一種用于寶石檢測(cè)的白板的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及寶石檢測(cè)領(lǐng)域，具體涉及一種用于寶石檢測(cè)的白板。
【背景技術(shù)】
[0002]標(biāo)準(zhǔn)的反射白板是用于反射率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)漫反射參考物，它通常由硫酸鋇或聚四氟乙稀或者Spectralon等材料做成，標(biāo)準(zhǔn)的反射白板在全波段范圍內(nèi)的具有標(biāo)準(zhǔn)的特定反射率，不同的材料和表面形態(tài)會(huì)有不同的反射率數(shù)據(jù)。
[0003]測(cè)試樣品時(shí)，通過(guò)測(cè)得的樣品的相對(duì)反射率數(shù)據(jù)和標(biāo)準(zhǔn)白板的標(biāo)準(zhǔn)反射率數(shù)據(jù)即可得到樣品的絕對(duì)反射率數(shù)據(jù)。然而，反射白板在使用過(guò)程中，不可避免的會(huì)弄臟或者刮花白板的反射表面，影響反射白板的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)而造成樣品測(cè)試的結(jié)果有偏差。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0004]針對(duì)上述問(wèn)題，本實(shí)用新型旨在提供一種易于清潔不易污染受潮穩(wěn)定的用于寶石檢測(cè)的白板。
[0005]為實(shí)現(xiàn)該技術(shù)目的，本實(shí)用新型的方案是:一種用于寶石檢測(cè)的白板，包括套件，所述套件內(nèi)填充有高反射材料的基底，所述基底表面緊貼有無(wú)色偏的保護(hù)片，所述保護(hù)片的邊沿與套件的內(nèi)沿相匹配。
[0006]作為優(yōu)選，所述保護(hù)片厚度為0.2?1mm。
[0007]作為優(yōu)選，所述套件為凹槽狀。
[0008]作為優(yōu)選，所述保護(hù)片與套件之間的連接處設(shè)置有密封圈。
[0009]作為優(yōu)選，所述套件上端設(shè)置有可拆卸的扣件，所述扣件底部與套件卡扣連接，所述扣件內(nèi)側(cè)與保護(hù)片嵌套連接。
[0010]作為優(yōu)選，所述保護(hù)片為石英片或者玻璃。
[0011]作為優(yōu)選，所述基底為硫酸鋇或者聚四氟乙烯或者Spectralon材料。
[0012]本實(shí)用新型的有益效果，能夠有效避免基底暴露在外而被沾污磨損，進(jìn)而導(dǎo)致測(cè)試數(shù)據(jù)偏差；同時(shí)保護(hù)片耐磨性較好，不易磨損，而且保護(hù)片容易清洗；而且本設(shè)計(jì)為密封結(jié)構(gòu)，基底不易受潮，可以選擇的基底更多；套件頂部設(shè)有扣件，方便清洗保護(hù)片或者更換保護(hù)片。
【附圖說(shuō)明】
[0013]圖1為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0014]圖2為現(xiàn)有白板的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0015]下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型做進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。
[0016]如圖1、2所示，本實(shí)用新型所述的具體實(shí)施例為一種用于寶石檢測(cè)的白板，包括套件1，所述套件1為凹槽狀，所述套件1內(nèi)填充有高反射材料的基底2，所述基底2表面緊貼有沒(méi)有色偏透明的保護(hù)片3，且保護(hù)片的全波長(zhǎng)透過(guò)率基本一致光學(xué)性能，所述保護(hù)片3的邊沿與套件1的內(nèi)沿相匹配。
[0017]為了降低保護(hù)片對(duì)反射的影響，所述保護(hù)片3厚度為0.2?1mm。太薄容易摔碎，太厚容易影響反射效果。
[0018]為了方便填充足夠厚度的基底，所述套件為凹槽狀。合適厚度的基底能夠保證穩(wěn)定的反射性能。
