板級射頻電流的時域測量、測量校準(zhǔn)及校準(zhǔn)驗證系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及板級射頻電流技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種板級射頻電流的時域測量、測量校準(zhǔn)及校準(zhǔn)驗證系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]所謂時域測量，就是測量變量隨時間的變化數(shù)據(jù)?，F(xiàn)有技術(shù)中板級射頻電流時域測試需要直接接觸被測點，這種直接接觸會干預(yù)被測系統(tǒng)，例如修改系統(tǒng)或者停止系統(tǒng)。隨著被測對象的日益復(fù)雜，直接接觸測試電流帶來越來越多的問題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]基于上述情況，本發(fā)明提出了一種板級射頻電流的時域測量、測量校準(zhǔn)及校準(zhǔn)驗證系統(tǒng)，在測量之前進(jìn)行校準(zhǔn)、校準(zhǔn)驗證，并采用非接觸的方式測試板級射頻電流，適合實際應(yīng)用。
[0004]為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明技術(shù)方案的實施例為:
[0005]—種板級射頻電流的時域測量校準(zhǔn)系統(tǒng)，包括磁場探頭、網(wǎng)絡(luò)分析儀、負(fù)載、處理器;
[0006]所述磁場探頭的輸出端連接所述網(wǎng)絡(luò)分析儀的端口一，微帶線測試板的微帶線的一端連接所述網(wǎng)絡(luò)分析儀的端口二，所述微帶線的另一端連接所述負(fù)載，所述處理器用于根據(jù)所述網(wǎng)絡(luò)分析儀測量的數(shù)據(jù)得到校準(zhǔn)因子，所述負(fù)載的阻值與所述微帶線特征阻抗匹配。
[0007]一種板級射頻電流的時域測量校準(zhǔn)驗證系統(tǒng)，包括磁場探頭、任意波形發(fā)生器、示波器、處理器；
[0008]所述磁場探頭的輸出端連接所述示波器的通道一，微帶線測試板的微帶線的一端連接所述示波器的通道二，所述微帶線的另一端連接所述任意波形發(fā)生器的輸出端，所述處理器用于根據(jù)所述示波器測量的數(shù)據(jù)驗證校準(zhǔn)因子的正確性，所述示波器的內(nèi)部阻抗和所述任意波形發(fā)生器的內(nèi)部阻抗與所述微帶線特征阻抗匹配。
[0009]一種板級射頻電流的時域測量系統(tǒng)，包括磁場探頭、示波器、處理器；
[0010]所述磁場探頭的輸出端連接所述示波器的通道一，待測板級射頻電流設(shè)置在微帶線測試板的微帶線處，所述處理器用于根據(jù)所述示波器測量的數(shù)據(jù)得到待測板級射頻電流值，所述示波器的內(nèi)部阻抗與所述微帶線特征阻抗匹配。
[0011]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果為:本發(fā)明板級射頻電流的時域測量、測量校準(zhǔn)及校準(zhǔn)驗證系統(tǒng)，在測量之前進(jìn)行校準(zhǔn)、校準(zhǔn)驗證，提高后面電流測量結(jié)果的準(zhǔn)確性，同時采用非接觸的方式測試板級射頻電流，不會干預(yù)被測系統(tǒng)，保證被測系統(tǒng)的正常運行，適合實際應(yīng)用。
【附圖說明】
[0012]圖1為一個實施例中板級射頻電流的時域測量校準(zhǔn)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖；
[0013]圖2為一個實施例中板級射頻電流的時域測量校準(zhǔn)驗證系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖；
[0014]圖3為一個實施例中板級射頻電流的時域測量系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖；
[0015]圖4為一個實施例中校準(zhǔn)因子Κ(ω)示意圖；
[0016]圖5為一個實施例中測量得到的待測板級射頻電流I (t)示意圖；
