電性能檢測機(jī)的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型提供了一種電性能檢測機(jī)，包括工作臺、位于工作臺上的測試儀和圓盤，所述圓盤上沿圓周方向均勻設(shè)置有用于放置電子元件的卡槽，所述卡槽沿圓周邊緣設(shè)有缺口，所述工作臺位于圓盤缺口下方設(shè)有用于方便運(yùn)輸電子元件的收集裝置。所述收集裝置包括傾斜設(shè)置的滑道，所述滑道靠近圓盤一端開口朝向缺口下方，所述滑道遠(yuǎn)離圓盤一端下方設(shè)有收集框。所述滑道遠(yuǎn)離圓盤一端開口設(shè)有用于緩沖滑落的電子元件的擋片，所述擋片位于滑道遠(yuǎn)離圓盤一端開口的下方。上述技術(shù)方案解決了無法方便對電子元件進(jìn)行收集的問題，本實(shí)用新型提供了一種收集方便快速的電性能檢測機(jī)。
【專利說明】
電性能檢測機(jī)
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本實(shí)用新型涉及電子元件檢測設(shè)備領(lǐng)域，特別涉及一種電性能檢測機(jī)。
【背景技術(shù)】
[0002]電子元件是組成電子產(chǎn)品的基礎(chǔ)，運(yùn)用在越來越多的產(chǎn)品中，發(fā)揮著非常重要的作用，所以對電子元件電性能的測試提出了更高的要求。
[0003]中國專利公開號CN203433065U的專利文件公開了一種多工位電性能檢測機(jī)，包括操作臺和安裝在操作臺上的若干個測試儀，操作臺內(nèi)部設(shè)有電控驅(qū)動系統(tǒng)，測試儀與電控驅(qū)動系統(tǒng)電連接，操作臺的上表面固定連接有可旋轉(zhuǎn)的圓盤，圓盤的內(nèi)圓周側(cè)均勻分布有若干個槽座，圓盤的外圓周一側(cè)的操作臺表面固定連接有若干個支架，各個支架上部均連接有電控驅(qū)動系統(tǒng)控制伸縮長度的傳感器探頭，一個傳感器探頭、一個槽座與一臺測試儀組成一個檢測臺，同一個檢測組合內(nèi)的測試儀分別與傳感器探頭、槽座的底部電連接。上述技術(shù)方案雖然實(shí)現(xiàn)了多工位的檢測功能，但是該設(shè)備在對電子元件檢測完之后，需要將合格與不合格的產(chǎn)品從圓盤上取出，并且再進(jìn)行分類，然而操作臺離地具有一定的高度，需要工作人員將電子元件一一取出放置到指定位置，導(dǎo)致收集變得麻煩，無法更加方便的把電子元件收集起來，較高臺面的圓盤位置，會增加工作人員的收集速度，使檢測效率降低。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0004]本實(shí)用新型的目的是提供一種收集方便快速的電性能檢測機(jī)。
[0005]本實(shí)用新型的上述技術(shù)目的是通過以下技術(shù)方案得以實(shí)現(xiàn)的:一種電性能檢測機(jī)，包括工作臺、位于工作臺上的測試儀和圓盤，所述圓盤上沿圓周方向均勻設(shè)置有用于放置電子元件的卡槽，所述卡槽沿圓周邊緣設(shè)有缺口，所述工作臺位于圓盤缺口下方設(shè)有用于收集電子元件的收集裝置。
[0006]通過采用上述技術(shù)方案，利用在卡槽上開設(shè)的缺口和缺口下方的的收集裝置，能夠使工作人員更加方便地將電子元件從卡槽中取出，并且使其直接掉入到收集裝置中，利用收集裝置將合格的電子元件進(jìn)行一個收集，減去了工作人員將電子元件進(jìn)行分類收集的麻煩，免去了要將電子元件一一取出并且放入收集裝置的工作步驟，使整個收集過程更加有序合理，提高了整個檢測裝置的檢測效率。
[0007]本實(shí)用新型進(jìn)一步設(shè)置為:所述收集裝置包括傾斜設(shè)置的滑道，所述滑道靠近圓盤一端開口朝向缺口下方，所述滑道遠(yuǎn)離圓盤一端下方設(shè)有收集框。
[0008]通過采用上述技術(shù)方案，利用位于缺口下方的滑道，從而能夠使缺口中掉落的電子元件掉落到滑道的上開口中，利用傾斜設(shè)置的滑道，將電子元件導(dǎo)向到用于收集不同類的收集框中，縮短了圓盤和收集框之間的距離，免去了工作人員要收集電子元件的麻煩，在取出電子元件的同時，就能利用滑道的作用，直接通入到收集框中，使整個過程方便快捷，提1? 了檢測效率。
