一種數(shù)字陣列雷達dam接收數(shù)字電路測試系統(tǒng)的制作方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明公開了一種數(shù)字陣列雷達DAM接收數(shù)字電路測試系統(tǒng)，屬于雷達接收機測試系統(tǒng)。
【背景技術】
[0002]數(shù)字陣列雷達具有動態(tài)范圍大、容易實現(xiàn)多波束、低損耗、低副瓣、抗干擾能力強、精度高、可靠性高等特點，因而獲得廣泛應用。數(shù)字陣列雷達采用接收數(shù)字陣列模塊(receiver Digital Array Module，r_DAM)和發(fā)射數(shù)字陣列模塊(transmitter DigitalArray Module，t_DAM)來實現(xiàn)數(shù)字波束形成技術。隨著數(shù)字陣列雷達技術的發(fā)展，要求r_DAM具備更高的性能指標，從而針對r-DAM中接收數(shù)字電路測試的準確度和精度要求也越來越高。數(shù)字陣列雷達為獲得更高的作戰(zhàn)指標，主要方式是增加雷達陣面數(shù)量，即增加r-DAM的數(shù)量和接收數(shù)字電路的數(shù)量，那么雷達r-DAM的測試工作量也會隨之增大。目前，國內(nèi)針對數(shù)字陣列雷達r-DAM或t-DAM測試開展了相關研究，主要成果有中國電子科技集團公司第四十一所公開專利《一種數(shù)字陣列模塊發(fā)射機通道相位一致性測試方法及裝置，公開號:103592637A》、中國電子科技集團公司第三十八所實用新型專利《用于噪聲系統(tǒng)測試的裝置，公開號:204479745U》、南京大學公開專利《雷達接收機綜合測系統(tǒng)，公開號:1687805》和安徽四創(chuàng)電子股份有限公司公開專利《用于DAM自動測試的測試適配器和檢測連接設備，公開號:204649961U》。然而上述測試方法或裝置，主要是針對組件或陣列模塊的測試，非專用于接收數(shù)字電路測試，與本發(fā)明所述測試系統(tǒng)存在較大差異。當前用于測試數(shù)字電路的測試手段是:在數(shù)字電路裝配入r-DAM之前，測試員首先為數(shù)字電路焊接信號輸入電纜、時鐘電纜和電源線等，然后將電纜與儀表、信號源和電源連接后，開始進行測試。這種測試方法存在大量重復性工作，不僅測試效率低而且容易對電路板造成破壞。另外，此種測試方法較難同時測試接收數(shù)字電路的多個通道，因此存在部分指標無法準確測試的問題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明所要解決的技術問題在于提供了一種數(shù)字陣列雷達接收數(shù)字電路測試系統(tǒng)，不僅符合數(shù)字陣列雷達技術發(fā)展的需求，而且可以解決雷達生產(chǎn)過程中接收數(shù)字電路測試準確性和測試效率等問題，是雷達接收機測試系統(tǒng)所亟須的技術。
[0004]本發(fā)明是通過以下技術方案解決上述技術問題的:一種數(shù)字陣列雷達DAM接收數(shù)字電路測試系統(tǒng)，包括電源裝置、測試信號源、時鐘源，以及計算機，測試信號源為待測試的接收數(shù)字電路板提供待測試信號，該測試系統(tǒng)還包括功分器、測試夾具、光纖轉接板，功分器將待測試信號功分為多路信號提供給測試夾具，電源裝置和時鐘源也接到測試夾具，測試夾具將待測試信號、時鐘源提供的時鐘和電源裝置提供的電源通過提供給被測接收數(shù)字電路板，測試夾具受計算機控制，光纖轉接板連接接收數(shù)字電路板和計算機。
[0005]作為進一步優(yōu)化的技術方案，所述光纖轉接板將光纖接口轉換為以太網(wǎng)或USB接
□ O
[0006]作為進一步優(yōu)化的技術方案，所述光纖轉接板的光纖接口與接收數(shù)字電路板的光纖接口用光纖連接，所述光纖轉接板的以太網(wǎng)或USB接口與計算機的以太網(wǎng)或USB接口連接。
[0007]作為進一步優(yōu)化的技術方案，所述測試夾具包括探針引線板，探針臂滑槽裝置、測試板安裝槽、射頻選通開關和直流轉直流電源模塊、至少一個探針臂滑槽固定臂，以及對應安裝在探針臂滑槽固定臂上的探針，經(jīng)過探針引線板的引線接到安裝在探針臂滑槽裝置上的探針臂滑槽固定臂上，通過安裝在探針臂滑槽固定臂上的探針將信號傳遞到接收數(shù)字電路板，直流轉直流模塊將輸入的12V電壓轉換后輸送至探針，由探針輸出至被測接收數(shù)字電路板，射頻選通開關控制被測接收數(shù)字電路板的多通道輸入通斷。射頻選通開關的狀態(tài)由計算機控制。
[0008]作為進一步優(yōu)化的技術方案，所述電源裝置、測試信號源、時鐘源，以及光纖轉接板安裝在測試機柜中，功分器、測試夾具、計算機放置在一測試操作臺上，被測接收數(shù)字電路板放置在測試夾具內(nèi)。
