檢測電子元件表面缺陷的裝置的制造方法
【專利摘要】本發(fā)明檢測電子元件表面缺陷的裝置，屬于表面質(zhì)量檢查設(shè)備領(lǐng)域。目的是提供一種能準(zhǔn)確反應(yīng)電子元件表面缺陷的尺寸的檢測電子元件表面缺陷的裝置。包括支座，安裝于支座的光源、放大鏡和攝像鏡頭，光源、放大鏡和攝像鏡頭由下至上依次布置；在光源下方設(shè)有電子元件檢測臺，電子元件檢測臺包括與支座可拆卸連接的反射本體，在反射本體上設(shè)有垂直貫穿反射本體的方形通孔，方形通孔的四個內(nèi)壁上均安裝有平面鏡，平面鏡的鏡面由下至上向外延伸；在通孔正下方設(shè)有安裝于支座的檢測平臺，檢測平臺的四周標(biāo)有刻度，刻度在平面鏡的反射范圍內(nèi)。該檢測電子元件表面缺陷的裝置可明確表面缺陷的尺寸大小，根據(jù)尺寸大小確定修復(fù)方案，避免了修復(fù)的盲目性。
【專利說明】
檢測電子元件表面缺陷的裝置
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明屬于表面質(zhì)量檢查設(shè)備領(lǐng)域，具體的是檢測電子元件表面缺陷的裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著電子科技技術(shù)的進(jìn)步，對電子元件表面質(zhì)量的要求越來越高。對于表面有缺陷的電子元件，更加其缺陷的大小，會有不同的處理方式。如表面臟污，會進(jìn)行清洗;表面有小劃痕，可以進(jìn)行打磨;表面劃痕過大，可能需要報廢等;且根據(jù)表面臟污的范圍，也會有不同的清洗方式。然而，現(xiàn)有的電子元件表面缺陷的檢測通常是利用照相機(jī)拍攝出電子元件的表面情況的照片，然后通過拍攝出的照片來判斷電子元件的表面質(zhì)量。然后，表面有劃痕和表面臟污在照片中的表現(xiàn)及其相似，這時，容易將表面臟污的情況歸類為表面有劃痕的產(chǎn)品，對其進(jìn)行表面缺陷修復(fù)或者報廢。且，對于表面缺陷的大小，通常通過肉眼觀察，或者用尺比量，然而，照相機(jī)拍攝出的照片上所顯示的表面缺陷的大小和實(shí)際情況相差甚遠(yuǎn)，因此，通常造成錯誤的處理方式。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種檢測電子元件表面缺陷的裝置，能準(zhǔn)確反應(yīng)電子元件表面缺陷的尺寸。
[0004]本發(fā)明采用的技術(shù)方案是:檢測電子元件表面缺陷的裝置，包括支座，可拆卸安裝于支座的光源、放大鏡和攝像鏡頭，所述光源、放大鏡和攝像鏡頭由下至上依次布置;在光源下方設(shè)有電子元件檢測臺，所述電子元件檢測臺包括與支座可拆卸連接的反射本體，在反射本體上設(shè)有垂直貫穿反射本體的方形通孔，所述方形通孔的四個內(nèi)壁上均安裝有平面鏡，所述平面鏡的鏡面由下至上向外延伸;在通孔正下方設(shè)有安裝于支座的檢測平臺，所述檢測平臺的四周標(biāo)有刻度，所述刻度在平面鏡的反射范圍內(nèi)。
[0005]進(jìn)一步的，所述通孔的上端大于通孔的下端。
[0006]進(jìn)一步的，所述支座包括左立板、右立板和底座，所述左立板和右立板的一端與底座固定連接;所述電子元件檢測臺的反射本體一側(cè)與左立板螺栓連接，另一側(cè)與右立板螺栓連接。
[0007]本發(fā)明的有益效果是:檢測電子元件表面缺陷的裝置，通過平面鏡反射電子元件側(cè)面的情況給放大鏡，通過攝像鏡頭拍攝出經(jīng)過放大鏡放大后電子元件的表面缺陷和放置電子元件的檢測平臺四周的刻度，可明確表面缺陷的尺寸大小，根據(jù)尺寸大小確定修復(fù)方案，避免了修復(fù)的盲目性。
【附圖說明】
[0008]圖1為本發(fā)明結(jié)構(gòu)圖。
[0009]圖2為圖1的A-A剖視圖。
[0010]圖中，支座1、左立板11、右立板12、底座13、放大鏡2、反射本體3、通孔4、平面鏡5、檢測平臺6、刻度61、光源7、攝像鏡頭8、電子元件10。
【具體實(shí)施方式】
[0011]下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對本發(fā)明做進(jìn)一步的說明。