[0009]本實(shí)用新型進(jìn)一步設(shè)置為:所述滑道遠(yuǎn)離圓盤一端開口設(shè)有用于緩沖滑落的電子元件的擋片，所述擋片位于滑道遠(yuǎn)離圓盤一端開口的下方。
[0010]通過采用上述技術(shù)方案，利用滑道遠(yuǎn)離圓盤一端開口處的擋片，能夠?qū)幕乐谢龅碾娮釉诘袈涞绞占蛑斑M(jìn)行一個緩沖，避免了電子元件會由于重力加速度的原因而直接飛出到收集框之外。因?yàn)殡娮釉系亩喾N部件的精密性要求更高，如果電子元件直接掉落到收集框中，會使元件相互之間發(fā)生較大的力的碰撞，可能會導(dǎo)致電子元件的損壞，所以利用擋片在滑道開口下方的緩沖作用，能夠使電子元件以較慢的速度落到收集框中，從而就能保證電子元件不會由于強(qiáng)力碰撞而發(fā)生損壞。
[0011]本實(shí)用新型進(jìn)一步設(shè)置為:所述滑道遠(yuǎn)離圓盤一端設(shè)有用于調(diào)節(jié)擋片和滑道開口距離的卡位塊，所述擋片設(shè)有連接于擋片兩側(cè)的連接件，所述連接件與卡位塊沿滑道傾斜方向呈滑動連接。
[0012]通過采用上述技術(shù)方案，利用連接件和卡位塊之間的滑動連接，從而就能調(diào)節(jié)擋片和滑道開口之間的距離，能夠改變對于不同質(zhì)量的電子元件的緩沖力度，就能使電子元件掉落時都可以有最合適的掉落速度，滿足不同型號的電子元件的收集要求。
[0013]本實(shí)用新型進(jìn)一步設(shè)置為:所述工作臺上垂直設(shè)置有轉(zhuǎn)軸，所述轉(zhuǎn)軸與滑道靠近圓盤一端呈轉(zhuǎn)動連接，所述滑道遠(yuǎn)離圓盤一端下方設(shè)有多個收集框。
[0014]通過采用上述技術(shù)方案，利用滑道和工作臺表面上轉(zhuǎn)軸的轉(zhuǎn)動連接，能夠使滑道繞著轉(zhuǎn)軸進(jìn)行一定角度的轉(zhuǎn)動，從而能夠使滑道的底端開口對準(zhǔn)不同的收集框，能夠?qū)⒑细窈筒缓细癞a(chǎn)片進(jìn)行一個分類收集，使收集過程變得更加方便快捷。也能在一個收集框收滿之后不用停止檢測機(jī)去更換收集框，可以直接將滑道的開口對準(zhǔn)新的一個收集框重新開始收集，使檢測過程中不間斷，也就能提高整臺機(jī)器的檢測效率。
[0015]本實(shí)用新型進(jìn)一步設(shè)置為:所述工作臺上設(shè)有用于將電子元件從缺口中卡出的執(zhí)行機(jī)構(gòu)，所述執(zhí)行機(jī)構(gòu)位于收集裝置上方。
[0016]通過采用上述技術(shù)方案，利用執(zhí)行機(jī)構(gòu)就能免去工作人員需要將電子元件從缺口中撥出到收集裝置內(nèi)，可以直接利用執(zhí)行機(jī)構(gòu)把電子元件自動取出，使整個收集過程變得更加方便快捷，兩者的配合，實(shí)現(xiàn)了取出和收集的兩個功能效果，提高了整臺機(jī)器的檢測效率。
[0017]本實(shí)用新型進(jìn)一步設(shè)置為:所述執(zhí)行機(jī)構(gòu)包括與電子元件相抵觸的撥片和固定連接于工作臺表面的支撐柱，所述撥片固定連接于支撐柱遠(yuǎn)離工作臺一端。
[0018]通過采用上述技術(shù)方案，利用撥片，當(dāng)圓盤帶著檢測完畢后的電子元件運(yùn)動到和撥片相抵觸時，撥片固定連接于支撐柱的頂端無法被推動，從而就能利用撥片給電子元件一個抵觸力，使撥片和電子元件接觸時能夠保持相對靜止，把電子元件從缺口中帶出，撥片和支撐柱的設(shè)置使整個執(zhí)行機(jī)構(gòu)結(jié)構(gòu)簡單，無需人力，又能提高取出的成功率，使整個檢測過程更加簡化，減少了工作工序。
[0019]本實(shí)用新型進(jìn)一步設(shè)置為:所述支撐柱遠(yuǎn)離圓盤一端固定連接有底座，所述底座底面與工作臺表面相抵觸，所述底座上設(shè)有腰型槽，所述底座通過緊固件穿設(shè)腰型槽與工作臺固定連接。
