一種接觸式尺寸檢測機的制作方法
【專利摘要】本實用新型涉及一種接觸式尺寸檢測機，用于測量待測件尺寸，其結(jié)構(gòu)包括基座，所述基座上設置有定位點、定位機構(gòu)和位移測量模組，所述定位機構(gòu)包括驅(qū)動裝置和定位件，所述定位件與待測件相配合；所述位移測量模組包括位移傳感器和接觸件，所述接觸件與位移傳感器相連接，所述接觸件與待測件相配合；所述驅(qū)動裝置驅(qū)動定位件使待測件分別與定位點和接觸件相接觸。本實用新型通過機械裝置實現(xiàn)自動測量產(chǎn)品尺寸。
【專利說明】
一種接觸式尺寸檢測機
技術領域
[0001]本實用新型涉及一種檢測裝置，特別是一種接觸式尺寸檢測機。
【背景技術】
[0002]現(xiàn)有的產(chǎn)品尺寸測量多使用游標卡尺進行，該測量方式效率比較低，而且人員測量時間久會產(chǎn)生疲勞，影響對測量結(jié)果的判斷;每個人測量同一個產(chǎn)品測量出來的結(jié)果均一性比較低，測量手法也不盡相同。特別是針對T形微型產(chǎn)品需要測量至少包括上階梯和下階梯的X、y和Z軸方向尺寸，同一次檢測中都可能因誤差出現(xiàn)對同一平面的兩側(cè)檢測結(jié)果不一的情況，嚴重影響產(chǎn)品的檢測判斷，對檢測人員的工作量和操作要求均較高。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本實用新型所要解決的技術問題是提供一種接觸式尺寸檢測機，通過機械裝置實現(xiàn)自動測量產(chǎn)品尺寸。
[0004]本實用新型解決上述技術問題所采用的技術方案是:
[0005]—種接觸式尺寸檢測機，用于測量待測件尺寸，其結(jié)構(gòu)包括基座，所述基座上設置有定位點、定位機構(gòu)和位移測量模組，所述定位機構(gòu)包括驅(qū)動裝置和定位件，所述定位件與待測件相配合;所述位移測量模組包括位移傳感器和接觸件，所述接觸件與位移傳感器相連接，所述接觸件與待測件相配合;所述驅(qū)動裝置驅(qū)動定位件使待測件分別與定位點和接觸件相接觸。通過定位機構(gòu)使待測件到達定位點，使定位點作為原點，通過待測件接觸接觸件使接觸件發(fā)生位移或形變，從而將變量信息傳遞至位移傳感器從而通過其與定位點或相配合的位移傳感器的位置關系得出待測件的尺寸關系從而完成產(chǎn)品尺寸的測量。
[0006]進一步地，所述位移測量模組還包括復位件，所述復位件與接觸件相連接。設置復位件可以讓接觸件在檢測完成后自動復位從而進行下一次的檢測，且復位件能在檢測時對接觸件產(chǎn)生相對于接觸件方向相反的阻力，從而使接觸件完全貼緊待測件，使檢測數(shù)據(jù)更為準確。
[0007]作為優(yōu)選，所述復位件由直線軸承、彈簧和導柱組成，所述直線軸承和彈簧套設在所述導柱上，所述接觸件與直接軸承相連接。當待測件接觸接觸件時，接觸件發(fā)生位移，位移方向通過導柱控制，而導柱可與位移傳感器相平行設置，從而接觸件的位移距離即位移傳感器所檢測到的數(shù)據(jù)，使檢測數(shù)據(jù)進一步準確。
[0008]作為優(yōu)選，所述接觸件上設有與待測件相配合的倒角。倒角的設置使待測件與接觸件相接觸時，待測件可通過倒角壓入接觸件，待測件可更順利壓入接觸件，從而減少檢測所產(chǎn)生的零件磨損。
[0009]作為優(yōu)選，所述基座上設置有第一位移測量模組、第二位移測量模組、第三位移測量模組、第四位移測量模組和第五位移測量模組，所述第一位移測量模組與定位點相配合，所述第二位移測量模組與第三位移測量模組相配合，所述第四位移測量模組與定位點相配合，所述第五位移測量模組與第四位移測量模組相配合。為測量T形產(chǎn)品，通過第一位移測量模組和定位點固定和測量T形件下部的寬，通過第二位移測量模組與第三位移測量模組固定和測量T形件上部的寬，通過第四位移測量模組和定位點測量T型件下部的高，通過第五位移測量模具和第四位移測量模組測量T形件上部的高。
[0010]作為優(yōu)選，還包括顯示裝置，所述顯示裝置與位移測量模組相連接。設置顯示裝置使測量結(jié)果可更直觀地反映。
[0011]本實用新型同現(xiàn)有技術相比具有以下優(yōu)點及效果:提供一種接觸式尺寸檢測機，通過機械裝置達到自動測量產(chǎn)品尺寸，通過復位件的設置，使檢測機的自動化程度和精度更高，通過倒角的設置使檢測過程更容易完成且零件磨損更小，通過位移測量模組間的配合可實現(xiàn)T形件的檢測，通過設置顯示裝置使測量結(jié)果直觀反映。
【附圖說明】
