[0119] 處理器對指令的執(zhí)行或者指令在計算機可讀存儲介質(zhì)中的存儲支持用于執(zhí)行特 定功能的操作的組合。以這種方式，裝置900可包括處理器902和耦合到處理器的計算機 可讀存儲介質(zhì)或存儲器904，其中處理器被配置為執(zhí)行存儲在存儲器中的計算機可讀程序 代碼906。還應(yīng)理解的是，一個或多個功能以及功能的組合也可以由執(zhí)行特定功能或?qū)Ｓ糜?件和程序代碼指令的組合的基于硬件的專用計算機系統(tǒng)和/或處理器來實現(xiàn)。
[0120] 本文闡述的許多修改和其他實施方式將使本領(lǐng)域技術(shù)人員想到，屬于許多修改和 其他實施方式的這些公開具有在前面描述和相關(guān)附圖中呈現(xiàn)的教導(dǎo)的益處。因此，應(yīng)理解 的是，本公開并不限于所公開的【具體實施方式】，并且修改和其他實施方式旨在被包括在所 附權(quán)利要求的范圍之內(nèi)。而且，盡管前面描述和相關(guān)附圖在元件和/或功能的某些示例組 合的情況下描述示例實施方式，但應(yīng)認識到，在不背離所附權(quán)利要求的范圍的情況下，元件 和/或功能的不同組合可以由替代實施方式提供。在這方面，例如，除以上明確描述的那些 之外的元件和/或功能的不同組合也被認為是可被列在某些所附權(quán)利要求中。盡管本文使 用了特定術(shù)語，但它們僅以一般的和描述性的意義來使用，而不為限制的目的。
【主權(quán)項】
1. 一種系統(tǒng)（100)，其包括： 發(fā)射線圈（102)和接收線圈（104)，所述發(fā)射線圈（102)和所述接收線圈（104)被配置 為接收在它們之間的被測的復(fù)合材料結(jié)構(gòu)即SUT(106); 信號發(fā)生器（108)，其被配置為利用在多個頻率上的射頻信號即RF信號驅(qū)動所述發(fā) 射線圈（102)，從而使發(fā)射電磁線圈產(chǎn)生通過穿過所述SUT(106)的磁耦合在所述接收線圈 (104)中感應(yīng)電壓的磁場； 耦合到所述發(fā)射線圈（102)和所述接收線圈（104)的接收器對（110,112)和信號處 理電路，并且所述接收器對（110,112)和所述信號處理電路被配置為測量在所述接收線圈 (104)中的電壓，并且從所述電壓產(chǎn)生由所述發(fā)射線圈（102)和所述接收線圈（104)之間的 所述SUT(106)引起的所述多個頻率上的所述RF信號的衰減的測量值；以及 分析系統(tǒng)（122)，其耦合到所述信號處理電路并且被配置為根據(jù)所述衰減的測量值計 算所述SUT(106)的有效電導(dǎo)率。2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中所述有效電導(dǎo)率在全局坐標(biāo)系的各個正交軸上具 有分量，并且所述分析系統(tǒng)（122)被配置為計算所述有效電導(dǎo)率包括被配置為具體計算一 個或多個所述分量；以及 其中所述SUT(106)具有平行于所述發(fā)射線圈（102)和所述接收線圈（104)的相對主 表面，并且所述有效電導(dǎo)率的分量包括平行于所述SUT(106)的主表面的第一分量，以及 其中所述分析系統(tǒng)（122)被配置為具體計算一個或多個所述分量包括被配置為具體 計算所述第一分量。3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的系統(tǒng)，其中所述分析系統(tǒng)（122)被配置為具體計算一個或多 個所述分量包括被配置為根據(jù)包括所述發(fā)射線圈（102)和所述接收線圈（104)以及在它們 之間接收的SUT(106)的布置的有限元模型執(zhí)行有限元分析。4. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的系統(tǒng)，其中所述SUT(106)具有平行于局部坐標(biāo)系的主軸取向 的嵌入纖維，以及 其中所述分析系統(tǒng)（122)被配置為具體計算一個或多個所述分量包括被配置為進一 步根據(jù)所述局部坐標(biāo)系的主軸偏離所述全局坐標(biāo)系的各個正交軸中的相應(yīng)一個的任何角 偏移來具體計算一個或多個所述分量；以及 其中所述SUT(106)是多層結(jié)構(gòu)，所述多層結(jié)構(gòu)包括具有平行于第一局部坐標(biāo)系的第 一主軸取向的嵌入纖維的第一層，以及具有平行于第二局部坐標(biāo)系的第二主軸取向的嵌入 纖維的第二層，以及 其中所述分析系統(tǒng)（122)被配置為具體計算一個或多個所述分量包括被配置為進一 步根據(jù)所述第一局部坐標(biāo)系的第一主軸和所述第二局部坐標(biāo)系的第二主軸中的一個偏離 所述全局坐標(biāo)系的各個正交軸中的相應(yīng)一個的任何角偏移來具體計算一個或多個所述分 量。5. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的系統(tǒng)，其中所述發(fā)射線圈（102)和接收線圈（104)形成布置 并包括第一布置和第二布置，在所述第一布置中，所述發(fā)射線圈（l〇2a)和接收線圈（104a) 具有第一直徑，在所述第二布置中，所述發(fā)射線圈（102b)和接收線圈（104b)具有不同的第 二直徑， 其中，所述信號發(fā)生器（108)被配置為分別驅(qū)動所述第一布置和第二布置的發(fā)射線圈 (102a，102b)，以及所述接收器對（110,112)和信號處理電路被配置為分別產(chǎn)生針對所述 第一布置的所述RF信號的衰減的第一測量值和針對所述第二布置的所述RF信號的衰減的 第二測量值，以及 其中所述分析系統(tǒng)（122)被配置為具體計算一個或多個所述分量包括被配置為根據(jù) 衰減的所述第一測量值和衰減的所述第二測量值具體計算一個或多個所述分量。6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的系統(tǒng)，其中所述SUT(106)具有平行于所述發(fā)射線圈（102)和 所述接收線圈（104)的相對主表面，并且所述有效電導(dǎo)率的分量包括平行于所述SUT(106) 的主表面的第一分量，以及 其中所述分析系統(tǒng)（122)被配置為具體計算一個或多個所述分量包括被配置為具體 計算所述第一分量。7. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的系統(tǒng)，其中所述分析系統(tǒng)（122)被配置為具體計算一個或多 個所述分量包括被配置為根據(jù)所述第一布置和第二布置的有限元模型執(zhí)行有限元分析，所 述第一布置和所述第二布置中的每個具有在它們之間接收的所述SUT(106)。8. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的系統(tǒng)，其中所述SUT(106)具有平行于局部坐標(biāo)系的主軸取向 的嵌入纖維，以及 其中所述分析系統(tǒng)（122)被配置為具體計算一個或多個所述分量包括被配置為進一 步根據(jù)所述局部坐標(biāo)系的主軸偏離所述全局坐標(biāo)系的各個正交軸中的相應(yīng)一個的任何角 偏移來具體計算一個或多個所述分量。9. 一種方法，其包括： 建立（802)在發(fā)射線圈（102)和接收線圈（104)之間的被測的復(fù)合材料結(jié)構(gòu)即SUT(106)； 利用在多個頻率上的射頻信號即RF信號驅(qū)動（804)發(fā)射線圈（102)，從而使所述發(fā)射 線圈（102)產(chǎn)生通過穿過所述SUT(106)的磁耦合在所述接收線圈（104)中感應(yīng)電壓的磁 場； 測量（806)所述接收線圈（104)中的電壓，并且根據(jù)所述電壓產(chǎn)生由在所述發(fā)射線圈 (102)和所述接收線圈（104)之間的所述SUT(106)引起的在多個頻率上的所述RF信號的 衰減的測量值；以及 根據(jù)衰減的所述測量值計算（810)所述SUT(106)的有效電導(dǎo)率。10. 根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其中所述有效電導(dǎo)率在全局坐標(biāo)系的各個正交軸上 具有分量，并且計算（810)所述有效電導(dǎo)率包括具體計算一個或多個所述分量。11. 