[0020]通過采用上述技術(shù)方案，利用底座將支撐柱和工作臺進(jìn)行抵觸連接，從而能夠增加支撐柱與工作臺表面的接觸面積，再利用緊固件就能使整個執(zhí)行機(jī)構(gòu)更加穩(wěn)定地固定在工作臺表面，使撥片和電子元件相抵觸時，支撐柱不會發(fā)生移動，從而就能夠提供給電子元件一個抵觸力。利用緊固件與腰型槽的配合，就能調(diào)節(jié)底座在工作臺上的位置，從而就能帶動撥片改變其在圓盤上方的位置，調(diào)節(jié)和圓盤的角度，就能適應(yīng)將不同尺寸大小電子元件取出的特殊需求。還可以利用緊固件的作用，能夠?qū)⒄麄€執(zhí)行機(jī)構(gòu)與工作臺表面進(jìn)行拆卸，從而還能方便安裝適用于不同形狀的圓盤。
[0021]本實(shí)用新型進(jìn)一步設(shè)置為:所述缺口設(shè)有用于支撐電子元件的卡塊，所述卡塊沿缺口邊沿固定連接于圓盤底面，所述卡塊表面與電子元件底面相抵觸。
[0022]通過采用上述技術(shù)方案，利用圓盤底面位于缺口處的卡塊作用，能夠?qū)θ笨谥蟹胖玫碾娮釉峁┮粋€支撐力，使電子元件的底面能夠與卡塊相抵觸，增大了和電子元件的接觸面積，從而使電子元件位于缺口中時，不會發(fā)生掉落，能夠更加穩(wěn)定地放置在缺口中，從而使每一個測試過程更加穩(wěn)定，提高檢測的準(zhǔn)確性。
[0023]綜上所述，本實(shí)用新型具有以下有益效果:利用支撐柱一端固定連接的撥片和電子元件的抵觸作用，能夠更加快速方便地將電子元件從缺口中取出，配合利用滑道的導(dǎo)向作用，縮短了工作臺和收集框的距離，使電子元件能夠快速地進(jìn)入到收集框內(nèi)，免去了工作人員需要對電子元件進(jìn)行人工收集分類和取出的麻煩，并且利用可以在工作臺上進(jìn)行一定角度旋轉(zhuǎn)的作用，能夠方便對合格與不合格的產(chǎn)品直接在取出時就能進(jìn)行分類，省去了工作人員對其分選收集的工作步驟。利用擋片的緩沖作用，在利用滑道的收集過程中能夠依然保持電子元件的產(chǎn)品的質(zhì)量不受損壞，使收集裝置設(shè)計(jì)更加合理。
【附圖說明】
[0024]圖1是本實(shí)用新型一種電性能檢測機(jī)的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0025]圖2是圖1的I部放大圖；
[0026]圖3是圖2的II部放大圖；
[0027]附圖標(biāo)記:1、工作臺；2、測試儀;3、圓盤;4、卡槽;5、執(zhí)行機(jī)構(gòu)；51、撥片；52、固定件;521、支撐柱;522、底座;6、收集裝置;61、滑道;62、收集框;7、擋片;8、卡位塊;9、連接件；
10、卡塊;11、腰型槽;12、轉(zhuǎn)軸。
【具體實(shí)施方式】
[0028]以下結(jié)合附圖對本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳細(xì)說明。
[0029]實(shí)施例一:
[0030]參照圖1所示，一種電性能檢測機(jī)，包括工作臺1、位于工作臺I上的測試儀2和圓盤3，圓盤3設(shè)置在靠近工作臺I的中心處，圓盤3能夠繞著圓心進(jìn)行旋轉(zhuǎn)，并且沿著圓盤3的圓周的外側(cè)，在工作臺I上設(shè)置了三種測試儀2，在工作臺I的內(nèi)部設(shè)有電控驅(qū)動系統(tǒng)，三種測試儀2與電控驅(qū)動系統(tǒng)電連接，并且每一種測試儀2都連接有一個傳感器，用于檢測圓盤3上的電子元件，當(dāng)圓盤3帶著電子元件運(yùn)動到相應(yīng)的測試儀2下方，利用傳感器的作用，來對電子元件進(jìn)行多種種類的測試，從而能夠?qū)崿F(xiàn)一個工作臺I來完成多工位的檢測需求，提高了檢測效率，免去了人工檢測的復(fù)雜性。
