二極管功率老化﹑反偏試驗通用夾具的制作方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種二極管功率老化﹑反偏試驗通用夾具，它包括二極管安裝基板和試驗電路板，二極管安裝基板上設(shè)置有若干用以安裝被測試二極管的二極管安裝管孔，二極管安裝基板的一側(cè)邊設(shè)置有內(nèi)置若干第一接線端子的卡槽，第一接線端子分別與二極管安裝管孔電連接；試驗電路板上設(shè)置有若干試驗電路，試驗電路板的一側(cè)邊設(shè)置有與卡槽相對應(yīng)且相互卡接的卡口，卡口上設(shè)置有若干第二接線端子，第二接線端子分別與試驗電路電連接；試驗電路板包括二極管反偏試驗電路板和二極管功率老化試驗電路板。本實用新型只需安裝一次二極管產(chǎn)品即可完成功率老化和反偏試驗，從而實現(xiàn)了產(chǎn)品反偏和功率老化無間隙試驗，縮短了產(chǎn)品的篩選試驗時間。
【專利說明】
二極管功率老化及偏試驗通用夾具
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本實用新型涉及一種二極管試驗夾具，具體地說是一種二極管功率老化、反偏試驗通用夾具，屬于電子元器件測試裝置技術(shù)領(lǐng)域。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著二極管的使用越來越廣泛，二極管的使用環(huán)境也各不一樣。為了能夠滿足各種使用環(huán)境的要求，需要在生產(chǎn)二極管時對二極管進行篩選試驗。篩選試驗:是指為選擇具有一定特性的產(chǎn)品或剔除早期失效的產(chǎn)品而進行的試驗。通過篩選試驗主要是指剔除早期失效的產(chǎn)品而進行的試驗，它是一種對產(chǎn)品進行全數(shù)檢驗的非破壞性試驗，通過按照一定的程序施加環(huán)境應(yīng)力，激發(fā)出產(chǎn)品潛在的設(shè)計和制造缺陷，以便剔除早期失效產(chǎn)品，降低失效率。元器件的篩選一般應(yīng)由元器件生產(chǎn)方按照軍用電子元器件規(guī)范或供需雙方簽訂的合同進行。
[0003]二極管篩選試驗中主要包括二極管功率老化試驗和二極管反偏試驗。一、二極管功率老化試驗:功率老化篩選的原理及作用是給電子元器件施加一定的功率，模擬其工作環(huán)境，使它們內(nèi)部的潛在故障加速暴露出來，然后進行電氣參數(shù)測量，篩選剔除那些失效或變值的元器件，盡可能把早期失效消滅在正常使用之前。功率老化篩選的指導思想是，經(jīng)過功率老化篩選，有缺陷的元器件會失效，而優(yōu)質(zhì)品能夠通過，這里必須注意試驗方法正確和外加條件適當，否則，可能對參加篩選的元器件造成不必要的損傷。二、二極管反偏試驗:二極管反偏試驗是使產(chǎn)品在高溫下加上反向偏壓，這是一種嚴酷的工作方式，由于高溫下漏電流增大，在溫度和電場的作用下，質(zhì)量差的器件就會失效，用這種方法可以判斷生產(chǎn)批的質(zhì)量好壞，尤其是高溫性能的水平。
[0004]目前二極管功率老化、反偏試驗需要分別采用反偏試驗夾具進行反偏試驗和采用功率老化試驗夾具進行功率老化試驗，這種試驗方式存在的以下問題:現(xiàn)有的反偏試驗夾具是將進行試驗的二極管所有管位各串聯(lián)一個電阻，然后再并聯(lián)。現(xiàn)有的功率老化試驗夾具是將進行試驗的二極管所有管位先并聯(lián)一個電阻和LED指示燈，然后再串聯(lián)。這種分開設(shè)計的反偏和功率老化試驗夾具，進行篩選試驗的產(chǎn)品需分別安裝到反偏試驗夾具和功率老化試驗夾具上，即一支產(chǎn)品反偏安裝一次，功率老化再安裝一次，在實際生成過程中，玻封和塑封二極管產(chǎn)品由于其體積小、產(chǎn)品電極極性不明顯的特點，在產(chǎn)品功率老化安裝和測試方面存在較多的困難，從而使篩選工序工作量非常大，試驗夾具也容易損壞，也增加了軸向產(chǎn)品應(yīng)力損傷。