[0019]為了增加密封性能，，所述保護(hù)片3與套件1之間的連接處設(shè)置有密封圈4。部分基底材質(zhì)容易受潮，通過(guò)密封圈，可以減緩受潮概率。
[0020]為了方便進(jìn)行保護(hù)片的更換，所述套件1上端設(shè)置有可拆卸的扣件5，所述扣件5底部與套件1卡扣連接，所述扣件5內(nèi)側(cè)與保護(hù)片3嵌套連接。保護(hù)片雖然較基底耐磨性能更好，但是仍會(huì)出現(xiàn)磨損或者沾污，當(dāng)沾污時(shí)，可以取下來(lái)單獨(dú)清洗；如果磨損嚴(yán)重，可以取下來(lái)更換即可。
[0021]為了提供耐磨性透光性好的，所述保護(hù)片3為石英片或者玻璃。
[0022]為了提供高反射的材料，所述基底2為硫酸鋇或者聚四氟乙稀或者Spectralon材料。
[0023]具體實(shí)施例一:采用聚四氟乙烯為基底材料，將聚四氟乙烯制作成直徑27mm、厚度8.5mm的基底，其中保護(hù)片采用25mm的石英片制作而成，所述基底外套有硬鋁材質(zhì)的套件，最終獲得外徑39mm，厚度15.9mm的新型白板。
[0024]以上所述，僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例，并不用以限制本實(shí)用新型，凡是依據(jù)本實(shí)用新型的技術(shù)實(shí)質(zhì)對(duì)以上實(shí)施例所作的任何細(xì)微修改、等同替換和改進(jìn)，均應(yīng)包含在本實(shí)用新型技術(shù)方案的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種用于寶石檢測(cè)的白板，其特征在于:包括套件，所述套件內(nèi)填充有高反射材料的基底，所述基底表面緊貼有無(wú)色偏的保護(hù)片，所述保護(hù)片的邊沿與套件的內(nèi)沿相匹配。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于寶石檢測(cè)的白板，其特征在于:所述保護(hù)片厚度為0.2 ?lmm03.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于寶石檢測(cè)的白板，其特征在于:所述套件為凹槽狀。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于寶石檢測(cè)的白板，其特征在于:所述保護(hù)片與套件之間的連接處設(shè)置有密封圈。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于寶石檢測(cè)的白板，其特征在于:所述套件上端設(shè)置有可拆卸的扣件，所述扣件底部與套件卡扣連接，所述扣件內(nèi)側(cè)與保護(hù)片嵌套連接。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于寶石檢測(cè)的白板，其特征在于:所述保護(hù)片為石英片或者玻璃。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于寶石檢測(cè)的白板，其特征在于:所述基底為硫酸鋇或者聚四氟乙稀或者Spectralon材料。
【專利摘要】本實(shí)用新型公開(kāi)了一種用于寶石檢測(cè)的白板，包括套件，所述套件內(nèi)填充有高反射材料的基底，所述基底表面緊貼有無(wú)色偏的保護(hù)片，所述保護(hù)片的邊沿與套件的內(nèi)沿相匹配。本實(shí)用新型的有益效果，能夠有效避免基底暴露在外而被沾污磨損，進(jìn)而導(dǎo)致測(cè)試數(shù)據(jù)偏差；同時(shí)保護(hù)片耐磨性較好，不易磨損，而且保護(hù)片容易清洗；而且本設(shè)計(jì)為密封結(jié)構(gòu)，基底不易受潮，可以選擇的基底更多；套件頂部設(shè)有扣件，方便清洗保護(hù)片或者更換保護(hù)片。
【IPC分類】G01N21/87
【公開(kāi)號(hào)】CN205003089
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520776618
【發(fā)明人】宋光均, 蔣之輝, 饒福原
【申請(qǐng)人】廣州標(biāo)旗電子科技有限公司
【公開(kāi)日】2016年1月27日
【申請(qǐng)日】2015年9月30日