水位檢測(cè)電路、水位檢測(cè)及自檢方法和裝置的制造方法
【專(zhuān)利摘要】本發(fā)明提供了一種用于烹飪器具的水位檢測(cè)電路、水位檢測(cè)及自檢方法和裝置，其中，用于烹飪器具的水位檢測(cè)及自檢方法，包括：在接收到上電指令后，實(shí)時(shí)檢測(cè)所述第一比較器每次輸出的高電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)，以及所述第一比較器在輸出所述高電平信號(hào)之后緊接著輸出的低電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)；計(jì)算所述第一比較器輸出的低電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)與所述第一比較器輸出的高電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)之間的比值；根據(jù)所述比值與設(shè)定的閾值之間的關(guān)系，判斷所述水位檢測(cè)電路是否檢測(cè)到水位和/或判斷所述水位檢測(cè)電路中的探針電路是否出現(xiàn)故障。本發(fā)明的技術(shù)方案能夠準(zhǔn)確且有效地對(duì)烹飪器具內(nèi)的水位或沸騰時(shí)產(chǎn)生的水泡進(jìn)行檢測(cè)。
【專(zhuān)利說(shuō)明】
水位檢測(cè)電路、水位檢測(cè)及自檢方法和裝置
技術(shù)領(lǐng)域
[0001] 本發(fā)明設(shè)及烹任器具技術(shù)領(lǐng)域，具體而言，設(shè)及一種用于烹任器具的水位檢測(cè)電 路、一種用于烹任器具的水位檢測(cè)及自檢方法和一種用于烹任器具的水位檢測(cè)及自檢裝 置。
【背景技術(shù)】
[0002] 現(xiàn)有的烹任器具，如電壓力鍋、電飯優(yōu)等，為了避免加熱功率過(guò)大而造成溢出，需 要在烹任器具內(nèi)設(shè)置水位檢測(cè)電路，W對(duì)烹任器具內(nèi)的水位或沸騰時(shí)產(chǎn)生的水泡進(jìn)行檢 ，而如何能夠準(zhǔn)確且有效地實(shí)現(xiàn)對(duì)烹任器具內(nèi)的水位或水泡進(jìn)行檢測(cè)成為亟待解決的技 術(shù)問(wèn)題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003] 本發(fā)明旨在至少解決現(xiàn)有技術(shù)或相關(guān)技術(shù)中存在的技術(shù)問(wèn)題之一。
[0004] 為此，本發(fā)明的一個(gè)目的在于提出了一種新的用于烹任器具的水位檢測(cè)電路，能 夠準(zhǔn)確且有效地對(duì)烹任器具內(nèi)的水位或沸騰時(shí)產(chǎn)生的水泡進(jìn)行檢測(cè)。 陽(yáng)〇化]本發(fā)明的另一個(gè)目的在于提出了一種用于烹任器具的水位檢測(cè)及自檢方法和裝 置。
[0006] 為實(shí)現(xiàn)上述目的，根據(jù)本發(fā)明的第一方面的實(shí)施例，提出了一種用于烹任器具的 水位檢測(cè)電路，包括：串聯(lián)連接的第一分壓元件和第二分壓元件，所述第一分壓元件和所述 第二分壓元件串聯(lián)后連接在第一直流電源和地之間；第一比較器，所述第一比較器的負(fù)輸 入端通過(guò)第一電容接地，所述第一比較器的正輸入端連接在所述第一分壓元件和所述第二 分壓元件之間；第=分壓元件，所述第=分壓元件的第一端連接至所述第一直流電源，所述 第=分壓元件的第二端連接至所述第一比較器的輸出端；串聯(lián)連接的第四分壓元件和第 一二極管，所述第四分壓元件和所述第一二極管串聯(lián)后連接在所述第一比較器的負(fù)輸入端 和所述第=分壓元件的第二端之間，所述第一二極管用于限制所述第一直流電源的電流流 過(guò)所述第四分壓元件；串聯(lián)連接的第五分壓元件和第二二極管，所述第五分壓元件和所述 第二二極管串聯(lián)后連接在所述第一比較器的負(fù)輸入端和所述第=分壓元件的第二端之間， 所述第二二極管用于限制所述第一電容的電流流過(guò)所述第五分壓元件；探針電路，包括第 一探針和第二探針，所述第一探針和所述第二探針并聯(lián)在所述第四分壓元件的兩端；信號(hào) 檢測(cè)電路，連接至所述第一比較器的輸出端，所述信號(hào)檢測(cè)電路通過(guò)檢測(cè)所述第一比較器 輸出的高電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)和低電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)確定所述探針電路是否檢測(cè)到水位和/或 確定所述探針電路是否異常。
[0007] 根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的用于烹任器具的水位檢測(cè)電路，由于第一比較器的正輸入 端電壓基本是不發(fā)生變化的，而由于第一電容、第一二極管和第二二極管的存在，使得在第 一比較器的正輸入端電壓大于第一比較器的負(fù)輸入端電壓時(shí)，第一比較器輸出高電平，第 一直流電源向第一電容充電；而在第一電容充電完成之后，第一比較器的負(fù)輸入端電壓高 于第一比較器的正輸入端電壓，進(jìn)而第一比較器輸出低電平，第一電容放電，若忽略第一二 極管和第二二極管的壓降，則第一電容的充電時(shí)間和放電時(shí)間之間的比值即是充電回路和 放電回路的電阻之比，而探針電路在檢測(cè)到水位和未檢測(cè)到水位時(shí)的電阻是有很大區(qū)別 的，因此可W根據(jù)第一比較器輸出高電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)和低電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)之間的比值來(lái)確 定探針電路是否檢測(cè)到水位；此外，若探針電路出現(xiàn)故障，則放電回路的電阻將無(wú)限趨近于 第四分壓元件，第一電容的放電時(shí)間會(huì)變長(zhǎng)，進(jìn)而也能夠根據(jù)第一比較器輸出高電平信號(hào) 的時(shí)長(zhǎng)和低電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)之間的比值來(lái)確定探針電路是否出現(xiàn)故障。