[0017]圖6為一個實施例中實際待測板級射頻電流I' (t)示意圖。
【具體實施方式】
[0018]為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實施例，對本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步的詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的【具體實施方式】僅僅用以解釋本發(fā)明，并不限定本發(fā)明的保護(hù)范圍。
[0019]—個實施例中板級射頻電流的時域測量校準(zhǔn)系統(tǒng)，包括磁場探頭、網(wǎng)絡(luò)分析儀、負(fù)載、處理器；
[0020]如圖1所示，所述磁場探頭的輸出端連接所述網(wǎng)絡(luò)分析儀的端口一，微帶線測試板的微帶線的一端連接所述網(wǎng)絡(luò)分析儀的端口二，所述微帶線的另一端連接所述負(fù)載，所述處理器用于根據(jù)所述網(wǎng)絡(luò)分析儀測量的數(shù)據(jù)得到校準(zhǔn)因子，所述負(fù)載的阻值與所述微帶線特征阻抗匹配。
[0021]從以上描述可知，本發(fā)明板級射頻電流的時域測量校準(zhǔn)系統(tǒng)在測量前進(jìn)行校準(zhǔn)，保證后續(xù)測量結(jié)果的準(zhǔn)確性。
[0022]其中，所述處理器根據(jù)公式K ( ω ) = S12*Z。得到校準(zhǔn)因子Κ ( ω )，其中S 12為所述網(wǎng)絡(luò)分析儀上測量得到的傳輸系數(shù)，Ζ。為所述微帶線特征阻抗，簡單、準(zhǔn)確，適合應(yīng)用。
[0023]此外，在一個具體示例中，所述板級射頻電流的時域測量校準(zhǔn)系統(tǒng)還包括夾具、支架和樣品臺，所述磁場探頭固定在所述夾具上，所述夾具固定在所述支架上，所述微帶線測試板固定在所述樣品臺上；夾具固定在支架上后可以隨意轉(zhuǎn)動角度，整個探頭垂直于樣品臺，方便后續(xù)操作，滿足實際需求。
[0024]—個實施例中板級射頻電流的時域測量校準(zhǔn)驗證系統(tǒng)，包括磁場探頭、任意波形發(fā)生器、示波器、處理器；
[0025]如圖2所示，所述磁場探頭的輸出端連接所述示波器的通道一，微帶線測試板的微帶線的一端連接所述示波器的通道二，所述微帶線的另一端連接所述任意波形發(fā)生器的輸出端，所述處理器用于根據(jù)所述示波器測量的數(shù)據(jù)驗證校準(zhǔn)因子的正確性，所述示波器的內(nèi)部阻抗和所述任意波形發(fā)生器的內(nèi)部阻抗與所述微帶線特征阻抗匹配。
[0026]從以上描述可知，本發(fā)明板級射頻電流的時域測量校準(zhǔn)驗證系統(tǒng)驗證上述校準(zhǔn)是否準(zhǔn)確，使整個處理過程更加嚴(yán)密、精確。
[0027]其中，所述處理器根據(jù)所述示波器測量的數(shù)據(jù)得到:Fs(co) = FFT[Vs(t)]，F(xiàn)SK(co)= FS(?)K(?)，VSK(t) = IFFT[FSK(co)]，其中Vs(t)為所述示波器的通道二輸出的數(shù)據(jù)，Κ(ω)為校準(zhǔn)因子，F(xiàn)FT表示傅立葉變換，IFFT表示反傅立葉變換；
[0028]將得到的VSK(t)與VP(t)進(jìn)行比較，根據(jù)比較結(jié)果驗證所述校準(zhǔn)因子Κ(ω)的正確性，其中VP(t)為所述示波器的通道一輸出的數(shù)據(jù)；將VSK(t)與VP(t)進(jìn)行對比，當(dāng)兩者一致時，驗證校準(zhǔn)因子Κ(ω)是正確的。
[0029]此外，在一個具體示例中，所述板級射頻電流的時域測量校準(zhǔn)驗證系統(tǒng)還包括夾具、支架和樣品臺，所述磁場探頭固定在所述夾具上，所述夾具固定在所述支架上，所述微帶線測試板固定在所述樣品臺上；夾具固定在支架上后可以隨意轉(zhuǎn)動角度，整個探頭垂直于樣品臺，方便后續(xù)操作，適合應(yīng)用。
[0030]一個實施例中板級射頻電流的時域測量系統(tǒng)，包括磁場探頭、示波器、處理器；
