基座的同軸通路測試裝置的制造方法
【專利說明】
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及測試裝置，特別是涉及一種基座的同軸通路測試裝置。
【【背景技術(shù)】】
[0002]目前的一些電子產(chǎn)品會使用基座docking來放置，以方便使用者觀看。對于用于手持式電子產(chǎn)品或平板電腦的docking，其通常會主要具有兩個功能。其一，作為電子產(chǎn)品支架，在使用者辦公時，無需手持，即可使用；其二，作為電子產(chǎn)品充電或者數(shù)據(jù)傳送時轉(zhuǎn)接來用。
[0003]請共同參閱圖1、圖2，圖1繪示為現(xiàn)有技術(shù)的一種電子產(chǎn)品基座正面結(jié)構(gòu)示意圖、圖2繪為現(xiàn)有技術(shù)的一種電子廣品基座背面結(jié)構(gòu)7K意圖。該基座100包括底板101和背板102，所述底板101上具有三個第一同軸接口 103、104、105(pOgO接口)，所述底板101靠近所述背板102的一側(cè)具有與所述第一同軸接口 103、104、105—一對應(yīng)的三個第二同軸接口 106、107、108 (SMA 接口 )。
[0004]請再參閱圖3，圖3繪示為圖1中第一同軸接口與第二同軸接口間的電路連接示意圖。由圖可見，所述第一同軸接口 103與所述第二同軸接口 106之間，所述第一同軸接口104與所述第二同軸接口 107之間，所述第一同軸接口 105與所述第二同軸接口 108之間皆分別連接有同軸線10。
[0005]請再參閱圖4，圖4為同軸線的內(nèi)部結(jié)構(gòu)示意圖。所述同軸線纜10包括由內(nèi)到外的四層結(jié)構(gòu):芯線11、絕緣層12、屏蔽層13以及保護層14。其中，芯線11、屏蔽層13為導(dǎo)體。
[0006]請再結(jié)合參閱圖5,圖5繪示為所述第一同軸接口及第二同軸接口的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖所示，所述第一同軸接口 103、104、105及所述第二同軸接口 106、107、108皆具有相互間隔的內(nèi)引腳及外圈引腳，內(nèi)引腳與所述芯線11連接，外圈引腳與所述屏蔽層13連接。
[0007]使用時，是將機臺(例如為平板電腦、智能手機)放入基座100上，所述機臺底部也包括與所述第一同軸接口 103、104、105 一一對應(yīng)的三個機臺同軸接口，該三個機臺同軸接口分別與所述第一同軸接口 103、104、105對接，從而把機臺的射頻(RF)功能延展到該基座100上。
[0008]在測試基座100性能時，為了確保該第一同軸接口 103、104、105及第二同軸接口106、107、108的各通路是良好的，通常會采用萬用表進行如下測試:分別將萬用表搭在第一同軸接口 103與第二同軸接口 106的內(nèi)引腳間，以測試芯線11是否導(dǎo)通；將萬用表搭在第一同軸接口 103與第二同軸接口 106的外圈引腳間，以測試屏蔽層13是否導(dǎo)通，再將萬用表搭在第一同軸接口 103內(nèi)引腳及第二同軸接口 106的外圈引腳間，以測試芯線11于屏蔽層之間是否短路；另外兩條通路也參照上述方法進行測試。
[0009]然而，采用上述方式進行測試時，測試過程復(fù)雜，需要兩人合作測試，測試耗時。
[0010]有鑒于此，實有必要開發(fā)一種基座的同軸通路測試裝置，以解決上述問題?！?br/>【發(fā)明內(nèi)容】
】
[0011]因此，本發(fā)明的目的是提供一種基座的同軸通路測試裝置，以解決現(xiàn)有技術(shù)對基座的同軸通路測試時，測試過程復(fù)雜、耗時耗人力的問題。
[0012]為了達到上述目的，本發(fā)明提供基座的同軸通路測試裝置，該基座具有與電子產(chǎn)品的機臺同軸接口連接的第一同軸接口以及與該第一同軸接口通過同軸線連接的第二同軸接口，該裝置包括:
[0013]測試治具，其上具有治具同軸接口，各所述治具同軸接口與所述第一同軸接口對應(yīng)連接，該測試治具還具有與所述治具同軸接口串接的電源及顯示單元；
[0014]短接接頭，與各所述第二同軸接口可拆卸式連接，短接所述第二同軸接口的內(nèi)引腳及外圈引腳。