[0012]本說明書所表示方位的“上”和“下”均以圖1為準(zhǔn)。
[0013]檢測電子元件表面缺陷的裝置，如圖1和圖2所示，包括支座I，可拆卸安裝于支座I的光源7、放大鏡2和攝像鏡頭8，所述光源7、放大鏡2和攝像鏡頭8由下至上依次布置;在光源7下方設(shè)有電子元件檢測臺，所述電子元件檢測臺包括與支座I可拆卸連接的反射本體3，在反射本體3上設(shè)有垂直貫穿反射本體3的方形通孔4，所述方形通孔4的四個內(nèi)壁上均安裝有平面鏡5，所述平面鏡5的鏡面由下至上向外延伸;在通孔4正下方設(shè)有安裝于支座I的檢測平臺6，所述檢測平臺6的四周標(biāo)有刻度61，所述刻度61在平面鏡5的反射范圍內(nèi)。
[0014]攝像鏡頭8用于拍攝電子元件100表面缺陷，光源7為攝像鏡頭8的工作提供所需的光亮環(huán)境，放大鏡2用于放大電子元件100的表面情況，使攝像鏡頭8能清晰的拍攝到電子元件100的表面缺陷，因此，光源7、放大鏡2和攝像鏡頭8由下至上依次布置，并且電子元件檢測臺位于光源7下方。由于將電子元件100直接置于光源7下，攝像鏡頭8只能拍攝到電子元件100正面的情況，無法觀察到電子元件100側(cè)面的情況，因此，電子元件檢測臺包括反射本體3，在反射本體3上設(shè)有垂直貫穿反射本體3的方形通孔4，所述方形通孔4的四個內(nèi)壁上均安裝有平面鏡5，平面鏡5的鏡面由下至上向外延伸。平面鏡5的鏡面由下至上向外延伸所訴的“外”是以通孔4為準(zhǔn)，向通孔4以外的區(qū)域?yàn)椤巴狻薄榱嗣鞔_缺陷的大小，因此，在通孔4正下方設(shè)有安裝于支座I的檢測平臺6，檢測平臺6四周標(biāo)有刻度61，所述刻度61在平面鏡5的反射范圍內(nèi)。通過攝像鏡頭8拍攝出電子元件100的表面缺陷和檢測平臺6四周的刻度61，可明確表面缺陷的尺寸大小，根據(jù)尺寸大小確定修復(fù)方案，避免了修復(fù)的盲目性。
[0015]在上述實(shí)施方式中，通孔4可以兩端大小相等。但是，若通孔4兩端大小相等，平面鏡5的鏡面傾斜安裝不便。進(jìn)一步的，所述通孔4的上端大于通孔4的下端。如此，選擇常規(guī)的平面鏡5粘貼在通孔4的內(nèi)壁上即可，安裝方便。
[0016]為了便于支撐放大鏡2和電子元件檢測臺，優(yōu)選的，所述支座I包括左立板11、右立板12和底座13，所述左立板11和右立板12的一端與底座13固定連接;所述電子元件檢測臺的反射本體3—側(cè)與左立板11螺栓連接，另一側(cè)與右立板12螺栓連接。反射本體3夾持于左立板11和右立板12之間，避免了反射本體3滑落，損壞平面鏡5，而螺栓連接簡單方便。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.檢測電子元件表面缺陷的裝置，其特征在于:包括支座(I)，可拆卸安裝于支座(I)的光源(7)、放大鏡(2)和攝像鏡頭(8)，所述光源(7)、放大鏡(2)和攝像鏡頭(8)由下至上依次布置;在光源(7)下方設(shè)有電子元件檢測臺，所述電子元件檢測臺包括與支座(I)可拆卸連接的反射本體(3)，在反射本體(3)上設(shè)有垂直貫穿反射本體(3)的方形通孔(4)，所述方形通孔(4)的四個內(nèi)壁上均安裝有平面鏡(5)，所述平面鏡(5)的鏡面由下至上向外延伸;在通孔(4)正下方設(shè)有安裝于支座(I)的檢測平臺(6)，所述檢測平臺(6)的四周標(biāo)有刻度(61)，所述刻度(61)在平面鏡(5)的反射范圍內(nèi)。2.如權(quán)利要求1所述的檢測電子元件表面缺陷的裝置，其特征在于:所述通孔(4)的上端大于通孔(4)的下端。3.如權(quán)利要求1所述的檢測電子元件表面缺陷的裝置，其特征在于:所述支座(I)包括左立板(11)、右立板(12)和底座(13)，所述左立板(11)和右立板(12)的一端與底座(13)固定連接;所述電子元件檢測臺的反射本體(3) —側(cè)與左立板(11)螺栓連接，另一側(cè)與右立板(12)螺栓連接。
【文檔編號】G01N21/88GK105891218SQ201610302273
【公開日】2016年8月24日
【申請日】2016年5月9日
【發(fā)明人】廖興旺
【申請人】成都慧信實(shí)驗(yàn)設(shè)備有限公司