[0008] 根據(jù)本發(fā)明的上述實(shí)施例的用于烹任器具的水位檢測(cè)電路，還可W具有W下技術(shù) 特征：
[0009] 其中，信號(hào)檢測(cè)電路的具體電路結(jié)構(gòu)可W有如下兩個(gè)實(shí)施例：
[0010] 實(shí)施例一：
[0011] 根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，所述信號(hào)檢測(cè)電路包括：光禪合器，所述光禪合器的第 一輸入端連接至所述第一直流電源，所述光禪合器的第二輸入端連接至所述第一比較器的 輸出端，所述光禪合器的第一輸出端通過(guò)第屯分壓元件連接至第二直流電源，所述光禪合 器的第二輸出端接地；微處理器，所述微處理器的采樣信號(hào)輸入端連接至所述第屯分壓元 件和所述光禪合器的第一輸出端之間，所述微處理器根據(jù)所述采樣信號(hào)輸入端的輸入信號(hào) 確定所述探針電路是否檢測(cè)到水位。 陽(yáng)〇1引 實(shí)施例二：
[0013] 根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，所述信號(hào)檢測(cè)電路包括：驅(qū)動(dòng)器件，所述驅(qū)動(dòng)器件的輸 入端連接至所述第一比較器的輸出端；光禪合器，所述光禪合器的第一輸入端連接至所述 第一直流電源，所述光禪合器的第二輸入端連接至所述驅(qū)動(dòng)器件的輸出端，所述光禪合器 的第一輸出端通過(guò)第屯分壓元件連接至第二直流電源，所述光禪合器的第二輸出端接地； 微處理器，所述微處理器的采樣信號(hào)輸入端連接至所述第屯分壓元件和所述光禪合器的第 一輸出端之間，所述微處理器根據(jù)所述采樣信號(hào)輸入端的輸入信號(hào)確定所述探針電路是否 檢測(cè)到水位。
[0014] 根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，所述驅(qū)動(dòng)器件包括：第二比較器，所述第二比較器的負(fù) 輸入端連接至所述第一比較器的輸出端，所述第二比較器正輸入端連接至所述第一分壓元 件和所述第二分壓元件之間。
[0015] 根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，所述檢測(cè)電路還包括：第二電容，連接在所述微處理器 的采樣信號(hào)輸入端和地之間。
[0016] 根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，所述光禪合器的第一輸入端通過(guò)第八分壓元件連接至 所述第一直流電源；和/或
[0017] 所述光禪合器的第一輸出端和所述第屯分壓元件之間串聯(lián)有第九分壓元件；和/ 或
[0018] 所述微處理器的采樣信號(hào)輸入端通過(guò)第十分壓元件連接至所述第屯分壓元件和 所述光禪合器的第一輸出端之間。
[0019] 優(yōu)選地，所述第一分壓元件、所述第二分壓元件、所述第=分壓元件、所述第四分 壓元件、所述第五分壓元件、所述第屯分壓元件、所述第八分壓元件、所述第九分壓元件或 所述第十分壓元件包括：?jiǎn)蝹€(gè)電阻元件，或串聯(lián)連接和/或并聯(lián)連接的多個(gè)電阻元件。
[0020] 根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，還包括：第六分壓元件，連接至所述第一比較器的正輸 入端和所述第一比較器的輸出端之間。
[0021] 其中，所述第六分壓元件包括：?jiǎn)蝹€(gè)電阻元件，或串聯(lián)連接和/或并聯(lián)連接的多個(gè) 電阻元件。
[0022] 在上述硬件電路的基礎(chǔ)上，根據(jù)本發(fā)明第二方面的實(shí)施例，還提出了一種用于烹 任器具的水位檢測(cè)及自檢方法，包括：在接收到上電指令后，實(shí)時(shí)檢測(cè)所述第一比較器每次 輸出的高電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)，W及所述第一比較器在輸出所述高電平信號(hào)之后緊接著輸出的 低電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)；計(jì)算所述第一比較器輸出的低電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)與所述第一比較器輸出 的高電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)之間的比值；根據(jù)所述比值與設(shè)定的闊值之間的關(guān)系，判斷所述水位 檢測(cè)電路是否檢測(cè)到水位和/或判斷所述水位檢測(cè)電路中的探針電路是否出現(xiàn)故障。
