一種可以改善smd激勵(lì)效果的測(cè)試頭的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及的是一種可以改善對(duì)SMD激勵(lì)效果的測(cè)試頭，屬于石英電子元器件制作的生產(chǎn)技術(shù)領(lǐng)域。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，移動(dòng)通訊、消費(fèi)電子、汽車影音、IT信息等方面均對(duì)電子元器件包括晶體提出更嚴(yán)格的品質(zhì)特性要求，石英晶體的阻抗、DLD等特性直接決定了產(chǎn)品本身的品質(zhì)，而加工過(guò)程中依附在晶片及SMD產(chǎn)品內(nèi)部的微小顆粒、雜質(zhì)對(duì)SMD產(chǎn)品特性有決定性的影響，進(jìn)而影響廣品品質(zhì)及合格率。
[0003]產(chǎn)品品質(zhì)是企業(yè)之本，而產(chǎn)品合格率更是關(guān)乎企業(yè)效益及長(zhǎng)遠(yuǎn)發(fā)展。這就使得產(chǎn)品在生產(chǎn)的過(guò)程中必須在保證品質(zhì)的前提下實(shí)現(xiàn)合格率的持續(xù)提高。激勵(lì)工序可以極大地減少SMD產(chǎn)品在加工過(guò)程中依附在晶片及產(chǎn)品內(nèi)部的微小顆粒雜質(zhì)，明顯改善產(chǎn)品DLD等特性，提升產(chǎn)品品質(zhì)，提高合格率。如圖1所示，傳統(tǒng)的激勵(lì)工序測(cè)試頭其主要有三部分組成:探針、普通接插件和測(cè)試電路板。探針穿過(guò)電路板的通孔，使用焊錫固定在電路板上，普通接插件與激勵(lì)儀相連來(lái)實(shí)現(xiàn)測(cè)試電路板與激勵(lì)儀的連接，進(jìn)而對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行激勵(lì)加工。由于電路板較薄，而探針細(xì)長(zhǎng)，兩者要固定起來(lái)比較困難，且對(duì)連接固定的位置精度和連接牢固度提出了更高的要求。探針屬易耗品，頻繁更換探針時(shí)高溫焊錫對(duì)電路板的損傷也比較大，造成電路板損壞失效，從而極大地增加了電路板的消耗量。傳統(tǒng)測(cè)試頭與激勵(lì)儀的連接方式是普通接插件來(lái)連接，頻繁更換接插件容易造成連接處松動(dòng)、接觸不良等問題，無(wú)法保證激勵(lì)效果，給生產(chǎn)加工帶來(lái)極大的不便和產(chǎn)品品質(zhì)隱患，同時(shí)也無(wú)法保證產(chǎn)品合格率的穩(wěn)定。本技術(shù)通過(guò)設(shè)計(jì)改變新的測(cè)試頭很好地解決了上述問題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本實(shí)用新型提出的是一種可以改善激勵(lì)效果的測(cè)試頭，其目的在于克服背景論述中提到的激勵(lì)效果不佳、更換探針不方便和材料浪費(fèi)等問題，強(qiáng)化落實(shí)對(duì)SMD產(chǎn)品的激勵(lì)效果，達(dá)到改善SMD廣品品質(zhì)及提尚廣品合格率的目的。
[0005]本實(shí)用新型的技術(shù)解決方案:一種改善SMD激勵(lì)效果的測(cè)試頭，其結(jié)構(gòu)包括探針1、螺栓緊固件2、射頻連接器3、測(cè)試電路板4和探針固定塊5，其中探針I(yè)穿過(guò)固定塊5上的通孔固定，測(cè)試電路板4與固定塊5通過(guò)螺栓2組裝在一起，射頻連接器3與激勵(lì)儀連接。
[0006]本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn):
[0007]探針固定塊上定位孔也很好地解決了探針的位置精度問題。探針和電路板通過(guò)壓力壓緊來(lái)連接，避免了更換探針時(shí)焊錫對(duì)電路板的損傷，延長(zhǎng)了電路板的使用次數(shù)和壽命，節(jié)約材料成本。射頻連接器較普通接插件接觸更充分，信號(hào)傳輸更穩(wěn)定，使用壽命更長(zhǎng)，既保證了對(duì)產(chǎn)品的激勵(lì)效果，又提高了原材料的利用率。
【附圖說(shuō)明】
[0008]附圖1是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0009]圖中的I是探針、2是螺栓緊固件、3是射頻連接器、4是測(cè)試電路板、5是探針固定塊。
【具體實(shí)施方式】
[0010]如圖所示，可以改善SMD激勵(lì)效果的測(cè)試頭，通過(guò)增加探針固定塊5，改變探針I(yè)與電路板4的連接方式和將普通接插件改為射頻連接器3來(lái)克服傳統(tǒng)激勵(lì)測(cè)試頭的上述不足。可以改善SMD激勵(lì)效果的測(cè)試頭，其結(jié)構(gòu)包括探針1、螺栓緊固件2、射頻連接器3、測(cè)試電路板4和探針固定塊5，其中探針I(yè)穿過(guò)固定塊5上的通孔來(lái)固定，測(cè)試電路板4與固定通過(guò)螺栓2組裝在一起來(lái)實(shí)現(xiàn)探針I(yè)與電路板4的通路，射頻連接器3與激勵(lì)儀連接后可實(shí)現(xiàn)正常的激勵(lì)加工動(dòng)作。
[0011]改變測(cè)試頭與激勵(lì)儀連接的普通接插件，增加探針固定塊，改變探針與測(cè)試電路板的接觸方式，以改善對(duì)SMD產(chǎn)品的激勵(lì)效果。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種改善SMD激勵(lì)效果的測(cè)試頭，其特征是包括探針、螺栓緊固件、射頻連接器、測(cè)試電路板和探針固定塊，其中探針穿過(guò)固定塊上的通孔固定，測(cè)試電路板與固定塊通過(guò)螺栓組裝在一起，射頻連接器與激勵(lì)儀連接。
【專利摘要】本實(shí)用新型是一種改善SMD激勵(lì)效果的測(cè)試頭，其結(jié)構(gòu)包括探針1、螺栓緊固件2、射頻連接器3、測(cè)試電路板4和探針固定塊5，其中探針1穿過(guò)固定塊5上的通孔固定，測(cè)試電路板4與固定塊5通過(guò)螺栓2組裝在一起，射頻連接器3與激勵(lì)儀連接。本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)：新的射頻連接器使得測(cè)試頭與機(jī)身連接更穩(wěn)定，探針固定塊既固定了探針的位置方向，又改變了探針與測(cè)試電路板的接觸方式，極大地減少了更換探針時(shí)帶來(lái)的不便，延長(zhǎng)探針使用壽命，節(jié)約材料成本，一舉多得。本測(cè)試頭可廣泛應(yīng)用于SMD產(chǎn)品的激勵(lì)工序。
【IPC分類】G01R1/067
【公開號(hào)】CN204903594
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520621275
【發(fā)明人】周杰
【申請(qǐng)人】南京中電熊貓晶體科技有限公司
【公開日】2015年12月23日
【申請(qǐng)日】2015年8月17日