金屬化薄膜表面電阻檢測(cè)頭的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種金屬化薄膜表面電阻檢測(cè)頭，屬于薄膜電容器生產(chǎn)制造技術(shù)領(lǐng)域。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)有技術(shù)中已公知的，用于制造薄膜電容器的金屬化薄膜具有梯度變化或漸進(jìn)變化的鍍層厚度，對(duì)于在以下這些方面具有進(jìn)步意義:降低自愈能耗，減少引出線與電極的接觸電阻，提高承載電流的能力，提高耐壓能力；金屬化薄膜鍍層厚度的變化直接影響金屬化薄膜電阻性能的變化，為了排除材料品質(zhì)、加工工藝等細(xì)微變化對(duì)產(chǎn)品性能的影響，以金屬化薄膜的電阻性能來(lái)限定或判定金屬化薄膜各定義位置處鍍層厚度更符合實(shí)際需要，也更具有實(shí)際操作性。此外，即便是常規(guī)的等鍍層厚度的金屬化薄膜，對(duì)于薄膜鍍層厚度均勻性的監(jiān)控也很有必要。用于檢測(cè)金屬化薄膜表面電阻的檢測(cè)頭為金屬質(zhì)地以實(shí)現(xiàn)導(dǎo)電，由于金屬具有加工容易且加工精度高的優(yōu)點(diǎn)，因而用于檢測(cè)金屬化薄膜表面電阻的夾具也通常為金屬制成，因而檢測(cè)頭之間以及檢測(cè)頭與夾具之間容易發(fā)生擊穿，輕則影響測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性，嚴(yán)重則可能導(dǎo)致檢測(cè)電器設(shè)備故障甚至人員傷害。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0003]本實(shí)用新型正是針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)存在的不足，提供一種金屬化薄膜表面電阻檢測(cè)頭，能夠提高檢測(cè)頭的電氣絕緣性能，從而提高金屬化薄膜表面電阻檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性和檢測(cè)作業(yè)的安全性，滿足實(shí)際使用要求。
[0004]為解決上述問(wèn)題，本實(shí)用新型所采取的技術(shù)方案如下:
[0005]一種金屬化薄膜表面電阻檢測(cè)頭，包括:球形觸頭、導(dǎo)電柱、以及包封所述球形觸頭和所述導(dǎo)電柱的絕緣塊，所述絕緣塊為陶瓷制成，所述球形觸頭設(shè)置于所述絕緣塊的底部，所述導(dǎo)電柱下端連接所述球形觸頭，所述導(dǎo)電柱上端連接電阻檢測(cè)設(shè)備的檢測(cè)線。
[0006]作為上述技術(shù)方案的改進(jìn)，還包括用于放置檢測(cè)頭的檢測(cè)支架，所述檢測(cè)支架包括固定底座和設(shè)置于所述固定底座上方的夾持片，所述夾持片的兩端均通過(guò)安裝螺栓固定連接所述固定底座，且所述夾持片上設(shè)置有檢測(cè)頭滑槽；
[0007]所述絕緣塊包括限位帽和配合所述檢測(cè)頭滑槽的限位滑塊，所述球形觸頭位于所述限位滑塊底部，所述限位滑塊位于所述檢測(cè)頭滑槽中，所述限位帽的外徑大于所述檢測(cè)頭滑槽的寬度且位于所述檢測(cè)頭滑槽上。
[0008]作為上述技術(shù)方案的改進(jìn)，所述限位滑塊為豎直設(shè)置的圓柱形結(jié)構(gòu)，且所述限位滑塊的半徑與所述檢測(cè)頭滑槽的寬度相等，所述球形觸頭設(shè)置于所述限位滑塊的底面中心。
[0009]作為上述技術(shù)方案的改進(jìn)，所述固定底座和所述夾持片為金屬制成，所述固定底座的頂面設(shè)置有第一橡膠墊，所述夾持片的底面設(shè)置有第二橡膠墊。采用金屬作為固定底座和夾持片的主材料便于加工且剛性好，從而便于控制表面平整度，降低夾持金屬化薄膜時(shí)施力不均的程度，但是金屬表面過(guò)于堅(jiān)硬容易刮傷金屬化薄膜且摩擦力較小，夾持穩(wěn)固效果不佳，因此設(shè)置第一橡膠墊和第二橡膠墊，既能夠大大降低刮傷金屬化薄膜的幾率而且?jiàn)A持很穩(wěn)固，測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確。