[0031]在工作臺I的一端設(shè)置了一個用于將電子元件取出的執(zhí)行機(jī)構(gòu)5，包括焊接在一起的撥片51和支撐柱521，支撐柱521為一根圓柱軸，支撐柱521垂直連接于工作臺I表面，位于支撐柱521的底端也焊接了一個底座522，底座522為一塊長方形板，底座522底面與工作臺I表面相抵觸，并且在底座522上開設(shè)了一個腰型槽11，利用螺栓穿設(shè)腰型槽11與工作臺I和螺栓上的墊片和底座522上表面相抵觸的作用，從而就能將底座522固定連接在工作臺I表面，也就能使支撐柱521和撥片51都無法發(fā)生移動。撥片51為一個長條桿，桿的一端與支撐柱521頂端固定連接，撥片51的表面與圓盤3表面呈平行設(shè)置，撥片51的底面高于圓盤3表面，具有一定的間隙，且低于嵌設(shè)在缺口中的電子元件的頂面，從而能夠在圓盤3帶著檢測完的電子元件運(yùn)動到撥片51處時，撥片51會和電子元件產(chǎn)生一個抵觸力，并且將撥片51在圓盤3上設(shè)置成有一定角度，利用固定不動的撥片51提供給電子元件脫離缺口的一個力，從而使撥片51和相抵觸的電子元件在抵觸時保持一個相對靜止的狀態(tài)，然而圓盤3繼續(xù)向前運(yùn)動，從而就能將電子元件從缺口中脫離出來。避免了工作人員從卡槽4中一一將電子元件取出，能夠在測試儀2完成對電子元件的檢測之后，就能利用撥片51和支撐柱521的作用，自動將電子元件取出，減少了工作工序，提高檢測效率。
[0032]參照圖2-3所示，在撥片51的下方設(shè)置了一個呈傾斜的滑道61，滑道61的開口朝向撥片51的下方，從而能夠使從缺口脫離出來的電子元件直接掉落進(jìn)滑道61，通過滑道61的導(dǎo)向掉落到位于滑道61底端下方設(shè)置的收集框62內(nèi)，滑道61設(shè)置為一個中空的滑道61管，滑道61靠近圓盤3的底面一端利用轉(zhuǎn)軸12固定在工作臺I上，轉(zhuǎn)軸12垂直連接于工作臺I表面，且與滑道61呈轉(zhuǎn)動連接，滑道61能夠繞著轉(zhuǎn)軸12在一定角度內(nèi)進(jìn)行轉(zhuǎn)動，從而可以改變滑道61遠(yuǎn)離圓盤3—端的開口位置，在開口下設(shè)置了多個收集框62，便于對合格與不合格的產(chǎn)品進(jìn)行一個分選，又可以保持整臺檢測機(jī)的持續(xù)檢測工作。在滑道61的底端的開口外端設(shè)置了一塊擋片7，擋片7為一塊呈內(nèi)凹的弧形板，擋片7擋于滑道61的開口外側(cè)，從滑道61中滑出的電子元件將會先碰觸到擋片7的內(nèi)凹面，從而起到一個緩沖減速的作用，使其不會沖出收集框62的收集范圍，使電子元件在掉落進(jìn)收集框62內(nèi)時的速度減慢，也就可以使電子元件在相互碰撞時的力減到最小，保證電子元件的部件不會因?yàn)檫^快的掉落速度而導(dǎo)致?lián)p壞。在滑道61管底端的上表面設(shè)置了一個卡位塊8，卡位塊8沿滑道61從上至下依次設(shè)置了相互平行的凹槽，在擋片7的長度方向的兩側(cè)邊的中間連接了一根連接件9，連接件9呈“門”形，兩腳與擋片7兩邊固定連接，上邊能夠嵌設(shè)到卡位塊8中不同高度的凹槽中，從而就能改變擋片7和滑槽開口之間的角度，如果連接件9位于低端的凹槽中，擋片7離滑道61開口的距離遠(yuǎn)，擋片7對于電子元件的緩沖效果就來得小，反之，連接件9位于高端的凹槽中，擋片7離滑道61的開口的距離近，就能使電子元件的下落速度降到最低，從而就能根據(jù)不同型號、質(zhì)量的電子元件來調(diào)節(jié)擋片7和滑道61開口的距離，來調(diào)節(jié)電子元件掉落的緩沖力度，使電子元件都能以平穩(wěn)的速度下落到收集框62內(nèi)。
[0033]實(shí)施例二:
[0034]與實(shí)施例一的不同之處在于，將用于對電子元件的收集裝置6設(shè)置為循環(huán)轉(zhuǎn)動的輸送帶，在輸送帶的兩端設(shè)置了兩根可以旋轉(zhuǎn)的軸，其中一端的軸利用電機(jī)來驅(qū)動進(jìn)行轉(zhuǎn)動，并且在兩個軸上圍繞著一條皮帶，從而利用主動軸的旋轉(zhuǎn)帶動皮帶進(jìn)行循環(huán)輸送，將輸送帶的一端位于撥片51的下方，在輸送帶的另一端下方設(shè)有收集框62，從而能夠?qū)⑷笨谥腥〕龅碾娮釉\(yùn)送到收集框62中進(jìn)行收集，避免了直接將收集框62置于圓盤3下方，會占用到整個工作臺I的空間，并且會需要高頻率地將裝滿的收集框62進(jìn)行更換，導(dǎo)致整個收集過程變得麻煩，也會降低檢測的效率。