[0005]為了加快篩選進度，迫切需要重新設(shè)計一種新的反二極管偏和功率老化試驗夾具。
【實用新型內(nèi)容】
[0006]為克服上述現(xiàn)有技術(shù)存在的不足，本實用新型的目的在于提供一種二極管功率老化、反偏試驗通用夾具，其能夠?qū)崿F(xiàn)低壓小電流二極管反偏和功率老化試驗的無間隙試驗，從而縮短產(chǎn)品的篩選試驗時間，也使篩選過程控制變得極為方便。
[0007]本實用新型解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是:二極管功率老化、反偏試驗通用夾具，其特征是:包括二極管安裝基板和試驗電路板，所述二極管安裝基板上設(shè)置有若干二極管安裝管孔，二極管安裝基板的一側(cè)邊設(shè)置有卡槽，所述卡槽內(nèi)設(shè)置有若干第一接線端子，所述的第一接線端子分別與二極管安裝管孔電連接;所述二極管安裝管孔用以安裝被測試二極管;所述試驗電路板上設(shè)置有若干試驗電路，試驗電路板的一側(cè)邊設(shè)置有與卡槽相對應(yīng)且相互卡接的卡口，所述卡口上設(shè)置有若干與第一接線端子相對應(yīng)的第二接線端子，所述的第二接線端子分別與試驗電路電連接;所述試驗電路板包括二極管反偏試驗電路板和二極管功率老化試驗電路板。
[0008]優(yōu)選地，所述二極管反偏試驗電路板上設(shè)置有二極管反偏試驗電路，所述二極管反偏試驗電路與設(shè)置在二極管反偏試驗電路板一側(cè)邊卡口上的第二接線端子電連接。
[0009]優(yōu)選地，所述二極管反偏試驗電路包括與二極管安裝基板上的被測試二極管數(shù)量一致的反偏試驗電阻，所述的反偏試驗電阻的一端并聯(lián)后與電源電壓相連，反偏試驗電阻的另一端分別與卡口上的第二接線端子電連接，卡口上其它未與反偏試驗電阻連接的第二接線端子并聯(lián)后接地。
[0010]優(yōu)選地，所述二極管功率老化試驗電路板上設(shè)置有二極管功率老化試驗電路，所述二極管功率老化試驗電路與設(shè)置在二極管功率老化試驗電路板一側(cè)邊卡口上的第二接線端子電連接。
[0011]優(yōu)選地，所述二極管功率老化試驗電路包括與二極管安裝基板上的被測試二極管數(shù)量一致的功率老化試驗電阻和LED指示燈，所述的功率老化試驗電阻和LED指示燈相互交替組成串聯(lián)電路，串聯(lián)電路的一端與電源電壓相連，串聯(lián)電路的另一端接地;一個功率老化試驗電阻和一個LED指示燈組成一組測試電路，每組測試電路的兩端分別與卡口上的第二接線端子電連接。
[0012]本實用新型的有益效果是:
[0013]本實用新型提出了一種新的功率老化、反偏試驗通用夾具，二極管產(chǎn)品只需安裝一次即可完成功率老化和反偏試驗，從而實現(xiàn)了產(chǎn)品反偏和功率老化無間隙試驗，縮短了產(chǎn)品的篩選試驗時間，加快了產(chǎn)品的試驗進度，也使篩選過程控制變得極為方便。
[0014]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實用新型主要具有以下優(yōu)勢:
[0015]1.被測試元器件無需進行二次安裝，被測試元器件安裝和拆卸的工作量減小一半，提高了工作效率。
[0016]2.對于軸向產(chǎn)品，由于無需二次安裝，減少了由安裝和拆卸引起的應(yīng)力損傷。
[0017]3.實現(xiàn)了產(chǎn)品在夾具上的測試，提高了測試速度，減少了產(chǎn)品測試所需的周轉(zhuǎn)時間，反偏試驗結(jié)束后可以快速地進行下一步的功率老化試驗。