[0023] 根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的用于烹任器具的水位檢測(cè)及自檢方法，通過(guò)上述對(duì)于電路 的分析可知，第一電容的充電時(shí)間和放電時(shí)間之間的比值即是充電回路和放電回路的電阻 之比，而探針電路在檢測(cè)到水位和未檢測(cè)到水位時(shí)的電阻是有很大區(qū)別的，因此可W根據(jù) 第一比較器輸出高電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)和低電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)之間的比值來(lái)確定探針電路是否 檢測(cè)到水位；此外，若探針電路出現(xiàn)故障，則放電回路的電阻將無(wú)限趨近于第四分壓元件， 第一電容的放電時(shí)間會(huì)變長(zhǎng)，進(jìn)而也能夠根據(jù)第一比較器輸出高電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)和低電平 信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)之間的比值來(lái)確定探針電路是否出現(xiàn)故障。
[0024] 根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，判斷所述水位檢測(cè)電路是否檢測(cè)到水位和/或判斷所 述水位檢測(cè)電路中的探針電路是否出現(xiàn)故障的步驟具體包括：在所述比值小于或等于第一 預(yù)定闊值時(shí)，判定所述水位檢測(cè)電路檢測(cè)到水位；W及在所述比值大于或等于第二預(yù)定闊 值時(shí)，判定所述探針電路出現(xiàn)故障。其中，第一預(yù)定闊值可W小于或等于1，第二預(yù)定闊值可 W大于或等于3。
[00巧]根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，判斷所述水位檢測(cè)電路是否檢測(cè)到水位的步驟還包 括：若在預(yù)定時(shí)間內(nèi)，所述比值的減小量大于或等于設(shè)定值，則判定所述水位檢測(cè)電路檢測(cè) 到水位。 陽(yáng)026] 在該實(shí)施例中，由于第一電容的放電時(shí)間與放電回路中的電阻大小有關(guān)，若探針 電路檢測(cè)到水位，則放電回路中的電阻變小，放電時(shí)間也變小，因此若第一比較器輸出高電 平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)和低電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)之間的比值在預(yù)定時(shí)間內(nèi)的減小量較大時(shí)，則可W判定 水位檢測(cè)電路檢測(cè)到水位。
[0027] 根據(jù)本發(fā)明第=方面的實(shí)施例，還提出了一種用于烹任器具的水位檢測(cè)及自檢裝 置，包括：檢測(cè)單元，用于在接收到上電指令后，實(shí)時(shí)檢測(cè)所述第一比較器每次輸出的高電 平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)，W及所述第一比較器在輸出所述高電平信號(hào)之后緊接著輸出的低電平信號(hào) 的時(shí)長(zhǎng)；計(jì)算單元，用于計(jì)算所述第一比較器輸出的低電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)與所述第一比較器 輸出的高電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)之間的比值；處理單元，用于根據(jù)所述比值與設(shè)定的闊值之間的 關(guān)系，判斷所述水位檢測(cè)電路是否檢測(cè)到水位和/或判斷所述水位檢測(cè)電路中的探針電路 是否出現(xiàn)故障。
[0028] 根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的用于烹任器具的水位檢測(cè)及自檢裝置，通過(guò)上述對(duì)于電路 的分析可知，第一電容的充電時(shí)間和放電時(shí)間之間的比值即是充電回路和放電回路的電阻 之比，而探針電路在檢測(cè)到水位和未檢測(cè)到水位時(shí)的電阻是有很大區(qū)別的，因此可W根據(jù) 第一比較器輸出高電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)和低電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)之間的比值來(lái)確定探針電路是否 檢測(cè)到水位；此外，若探針電路出現(xiàn)故障，則放電回路的電阻將無(wú)限趨近于第四分壓元件， 第一電容的放電時(shí)間會(huì)變長(zhǎng)，進(jìn)而也能夠根據(jù)第一比較器輸出高電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)和低電平 信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)之間的比值來(lái)確定探針電路是否出現(xiàn)故障。
[0029] 根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，所述處理單元具體用于：在所述比值小于或等于第一 預(yù)定闊值時(shí)，判定所述水位檢測(cè)電路檢測(cè)到水位；W及在所述比值大于或等于第二預(yù)定闊 值時(shí)，判定所述探針電路出現(xiàn)故障。其中，第一預(yù)定闊值可W小于或等于1，第二預(yù)定闊值可 W大于或等于3。
[0030] 根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，所述處理單元具體還用于：若在預(yù)定時(shí)間內(nèi)，所述比值 的減小量大于或等于設(shè)定值，則判定所述水位檢測(cè)電路檢測(cè)到水位。
