垂直度測(cè)量?jī)x器的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型屬于測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域，涉及一種測(cè)量?jī)x器，尤其涉及一種垂直度測(cè)量?jī)x器。
【背景技術(shù)】
[0002]測(cè)量?jī)x器廣泛使用于生產(chǎn)生活的領(lǐng)域，在工業(yè)生產(chǎn)中，大量的工件需要測(cè)量，其中垂直度作為一種重要的測(cè)量數(shù)據(jù)，其精度和直觀性非常重要。而在現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)中，垂直度的檢測(cè)卻相當(dāng)繁瑣，為了獲得一個(gè)工件準(zhǔn)確的垂直度，必須使用三次元投影儀。
[0003]而在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)想快速得到工件的垂直度，只能使用直角尺，但是直角尺的測(cè)量精度卻不能滿(mǎn)足現(xiàn)代工業(yè)的需求。要得到垂直度的精確數(shù)據(jù)，只能在三次元投影儀上進(jìn)行檢測(cè)，而三次元投影儀這種儀器的體積和相對(duì)復(fù)雜的操作步驟，嚴(yán)重影響了現(xiàn)代生產(chǎn)的工作效率。
[0004]為解決上述問(wèn)題，迫切需要一種更加簡(jiǎn)單易操作、且能夠滿(mǎn)足精度要求的垂直度測(cè)量?jī)x。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0005]本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問(wèn)題是:提供一種垂直度測(cè)量?jī)x器，可提高操作的便捷性，提高測(cè)量精確度。
[0006]為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本實(shí)用新型采用如下技術(shù)方案:
[0007]—種垂直度測(cè)量?jī)x器，所述測(cè)量?jī)x器包括:基座、支架、至少兩列探針、與探針數(shù)量對(duì)應(yīng)的表盤(pán)、處理器、顯示單元；
[0008]所述支架設(shè)置于基座上，與基座呈直角；各個(gè)探針設(shè)置于支架上，形成直線(xiàn)安裝，各個(gè)探針主體均與基座平行；
[0009]各個(gè)探針上分別設(shè)有表盤(pán)，表盤(pán)設(shè)置于探針的一端，各個(gè)表盤(pán)在基座平面的投影相互重合;各表盤(pán)分別連接處理器，處理器連接顯示單元。
[0010]—種垂直度測(cè)量?jī)x器，所述測(cè)量?jī)x器包括:基座、支架、至少兩個(gè)探測(cè)機(jī)構(gòu);所述支架與基座連接;各個(gè)探測(cè)機(jī)構(gòu)設(shè)置于支架上。
[0011]作為本實(shí)用新型的一種優(yōu)選方案，所述測(cè)量?jī)x器包括至少兩列探測(cè)機(jī)構(gòu)，每列探測(cè)機(jī)構(gòu)至少包括兩個(gè)探測(cè)機(jī)構(gòu)。
[0012]作為本實(shí)用新型的一種優(yōu)選方案，所述支架設(shè)置于基座上，與基座呈直角。
[0013]作為本實(shí)用新型的一種優(yōu)選方案，所述探測(cè)機(jī)構(gòu)包括探針、表盤(pán);表盤(pán)設(shè)置于探針的一端。
[0014]作為本實(shí)用新型的一種優(yōu)選方案，各個(gè)探針形成直線(xiàn)安裝，各個(gè)探針的主體均與基座平行。
[0015]作為本實(shí)用新型的一種優(yōu)選方案，各個(gè)表盤(pán)在基座平面的投影相互重合。
[0016]作為本實(shí)用新型的一種優(yōu)選方案，所述測(cè)量?jī)x器還包括處理器、顯示單元，各表盤(pán)分別連接處理器，處理器連接顯示單元。
[0017]作為本實(shí)用新型的一種優(yōu)選方案，所述探測(cè)機(jī)構(gòu)設(shè)置于支架的一側(cè)，或者，各個(gè)探測(cè)機(jī)構(gòu)分別設(shè)置于支架的兩側(cè)。
[0018]本實(shí)用新型的有益效果在于:本實(shí)用新型提出的垂直度測(cè)量?jī)x，可提高操作的便捷性，提高測(cè)量精確度。本實(shí)用新型合理布置支架中探針的數(shù)量，可以有效的檢測(cè)出工件的不同位置垂直度的差值，進(jìn)而計(jì)算出其角度，或直接根據(jù)數(shù)值對(duì)工件進(jìn)行修正，不需要根據(jù)角度和工件高度計(jì)算工件側(cè)面上下位置的差值。