[0012]為了更清楚地說明本實用新型實施例或現(xiàn)有技術中的技術方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0013]圖1為本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖一。
[0014]圖2為位移測量模組的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0015]圖3為待測件的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0016]圖4為本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖二。
[0017]標號說明:
[0018]基座I動作氣缸2 壓板21
[0019]位移測量模組3接觸件31位移傳感器32
[0020]直線軸承33 彈簧34導柱35
[0021]T形件4定位部40 第一檢測部41
[0022]第二檢測部42 第三檢測部43第四檢測部44
[0023]第五檢測部45 顯示器5
【具體實施方式】
[0024]下面結(jié)合實施例對本實用新型做進一步的詳細說明，以下實施例是對本實用新型的解釋而本實用新型并不局限于以下實施例。
[0025]實施例1:
[0026]如圖4所示，本實施例包括工作臺上設置的基座I和顯示器5，顯示器5和基座I上設置的位移測量模組3相連接，位移測量模組3上所得數(shù)據(jù)情況會在顯示器5上顯示。如圖1所示，基座I頂部設置有動作氣缸2，動作氣缸2與壓板21相連接;如圖1至3所示，當需要檢測時，先將T形件4設置在基座I上，啟動動作氣缸2使壓板21下壓T形件4，使T形件4的定位部40與基座上設置的定位點(圖中未示出)相接觸，第一檢測部41與第一位移測量模組相接觸，第二檢測部42與第二位移測量模組相接觸，第三檢測部43與第三位移測量模組相接觸，第四檢測部44與第四位移測量模組相接觸，第五檢測部45與第五位移測量模組相接觸，其中第一位移測量模組和定位點固定和測量T形件下部的寬，通過第二位移測量模組與第三位移測量模組固定和測量T形件上部的寬，通過第四位移測量模組和定位點測量T型件下部的高，通過第五位移測量模具和第四位移測量模組測量T形件上部的高。T形件4各部位擠壓各位移測量模組3上的接觸件31，并通過接觸件31上設置的倒角進入接觸件31，接觸件31連接直線軸承33，直線軸承33和彈簧34套設在導柱35上，從而通過彈簧34對直線軸承33和接觸件31提供相反與T形件4的擠壓力從而使T形件4被位移測量模組3夾緊，位移測量模組3設置的位移傳感器32根據(jù)接觸件31的位移得出數(shù)據(jù)情況。
[0027]此外，需要說明的是，本說明書中所描述的具體實施例，其零、部件的形狀、所取名稱等可以不同。凡依本實用新型專利構(gòu)思所述的構(gòu)造、特征及原理所做的等效或簡單變化，均包括于本實用新型專利的保護范圍內(nèi)。本實用新型所屬技術領域的技術人員可以對所描述的具體實施例做各種各樣的修改或補充或采用類似的方式替代，只要不偏離本實用新型的結(jié)構(gòu)或者超越本權利要求書所定義的范圍，均應屬于本實用新型的保護范圍。
【主權項】
1.一種接觸式尺寸檢測機，用于測量待測件尺寸，其特征在于:包括基座，所述基座上設置有定位點、定位機構(gòu)和位移測量模組，所述定位機構(gòu)包括驅(qū)動裝置和定位件，所述定位件與待測件相配合;所述位移測量模組包括位移傳感器和接觸件，所述接觸件與位移傳感器相連接，所述接觸件與待測件相配合;所述驅(qū)動裝置驅(qū)動定位件使待測件分別與定位點和接觸件相接觸。2.根據(jù)權利要求1所述的接觸式尺寸檢測機，其特征在于:所述位移測量模組還包括復位件，所述復位件與接觸件相連接。3.根據(jù)權利要求2所述的接觸式尺寸檢測機，其特征在于:所述復位件由直線軸承、彈簧和導柱組成，所述直線軸承和彈簧套設在所述導柱上，所述接觸件與直接軸承相連接。4.根據(jù)權利要求1所述的接觸式尺寸檢測機，其特征在于:所述接觸件上設有與待測件相配合的倒角。5.根據(jù)權利要求1至4任一所述的接觸式尺寸檢測機，其特征在于:所述基座上設置有第一位移測量模組、第二位移測量模組、第三位移測量模組、第四位移測量模組和第五位移測量模組，所述第一位移測量模組與定位點相配合，所述第二位移測量模組與第三位移測量模組相配合，所述第四位移測量模組與定位點相配合，所述第五位移測量模組與第四位移測量模組相配合。6.根據(jù)權利要求1所述的接觸式尺寸檢測機，其特征在于:還包括顯示裝置，所述顯示裝置與位移測量模組相連接。
【文檔編號】G01B5/02GK205593458SQ201620324157
【公開日】2016年9月21日
【申請日】2016年4月15日
【發(fā)明人】王振
【申請人】杭州銘赫科技有限公司