[0031] 在該實(shí)施例中，由于第一電容的放電時(shí)間與放電回路中的電阻大小有關(guān)，若探針 電路檢測(cè)到水位，則放電回路中的電阻變小，放電時(shí)間也變小，因此若第一比較器輸出高電 平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)和低電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)之間的比值在預(yù)定時(shí)間內(nèi)的減小量較大時(shí)，則可W判定 水位檢測(cè)電路檢測(cè)到水位。
[0032] 本發(fā)明的附加方面和優(yōu)點(diǎn)將在下面的描述中部分給出，部分將從下面的描述中變 得明顯，或通過(guò)本發(fā)明的實(shí)踐了解到。
【附圖說(shuō)明】
[0033] 本發(fā)明的上述和/或附加的方面和優(yōu)點(diǎn)從結(jié)合下面附圖對(duì)實(shí)施例的描述中將變 得明顯和容易理解，其中：
[0034] 圖1示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的用于烹任器具的水位檢測(cè)電路的結(jié)構(gòu)示 意圖；
[0035] 圖2示出了根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例的用于烹任器具的水位檢測(cè)電路的結(jié)構(gòu) 示意圖；
[0036] 圖3示出了根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的用于烹任器具的水位檢測(cè)及自檢方法的示意 流程圖；
[0037] 圖4示出了根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的用于烹任器具的水位檢測(cè)及自檢裝置的示意 框圖。
【具體實(shí)施方式】
[0038] 為了能夠更清楚地理解本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點(diǎn)，下面結(jié)合附圖和具體實(shí) 施方式對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步的詳細(xì)描述。需要說(shuō)明的是，在不沖突的情況下，本申請(qǐng)的實(shí)施 例及實(shí)施例中的特征可W相互組合。
[0039] 在下面的描述中闡述了很多具體細(xì)節(jié)W便于充分理解本發(fā)明，但是，本發(fā)明還可 W采用其他不同于在此描述的其他方式來(lái)實(shí)施，因此，本發(fā)明的保護(hù)范圍并不受下面公開(kāi) 的具體實(shí)施例的限制。 W40] 如圖1和圖2所示，根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的用于烹任器具的水位檢測(cè)電路，包括： 串聯(lián)連接的第一分壓元件11和第二分壓元件12,所述第一分壓元件11和所述第二分壓元 件12串聯(lián)后連接在第一直流電源（即圖中所示的VCC)和地之間；第一比較器2,所述第一 比較器2的負(fù)輸入端通過(guò)第一電容31接地，所述第一比較器2的正輸入端連接在所述第一 分壓元件11和所述第二分壓元件12之間；第=分壓元件13,所述第=分壓元件13的第一 端連接至所述第一直流電源，所述第=分壓元件13的第二端連接至所述第一比較器2的輸 出端；串聯(lián)連接的第四分壓元件14和第一二極管41，所述第四分壓元件14和所述第一二 極管41串聯(lián)后連接在所述第一比較器2的負(fù)輸入端和所述第=分壓元件13的第二端之 間，所述第一二極管41用于限制所述第一直流電源的電流流過(guò)所述第四分壓元件14 ;串聯(lián) 連接的第五分壓元件15和第二二極管42,所述第五分壓元件15和所述第二二極管42串聯(lián) 后連接在所述第一比較器2的負(fù)輸入端和所述第=分壓元件13的第二端之間，所述第二二 極管42用于限制所述第一電容31的電流流過(guò)所述第五分壓元件15 ;探針電路5,包括第一 探針51和第二探針52,所述第一探針51和所述第二探針52并聯(lián)在所述第四分壓元件14 的兩端；信號(hào)檢測(cè)電路6,連接至所述第一比較器2的輸出端，所述信號(hào)檢測(cè)電路6通過(guò)檢 測(cè)所述第一比較器2輸出的高電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)和低電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)確定所述探針電路5是 否檢測(cè)到水位和/或確定所述探針電路5是否異常。
[0041] 由于第一比較器2的正輸入端電壓基本是不發(fā)生變化的，而由于第一電容31、第 一二極管41和第二二極管42的存在，使得在第一比較器2的正輸入端電壓大于第一比較 器2的負(fù)輸入端電壓時(shí)，第一比較器2輸出高電平，第一直流電源向第一電容31充電；而在 第一電容31充電完成之后，第一比較器2的負(fù)輸入端電壓高于第一比較器2的正輸入端電 壓，進(jìn)而第一比較器2輸出低電平，第一電容31放電，若忽略第一二極管41和第二二極管 42的壓降，則第一電容31的充電時(shí)間和放電時(shí)間之間的比值即是充電回路和放電回路的 電阻之比，而探針電路5在檢測(cè)到水位和未檢測(cè)到水位時(shí)的電阻是有很大區(qū)別的，因此可 W根據(jù)第一比較器2輸出高電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)和低電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)之間的比值來(lái)確定探針 電路5是否檢測(cè)到水位；此外，若探針電路5出現(xiàn)故障，則放電回路的電阻將無(wú)限趨近于第 四分壓元件14,第一電容31的放電時(shí)間會(huì)變長(zhǎng)，進(jìn)而也能夠根據(jù)第一比較器2輸出高電平 信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)和低電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)之間的比值來(lái)確定探針電路5是否出現(xiàn)故障。