[0031]如圖3所示，所述磁場探頭的輸出端連接所述示波器的通道一，待測板級射頻電流設(shè)置在微帶線測試板的微帶線處，所述處理器用于根據(jù)所述示波器測量的數(shù)據(jù)得到待測板級射頻電流值，所述示波器的內(nèi)部阻抗與所述微帶線特征阻抗匹配。
[0032]從以上描述可知，本發(fā)明板級射頻電流的時域測量系統(tǒng)采用非接觸的方式測試板級射頻電流，不會干預(yù)被測系統(tǒng)，保證被測系統(tǒng)的正常運行。
[0033]其中，所述處理器根據(jù)所述示波器測量的數(shù)據(jù)得到:Ffe(co) = FFT[VMe(t)],FMeK(?) =FMe(?).Κ(ω)，VMeK(t) = IFFT[FMeK(co)]，I (t) = VMeK(t)/R，其中 VMe(t)為所述示波器的通道一輸出的數(shù)據(jù)，Κ(ω)為校準(zhǔn)因子，I(t)為待測板級射頻電流，R為所述示波器的內(nèi)部阻抗，F(xiàn)FT表示傅立葉變換，IFFT表示反傅立葉變換，采用非接觸的方式得到板級射頻電流，滿足實際應(yīng)用需要。
[0034]此外，在一個具體示例中，所述板級射頻電流的時域測量系統(tǒng)還包括夾具、支架和樣品臺，所述磁場探頭固定在所述夾具上，所述夾具固定在所述支架上，所述微帶線測試板固定在所述樣品臺上；夾具固定在支架上后可以隨意轉(zhuǎn)動角度，整個探頭垂直于樣品臺，方便后續(xù)操作，適合應(yīng)用。
[0035]為了更好地理解上述方法，以下詳細(xì)闡述一個本發(fā)明板級射頻電流的時域測量、測量校準(zhǔn)及校準(zhǔn)驗證系統(tǒng)的應(yīng)用實例。
[0036]—個應(yīng)用實例中板級射頻電流的時域測量校準(zhǔn)系統(tǒng)可以包括夾具、支架、樣品臺、磁場探頭、網(wǎng)絡(luò)分析儀、50 Ω標(biāo)準(zhǔn)負(fù)載、處理器；
[0037]磁場探頭固定在夾具上，夾具固定在支架上，夾具固定在支架上后可以隨意轉(zhuǎn)動角度，整個磁場探頭垂直于樣品臺，微帶線測試板固定在樣品臺上，網(wǎng)絡(luò)分析儀的端口一和端口二分別與磁場探頭的輸出端以及被測微帶線的一端連接，被測微帶線的另一端與50 Ω的負(fù)載連接，該負(fù)載的阻值與被測微帶線特征阻抗匹配，處理器根據(jù)公式Κ(ω) = S12*Z。得到校準(zhǔn)因子Κ(ω)，其中S12為網(wǎng)絡(luò)分析儀上測量得到的傳輸系數(shù)，Z。為被測微帶線特征阻抗50 Ω，一個實施例中得到的校準(zhǔn)因子K (ω)如圖4所示。
[0038]—個應(yīng)用實例中板級射頻電流的時域測量校準(zhǔn)驗證系統(tǒng)可以包括夾具、支架、樣品臺、磁場探頭、任意波形發(fā)生器、示波器、處理器；
[0039]磁場探頭固定在夾具上，夾具固定在支架上，夾具固定在支架上后可以隨意轉(zhuǎn)動角度，整個磁場探頭垂直于樣品臺，微帶線測試板固定在樣品臺上，示波器的通道一和通道二分別與磁場探頭輸出端和被測微帶線的一端連接，被測微帶線的另一端與任意波形發(fā)生器的輸出端連接，示波器的內(nèi)部阻抗和任意波形發(fā)生器的內(nèi)部阻抗與微帶線特征阻抗匹配；
[0040]設(shè)置示波器和任意波形發(fā)生器內(nèi)部阻抗為50歐，并給被測微帶線輸入任意波形(比如方波、三角波或者鋸齒波均可)，處理器根據(jù)示波器測量的數(shù)據(jù)得到:Fs(co)=FFT[Vs(t)]，F(xiàn)SK(?) = Fs(co)K(co)，VSK(t) = IFFT [FSK (ω)]，其中 Vs(t)為示波器的通道二輸出的數(shù)據(jù)，Κ(ω)為校準(zhǔn)因子，F(xiàn)FT表示傅立葉變換，IFFT表示反傅立葉變換；將得到的VSK(t)與VP(t)進(jìn)行比較，當(dāng)兩者一致時，驗證校準(zhǔn)因子Κ(ω)是正確的，其中VP(t)為示波器的通道一輸出的數(shù)據(jù)。
[0041]—個應(yīng)用實例中板級射頻電流的時域測量系統(tǒng)可以包括夾具、支架、樣品臺、磁場探頭、示波器、處理器；
[0042]磁場探頭固定在夾具上，夾具固定在支架上，夾具固定在支架上后可以隨意轉(zhuǎn)動角度，整個磁場探頭垂直于樣品臺，微帶線測試板固定在樣品臺上，示波器的通道一與磁場探頭輸出端連接，待測板級射頻電流設(shè)置在微