[0010]作為上述技術(shù)方案的改進(jìn)，所述夾持片上設(shè)置有配合所述安裝螺栓的安裝導(dǎo)套。設(shè)置安裝導(dǎo)套不僅可以在保證螺紋不打滑的前提下減小夾持片的厚度，而且可以提高夾持片的穩(wěn)固性，不會(huì)發(fā)生偏轉(zhuǎn)從而造成施力不均。
[0011]本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比較，本實(shí)用新型的實(shí)施效果如下:
[0012]本實(shí)用新型所述的金屬化薄膜表面電阻檢測(cè)頭，用于接觸金屬化薄膜的觸頭為球形觸頭，因此減少了尖端放電的幾率，即降低了設(shè)備擊穿拉火的幾率，同時(shí)采用絕緣塊包封導(dǎo)體，使得檢測(cè)頭之間以及檢測(cè)頭與檢測(cè)支架之間的電氣絕緣性能進(jìn)一步提高，同時(shí)優(yōu)選陶瓷作為絕緣包封材料，既保證了絕緣性能，又避免常規(guī)絕緣材料如橡膠塑料等剛性不足、耐磨損性能差的問(wèn)題，使檢測(cè)頭與檢測(cè)支架之間的配合更為緊密，從而使檢測(cè)頭放置穩(wěn)定，且運(yùn)動(dòng)軌跡的重復(fù)性好，測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確。
【附圖說(shuō)明】
[0013]圖1為本實(shí)用新型所述的金屬化薄膜表面電阻檢測(cè)頭結(jié)構(gòu)示意圖；
[0014]圖2為本實(shí)用新型所述的金屬化薄膜表面電阻檢測(cè)頭和檢測(cè)支架的俯視結(jié)構(gòu)示意圖；
[0015]圖3為本實(shí)用新型所述的金屬化薄膜表面電阻檢測(cè)頭和檢測(cè)支架的平視結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0016]下面將結(jié)合具體的實(shí)施例來(lái)說(shuō)明本實(shí)用新型的內(nèi)容。
[0017]如圖1至圖3所示，為本實(shí)用新型所述的金屬化薄膜表面電阻檢測(cè)頭結(jié)構(gòu)示意圖。本實(shí)用新型所述金屬化薄膜表面電阻檢測(cè)頭，包括:球形觸頭11、導(dǎo)電柱12、以及包封所述球形觸頭11和所述導(dǎo)電柱12的絕緣塊13，所述絕緣塊13為陶瓷制成，所述球形觸頭11設(shè)置于所述絕緣塊13的底部，所述導(dǎo)電柱12下端連接所述球形觸頭11，所述導(dǎo)電柱12上端連接電阻檢測(cè)設(shè)備的檢測(cè)線14。
[0018]進(jìn)一步地，本實(shí)用新型所述的金屬化薄膜表面電阻檢測(cè)頭還包括用于放置檢測(cè)頭的檢測(cè)支架，所述檢測(cè)支架包括固定底座21和設(shè)置于所述固定底座21上方的夾持片22，所述夾持片22的兩端均通過(guò)安裝螺栓23固定連接所述固定底座21，且所述夾持片22上設(shè)置有檢測(cè)頭滑槽24 ;所述絕緣塊13包括限位帽131和配合所述檢測(cè)頭滑槽24的限位滑塊132，所述球形觸頭11位于所述限位滑塊132底部，所述限位滑塊132位于所述檢測(cè)頭滑槽24中，所述限位帽131的外徑大于所述檢測(cè)頭滑槽24的寬度且位于所述檢測(cè)頭滑槽24上。
[0019]進(jìn)一步地，所述限位滑塊132為豎直設(shè)置的圓柱形結(jié)構(gòu)，且所述限位滑塊132的半徑與所述檢測(cè)頭滑槽24的寬度相等，所述球形觸頭11設(shè)置于所述限位滑塊132的底面中心。更進(jìn)一步地，所述固定底座21和所述夾持片22為金屬制成，所述固定底座21的頂面設(shè)置有第一橡膠墊25，所述夾持片22的底面設(shè)置有第二橡膠墊26。優(yōu)選地，所述夾持片22上設(shè)置有配合所述安裝螺栓23的安裝導(dǎo)套27。
[0020]工作時(shí)，將需要檢測(cè)表面電阻的金屬化薄膜樣品夾持在所述固定底座21和所述夾持片22之間，然后將兩個(gè)檢測(cè)頭放置在所述檢測(cè)頭滑槽24中，根據(jù)實(shí)際檢測(cè)的需要和規(guī)范要求調(diào)整兩個(gè)檢測(cè)頭之間的間距以及兩個(gè)檢測(cè)頭的位置，使兩個(gè)檢測(cè)頭的所述導(dǎo)電柱12上端分別連接電阻檢測(cè)設(shè)備正負(fù)極的兩個(gè)檢測(cè)線14，通過(guò)電阻檢測(cè)設(shè)備讀數(shù)即可獲知金屬化薄膜樣品的表面電阻。