[0042] 根據(jù)本發(fā)明的上述實(shí)施例的用于烹任器具的水位檢測(cè)電路，還可W具有W下技術(shù) 特征：
[0043] 其中，信號(hào)檢測(cè)電路的具體電路結(jié)構(gòu)可W有如下兩個(gè)實(shí)施例：
[0044] 實(shí)施例一： W45] 根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，如圖1所示，所述信號(hào)檢測(cè)電路6包括：光禪合器61， 所述光禪合器61的第一輸入端連接至所述第一直流電源，所述光禪合器61的第二輸入端 連接至所述第一比較器2的輸出端，所述光禪合器61的第一輸出端通過(guò)第屯分壓元件17 連接至第二直流電源（即圖中所示的VDD)，所述光禪合器61的第二輸出端接地；微處理器 62,所述微處理器62的采樣信號(hào)輸入端連接至所述第屯分壓元件17和所述光禪合器61的 第一輸出端之間，所述微處理器62根據(jù)所述采樣信號(hào)輸入端的輸入信號(hào)確定所述探針電 路5是否檢測(cè)到水位。
[0046] 實(shí)施例二：
[0047] 根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，如圖2所示，所述信號(hào)檢測(cè)電路6包括：驅(qū)動(dòng)器件63， 所述驅(qū)動(dòng)器件63的輸入端連接至所述第一比較器2的輸出端；光禪合器61，所述光禪合器 61的第一輸入端連接至所述第一直流電源，所述光禪合器61的第二輸入端連接至所述驅(qū) 動(dòng)器件63的輸出端，所述光禪合器61的第一輸出端通過(guò)第屯分壓元件17連接至第二直流 電源，所述光禪合器61的第二輸出端接地；微處理器62,所述微處理器62的采樣信號(hào)輸入 端連接至所述第屯分壓元件17和所述光禪合器61的第一輸出端之間，所述微處理器62根 據(jù)所述采樣信號(hào)輸入端的輸入信號(hào)確定所述探針電路5是否檢測(cè)到水位。
[0048] 根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，所述驅(qū)動(dòng)器件63包括：第二比較器，所述第二比較器 的負(fù)輸入端連接至所述第一比較器2的輸出端，所述第二比較器正輸入端連接至所述第一 分壓元件11和所述第二分壓元件12之間。此外，驅(qū)動(dòng)器件63還可W是=極管等。
[0049] 根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，所述檢測(cè)電路6還包括：第二電容64,連接在所述微處 理器62的采樣信號(hào)輸入端和地之間。
[0050] 根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，所述光禪合器61的第一輸入端通過(guò)第八分壓元件18 連接至所述第一直流電源；和/或
[0051] 所述光禪合器61的第一輸出端和所述第屯分壓元件17之間串聯(lián)有第九分壓元件 19 ;和/或
[0052] 所述微處理器62的采樣信號(hào)輸入端通過(guò)第十分壓元件110連接至所述第屯分壓 元件17和所述光禪合器61的第一輸出端之間。
[0053] 優(yōu)選地，所述第一分壓元件11、所述第二分壓元件12、所述第=分壓元件13、所述 第四分壓元件14、所述第五分壓元件15、所述第屯分壓元件17、所述第八分壓元件18、所述 第九分壓元件19或所述第十分壓元件110包括：?jiǎn)蝹€(gè)電阻元件，或串聯(lián)連接和/或并聯(lián)連 接的多個(gè)電阻元件。
[0054] 根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，還包括：第六分壓元件16,連接至所述第一比較器2的 正輸入端和所述第一比較器2的輸出端之間。
[0055] 其中，所述第六分壓元件16包括：?jiǎn)蝹€(gè)電阻元件，或串聯(lián)連接和/或并聯(lián)連接的多 個(gè)電阻元件。
[0056] 圖3示出了根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的用于烹任器具的水位檢測(cè)及自檢方法的示意 流程圖。
[0057] 如圖3所示，根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的用于烹任器具的水位檢測(cè)及自檢方法，包括： 步驟302,在接收到上電指令后，實(shí)時(shí)檢測(cè)所述第一比較器每次輸出的高電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)， W及所述第一比較器在輸出所述高電平信號(hào)之后緊接著輸出的低電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)；步驟 304,計(jì)算所述第一比較器輸出的低電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)與所述第一比較器輸出的高電平信號(hào) 的時(shí)長(zhǎng)之間的比值；步驟306,根據(jù)所述比值與設(shè)定的闊值之間的關(guān)系，判斷所述水位檢測(cè) 電路是否檢測(cè)到水位和/或判斷所述水位檢測(cè)電路中的探針電路是否出現(xiàn)故障。 陽(yáng)05引通過(guò)上述對(duì)于電路的分析可知，第一電容的充電時(shí)間和放電時(shí)間之間的比值即是 充電回路和放電回路的電阻之比，而探針電路在檢測(cè)到水位和未檢測(cè)到水位時(shí)的電阻是有 很大區(qū)別的，因此可W根據(jù)第一比較器輸出高電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)和低電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)之間的 比值來(lái)確定探針電路是否檢測(cè)到水位；此外，若探針電路出現(xiàn)故障，則放電回路的電阻將無(wú) 限趨近于第四分壓元件，第一電容的放電時(shí)間會(huì)變長(zhǎng)，進(jìn)而也能夠根據(jù)第一比較器輸出高 電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)和低電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)之間的比值來(lái)確定探針電路是否出現(xiàn)故障。