根據(jù)權(quán)利要求10所述的方法，其中所述SUT(106)具有平行于所述發(fā)射線圈 (102)和所述接收線圈（104)的相對主表面，并且所述有效電導(dǎo)率的分量包括平行于所述 SUT(106)的主表面的第一分量，以及 其中具體計算一個或多個所述分量包括具體計算所述第一分量。12. 根據(jù)權(quán)利要求10所述的方法，其中具體計算一個或多個所述分量包括根據(jù)包括所 述發(fā)射線圈（102)和所述接收線圈（104)以及在它們之間的所述SUT(106)布置的有限元 模型執(zhí)行有限元分析。13. 根據(jù)權(quán)利要求10所述的方法，其中所述SUT(106)具有平行于局部坐標(biāo)系的主軸取 向的嵌入纖維，以及 其中具體計算一個或多個所述分量包括進一步根據(jù)所述局部坐標(biāo)系的主軸偏離所述 全局坐標(biāo)系的各個正交軸中的相應(yīng)一個的任何角偏移來具體計算一個或多個所述分量；以 及 其中所述SUT(106)是多層結(jié)構(gòu)，所述多層結(jié)構(gòu)包括第一層和第二層，所述第一層具有 平行于第一局部坐標(biāo)系的第一主軸取向的嵌入纖維，所述第二層具有平行于第二局部坐標(biāo) 系的第二主軸取向的嵌入纖維，以及 其中具體計算一個或多個所述分量包括進一步根據(jù)所述第一局部坐標(biāo)系的第一主軸 和所述第二局部坐標(biāo)系的第二主軸中的每個偏離所述全局坐標(biāo)系的各個正交軸中的相應(yīng) 一個的任何角偏移來具體計算一個或多個所述分量。14. 根據(jù)權(quán)利要求10所述的方法，其中所述發(fā)射線圈（102)和接收線圈（104)形成布 置， 其中所述SUT(106)具有平行于所述發(fā)射線圈（102)和接收線圈（104)的相對主表面， 并且所述有效電導(dǎo)率的分量包括平行于所述SUT(106)的主表面的第一分量。15. 根據(jù)權(quán)利要求14所述的方法，其中所述發(fā)射線圈（102)和接收線圈（104)形成布 置， 其中針對第一布置執(zhí)行所述建立（802)、驅(qū)動（804)和測量（806)以產(chǎn)生衰減的第一測 量值，在第一布置中，所述發(fā)射線圈（l〇2a)和接收線圈（104a)具有第一直徑，并且針對第 二布置重復(fù)所述建立（802)、驅(qū)動（804)和測量（806)以產(chǎn)生衰減的第二測量值，在第二布 置中，所述發(fā)射線圈（l〇2b)和接收線圈（104b)具有不同的第二直徑，以及 其中具體計算一個或多個所述分量包括根據(jù)衰減的所述第一測量值和衰減的所述第 二測量值來具體計算一個或多個所述分量；以及 其中具體計算一個或多個所述分量包括具體計算所述第一分量； 其中具體計算一個或多個所述分量包括根據(jù)所述第一布置和第二布置的有限元模型 執(zhí)行有限元分析，所述第一布置和第二布置中的每個具有在它們之間的所述SUT(106);以 及 其中所述SUT(106)具有平行于局部坐標(biāo)系的主軸取向的嵌入纖維，以及 其中具體計算一個或多個所述分量包括進一步根據(jù)所述局部坐標(biāo)系的主軸偏離所述 全局坐標(biāo)系的各個正交軸中的相應(yīng)一個的任何角偏移來具體計算一個或多個所述分量。
【專利摘要】本申請涉及用于電導(dǎo)率評估的磁耦合，本申請公開一種方法，該方法包括建立在發(fā)射線圈和接收線圈之間的被測的復(fù)合材料結(jié)構(gòu)(SUT)。發(fā)射線圈由在多個頻率上的RF信號來驅(qū)動，從而使發(fā)射線圈產(chǎn)生磁場，該磁場通過穿過SUT磁耦合在接收線圈中感應(yīng)電壓。接收線圈上的電壓被測量，并且根據(jù)該電壓產(chǎn)生由發(fā)射線圈和接收線圈之間的SUT引起的RF信號的衰減的測量值。而且SUT的有效導(dǎo)電率根據(jù)衰減的測量值被計算。
【IPC分類】G01R27/02
【公開號】CN105372497
【申請?zhí)枴緾N201510501175
【發(fā)明人】D·K·達波爾斯特因, A·M·羅柏, A·M·布朗
【申請人】波音公司
【公開日】2016年3月2日
【申請日】2015年8月14日
【公告號】EP2985596A1, US20160047768