一種無(wú)損探傷設(shè)備的制造方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種無(wú)損探傷設(shè)備，包括基座，檢測(cè)機(jī)構(gòu)和放射機(jī)構(gòu)，所述檢測(cè)機(jī)構(gòu)設(shè)置在基座的一側(cè)，檢測(cè)機(jī)構(gòu)包括成像單元，置物單元和活動(dòng)單元，所述成像單元設(shè)置在置物單元一側(cè)且可相對(duì)置物單元運(yùn)動(dòng)，所述活動(dòng)單元設(shè)置在置物單元的同一側(cè)，置物單元和成像單元可同時(shí)進(jìn)行往復(fù)運(yùn)動(dòng)，所述放射機(jī)構(gòu)設(shè)置在置物單元的另一側(cè)，所述活動(dòng)單元包括至少一個(gè)連桿，連桿分別與成像單元和置物單元連接。通過(guò)活動(dòng)單元將放置被測(cè)物的置物單元與成像單元產(chǎn)生聯(lián)動(dòng)，讓被測(cè)物于放射光源中進(jìn)行動(dòng)態(tài)照射成像，成像單元的底片上成像位置不變，利用被測(cè)物往復(fù)移動(dòng)，達(dá)到斷層掃描的效果，降低干擾，提供高成像品質(zhì)。
【專利說(shuō)明】
一種無(wú)損探傷設(shè)備
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及一種無(wú)損探傷設(shè)備。【背景技術(shù)】
[0002]無(wú)損檢測(cè)設(shè)備通常用于檢測(cè)物體內(nèi)部是否具有缺陷，無(wú)損檢測(cè)設(shè)備可采用多種手段進(jìn)行檢測(cè)，其中通過(guò)放射線(例如X光線)檢測(cè)被廣泛應(yīng)用。X光線檢測(cè)通過(guò)產(chǎn)生的X光照片來(lái)判斷被檢測(cè)物是否具有缺陷，因此其對(duì)X光照片的質(zhì)量要求較高，質(zhì)量較差的X光照片無(wú)法由肉眼判讀，而且可能導(dǎo)致誤判，從而產(chǎn)生使用風(fēng)險(xiǎn)。
[0003]X光成像方式是利用穿透被測(cè)物的X光，經(jīng)過(guò)成像裝置形成X光照片。傳統(tǒng)X光照射法為靜態(tài)照射法，成像裝置包括由化學(xué)物質(zhì)構(gòu)成的感光底片，通過(guò)底片曝光成像，因此 X光機(jī)、被測(cè)物與底片需固定放置在同一直線上。當(dāng)X光進(jìn)入被測(cè)物后，X光可能被吸收、產(chǎn)生散射或穿透，上述現(xiàn)象均會(huì)影響底片成像的質(zhì)量，因此當(dāng)被測(cè)物為厚度不一或有裂痕的金屬材質(zhì)時(shí)，所受到的干擾較多，成像品質(zhì)較差。所述干擾指成像中存在非被測(cè)物結(jié)構(gòu)的成像，且通常被測(cè)物在照片上成像有失真與模糊等現(xiàn)象。所有的被測(cè)物在X光影像中比實(shí)物大，甚至是同一物體卻產(chǎn)生不同形狀，導(dǎo)致失真。
【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明為了解決現(xiàn)有技術(shù)的問(wèn)題，提供了一種能夠動(dòng)態(tài)成像，降低干擾，使得成像更加清晰的一種無(wú)損探傷設(shè)備。
[0005]具體技術(shù)方案為:一種無(wú)損探傷設(shè)備，包括基座，檢測(cè)機(jī)構(gòu)和放射機(jī)構(gòu)，所述檢測(cè)機(jī)構(gòu)設(shè)置在基座的一側(cè)，檢測(cè)機(jī)構(gòu)包括成像單元，置物單元和活動(dòng)單元，所述成像單元設(shè)置在置物單元一側(cè)且可相對(duì)置物單元運(yùn)動(dòng)，所述活動(dòng)單元設(shè)置在置物單元的同一側(cè)，置物單元和成像單元可同時(shí)進(jìn)行往復(fù)運(yùn)動(dòng)，所述放射機(jī)構(gòu)設(shè)置在置物單元的另一側(cè)，所述活動(dòng)單元包括至少一個(gè)連桿，連桿分別與成像單元和置物單元連接。