[0015]可選地，所述顯示單元為發(fā)光二極管或揚聲器。
[0016]可選地，所述測試治具還具有與所述治具同軸接口串接的電阻。
[0017]可選地，所述測試治具還具有與所述治具同軸接口串接的開關(guān)。
[0018]可選地，所述第一同軸接口、第二同軸接口及所述治具同軸接口的個數(shù)分別為三個。
[0019]相較于現(xiàn)有技術(shù)，利用本發(fā)明基座的同軸通路測試裝置，于測試時，將所述測試治具安裝于所述基座上，各所述治具同軸接口分別與對應(yīng)的所述第一同軸接口連接，若此時其中的某顯示單元有顯示，則對應(yīng)的所述第一同軸接口與對應(yīng)的所述第二同軸接口內(nèi)部短路；將所述短接接頭安裝于所述第二同軸接口其中之一，關(guān)閉所述開關(guān)，若此時對應(yīng)的所述顯示單元有顯示，則對應(yīng)的第一同軸接口及第二同軸接口正常導(dǎo)通，若有顯示的顯示單元與所述第二同軸接口不對應(yīng)，則所述第一同軸接口與所述第二同軸接口之間的同軸線對應(yīng)關(guān)系接錯；拆卸下所述短接接頭，再將其安裝在另一第二同軸接口，并進行上述測試，直至測試完所有通路。由于只需安裝拆卸所述短接接頭，通過判斷顯示單元即可達到測試目的，因此測試過程簡單，只需一人即可，節(jié)省人力及時間。
【【附圖說明】】
[0020]圖1繪示為現(xiàn)有技術(shù)的一種電子產(chǎn)品基座正面結(jié)構(gòu)示意圖。
[0021]圖2繪為現(xiàn)有技術(shù)的一種電子廣品基座背面結(jié)構(gòu)意圖。
[0022]圖3繪示為圖1中第一同軸接口與第二同軸接口間的電路連接示意圖。
[0023]圖4為同軸線的內(nèi)部結(jié)構(gòu)示意圖。
[0024]圖5繪示為所述第一同軸接口及第二同軸接口的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0025]圖6繪示為本發(fā)明基座的同軸通路測試裝置一較佳實施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0026]圖7繪示為本發(fā)明基座的同軸通路測試裝置一較佳實施例的電路結(jié)構(gòu)示意圖。
[0027]圖8繪示為本發(fā)明基座的同軸通路測試裝置一較佳實施例的短接接頭結(jié)構(gòu)示意圖。
[0028]圖9繪示為本發(fā)明基座的同軸通路測試裝置一較佳實施例的工作狀態(tài)正面結(jié)構(gòu)示意圖。
[0029]圖10繪示為本發(fā)明基座的同軸通路測試裝置一較佳實施例的工作狀態(tài)背面結(jié)構(gòu)示意圖?！尽揪唧w實施方式】】
[0030]請再結(jié)合參閱圖6、圖7，圖6繪示為本發(fā)明基座的同軸通路測試裝置一較佳實施例的結(jié)構(gòu)示意圖、圖7繪示為本發(fā)明基座的同軸通路測試裝置一較佳實施例的電路結(jié)構(gòu)示意圖、圖8繪示為本發(fā)明基座的同軸通路測試裝置一較佳實施例的短接接頭結(jié)構(gòu)示意圖。
[0031]為了達到上述目的，本發(fā)明提供基座的同軸通路測試裝置，該基座100(請結(jié)合參閱圖1、圖2，可包括底板101和背板102)具有與電子產(chǎn)品的機臺同軸接口連接的第一同軸接口 103、104、105以及與該第一同軸接口 103、104、105通過同軸線10 (請結(jié)合參閱圖3、圖4)連接的第二同軸接口 106、107、108，該裝置包括:
[0032]測試治具109，其上具有治具同軸接口 110、111、112(所述第一同軸接口 103、104、105、第二同軸接口 106、107、108及所述治具同軸接口 110、111、112的個數(shù)以三個為例)，各所述治具同軸接口 110、111、112與所述第一同軸接口 103、104、105對應(yīng)連接，該測試治具109還具有與所述治具同軸接口 110、111、112串接的電源及各支路分別串接的顯示單元113、114、115 ；
[0033]短接接頭116，與各所述第二同軸接口 106、107、108可拆卸式連接，短接所述第二同軸接口 106、107、108的內(nèi)引腳及外圈引腳。