[0009]作為進一步優(yōu)化的技術方案，所述探針的頂端卡在探針臂滑槽固定臂前端下側開設的卡扣孔中，且所述端所述探針的頂端與探針臂滑槽固定臂之間設置有彈簧。
[0010]作為進一步優(yōu)化的技術方案，所述探針引線板，探針臂滑槽裝置、測試板安裝槽在一測試操作臺上順序平行設置，被測的接收數(shù)字電路板安裝在測試板安裝槽內(nèi)，并從左右兩端將接收數(shù)字電路板鎖緊在測試板安裝槽內(nèi)，所述探針臂滑槽固定臂的后端下部開設有對應于探針臂滑槽裝置形狀的通孔，所述探針臂滑槽裝置容置在通孔中，探針臂滑槽裝置作為探針臂滑槽固定臂的滑軌。
[0011]作為進一步優(yōu)化的技術方案，所述探針臂滑槽裝置的兩側開設有貫穿左右側的滑槽，一對凸臺設置在通孔內(nèi)的底端兩側，一對凸臺分別從探針臂滑槽裝置的兩側容置在滑槽中。
[0012]作為進一步優(yōu)化的技術方案，兩個滑槽之間的探針臂滑槽裝置上開設一螺紋內(nèi)孔，螺紋內(nèi)孔的開口位于后側滑槽的槽底部，探針臂滑槽固定臂的底端對應螺紋內(nèi)孔的位置開設有通孔，當探針臂滑槽固定臂位置放置好之后，通過一螺栓穿過探針臂滑槽固定臂后旋入螺紋內(nèi)孔中，固定探針臂滑槽固定臂。
[0013]作為進一步優(yōu)化的技術方案，所述測試信號源為產(chǎn)生正弦波信號的信號發(fā)生器、或者任意波形發(fā)生器、或者晶振，功分器為1:4、或1:8、或1:16型功分器。
[0014]本發(fā)明相比現(xiàn)有技術具有以下優(yōu)點:本發(fā)明設計的測試系統(tǒng)能夠并行測試接收數(shù)字電路的多個通道的信噪比、噪聲系數(shù)、通道隔離度以及通道間幅相一致性等指標，極大地提高了接收數(shù)字電路測試效率。適用于數(shù)字陣列雷達DAM生產(chǎn)過程對r-DAM中接收數(shù)字電路進行快速、準確測試。
【附圖說明】
[0015]圖1是本發(fā)明的數(shù)字陣列雷達DAM接收數(shù)字電路測試系統(tǒng)框圖。
[0016]圖2是本發(fā)明提供的實施方式示意圖。
[0017]圖3是本發(fā)明的數(shù)字陣列雷達DAM接收數(shù)字電路測試系統(tǒng)中測試夾具示意圖。
[0018]圖4是本發(fā)明實施例中提供的測試夾具俯視圖。
[0019]圖5是本發(fā)明實施例中提供的探針臂滑槽裝置的側視圖。
[0020]圖6是本發(fā)明實施例中提供的探針臂滑槽固定臂的固定方式側視圖。
【具體實施方式】
[0021]下面對本發(fā)明的實施例作詳細說明，本實施例在以本發(fā)明技術方案為前提下進行實施，給出了詳細的實施方式和具體的操作過程，但本發(fā)明的保護范圍不限于下述的實施例。
[0022]如圖1所示，本發(fā)明一種數(shù)字陣列雷達DAM接收數(shù)字電路測試系統(tǒng)包括電源裝置1、測試信號源2、時鐘源9、功分器4、測試夾具6、光纖轉接板13，以及計算機10。計算機10中安裝有指標測算算法和用戶交互軟件。
[0023]其中，測試信號源2為測試提供待測試信號，功分器4將待測試信號功分為多路信號提供給測試夾具6，電源裝置I和時鐘源9也接到測試夾具6，測試夾具6將被測信號、時鐘和電源裝置I提供的電源通過探針提供給被測接收數(shù)字電路板15，測試夾具6受計算機10控制，光纖轉接板13連接接收數(shù)字電路板15和計算機10，光纖轉接板13將光纖接口轉換為以太網(wǎng)或USB接口，計算機10用于運行測算算法和提供用戶交互界面。
[0024]請參閱圖2所示，上述電源裝置1、測試信號源2、時鐘源9，以及光纖轉接板13安裝在測試機柜中。功分器4、測試夾具6、計算機10放置在一測試操作臺上，被測接收數(shù)字電路板15放置在測試夾具6內(nèi)。
[0025]測試信號源2為可產(chǎn)生高質量正弦波信號的信號發(fā)生器、任意波形發(fā)生器或晶振等信號源。
[0026]功分器4可為1:4、1:8、1:16型功分器。
[0027]請參閱圖3所示，所述測試夾具6包括探針引線板61，探針臂滑槽裝置62、測試板安裝槽63、射頻選通開關和直流轉直流電源模塊64、至少一個探針臂滑槽固定臂65，以及對應安裝在探針臂滑槽固定臂65上的探針66。所述測試夾具6的主要功能是為被測接收數(shù)字電路板15直接提供多通道的測試信號輸入、為被測接收電路板提供電源、被測接收數(shù)字電路提供工作時鐘和采樣時鐘。
[0028]所述探針66的頂端卡在探針臂滑槽固定臂65前端下側開設的卡扣孔中，且所述端所述探針66的頂端與探針臂滑槽固定臂65之間設置有彈簧，探針66能夠根據(jù)被測接收數(shù)字電路板15上的電路元器件或元器件引腳的高度自動調(diào)節(jié)伸縮量。
[0029]同時參閱圖4至圖6所示，