【附圖說(shuō)明】
[0019]圖1為本實(shí)用新型垂直度測(cè)量?jī)x器的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0020]圖2為本實(shí)用新型垂直度測(cè)量?jī)x器另一角度的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0021]下面結(jié)合附圖詳細(xì)說(shuō)明本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施例。
[0022]實(shí)施例一
[0023]請(qǐng)參閱圖1、圖2，本實(shí)用新型揭示了一種垂直度測(cè)量?jī)x器，所述垂直度測(cè)量?jī)x器包括基座1、表盤(pán)2、探針3、支架4 ο所述支架4設(shè)置于基座I上，與基座I呈直角。
[0024]所述探針3(或/和表盤(pán))設(shè)置于支架4的一側(cè)，或者，各個(gè)探針3 (或/和表盤(pán))分別設(shè)置于支架4的兩側(cè)。各個(gè)探針3形成直線(xiàn)安裝，各個(gè)探針3的主體均與基座I平行。本實(shí)施例中，所述測(cè)量?jī)x器包括至少兩列探針，每列探針至少包括兩個(gè)探針3。表盤(pán)2設(shè)置于探針3的一端;各個(gè)表盤(pán)2在基座平面的投影相互重合。
[0025]基座I保證工件底面平面度，表盤(pán)2、探針3用于測(cè)量工件側(cè)面不同位置的平面度，支架4保證探針3的固定位置。
[0026]如圖1所示，本實(shí)施例中，所述探針3首先檢測(cè)垂直度試塊，對(duì)表盤(pán)2數(shù)據(jù)歸零，然后檢測(cè)工件的側(cè)面平面度，根據(jù)表盤(pán)中上下數(shù)據(jù)的差值，得出工件的垂直度。
[0027]本實(shí)用新型的工作原理為:工件垂直度在理想情況下，其側(cè)面上下位置的差值為零，當(dāng)工件的垂直度小于90度時(shí)，工件底面重合于基座，則其側(cè)面平面度會(huì)形成上小下大的數(shù)值，根據(jù)直角的公式可以計(jì)算出工件的角度，同理，在工件垂直度大于90度時(shí)，會(huì)形成上大下小的數(shù)值。
[0028]實(shí)施例二
[0029]—種垂直度測(cè)量?jī)x器，所述測(cè)量?jī)x器包括:基座、支架、至少兩列探針、與探針數(shù)量對(duì)應(yīng)的表盤(pán)、處理器、顯示單元。
[0030]所述支架設(shè)置于基座上，與基座呈直角；各個(gè)探針設(shè)置于支架上，形成直線(xiàn)安裝，各個(gè)探針主體均與基座平行。
[0031]各個(gè)探針上分別設(shè)有表盤(pán)，表盤(pán)設(shè)置于探針的一端，各個(gè)表盤(pán)在基座平面的投影相互重合;各表盤(pán)分別連接處理器，處理器連接顯示單元。
[0032]實(shí)施例三
[0033]—種垂直度測(cè)量?jī)x器，所述測(cè)量?jī)x器包括:基座、支架、至少兩個(gè)探測(cè)機(jī)構(gòu);所述支架與基座連接;各個(gè)探測(cè)機(jī)構(gòu)設(shè)置于支架上。探測(cè)機(jī)構(gòu)可以包括探針及表盤(pán)，也可以為其他形式的探測(cè)機(jī)構(gòu)，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以根據(jù)需要選擇。
[0034]綜上所述，本實(shí)用新型提出的垂直度測(cè)量?jī)x，可提高操作的便捷性，提高測(cè)量精確度。本實(shí)用新型通過(guò)探針的大量使用和布局，得到工件側(cè)面的平面度差值，經(jīng)過(guò)計(jì)算后可以精確的得到工件的偏斜角度，甚至可以通過(guò)輸入的計(jì)算公式，在數(shù)顯表中直接顯示工件側(cè)面的平面度數(shù)值和角度。
