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一種用于超聲探頭校準(zhǔn)檢測(cè)的超聲探頭夾持裝置的制造方法

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一種用于超聲探頭校準(zhǔn)檢測(cè)的超聲探頭夾持裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及無(wú)損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種用于超聲探頭校準(zhǔn)檢測(cè)的超聲探頭夾持裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]傳統(tǒng)超聲探頭在使用前一般采用人工校準(zhǔn)方式進(jìn)行角度、聲速、靈敏度等校準(zhǔn),在PAUT相控陣檢測(cè)技術(shù)開(kāi)始推廣后,人工校準(zhǔn)超聲探頭的方式其弊端更加體現(xiàn)突出。在以往傳統(tǒng)的人工校準(zhǔn)超聲探頭的時(shí)候,我們需要將超聲探頭用手按壓并來(lái)回移動(dòng),使探頭得到反射體的最高回波信號(hào),過(guò)程中還要扭動(dòng)探頭,以抵消手工校準(zhǔn)時(shí)候探頭偏轉(zhuǎn)的影響,整個(gè)過(guò)程需要重復(fù)多次,由于是用手按壓,其壓力的變化、探頭扭動(dòng)時(shí)入射方向的變化、校準(zhǔn)檢測(cè)人員的熟練程度等都會(huì)對(duì)校準(zhǔn)有很大影響,特別是應(yīng)用PAUT相控陣探頭時(shí),PAUT相控陣探頭是采用多晶片發(fā)射接收信號(hào),因此需要多角度進(jìn)行校準(zhǔn),其校準(zhǔn)的準(zhǔn)確性、穩(wěn)定性用手工校準(zhǔn)方式是很難得到保證的,校準(zhǔn)檢測(cè)人員往往要花費(fèi)大量時(shí)間進(jìn)行儀器的校準(zhǔn),而得到的校準(zhǔn)結(jié)果還是值得懷疑的。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0003]本實(shí)用新型的目的在于提供一種探頭耦合壓力平衡,便于探頭夾持的超聲探頭夾持裝置。
[0004]為達(dá)此目的,本實(shí)用新型采用以下技術(shù)方案:
[0005]一種用于超聲探頭校準(zhǔn)檢測(cè)的超聲探頭夾持裝置,包括支架、設(shè)置在所述支架兩端用于和標(biāo)準(zhǔn)試塊相配合的限位輪組件、設(shè)置在所述支架中部的探頭夾持組件、以及設(shè)置在所述探頭夾持組件和所述支架之間用于探頭耦合壓力平衡的磁性調(diào)節(jié)裝置,與所述限位輪組件相鄰的支架的兩端設(shè)置有用于該超聲探頭夾持裝置和標(biāo)準(zhǔn)試塊緊貼的磁體。
[0006]其中,所述限位輪組件包括豎直貫穿設(shè)置于所述支架的軸桿、設(shè)置于所述軸桿兩端的上限位輪和下限位輪,以及用于調(diào)整所述上限位輪和下限位輪之間間距的間距調(diào)整裝置。
[0007]其中,所述間距調(diào)整裝置包括分別與所述上限位輪和下限位輪相配合的上調(diào)節(jié)套和下調(diào)節(jié)套,以及用于定位所述上調(diào)節(jié)套和下調(diào)節(jié)套的定位卡板。
[0008]其中,所述上調(diào)節(jié)套和下調(diào)節(jié)套的外圓周面分別均布有若干個(gè)環(huán)形凹槽,所述環(huán)形凹槽與所述定位卡板的定位壁相卡接。
[0009]其中,所述探頭夾持組件包括與所述支架中部的內(nèi)側(cè)壁間隙配合的探頭支架、與所述探頭支架內(nèi)側(cè)壁相樞接的探頭、以及設(shè)置在所述支架外側(cè)壁與所述探頭支架端部相連接的滑動(dòng)導(dǎo)向機(jī)構(gòu)。
[0010]其中,所述磁性調(diào)節(jié)裝置包括分別沿所述滑動(dòng)導(dǎo)向機(jī)構(gòu)滑動(dòng)方向設(shè)置的第一磁鐵和第二磁鐵,所述第一磁鐵與所述探頭支架緊固,所述第二磁體與設(shè)置在所述支架上的可調(diào)節(jié)絲桿緊固,且所述第一磁鐵和第二磁鐵的相對(duì)面磁極相反。
[0011]其中,所述支架與所述標(biāo)準(zhǔn)試塊相鄰的一側(cè)壁上開(kāi)設(shè)有與外部驅(qū)動(dòng)裝置相卡接的卡槽。
[0012]本實(shí)用新型的有益效果:本實(shí)用新型包括支架、設(shè)置在所述支架兩端用于和標(biāo)準(zhǔn)試塊相配合的限位輪組件、設(shè)置在所述支架中部的探頭夾持組件、以及設(shè)置在所述探頭夾持組件和所述支架之間用于探頭耦合壓力平衡的磁性調(diào)節(jié)裝置,與所述限位輪組件相鄰的支架的兩端設(shè)置有用于該超聲探頭夾持裝置和標(biāo)準(zhǔn)試塊緊貼的磁體。此結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),便于探頭的夾持,能夠有效提高探頭耦合壓力平衡,增強(qiáng)校準(zhǔn)的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。