[0018]4.由于實現(xiàn)了產(chǎn)品反偏和功率老化的無間隙試驗，篩選過程控制變得極為方便，特別對于那些產(chǎn)品數(shù)量較大的批次，產(chǎn)品拆成小批次后，這些小批次的產(chǎn)品都能及時完成反偏和功率老化試驗，降低了過程中的風險。
[0019]5.由于無需進行二次安裝，實現(xiàn)了產(chǎn)品從初測到終點測試的一一對應(yīng)，在需要對產(chǎn)品的參數(shù)做試驗前后對比時就格外容易。
【附圖說明】
[0020]圖1是本實用新型在將二極管安裝基板和試驗電路板安裝在一起進行二極管試驗時的結(jié)構(gòu)不意圖；
[0021]圖2是本實用新型將二極管安裝基板和試驗電路板分開時的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0022]圖3是本實用新型的二極管安裝基板的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0023]圖4是本實用新型的二極管反偏試驗電路板的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0024]圖5是本實用新型的二極管功率老化試驗電路板的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0025]圖中，I二極管安裝基板、11二極管安裝管孔、12卡槽、2試驗電路板、21卡口、2-1二極管反偏試驗電路板、21-1 二極管反偏試驗電路板卡口、2-2 二極管功率老化試驗電路板、21-2 二極管功率老化試驗電路板卡口。
【具體實施方式】
[0026]為了簡化本實用新型的公開，下文中對特定例子的部件和設(shè)置進行描述。應(yīng)當注意，在附圖中所圖示的部件不一定按比例繪制。本實用新型省略了對公知組件和處理技術(shù)及工藝的描述以避免不必要地限制本實用新型。
[0027]如圖1至圖5所示，本實用新型的一種二極管功率老化、反偏試驗通用夾具，它包括二極管安裝基板I和試驗電路板2，所述二極管安裝基板I上設(shè)置有若干二極管安裝管孔11，二極管安裝基板I的一側(cè)邊設(shè)置有卡槽12，所述卡槽12內(nèi)設(shè)置有若干第一接線端子(all、al2、al3^_aln和bll、bl2、bl3^_bln)，所述的第一接線端子分別與二極管安裝管孔11電連接;所述二極管安裝管孔11用以安裝被測試二極管(D11、D12、D13…Dln);所述試驗電路板2上設(shè)置有若干試驗電路，試驗電路板2的一側(cè)邊設(shè)置有與卡槽相對應(yīng)且相互卡接的卡口 21，所述卡口 21上設(shè)置有若干與第一接線端子相對應(yīng)的第二接線端子，所述的第二接線端子分別與試驗電路電連接。所述試驗電路板2包括二極管反偏試驗電路板2-1和二極管功率老化試驗電路板2_2。
[0028]如圖4所示，本實用新型所述的二極管反偏試驗電路板2-1上設(shè)置有二極管反偏試驗電路，所述二極管反偏試驗電路與設(shè)置在二極管反偏試驗電路板一側(cè)邊二極管反偏試驗電路板卡口21-1上的第二接線端子(321、322、323丨3211和匕2^22423-七211)電連接。所述二極管反偏試驗電路包括與二極管安裝基板上的被測試二極管數(shù)量一致的反偏試驗電阻(R21、R22、R23…R2n)，所述的反偏試驗電阻(R21、R22、R23…R2n)的一端并聯(lián)后與電源電壓VCC相連，反偏試驗電阻的另一端分別與二極管反偏試驗電路板卡口 21-1上的第二接線端子(b21、b22、b23…b2n)電連接，二極管反偏試驗電路板卡口 21-1上其它未與反偏試驗電阻連接的第二接線端子(a21、a22、a23…a2n)并聯(lián)后接地。
