一種天線測(cè)試裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型屬于天線測(cè)試設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種天線測(cè)試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，對(duì)于寄生天線常常采用直接用探針接觸饋點(diǎn)的形式進(jìn)行天線測(cè)試，天線是需要pattern和環(huán)境共同作用才能向空間輻射能量，兩者缺一不可，然而在天線廠商實(shí)際生產(chǎn)過(guò)程中，天線的pattern是由終端廠商設(shè)計(jì)完成，屬于既定的條件，為了實(shí)現(xiàn)能量向空中輻射的目的，工程人員只能通過(guò)改變環(huán)境來(lái)實(shí)現(xiàn)。
[0003]但是，存在個(gè)別天線pattern所處環(huán)境出現(xiàn)pattern的寄生部分不向外福射的情形，其已成為天線生產(chǎn)射頻端測(cè)試工裝設(shè)計(jì)的隱患，若無(wú)法通過(guò)射頻測(cè)試數(shù)據(jù)有效監(jiān)控天線pattern尺寸，那么可能造成天線不良品流到下一個(gè)生產(chǎn)環(huán)節(jié)，產(chǎn)生不良的連鎖反應(yīng)。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0004]本實(shí)用新型的目的在于提供一種天線測(cè)試裝置，旨在解決現(xiàn)有技術(shù)中存在個(gè)別天線pattern所處環(huán)境出現(xiàn)pattern的寄生部分不向外福射的情形，若無(wú)法通過(guò)射頻測(cè)試數(shù)據(jù)有效監(jiān)控天線pattern尺寸，那么可能造成天線不良品流到下一個(gè)生產(chǎn)環(huán)節(jié)，產(chǎn)生不良的連鎖反應(yīng)的問(wèn)題。
[0005]本實(shí)用新型是這樣實(shí)現(xiàn)的，一種天線測(cè)試裝置，所述天線測(cè)試裝置包括測(cè)試電路板和壓板，其中:
[0006]所述測(cè)試電路板上設(shè)有第一探針、第二探針、第三探針、第四探針、第五探針、第六探針以及第七探針，所述壓板上分別設(shè)有與所述測(cè)試電路板上的第一探針、第二探針、第三探針、第四探針、第五探針、第六探針以及第七探針相對(duì)應(yīng)的探針孔，所述壓板穿過(guò)所述探針孔后安裝在所述測(cè)試電路板上；
[0007]所述第七探針設(shè)置在靠近所述第六探針的位置，所述第七探針的底端連接所述測(cè)試電路板的接地部，所述第七探針的末端穿過(guò)所述壓板后連接有耦合片機(jī)構(gòu)，所述耦合片機(jī)構(gòu)從所述第七探針末端開(kāi)始朝向所述第六探針成U型延伸，并將所述第六探針包圍在所述耦合片機(jī)構(gòu)形成的U型區(qū)域內(nèi)。
[0008]作為一種改進(jìn)的方案，所述第一探針和第二探針、第三探針和第四探針以及第五探針和第六探針?lè)謩e采用由上到下的布置方式。
[0009]作為一種改進(jìn)的方案，所述測(cè)試電路板上還設(shè)有與所述測(cè)試電路板的接地部連接的第八探針，對(duì)應(yīng)地，所述壓板上設(shè)有與所述第八探針相對(duì)應(yīng)的探針孔，所述第八探針的末端穿過(guò)所述壓板后也連接有包圍所述第五探針的所述耦合片機(jī)構(gòu)。
[0010]作為一種改進(jìn)的方案，所述測(cè)試電路板上還設(shè)有與所述測(cè)試電路板的接地部連接的第九探針，對(duì)應(yīng)地，所述壓板上設(shè)有與所述第九探針相對(duì)應(yīng)的探針孔，所述第九探針的末端穿過(guò)所述壓板后也連接有包圍所述第一探針的所述耦合片機(jī)構(gòu)。
[0011]作為一種改進(jìn)的方案，所述測(cè)試電路板上還設(shè)有與所述測(cè)試電路板的接地部連接的第十探針，對(duì)應(yīng)地，所述壓板上設(shè)有與所述第十探針相對(duì)應(yīng)的探針孔，所述第十探針的末端穿過(guò)所述壓板后也連接有包圍所述第二探針的所述耦合片機(jī)構(gòu)。