【附圖說(shuō)明】
[0013]圖1是本實(shí)用新型一種用于超聲探頭校準(zhǔn)檢測(cè)的超聲探頭夾持裝置反面軸測(cè)圖。
[0014]圖2是本實(shí)用新型一種用于超聲探頭校準(zhǔn)檢測(cè)的超聲探頭夾持裝置正面軸測(cè)圖。
[0015]圖3是圖1中上調(diào)節(jié)套的軸測(cè)圖。
【具體實(shí)施方式】
[0016]下面結(jié)合附圖并通過(guò)【具體實(shí)施方式】來(lái)進(jìn)一步說(shuō)明本實(shí)用新型的技術(shù)方案。
[0017]如附圖1至圖3所示,一種用于超聲探頭校準(zhǔn)檢測(cè)的超聲探頭夾持裝置,包括支架
1、設(shè)置在所述支架1兩端用于和標(biāo)準(zhǔn)試塊相配合的限位輪組件、設(shè)置在所述支架1中部的探頭夾持組件、以及設(shè)置在所述探頭夾持組件和所述支架1之間用于探頭耦合壓力平衡的磁性調(diào)節(jié)裝置,與所述限位輪組件相鄰的支架1的兩端設(shè)置有用于該超聲探頭夾持裝置和標(biāo)準(zhǔn)試塊緊貼的磁體2。
[0018]進(jìn)一步優(yōu)選的,如圖1所示,所述限位輪組件包括豎直貫穿設(shè)置于所述支架1的軸桿31、設(shè)置于所述軸桿31兩端的上限位輪32和下限位輪33,以及用于調(diào)整所述上限位輪32和下限位輪33之間間距的間距調(diào)整裝置。
[0019]優(yōu)選的,所述間距調(diào)整裝置包括分別與所述上限位輪32和下限位輪33相配合的上調(diào)節(jié)套34和下調(diào)節(jié)套35,以及用于定位所述上調(diào)節(jié)套34和下調(diào)節(jié)套35的定位卡板36。
[0020]優(yōu)選的,所述上調(diào)節(jié)套34和下調(diào)節(jié)套35的外圓周面分別均布有若干個(gè)環(huán)形凹槽341,所述環(huán)形凹槽341與所述定位卡板36的定位壁相卡接。
[0021 ] 上述結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),能夠通過(guò)定位卡板36的兩側(cè)壁與上調(diào)節(jié)套34和下調(diào)節(jié)套35上的環(huán)形凹槽341相卡接,進(jìn)而調(diào)整上限位輪32和下限位輪33之間的間距,從而滿(mǎn)足與不同寬度的標(biāo)準(zhǔn)試塊之間的配合。
[0022]進(jìn)一步優(yōu)選的,所述探頭夾持組件包括與所述支架1中部的內(nèi)側(cè)壁間隙配合的探頭支架41、與所述探頭支架41內(nèi)側(cè)壁相樞接的探頭42、以及設(shè)置在所述支架1外側(cè)壁與所述探頭支架41端部相連接的滑動(dòng)導(dǎo)向機(jī)構(gòu)5。作為優(yōu)選,滑動(dòng)導(dǎo)向機(jī)構(gòu)5包括緊固于支架1外側(cè)壁的滑軌51,以及與滑軌51相配合的滑桿52,滑桿52的端部與外露于支架1兩側(cè)壁的探頭支架41的兩端緊固,如圖2所不。
[0023]進(jìn)一步優(yōu)選的,所述磁性調(diào)節(jié)裝置包括分別沿所述滑動(dòng)導(dǎo)向機(jī)構(gòu)5滑動(dòng)方向設(shè)置的第一磁鐵61和第二磁鐵12,所述第一磁鐵61與所述探頭支架41緊固,所述第二磁體與設(shè)置在所述支架1上的可調(diào)節(jié)絲桿13緊固,且所述第一磁鐵61和第二磁鐵12的相對(duì)面磁極相反。此結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),為了保證探頭的耦合壓力平衡穩(wěn)定,利用兩個(gè)相同磁鐵的同極相斥的原理,在探頭支架41頂部的四角安裝第一磁鐵61,在相對(duì)應(yīng)的支架上安裝相同的第二磁鐵12,并使磁鐵同極相對(duì),產(chǎn)生排斥力,其中支架1上的磁鐵可以通過(guò)可調(diào)節(jié)絲桿13上下調(diào)節(jié),根據(jù)實(shí)際情況調(diào)節(jié)排斥力大小滿(mǎn)足探頭的耦合。而探頭支架41則通過(guò)滑動(dòng)導(dǎo)向機(jī)構(gòu)5與支架1連接,使得探頭能夠自適應(yīng)調(diào)整高度,保證探頭的平整以及與標(biāo)準(zhǔn)試塊1的貼合。
[0024]進(jìn)一步優(yōu)選的,所述支架1與所述標(biāo)準(zhǔn)試塊相鄰的一側(cè)壁上開(kāi)設(shè)有與外部驅(qū)動(dòng)裝置相卡接的卡槽11。此結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),便于此超聲探頭夾持裝置與外部驅(qū)動(dòng)裝置可拆卸連接,方便超聲探頭夾持裝置的安裝取放。