[0006]以下為本發(fā)明的附屬技術(shù)方案。
[0007]進(jìn)一步的，所述成像單元和置物單元包括至少一個(gè)滑動(dòng)件，滑動(dòng)件可相對(duì)基座進(jìn)行滑動(dòng)。
[0008]進(jìn)一步的，所述滑動(dòng)件可以是滾輪、滑軌或其組合。
[0009]進(jìn)一步的，所述活動(dòng)單元還包括動(dòng)力組件，動(dòng)力組件包括馬達(dá)、液壓、氣壓或其組合。
[0010]進(jìn)一步的，所述活動(dòng)單元包括鏈條，鏈條分別與成像單元連接。
[0011]進(jìn)一步的，所述連桿與放射機(jī)構(gòu)樞軸連接。
[0012]進(jìn)一步的，所述置物單元包括凹槽。
[0013]本發(fā)明的技術(shù)效果:通過(guò)活動(dòng)單元將放置被測(cè)物的置物單元與成像單元產(chǎn)生聯(lián)動(dòng)，讓被測(cè)物于放射光源中進(jìn)行動(dòng)態(tài)照射成像，成像單元的底片上成像位置不變，利用被測(cè)物往復(fù)移動(dòng)，達(dá)到斷層掃描的效果，降低干擾，提供高成像品質(zhì)?！靖綀D說(shuō)明】
[0014]圖1是本發(fā)明的實(shí)施例無(wú)損探傷設(shè)備的示意圖。
[0015]圖2是本發(fā)明的實(shí)施例無(wú)損探傷設(shè)備的局部示意圖。
[0016]圖3是本發(fā)明的實(shí)施例無(wú)損探傷設(shè)備的局部剖視示意圖?！揪唧w實(shí)施方式】
[0017]下面，結(jié)合實(shí)例對(duì)本發(fā)明的實(shí)質(zhì)性特點(diǎn)和優(yōu)勢(shì)作進(jìn)一步的說(shuō)明，但本發(fā)明并不局限于所列的實(shí)施例。
[0018]如圖1至圖3所示，本實(shí)施例的無(wú)損探傷設(shè)備包括基座200,檢測(cè)機(jī)構(gòu)300和放射機(jī)構(gòu)400,放射機(jī)構(gòu)400用于發(fā)出放射線，例如X光線。所述檢測(cè)機(jī)構(gòu)300設(shè)置在基座200 的一側(cè)，檢測(cè)機(jī)構(gòu)300包括成像單元310,置物單元320和活動(dòng)單元330,所述成像單元310 設(shè)置在置物單元320 —側(cè)且可相對(duì)置物單元320運(yùn)動(dòng)，成像單元310設(shè)有底片。所述活動(dòng)單元330設(shè)置在置物單元320的同一側(cè)，置物單元320和成像單元310可同時(shí)進(jìn)行往復(fù)運(yùn)動(dòng)，所述放射機(jī)構(gòu)400設(shè)置在置物單元320的另一側(cè)，所述活動(dòng)單元330包括至少一個(gè)連桿331，連桿331分別與成像單元310和置物單元320連接，使得成像單元310與置物單元 320產(chǎn)生聯(lián)動(dòng)。上述技術(shù)方案通過(guò)活動(dòng)單元330使成像單元310與置物單元320產(chǎn)生聯(lián)動(dòng)， 成像單元31C的底片上成像位置不變，利用被測(cè)物往復(fù)移動(dòng)，達(dá)到斷層掃描的效果，降低干擾，進(jìn)行放射線掃描時(shí)只有放射線聚焦斷面的影像清晰，其余位置模糊，從而判斷待測(cè)物是否有缺陷。本實(shí)施例中，所述連桿與放射機(jī)構(gòu)樞軸連接。