[0029]如圖5所示，本實用新型的所述二極管功率老化試驗電路板2-2上設(shè)置有二極管功率老化試驗電路，所述二極管功率老化試驗電路與設(shè)置在二極管功率老化試驗電路板一側(cè)邊二極管功率老化試驗電路板卡口 21-2上的第二接線端子(a31、a32、a33…a3n和b31、b32、b33…b3n)電連接。所述二極管功率老化試驗電路包括與二極管安裝基板上的被測試二極管數(shù)量一致的功率老化試驗電阻(1?31、1?32、1?33丨1?311)和1^0指示燈(1^031、1^032、1^033...LED3n)，所述的功率老化試驗電阻和LED指示燈相互交替組成串聯(lián)電路，串聯(lián)電路的一端與電源電壓相連，串聯(lián)電路的另一端接地;一個功率老化試驗電阻和一個LED指示燈組成一組測試電路(如圖5所示，R31和LED31為一組測試電路、R32和LED32為一組測試電路、R33和LED33為一組測試電路…R3n和LED3n為一組測試電路)，每組測試電路的兩端分別與卡口上的第二接線端子電連接。
[0030]通過對電路的分析，本實用新型將所有管位看作是一個安裝夾具，而將反偏使用的串聯(lián)電阻、功率老化使用的并聯(lián)電阻和LED指示燈獨立出來放到單獨的一個試驗夾具上，分別看做反偏電路和功率老化電路。
[0031]在需進行反偏和功率老化試驗時，先將產(chǎn)品安裝到二極管安裝基板上，進行反偏試驗時將二極管反偏試驗電路板安裝到二極管安裝基板上，即二極管安裝基板的all和二極管反偏試驗電路板的a21連接，二極管安裝基板的bll和二極管反偏試驗電路板的b21連接，以此類推，這樣就可實現(xiàn)原反偏試驗夾具的功能.而當需要進行功率老化試驗時，將二極管反偏試驗電路板取下，再將二極管功率老化試驗電路板安裝到二極管安裝基板上，即二極管安裝基板的all和功二極管功率老化試驗電路板的a31連接，二極管安裝基板的bll和二極管功率老化試驗電路板的b31連接，以此類推，這樣就可以實現(xiàn)原功率老化夾具的功能。這種利用本實用新型的測試方法達到了設(shè)計要求，滿足通過更換二極管反偏試驗電路板和二極管功率老化試驗電路板即可實現(xiàn)產(chǎn)品的反偏和功率老化試驗，無需進行產(chǎn)品的二次安裝，實現(xiàn)了產(chǎn)品反偏和功率老化試驗的無間隙試驗。
[0032]本實用新型的設(shè)計適用于二極管等電子元器件的篩選試驗。使用此設(shè)計方案，待試驗的產(chǎn)品只需安裝一次，即可完成功率老化和反偏試驗，并且產(chǎn)品的測試也可試驗夾具上進行，提高了測試速度，減少了產(chǎn)品測試和二次安裝和拆卸的所需的周轉(zhuǎn)時間，提高了工作效率。實現(xiàn)了產(chǎn)品從試驗前，反偏試驗后和功率老化試驗后的測試的一一對應(yīng)，在安裝和測試方面都節(jié)約了人工成本。本實用新型同時減小了軸向產(chǎn)品由于安裝和拆卸引起的應(yīng)力損傷，篩選過程控制變得極為方便，大大降低了過程中的風險。
[0033]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實用新型主要具有以下優(yōu)勢:
[0034]1.被測試元器件無需進行二次安裝，被測試元器件安裝和拆卸的工作量減小一半，提高了工作效率。
[0035]2.對于軸向產(chǎn)品，由于無需二次安裝，減少了由安裝和拆卸引起的應(yīng)力損傷。
[0036]3.實現(xiàn)了產(chǎn)品在夾具上的測試，提高了測試速度，減少了產(chǎn)品測試所需的周轉(zhuǎn)時間，反偏試驗結(jié)束后可以快速地進行下一步的功率老化試驗。
[0037]4.由于實現(xiàn)了產(chǎn)品反偏和功率老化的無間隙試驗，篩選過程控制變得極為方便，特別對于那些產(chǎn)品數(shù)量較大的批次，產(chǎn)品拆成小批次后，這些小批次的產(chǎn)品都能及時完成反偏和功率老化試驗，降低了過程中的風險。