[0021]以上內(nèi)容是結(jié)合具體的實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型所作的詳細(xì)說(shuō)明，不能認(rèn)定本實(shí)用新型具體實(shí)施僅限于這些說(shuō)明。對(duì)于本實(shí)用新型所屬技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不脫離本實(shí)用新型構(gòu)思的前提下，還可以做出若干簡(jiǎn)單推演或替換，都應(yīng)當(dāng)視為屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種金屬化薄膜表面電阻檢測(cè)頭，其特征是，包括:球形觸頭(11)、導(dǎo)電柱(12)、以及包封所述球形觸頭(11)和所述導(dǎo)電柱(12)的絕緣塊(13)，所述絕緣塊(13)為陶瓷制成，所述球形觸頭(11)設(shè)置于所述絕緣塊(13)的底部，所述導(dǎo)電柱(12)下端連接所述球形觸頭(11)，所述導(dǎo)電柱(12)上端連接電阻檢測(cè)設(shè)備的檢測(cè)線(14)。
2.如權(quán)利要求1所述的金屬化薄膜表面電阻檢測(cè)頭，其特征是，還包括用于放置檢測(cè)頭的檢測(cè)支架，所述檢測(cè)支架包括固定底座(21)和設(shè)置于所述固定底座(21)上方的夾持片(22)，所述夾持片(22)的兩端均通過(guò)安裝螺栓(23)固定連接所述固定底座(21)，且所述夾持片(22)上設(shè)置有檢測(cè)頭滑槽(24); 所述絕緣塊(13)包括限位帽(131)和配合所述檢測(cè)頭滑槽(24)的限位滑塊(132)，所述球形觸頭(11)位于所述限位滑塊(132)底部，所述限位滑塊(132)位于所述檢測(cè)頭滑槽(24)中，所述限位帽(131)的外徑大于所述檢測(cè)頭滑槽(24)的寬度且位于所述檢測(cè)頭滑槽(24)上。
3.如權(quán)利要求2所述的金屬化薄膜表面電阻檢測(cè)頭，其特征是，所述限位滑塊(132)為豎直設(shè)置的圓柱形結(jié)構(gòu)，且所述限位滑塊(132)的半徑與所述檢測(cè)頭滑槽(24)的寬度相等，所述球形觸頭(11)設(shè)置于所述限位滑塊(132 )的底面中心。
4.如權(quán)利要求3所述的金屬化薄膜表面電阻檢測(cè)頭，其特征是，所述固定底座(21)和所述夾持片(22)為金屬制成，所述固定底座(21)的頂面設(shè)置有第一橡膠墊(25)，所述夾持片(22)的底面設(shè)置有第二橡膠墊(26)。
5.如權(quán)利要求4所述的金屬化薄膜表面電阻檢測(cè)頭，其特征是，所述夾持片(22)上設(shè)置有配合所述安裝螺栓(23)的安裝導(dǎo)套(27)。
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種金屬化薄膜表面電阻檢測(cè)頭，包括球形觸頭、導(dǎo)電柱、以及包封所述球形觸頭和所述導(dǎo)電柱的絕緣塊，所述絕緣塊為陶瓷制成，所述球形觸頭設(shè)置于所述絕緣塊的底部，所述導(dǎo)電柱下端連接所述球形觸頭，所述導(dǎo)電柱上端連接電阻檢測(cè)設(shè)備的檢測(cè)線。還包括用于放置檢測(cè)頭的檢測(cè)支架，所述檢測(cè)支架包括固定底座和設(shè)置于所述固定底座上方的夾持片，所述夾持片的兩端均通過(guò)安裝螺栓固定連接所述固定底座，且所述夾持片上設(shè)置有檢測(cè)頭滑槽。本實(shí)用新型所述的金屬化薄膜表面電阻檢測(cè)頭，能夠提高檢測(cè)頭的電氣絕緣性能，從而提高金屬化薄膜表面電阻檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性和檢測(cè)作業(yè)的安全性，滿足實(shí)際使用要求。
【IPC分類】G01R27-02
【公開號(hào)】CN204422654
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520121560
【發(fā)明人】張世鐸
【申請(qǐng)人】黃山申格電子科技有限公司
【公開日】2015年6月24日
【申請(qǐng)日】2015年3月2日