[0012]作為一種改進(jìn)的方案，所述測(cè)試電路板上還設(shè)有與所述測(cè)試電路板的接地部連接的第十一探針，對(duì)應(yīng)地，所述壓板上設(shè)有與所述第十一探針相對(duì)應(yīng)的探針孔，所述第十一探針的末端穿過(guò)所述壓板后也連接有包圍所述第三探針的所述耦合片機(jī)構(gòu)。
[0013]作為一種改進(jìn)的方案，所述測(cè)試電路板上還設(shè)有與所述測(cè)試電路板的接地部連接的第十二探針，對(duì)應(yīng)地，所述壓板上設(shè)有與所述第十二探針相對(duì)應(yīng)的探針孔，所述第十二探針的末端穿過(guò)所述壓板后也連接有包圍所述第四探針的所述耦合片機(jī)構(gòu)。
[0014]作為一種改進(jìn)的方案，所述壓板上設(shè)有若干個(gè)定位孔。
[0015]作為一種改進(jìn)的方案，所述耦合片機(jī)構(gòu)為延伸鐵片。
[0016]由于天線測(cè)試裝置包括測(cè)試電路板和壓板，測(cè)試電路板上設(shè)有第一探針、第二探針、第三探針、第四探針、第五探針、第六探針以及第七探針，第七探針設(shè)置在靠近第六探針的位置，第七探針的底端連接測(cè)試電路板的接地部，第七探針的末端穿過(guò)壓板后連接有耦合片機(jī)構(gòu)，耦合片機(jī)構(gòu)從第七探針末端開(kāi)始朝向第六探針成U型延伸，并將第六探針包圍在親合片機(jī)構(gòu)形成的u型區(qū)域內(nèi)，從而實(shí)現(xiàn)親合片機(jī)構(gòu)與天線pattern的短臂的親合，使該天線pattern的短臂向外福射能量，完成對(duì)天線pattern的測(cè)試，提高了天線的產(chǎn)品良率。
【附圖說(shuō)明】
[0017]圖1是本實(shí)用新型提供的天線測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0018]其中，1-測(cè)試電路板，2-壓板，3-第一探針，4-第二探針，5-第三探針，6_第四探針，7-第五探針，8-第六探針，9-第七探針，10-耦合片機(jī)構(gòu)，11-U型區(qū)域。
【具體實(shí)施方式】
[0019]為了使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本實(shí)用新型，并不用于限定本實(shí)用新型。
[0020]圖1示出了本實(shí)用新型提供的天線測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖，為了便于說(shuō)明，圖中僅給出了與本實(shí)用新型相關(guān)的部分。
[0021]天線測(cè)試裝置包括測(cè)試電路板1和壓板2，其中:
[0022]測(cè)試電路板1安裝在測(cè)試機(jī)架(圖中未示出)上，測(cè)試電路板1上設(shè)有第一探針
3、第二探針4、第三探針5、第四探針6、第五探針7、第六探針8以及第七探針9，壓板2上分別設(shè)有與測(cè)試電路板1上的第一探針3、第二探針4、第三探針5、第四探針6、第五探針7、第六探針8以及第七探針9相對(duì)應(yīng)的探針孔(圖中未標(biāo)記)，壓板2穿過(guò)探針孔后安裝在測(cè)試電路板1上；
[0023]第一探針3和第二探針4位于電路板與壓板2結(jié)合區(qū)域的右上角，第三探針5和第四探針6位于電路板與壓板2結(jié)合區(qū)域的右下角，第五探針7和第六探針8位于電路板與壓板2結(jié)合區(qū)域的右下角，第七探針9設(shè)置在靠近第六探針8的位置，第七探針9的底端連接測(cè)試電路板1的接地部，第七探針9的末端穿過(guò)壓板2后連接有耦合片機(jī)構(gòu)10，耦合片機(jī)構(gòu)10從第七探針9末端開(kāi)始朝向第六探針8成U型延伸，并將第六探針8包圍在耦合片機(jī)構(gòu)10形成的U型區(qū)域11內(nèi)。
[0024]在該實(shí)施例中，第一探針3和第二探針4、第三探針5和第四探針6以及第五探針7和第六探針8分別采用由上到下的布置方式，如圖1所示，該種布置方式便于對(duì)天線pattern的測(cè)試。
[0025]其中，壓板2上還設(shè)有若干個(gè)定位孔(圖中未示出)，在此不再