn)生干涉、衍射、反射、折射作用。經(jīng)過X射線束的一系列反射、折射等物理效應(yīng)，作用到劑量計(jì)電離室上的能量會(huì)產(chǎn)生變化，所以劑量計(jì)上所得到的數(shù)據(jù)將會(huì)產(chǎn)生誤差。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0005]本實(shí)用新型的目的是為了解決上述問題，針對(duì)現(xiàn)有測(cè)量技術(shù)存在的不足，提供一種X射線探傷機(jī)檢校輔助臺(tái)，可以減小X射線束發(fā)生干涉、散射、折射等物理效應(yīng)帶來的影響。
[0006]實(shí)現(xiàn)上述目的本實(shí)用新型的技術(shù)方案為，一種X射線探傷機(jī)檢校輔助臺(tái)，包括驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)、校驗(yàn)平臺(tái)、防護(hù)系統(tǒng)。
[0007]所述驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)包括:推桿電機(jī)、測(cè)量探頭放置臺(tái)；第一推桿電機(jī)、第二推桿電機(jī)位于校驗(yàn)平臺(tái)的上方，第三推桿電機(jī)用于驅(qū)動(dòng)校驗(yàn)平臺(tái)的上下移動(dòng)，使其與測(cè)量探頭放置臺(tái)的距離可調(diào)節(jié);測(cè)量探頭放置臺(tái)是一個(gè)水平的平臺(tái)，置于校驗(yàn)平臺(tái)正下方中間位置。
[0008]所述校驗(yàn)平臺(tái)為中空的框架結(jié)構(gòu)，該框架結(jié)構(gòu)的校驗(yàn)平臺(tái)由液壓支撐柱支撐。
[0009]所述防護(hù)系統(tǒng)一端的鉛板防護(hù)罩為U型，以達(dá)到完全遮擋射線出口位置。
[0010]第一推桿電機(jī)、第二推桿電機(jī)位于整體裝備的上方，第一推桿電機(jī)驅(qū)動(dòng)第二推桿電機(jī)和防護(hù)罩整體左右移動(dòng)，使其能夠準(zhǔn)確到達(dá)X射線探傷機(jī)射線出口上方;第二推桿電機(jī)驅(qū)動(dòng)防護(hù)罩的上下移動(dòng)，X射線探傷機(jī)放置在校驗(yàn)平臺(tái)后，用控制器使防護(hù)罩下落，直到將探傷機(jī)的射線出口完全覆蓋;第三推桿電機(jī)用于驅(qū)動(dòng)檢校臺(tái)的上下移動(dòng)，使其與測(cè)量探頭放置臺(tái)的距離可調(diào)節(jié)，以滿足不同距離的檢校距離;測(cè)量探頭放置臺(tái)是一個(gè)水平的平臺(tái)，在檢校過程中，將工作級(jí)電離室劑量計(jì)的電離室平放于該平臺(tái)上。
【附圖說明】
[0011]圖1是本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)不意圖；
[0012]圖中，1、第一推桿電機(jī);2、第二推桿電機(jī);3、第三推桿電機(jī);4、校驗(yàn)平臺(tái)；5、測(cè)量探頭放置臺(tái)；6、防護(hù)罩。
【具體實(shí)施方式】
[0013]下面結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行具體描述，如圖所示，本實(shí)用新型針對(duì)現(xiàn)有測(cè)量技術(shù)存在的不足，提供一種X射線探傷機(jī)檢校輔助臺(tái)，可以減小X射線束發(fā)生干涉、散射、折射等物理效應(yīng)帶來的影響。
[0014]—種X射線探傷機(jī)檢校輔助臺(tái)，包括驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)、校驗(yàn)平臺(tái)和防護(hù)系統(tǒng)；驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)包括:推桿電機(jī)、測(cè)量探頭放置臺(tái)；第一推桿電機(jī)1、第二推桿電機(jī)2位于校驗(yàn)平臺(tái)4的上方，第三推桿電機(jī)3用于驅(qū)動(dòng)校驗(yàn)平臺(tái)4的上下移動(dòng)，使其與測(cè)量探頭放置臺(tái)5的距離可調(diào)節(jié);測(cè)量探頭放置臺(tái)5是一個(gè)水平的平臺(tái)，置于校驗(yàn)平臺(tái)4正下方中間位置。
[0015]所述校驗(yàn)平臺(tái)4為中空的框架結(jié)構(gòu)，該框架結(jié)構(gòu)的校驗(yàn)平臺(tái)由液壓支撐柱支撐。
[0016]所述防護(hù)系統(tǒng)一端的鉛板防護(hù)罩6為U型，以達(dá)到完全遮擋射線出口位置。
[0017]第一推桿電機(jī)1、第二推桿電機(jī)2位于整體裝備的上方，第一推桿電機(jī)I驅(qū)動(dòng)第二推桿電機(jī)2和防護(hù)罩6整體左右移動(dòng)，使其能夠準(zhǔn)確到達(dá)X射線探傷機(jī)射線出口上方;第二推桿電機(jī)2驅(qū)動(dòng)防護(hù)罩6的上下移動(dòng)，X射線探傷機(jī)放置在校驗(yàn)平臺(tái)4后，用控制器使防護(hù)罩6下落，直到將探傷機(jī)的射線出口完全覆蓋;第三推桿電機(jī)3用于驅(qū)動(dòng)校驗(yàn)平臺(tái)4的上下移動(dòng)，使其與測(cè)量探頭放置臺(tái)5的距離可調(diào)節(jié)，以滿足不同距離的檢校距離；測(cè)量探頭放置臺(tái)5是一個(gè)水平的平臺(tái)，在檢校過程中，將工作級(jí)電離室劑量計(jì)的電離室平放于該平臺(tái)上。
[0018]上述技術(shù)方案僅體現(xiàn)了本實(shí)用新型技術(shù)方案的優(yōu)選技術(shù)方案，本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員對(duì)其中某些部分所可能做出的一些變動(dòng)均體現(xiàn)了本實(shí)用新型的原理，屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種X射線探傷機(jī)檢校輔助臺(tái)，其特征在于:包括驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)、校驗(yàn)平臺(tái)和防護(hù)系統(tǒng);驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)包括:推桿電機(jī)、測(cè)量探頭放置臺(tái)；第一推桿電機(jī)、第二推桿電機(jī)位于校驗(yàn)平臺(tái)的上方，第三推桿電機(jī)用于驅(qū)動(dòng)校驗(yàn)平臺(tái)的上下移動(dòng)，使其與測(cè)量探頭放置臺(tái)的距離可調(diào)節(jié);測(cè)量探頭放置臺(tái)是一個(gè)水平的平臺(tái)，置于校驗(yàn)平臺(tái)正下方中間位置。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種X射線探傷機(jī)檢校輔助臺(tái)，其特征在于:所述校驗(yàn)平臺(tái)為中空的框架結(jié)構(gòu)，該框架結(jié)構(gòu)的校驗(yàn)平臺(tái)由液壓支撐柱支撐。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種X射線探傷機(jī)檢校輔助臺(tái)，其特征在于:防護(hù)系統(tǒng)一端的鉛板防護(hù)罩為U型，以達(dá)到完全遮擋射線出口位置。
【文檔編號(hào)】G01N23/02GK205643197SQ201620494142
【公開日】2016年10月12日
【申請(qǐng)日】2016年5月27日
【發(fā)明人】李海霞, 劉飛
【申請(qǐng)人】唐立博