[0019]優(yōu)選的，作為一種實(shí)施方式，所述成像單元310和置物單元320包括至少一個(gè)滑動(dòng)件311，滑動(dòng)件311可相對(duì)基座200進(jìn)行滑動(dòng)。所述滑動(dòng)件311可以是滾輪、滑軌或其組合。
[0020]優(yōu)選的，作為一種實(shí)施方式，所述活動(dòng)單元330還包括動(dòng)力組件332,動(dòng)力組件332 包括馬達(dá)、液壓、氣壓或其組合，動(dòng)力組件332用于做往復(fù)運(yùn)動(dòng)，帶動(dòng)檢測(cè)機(jī)構(gòu)300與活動(dòng)單元 330。
[0021]優(yōu)選的，所述活動(dòng)單元330包括鏈條333,鏈條333分別與成像單元310連接，形成封閉回路，當(dāng)動(dòng)力組件332驅(qū)動(dòng)鏈條333時(shí)，鏈條333可帶動(dòng)成像單元310在基座200上做向前或向后的滑動(dòng)。所述置物單元320上設(shè)有凹槽，用于放置待測(cè)物。
[0022]本實(shí)施例通過(guò)活動(dòng)單元將放置被測(cè)物的置物單元與成像單元產(chǎn)生聯(lián)動(dòng)，讓被測(cè)物于放射光源中進(jìn)行動(dòng)態(tài)照射成像，從而使得成像更清晰。以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和潤(rùn)飾，這些改進(jìn)和潤(rùn)飾也應(yīng)視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種無(wú)損探傷設(shè)備，包括基座，檢測(cè)機(jī)構(gòu)和放射機(jī)構(gòu)，其特征在于:所述檢測(cè)機(jī)構(gòu)設(shè) 置在基座的一側(cè)，檢測(cè)機(jī)構(gòu)包括成像單元，置物單元和活動(dòng)單元，所述成像單元設(shè)置在置物 單元一側(cè)且可相對(duì)置物單元運(yùn)動(dòng)，所述活動(dòng)單元設(shè)置在置物單元的同一側(cè)，置物單元和成 像單元可同時(shí)進(jìn)行往復(fù)運(yùn)動(dòng)，所述放射機(jī)構(gòu)設(shè)置在置物單元的另一側(cè)，所述活動(dòng)單元包括 至少一個(gè)連桿，連桿分別與成像單元和置物單元連接。2.如權(quán)利要求1所述的無(wú)損探傷設(shè)備，其特征在于:所述成像單元和置物單元包括至 少一個(gè)滑動(dòng)件，滑動(dòng)件可相對(duì)基座進(jìn)行滑動(dòng)。3.如權(quán)利要求2所述的無(wú)損探傷設(shè)備，其特征在于:所述滑動(dòng)件可以是滾輪、滑軌或其 組合。4.如權(quán)利要求3所述的無(wú)損探傷設(shè)備，其特征在于:所述活動(dòng)單元還包括動(dòng)力組件，動(dòng) 力組件包括馬達(dá)、液壓、氣壓或其組合。5.如權(quán)利要求1至4中任一權(quán)利要求所述的無(wú)損探傷設(shè)備，其特征在于:所述活動(dòng)單 元包括鏈條，鏈條分別與成像單元連接。6.如權(quán)利要求5所述的無(wú)損探傷設(shè)備，其特征在于:所述連桿與放射機(jī)構(gòu)樞軸連接。7.如權(quán)利要求6所述的無(wú)損探傷設(shè)備，其特征在于:所述置物單元包括凹槽。
【文檔編號(hào)】G01N23/04GK105987921SQ201510081775
【公開日】2016年10月5日
【申請(qǐng)日】2015年2月12日
【發(fā)明人】李楊
【申請(qǐng)人】天津市卓陽(yáng)無(wú)損檢測(cè)有限公司