[0059] 根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，判斷所述水位檢測(cè)電路是否檢測(cè)到水位和/或判斷所 述水位檢測(cè)電路中的探針電路是否出現(xiàn)故障的步驟具體包括：在所述比值小于或等于第一 預(yù)定闊值時(shí)，判定所述水位檢測(cè)電路檢測(cè)到水位；W及在所述比值大于或等于第二預(yù)定闊 值時(shí)，判定所述探針電路出現(xiàn)故障。其中，第一預(yù)定闊值可W小于或等于1，第二預(yù)定闊值可 W大于或等于3。
[0060] 根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，判斷所述水位檢測(cè)電路是否檢測(cè)到水位的步驟還包 括：若在預(yù)定時(shí)間內(nèi)，所述比值的減小量大于或等于設(shè)定值，則判定所述水位檢測(cè)電路檢測(cè) 到水位。
[0061] 在該實(shí)施例中，由于第一電容的放電時(shí)間與放電回路中的電阻大小有關(guān)，若探針 電路檢測(cè)到水位，則放電回路中的電阻變小，放電時(shí)間也變小，因此若第一比較器輸出高電 平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)和低電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)之間的比值在預(yù)定時(shí)間內(nèi)的減小量較大時(shí)，則可W判定 水位檢測(cè)電路檢測(cè)到水位。
[0062] 圖4示出了根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的用于烹任器具的水位檢測(cè)及自檢裝置的示意 框圖。
[0063] 如圖4所示，根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的用于烹任器具的水位檢測(cè)及自檢裝置400,包 括：檢測(cè)單元402,用于在接收到上電指令后，實(shí)時(shí)檢測(cè)所述第一比較器每次輸出的高電平 信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)，W及所述第一比較器在輸出所述高電平信號(hào)之后緊接著輸出的低電平信號(hào)的 時(shí)長(zhǎng)；計(jì)算單元404,用于計(jì)算所述第一比較器輸出的低電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)與所述第一比較 器輸出的高電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)之間的比值；處理單元406,用于根據(jù)所述比值與設(shè)定的闊值 之間的關(guān)系，判斷所述水位檢測(cè)電路是否檢測(cè)到水位和/或判斷所述水位檢測(cè)電路中的探 針電路是否出現(xiàn)故障。 W64] 通過(guò)上述對(duì)于電路的分析可知，第一電容的充電時(shí)間和放電時(shí)間之間的比值即是 充電回路和放電回路的電阻之比，而探針電路在檢測(cè)到水位和未檢測(cè)到水位時(shí)的電阻是有 很大區(qū)別的，因此可W根據(jù)第一比較器輸出高電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)和低電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)之間的 比值來(lái)確定探針電路是否檢測(cè)到水位；此外，若探針電路出現(xiàn)故障，則放電回路的電阻將無(wú) 限趨近于第四分壓元件，第一電容的放電時(shí)間會(huì)變長(zhǎng)，進(jìn)而也能夠根據(jù)第一比較器輸出高 電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)和低電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)之間的比值來(lái)確定探針電路是否出現(xiàn)故障。 陽(yáng)0化]根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，所述處理單元406具體用于：在所述比值小于或等于 第一預(yù)定闊值時(shí)，判定所述水位檢測(cè)電路檢測(cè)到水位；W及在所述比值大于或等于第二預(yù) 定闊值時(shí)，判定所述探針電路出現(xiàn)故障。其中，第一預(yù)定闊值可W小于或等于1，第二預(yù)定闊 值可W大于或等于3。