[0038]5.由于無需進行二次安裝，實現(xiàn)了產(chǎn)品從初測到終點測試的一一對應(yīng)，在需要對產(chǎn)品的參數(shù)做試驗前后對比時就格外容易。
[0039]本實用新型在效益方面的意義:
[0040]1.通過測算按玻封和塑封產(chǎn)品每月篩選6萬支計算，在安裝和測試方面可以節(jié)約1.5人的工作量，每年可以節(jié)約人工成本10萬元以上，長期節(jié)約成本更甚。
[0041]2.原試驗夾具在產(chǎn)品失效時往往會將反偏或老化電路燒壞，導致整個試驗夾具報廢，而采用新方法后產(chǎn)品失效時不會將試驗安裝夾具燒毀，只是將兩個對應(yīng)的反偏電路板和功率老化電路板損壞，從而更好的節(jié)約了成本。
[0042]以上所述只是本實用新型的優(yōu)選實施方式，對于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實用新型原理的前提下，還可以做出若干改進和潤飾，這些改進和潤飾也被視為本實用新型的保護范圍。
【主權(quán)項】
1.二極管功率老化、反偏試驗通用夾具，其特征是:包括二極管安裝基板和試驗電路板，所述二極管安裝基板上設(shè)置有若干二極管安裝管孔，二極管安裝基板的一側(cè)邊設(shè)置有卡槽，所述卡槽內(nèi)設(shè)置有若干第一接線端子，所述的第一接線端子分別與二極管安裝管孔電連接;所述二極管安裝管孔用以安裝被測試二極管;所述試驗電路板上設(shè)置有若干試驗電路，試驗電路板的一側(cè)邊設(shè)置有與卡槽相對應(yīng)且相互卡接的卡口，所述卡口上設(shè)置有若干與第一接線端子相對應(yīng)的第二接線端子，所述的第二接線端子分別與試驗電路電連接；所述試驗電路板包括二極管反偏試驗電路板和二極管功率老化試驗電路板。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的二極管功率老化、反偏試驗通用夾具，其特征是:所述二極管反偏試驗電路板上設(shè)置有二極管反偏試驗電路，所述二極管反偏試驗電路與設(shè)置在二極管反偏試驗電路板一側(cè)邊卡口上的第二接線端子電連接。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的二極管功率老化、反偏試驗通用夾具，其特征是:所述二極管反偏試驗電路包括與二極管安裝基板上的被測試二極管數(shù)量一致的反偏試驗電阻，所述的反偏試驗電阻的一端并聯(lián)后與電源電壓相連，反偏試驗電阻的另一端分別與卡口上的第二接線端子電連接，卡口上其它未與反偏試驗電阻連接的第二接線端子并聯(lián)后接地。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的二極管功率老化、反偏試驗通用夾具，其特征是:所述二極管功率老化試驗電路板上設(shè)置有二極管功率老化試驗電路，所述二極管功率老化試驗電路與設(shè)置在二極管功率老化試驗電路板一側(cè)邊卡口上的第二接線端子電連接。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的二極管功率老化、反偏試驗通用夾具，其特征是:所述二極管功率老化試驗電路包括與二極管安裝基板上的被測試二極管數(shù)量一致的功率老化試驗電阻和LED指示燈，所述的功率老化試驗電阻和LED指示燈相互交替組成串聯(lián)電路，串聯(lián)電路的一端與電源電壓相連，串聯(lián)電路的另一端接地;一個功率老化試驗電阻和一個LED指示燈組成一組測試電路，每組測試電路的兩端分別與卡口上的第二接線端子電連接。
【文檔編號】G01R1/04GK205620437SQ201620383799
【公開日】2016年10月5日
【申請日】2016年4月29日
【發(fā)明人】郝思成, 耿寧寧, 李興廣
【申請人】濟南市半導體元件實驗所