[0035]這里本實(shí)用新型的描述和應(yīng)用是說(shuō)明性的，并非想將本實(shí)用新型的范圍限制在上述實(shí)施例中。這里所披露的實(shí)施例的變形和改變是可能的，對(duì)于那些本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)實(shí)施例的替換和等效的各種部件是公知的。本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)該清楚的是，在不脫離本實(shí)用新型的精神或本質(zhì)特征的情況下，本實(shí)用新型可以以其它形式、結(jié)構(gòu)、布置、比例，以及用其它組件、材料和部件來(lái)實(shí)現(xiàn)。在不脫離本實(shí)用新型范圍和精神的情況下，可以對(duì)這里所披露的實(shí)施例進(jìn)行其它變形和改變。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種垂直度測(cè)量?jī)x器，其特征在于，所述測(cè)量?jī)x器包括:基座、支架、至少兩列探針、與探針數(shù)量對(duì)應(yīng)的表盤(pán)、處理器、顯示單元； 所述支架設(shè)置于基座上，與基座呈直角；各個(gè)探針設(shè)置于支架上，形成直線(xiàn)安裝，各個(gè)探針主體均與基座平行； 各個(gè)探針上分別設(shè)有表盤(pán)，表盤(pán)設(shè)置于探針的一端，各個(gè)表盤(pán)在基座平面的投影相互重合;各表盤(pán)分別連接處理器，處理器連接顯示單元。2.—種垂直度測(cè)量?jī)x器，其特征在于，所述測(cè)量?jī)x器包括:基座、支架、至少兩個(gè)探測(cè)機(jī)構(gòu);所述支架與基座連接;各個(gè)探測(cè)機(jī)構(gòu)設(shè)置于支架上。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的垂直度測(cè)量?jī)x器，其特征在于: 所述測(cè)量?jī)x器包括至少兩列探測(cè)機(jī)構(gòu)，每列探測(cè)機(jī)構(gòu)至少包括兩個(gè)探測(cè)機(jī)構(gòu)。4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的垂直度測(cè)量?jī)x器，其特征在于: 所述支架設(shè)置于基座上，與基座呈直角。5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的垂直度測(cè)量?jī)x器，其特征在于: 所述探測(cè)機(jī)構(gòu)包括探針、表盤(pán);表盤(pán)設(shè)置于探針的一端。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的垂直度測(cè)量?jī)x器，其特征在于: 各個(gè)探針形成直線(xiàn)安裝，各個(gè)探針的主體均與基座平行。7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的垂直度測(cè)量?jī)x器，其特征在于: 各個(gè)表盤(pán)在基座平面的投影相互重合。8.根據(jù)權(quán)利要求2所述的垂直度測(cè)量?jī)x器，其特征在于: 所述測(cè)量?jī)x器還包括處理器、顯示單元，各表盤(pán)分別連接處理器，處理器連接顯示單J L ο9.根據(jù)權(quán)利要求2所述的垂直度測(cè)量?jī)x器，其特征在于: 所述探測(cè)機(jī)構(gòu)設(shè)置于支架的一側(cè)，或者，各個(gè)探測(cè)機(jī)構(gòu)分別設(shè)置于支架的兩側(cè)。
【專(zhuān)利摘要】本實(shí)用新型揭示了一種垂直度測(cè)量?jī)x器，所述測(cè)量?jī)x器包括基座、支架、至少兩列探針、與探針數(shù)量對(duì)應(yīng)的表盤(pán)、處理器、顯示單元；所述支架設(shè)置于基座上，與基座呈直角；各個(gè)探針設(shè)置于支架上，形成直線(xiàn)安裝，各個(gè)探針主體均與基座平行；各個(gè)探針上分別設(shè)有表盤(pán)，表盤(pán)設(shè)置于探針的一端，各個(gè)表盤(pán)在基座平面的投影相互重合；各表盤(pán)分別連接處理器，處理器連接顯示單元。本實(shí)用新型提出的垂直度測(cè)量?jī)x，可提高操作的便捷性，提高測(cè)量精確度。本實(shí)用新型合理布置支架中探針的數(shù)量，可以有效的檢測(cè)出工件的不同位置垂直度的差值，進(jìn)而計(jì)算出其角度，或直接根據(jù)數(shù)值對(duì)工件進(jìn)行修正，不需要根據(jù)角度和工件高度計(jì)算工件側(cè)面上下位置的差值。
【IPC分類(lèi)】G01B21/22, G01B21/30
【公開(kāi)號(hào)】CN205228425
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520971529
【發(fā)明人】贠賓賓, 何仕榮
【申請(qǐng)人】嘉興本拓精密部件制造有限公司
【公開(kāi)日】2016年5月11日
【申請(qǐng)日】2015年11月27日