[0066] 根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，所述處理單元406具體還用于：若在預(yù)定時(shí)間內(nèi)，所述 比值的減小量大于或等于設(shè)定值，則判定所述水位檢測(cè)電路檢測(cè)到水位。 陽(yáng)067] 在該實(shí)施例中，由于第一電容的放電時(shí)間與放電回路中的電阻大小有關(guān)，若探針 電路檢測(cè)到水位，則放電回路中的電阻變小，放電時(shí)間也變小，因此若第一比較器輸出高電 平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)和低電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)之間的比值在預(yù)定時(shí)間內(nèi)的減小量較大時(shí)，則可W判定 水位檢測(cè)電路檢測(cè)到水位。 W側(cè) W下結(jié)合表1詳細(xì)說(shuō)明上述第一闊值和第二闊值的確定過(guò)程。
[0069] 由于第一電容31的充放電過(guò)程是周期性進(jìn)行的，記tl為第一電容31的充電時(shí) 間，t2為第一電容31的放電時(shí)間，因此，第一比較器2的輸出端信號(hào)是非固定周期（取決 于探針電路的阻值）的脈沖信號(hào)。
[0070] 其中，第一二極管41和第二二極管42的電壓下降是基本相同的，充電時(shí)間tl通 過(guò)第=分壓元件13、第五分壓元件15和第一電容31來(lái)決定，放電時(shí)間通過(guò)探針電路5的 電阻、第四分壓元件14的電阻和第一電容31來(lái)決定。若忽略第一二極管41和第二二極管 42的電壓下降，則tl和t2的時(shí)間比就等于充電回路的阻值和放電回路的阻值比。
[0071] 因此，若已知第S分壓元件13、第五分壓元件15和第四分壓元件14的，則探針電 路的電阻值也能夠根據(jù)tl和t2的時(shí)間比計(jì)算出來(lái)。
[0072] 為了在較短的時(shí)間內(nèi)精確地測(cè)定tl和t2,可m受置tl為5ms，第五分壓元件的阻 值為150K歐姆，第S分壓元件的阻值為15K歐姆，因此若第一電容為0. 047 y F時(shí)，可W計(jì) 算出tl為5. 6ms。
[0073] 在上述參數(shù)的基礎(chǔ)上，可W計(jì)算得出探針電路的電阻與t2/tl之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系， 如表1所示：
[0074]
!；〇〇巧]表1
[0076] 通過(guò)表1可W看出，在烹任器具內(nèi)的水位未溢出時(shí)，放電回路的電阻值較大，t2/ tl的值也較大；而在溢出發(fā)生時(shí)，放電回路的電阻值較小，t2/tl的值也較小。而在探針電 路的電阻值趨近于無(wú)窮大時(shí)，可能是由于探針電路發(fā)生斷路，因此可W通過(guò)t2/tl的值來(lái) 確定探針電路是否檢測(cè)到水位或確定探針電路是否出現(xiàn)故障。同時(shí)，也可W在測(cè)定得到tl 和t2之后，算出探針電路的電阻。
[0077] W上結(jié)合附圖詳細(xì)說(shuō)明了本發(fā)明的技術(shù)方案，本發(fā)明提出了一種新的用于烹任器 具的水位檢測(cè)電路及相應(yīng)的檢測(cè)方法和裝置，能夠準(zhǔn)確且有效地對(duì)烹任器具內(nèi)的水位或沸 騰時(shí)產(chǎn)生的水泡進(jìn)行檢測(cè)，同時(shí)也能夠檢測(cè)到探針電路是否出現(xiàn)故障。
[0078] W上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例而已，并不用于限制本發(fā)明，對(duì)于本領(lǐng)域的技 術(shù)人員來(lái)說(shuō)，本發(fā)明可W有各種更改和變化。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修 改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種用于烹飪器具的水位檢測(cè)電路，其特征在于，包括： 串聯(lián)連接的第一分壓元件和第二分壓元件，所述第一分壓元件和所述第二分壓元件串 聯(lián)后連接在第一直流電源和地之間； 第一比較器，所述第一比較器的負(fù)輸入端通過(guò)第一電容接地，所述第一比較器的正輸 入端連接在所述第一分壓元件和所述第二分壓元件之間； 第三分壓元件，所述第三分壓元件的第一端連接至所述第一直流電源，所述第三分壓 元件的第二端連接至所述第一比較器的輸出端； 串聯(lián)連接的第四分壓元件和第一二極管，所述第四分壓元件和所述第一二極管串聯(lián)后 連接在所述第一比較器的負(fù)輸入端和所述第三分壓元件的第二端之間，所述第一二極管用 于限制所述第一直流電源的電流流過(guò)所述第四分壓元件； 串聯(lián)連接的第五分壓元件和第二二極管，所述第五分壓元件和所述第二二極管串聯(lián)后 連接在所述第一比較器的負(fù)輸入端和所述第三分壓元件的第二端之間，所述第二二極管用 于限制所述第一電容的電流流過(guò)所述第五分壓元件； 探針電路，包括第一探針和第二探針，所述第一探針和所述第二探針并聯(lián)在所述第四 分壓元件的兩端； 信號(hào)檢測(cè)電路，連接至所述第一比較器的輸出端，所述信號(hào)檢測(cè)電路通過(guò)檢測(cè)所述第 一比較器輸出的高電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)和低電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)確定所述探針電路是否檢測(cè)到水 位和/或確定所述探針電路是否異常。2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于烹飪器具的水位檢測(cè)電路，其特征在于，所述信號(hào)檢測(cè) 電路包括： 光親合器，所述光親合器的第一輸入端連接至所述第一直流電源，所述光親合器的第 二輸入端連接至所述第一比較器的輸出端，所述光耦合器的第一輸出端通過(guò)第七分壓元件 連接至第二直流電源，所述光耦合器的第二輸出端接地； 微處理器，所述微處理器的采樣信號(hào)輸入端連接至所述第七分壓元件和所述光耦合器 的第一輸出端之間，所述微處理器根據(jù)所述采樣信號(hào)輸入端的輸入信號(hào)確定所述探針電路 是否檢測(cè)到水位。