[0035]本具體實(shí)施例僅僅是對本實(shí)用新型的解釋，其并不是對本實(shí)用新型的限制，本領(lǐng)域技術(shù)人員在閱讀完本說明書后可以根據(jù)需要對本實(shí)施例做出沒有創(chuàng)造性貢獻(xiàn)的修改，但只要在本實(shí)用新型的權(quán)利要求范圍內(nèi)都受到專利法的保護(hù)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種電性能檢測機(jī)，包括工作臺(I)、位于工作臺(I)上的測試儀(2)和圓盤(3)，所述圓盤(3)上沿圓周方向均勻設(shè)置有用于放置電子元件的卡槽(4)，其特征是:所述卡槽(4)沿圓周邊緣設(shè)有缺口，所述工作臺(I)位于圓盤(3)缺口下方設(shè)有用于收集電子元件的收集裝置(6)。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電性能檢測機(jī)，其特征是:所述收集裝置(6)包括傾斜設(shè)置的滑道(61)，所述滑道(61)靠近圓盤(3)—端開口朝向缺口下方，所述滑道(61)遠(yuǎn)離圓盤(3)一端下方設(shè)有收集框(62)。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電性能檢測機(jī)，其特征是:所述滑道(61)遠(yuǎn)離圓盤(3)—端開口設(shè)有用于緩沖滑落的電子元件的擋片(7)，所述擋片(7)位于滑道(61)遠(yuǎn)離圓盤(3)—端開口的下方。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電性能檢測機(jī)，其特征是:所述滑道(61)遠(yuǎn)離圓盤(3)—端設(shè)有用于調(diào)節(jié)擋片(7)和滑道(61)開口距離的卡位塊(8)，所述擋片(7)設(shè)有連接于擋片(7)兩側(cè)的連接件(9 )，所述連接件(9 )與卡位塊(8 )沿滑道(61)傾斜方向呈滑動連接。5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電性能檢測機(jī)，其特征是:所述工作臺(I)上垂直設(shè)置有轉(zhuǎn)軸(12)，所述轉(zhuǎn)軸(12)與滑道(61)靠近圓盤(3)—端呈轉(zhuǎn)動連接，所述滑道(61)遠(yuǎn)離圓盤(3)一端下方設(shè)有多個收集框(62)。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電性能檢測機(jī)，其特征是:所述工作臺(I)上設(shè)有用于將電子元件從缺口中卡出的執(zhí)行機(jī)構(gòu)(5)，所述執(zhí)行機(jī)構(gòu)(5)位于收集裝置(6)上方。7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的電性能檢測機(jī)，其特征是:所述執(zhí)行機(jī)構(gòu)(5)包括與電子元件相抵觸的撥片(51)和固定連接于工作臺(I)表面的支撐柱(521)，所述撥片(51)固定連接于支撐柱(521)遠(yuǎn)離工作臺(I)一端。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的電性能檢測機(jī)，其特征是:所述支撐柱(521)遠(yuǎn)離圓盤(3)—端固定連接有底座(522)，所述底座(522)底面與工作臺(I)表面相抵觸，所述底座(522)上設(shè)有腰型槽(11)，所述底座(522)通過緊固件穿設(shè)腰型槽(11)與工作臺(I)固定連接。9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電性能檢測機(jī)，其特征是:所述缺口設(shè)有用于支撐電子元件的卡塊(10)，所述卡塊(10)沿缺口邊沿固定連接于圓盤(3)底面，所述卡塊(10)表面與電子元件底面相抵觸。
【文檔編號】G01R31/00GK205539233SQ201620059163
【公開日】2016年8月31日
【申請日】2016年1月20日
【發(fā)明人】戈巖
【申請人】杭州華錦電子有限公司