[0034]其中，所述顯示單元113、114、115為發(fā)光二極管(此處以發(fā)光二極管為例)或揚聲器。
[0035]其中，所述測試治具109各支路還可以具有與所述治具同軸接口 110、111、112串接的電阻117，用以保護電路。
[0036]其中，所述測試治具109還可以具有與所述治具同軸接口 110、111、112串接的開關(guān)118，用以控制通斷。
[0037]請再結(jié)合參閱圖9，圖9繪示為本發(fā)明基座的同軸通路測試裝置一較佳實施例的工作狀態(tài)正面結(jié)構(gòu)示意圖。
[0038]于測試時，將所述測試治具安裝于所述基座100上，各所述治具同軸接口 110、111、112分別與對應(yīng)的所述第一同軸接口 103、104、105連接，若此時其中的某顯示單元113、114、115有顯示，則對應(yīng)的所述第一同軸接口 103、104、105與對應(yīng)的所述第二同軸接口 106、107、108 內(nèi)部短路。
[0039]請再結(jié)合參閱圖10，圖10繪示為本發(fā)明基座的同軸通路測試裝置一較佳實施例的工作狀態(tài)背面結(jié)構(gòu)示意圖。
[0040]將所述短接接頭116安裝于所述第二同軸接口 106、107、108其中之一，例如為第二同軸接口 108，關(guān)閉所述開關(guān)118，若此時對應(yīng)的所述顯示單元113有顯示，則對應(yīng)的第一同軸接口 105及第二同軸接口 108正常導(dǎo)通，若有顯示是顯示單元113或114，與所述第二同軸接口 108不對應(yīng)，則所述第一同軸接口 105與所述第二同軸接口 108之間的同軸線10對應(yīng)關(guān)系接錯；拆卸下所述短接接頭116，再將其安裝在另一第二同軸接口 107，并進行上述測試，直至測試完所有通路。
[0041]由于只需安裝拆卸所述短接接頭116，通過判斷顯示單元113、114、115即可達到測試目的，因此測試過程簡單，只需一人即可，節(jié)省人力及時間。
[0042]需指出的是，本發(fā)明不限于上述實施方式，任何熟悉本專業(yè)的技術(shù)人員基于本發(fā)明技術(shù)方案對上述實施例所作的任何簡單修改、等同變化與修飾，都落入本發(fā)明的保護范圍內(nèi)。
【主權(quán)項】
1.一種基座的同軸通路測試裝置，該基座具有與電子產(chǎn)品的機臺同軸接口連接的第一同軸接口以及與該第一同軸接口通過同軸線連接的第二同軸接口，其特征在于，該裝置包括: 測試治具，其上具有治具同軸接口，各所述治具同軸接口與所述第一同軸接口對應(yīng)連接，該測試治具還具有與所述治具同軸接口串接的電源及顯示單元； 短接接頭，與各所述第二同軸接口可拆卸式連接，短接所述第二同軸接口的內(nèi)引腳及外圈引腳。2.如權(quán)利要求1所述的基座的同軸通路測試裝置，其特征在于，所述顯示單元為發(fā)光二極管或揚聲器。3.如權(quán)利要求1所述的基座的同軸通路測試裝置，其特征在于，所述測試治具還具有與所述治具同軸接口串接的電阻。4.如權(quán)利要求1所述的基座的同軸通路測試裝置，其特征在于，所述測試治具還具有與所述治具同軸接口串接的開關(guān)。5.如權(quán)利要求1所述的基座的同軸通路測試裝置，其特征在于，所述第一同軸接口、第二同軸接口及所述治具同軸接口的個數(shù)分別為三個。
【專利摘要】本發(fā)明揭示一種基座的同軸通路測試裝置，該基座具有與電子產(chǎn)品的機臺同軸接口連接的第一同軸接口以及與該第一同軸接口通過同軸線連接的第二同軸接口，該裝置包括：測試治具，其上具有治具同軸接口，各所述治具同軸接口與所述第一同軸接口對應(yīng)連接，該測試治具還具有與所述治具同軸接口串接的電源及顯示單元；短接接頭，與各所述第二同軸接口可拆卸式連接，短接所述第二同軸接口的內(nèi)引腳及外圈引腳。由于只需安裝拆卸所述短接接頭，通過判斷顯示單元即可達到測試目的，因此測試過程簡單，只需一人即可，節(jié)省人力及時間。
【IPC分類】G01R31/02
【公開號】CN105425088
【申請?zhí)枴緾N201410488191
【發(fā)明人】沈細(xì)榮
【申請人】神訊電腦(昆山)有限公司
【公開日】2016年3月23日
【申請日】2014年9月22日