3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于烹飪器具的水位檢測(cè)電路，其特征在于，所述信號(hào)檢測(cè) 電路包括： 驅(qū)動(dòng)器件，所述驅(qū)動(dòng)器件的輸入端連接至所述第一比較器的輸出端； 光親合器，所述光親合器的第一輸入端連接至所述第一直流電源，所述光親合器的第 二輸入端連接至所述驅(qū)動(dòng)器件的輸出端，所述光耦合器的第一輸出端通過(guò)第七分壓元件連 接至第二直流電源，所述光耦合器的第二輸出端接地； 微處理器，所述微處理器的采樣信號(hào)輸入端連接至所述第七分壓元件和所述光耦合器 的第一輸出端之間，所述微處理器根據(jù)所述采樣信號(hào)輸入端的輸入信號(hào)確定所述探針電路 是否檢測(cè)到水位。4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的用于烹飪器具的水位檢測(cè)電路，其特征在于，所述驅(qū)動(dòng)器件 包括： 第二比較器，所述第二比較器的負(fù)輸入端連接至所述第一比較器的輸出端，所述第二 比較器正輸入端連接至所述第一分壓元件和所述第二分壓元件之間。5. -種用于烹飪器具的水位檢測(cè)及自檢方法，適用于如權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)所述 的用于烹飪器具的水位檢測(cè)電路，其特征在于，包括： 在接收到上電指令后，實(shí)時(shí)檢測(cè)所述第一比較器每次輸出的高電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)，以及 所述第一比較器在輸出所述高電平信號(hào)之后緊接著輸出的低電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)； 計(jì)算所述第一比較器輸出的低電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)與所述第一比較器輸出的高電平信號(hào) 的時(shí)長(zhǎng)之間的比值； 根據(jù)所述比值與設(shè)定的閾值之間的關(guān)系，判斷所述水位檢測(cè)電路是否檢測(cè)到水位和/ 或判斷所述水位檢測(cè)電路中的探針電路是否出現(xiàn)故障。6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的用于烹飪器具的水位檢測(cè)及自檢方法，其特征在于，判斷所 述水位檢測(cè)電路是否檢測(cè)到水位和/或判斷所述水位檢測(cè)電路中的探針電路是否出現(xiàn)故 障的步驟具體包括： 在所述比值小于或等于第一預(yù)定閾值時(shí)，判定所述水位檢測(cè)電路檢測(cè)到水位；以及 在所述比值大于或等于第二預(yù)定閾值時(shí)，判定所述探針電路出現(xiàn)故障。7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的用于烹飪器具的水位檢測(cè)及自檢方法，其特征在于，判斷所 述水位檢測(cè)電路是否檢測(cè)到水位的步驟還包括： 若在預(yù)定時(shí)間內(nèi)，所述比值的減小量大于或等于設(shè)定值，則判定所述水位檢測(cè)電路檢 測(cè)到水位。8. -種用于烹飪器具的水位檢測(cè)及自檢裝置，適用于如權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)所述 的用于烹飪器具的水位檢測(cè)電路，其特征在于，包括： 檢測(cè)單元，用于在接收到上電指令后，實(shí)時(shí)檢測(cè)所述第一比較器每次輸出的高電平信 號(hào)的時(shí)長(zhǎng)，以及所述第一比較器在輸出所述高電平信號(hào)之后緊接著輸出的低電平信號(hào)的時(shí) 長(zhǎng)； 計(jì)算單元，用于計(jì)算所述第一比較器輸出的低電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)與所述第一比較器輸出 的高電平信號(hào)的時(shí)長(zhǎng)之間的比值； 處理單元，用于根據(jù)所述比值與設(shè)定的閾值之間的關(guān)系，判斷所述水位檢測(cè)電路是否 檢測(cè)到水位和/或判斷所述水位檢測(cè)電路中的探針電路是否出現(xiàn)故障。9. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的用于烹飪器具的水位檢測(cè)及自檢裝置，其特征在于，所述處 理單元具體用于： 在所述比值小于或等于第一預(yù)定閾值時(shí)，判定所述水位檢測(cè)電路檢測(cè)到水位；以及 在所述比值大于或等于第二預(yù)定閾值時(shí)，判定所述探針電路出現(xiàn)故障。10. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的用于烹飪器具的水位檢測(cè)及自檢裝置，其特征在于，所述處 理單元具體還用于： 若在預(yù)定時(shí)間內(nèi)，所述比值的減小量大于或等于設(shè)定值，則判定所述水位檢測(cè)電路檢 測(cè)到水位。
【文檔編號(hào)】G01R31/28GK105987736SQ201510091611
【公開(kāi)日】2016年10月5日
【申請(qǐng)日】2015年2月28日
【發(fā)明人】張中良, 大阪健, 大阪健一, 劉星, 胡小玉, 黃德萬(wàn), 瞿月紅, 彭晶
【申請(qǐng)人】佛山市順德區(qū)美的電熱電器制造有限公司, 美的集團(tuán)股份有限公司