[0025]以上結(jié)合具體實(shí)施例描述了本實(shí)用新型的技術(shù)原理。這些描述只是為了解釋本實(shí)用新型的原理,而不能以任何方式解釋為對(duì)本實(shí)用新型保護(hù)范圍的限制?;诖颂幍慕忉?zhuān)绢I(lǐng)域的技術(shù)人員不需要付出創(chuàng)造性的勞動(dòng)即可聯(lián)想到本實(shí)用新型的其它【具體實(shí)施方式】,這些方式都將落入本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種用于超聲探頭校準(zhǔn)檢測(cè)的超聲探頭夾持裝置,其特征在于:包括支架、設(shè)置在所述支架兩端用于和標(biāo)準(zhǔn)試塊相配合的限位輪組件、設(shè)置在所述支架中部的探頭夾持組件、以及設(shè)置在所述探頭夾持組件和所述支架之間用于探頭耦合壓力平衡的磁性調(diào)節(jié)裝置,與所述限位輪組件相鄰的支架的兩端設(shè)置有用于該超聲探頭夾持裝置和標(biāo)準(zhǔn)試塊緊貼的磁體。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于超聲探頭校準(zhǔn)檢測(cè)的超聲探頭夾持裝置,其特征在于:所述限位輪組件包括豎直貫穿設(shè)置于所述支架的軸桿、設(shè)置于所述軸桿兩端的上限位輪和下限位輪,以及用于調(diào)整所述上限位輪和下限位輪之間間距的間距調(diào)整裝置。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種用于超聲探頭校準(zhǔn)檢測(cè)的超聲探頭夾持裝置,其特征在于:所述間距調(diào)整裝置包括分別與所述上限位輪和下限位輪相配合的上調(diào)節(jié)套和下調(diào)節(jié)套,以及用于定位所述上調(diào)節(jié)套和下調(diào)節(jié)套的定位卡板。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種用于超聲探頭校準(zhǔn)檢測(cè)的超聲探頭夾持裝置,其特征在于:所述上調(diào)節(jié)套和下調(diào)節(jié)套的外圓周面分別均布有若干個(gè)環(huán)形凹槽,所述環(huán)形凹槽與所述定位卡板的定位壁相卡接。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于超聲探頭校準(zhǔn)檢測(cè)的超聲探頭夾持裝置,其特征在于:所述探頭夾持組件包括與所述支架中部的內(nèi)側(cè)壁間隙配合的探頭支架、與所述探頭支架內(nèi)側(cè)壁相樞接的探頭、以及設(shè)置在所述支架外側(cè)壁與所述探頭支架端部相連接的滑動(dòng)導(dǎo)向機(jī)構(gòu)。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種用于超聲探頭校準(zhǔn)檢測(cè)的超聲探頭夾持裝置,其特征在于:所述磁性調(diào)節(jié)裝置包括分別沿所述滑動(dòng)導(dǎo)向機(jī)構(gòu)滑動(dòng)方向設(shè)置的第一磁鐵和第二磁鐵,所述第一磁鐵與所述探頭支架緊固,所述第二磁體與設(shè)置在所述支架上的可調(diào)節(jié)絲桿緊固,且所述第一磁鐵和第二磁鐵的相對(duì)面磁極相反。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于超聲探頭校準(zhǔn)檢測(cè)的超聲探頭夾持裝置,其特征在于:所述支架與所述標(biāo)準(zhǔn)試塊相鄰的一側(cè)壁上開(kāi)設(shè)有與外部驅(qū)動(dòng)裝置相卡接的卡槽。
【專(zhuān)利摘要】本實(shí)用新型公開(kāi)了一種用于超聲探頭校準(zhǔn)檢測(cè)的超聲探頭夾持裝置,包括支架、設(shè)置在所述支架兩端用于和標(biāo)準(zhǔn)試塊相配合的限位輪組件、設(shè)置在所述支架中部的探頭夾持組件、以及設(shè)置在所述探頭夾持組件和所述支架之間用于探頭耦合壓力平衡的磁性調(diào)節(jié)裝置,與所述限位輪組件相鄰的支架的兩端設(shè)置有用于該超聲探頭夾持裝置和標(biāo)準(zhǔn)試塊緊貼的磁體。此結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),便于探頭的夾持,能夠有效提高探頭耦合壓力平衡,增強(qiáng)校準(zhǔn)的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。
【IPC分類(lèi)】G01N29/30
【公開(kāi)號(hào)】CN205091302
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520900778
【發(fā)明人】汪月銀
【申請(qǐng)人】深圳市神視檢驗(yàn)有限公司
【公開(kāi)日】2016年3月16日
【申請(qǐng)日】2015年11月12日
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