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在觸摸屏按壓測試中檢測不良的方法和裝置的制造方法

文檔序號:9430950閱讀:806來源:國知局
在觸摸屏按壓測試中檢測不良的方法和裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及顯示技術領域,具體地,涉及一種在觸摸屏按壓測試中檢測不良的方法和裝置。
【背景技術】
[0002]觸摸屏一般包括顯示屏和觸摸組件;其中,所述顯示屏用于實現(xiàn)顯示功能,其一般為薄膜晶體管液晶顯示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display,以下簡稱為TFT IXD);所述觸摸組件用于實現(xiàn)觸摸功能。
[0003]在所述觸摸屏制備完成之后,需要對觸摸屏進行按壓測試,以檢測顯示屏和觸摸組件的抗壓性能和耐久性。所述按壓測試包括點擊、劃線以及軟壓等;所述點擊是指在開機狀態(tài)下,使用壓頭(直徑為5_或其他)以一定力(如2.5N)在觸摸屏上的多個點按壓一定次數(shù)(如每個點按壓10萬次),而后檢測觸摸屏的外觀及功能是否正常;所述劃線是指在開機狀態(tài)下,使用壓頭(直徑為5_或其他)以一定力(如2.5N)在觸摸屏上的多個點劃線一定次數(shù)(如在每個點劃線20萬次),而后檢測觸摸屏的外觀及功能是否正常;所述軟壓是指在開機狀態(tài)下,觸摸屏正面朝下,并維持與壓頭垂直的狀態(tài),以一定力擠壓觸摸屏一定次數(shù)(如以300N的力擠壓2000次),而后檢測觸摸屏的外觀、功能及裝配是否正常。
[0004]在對觸摸屏進行大量次數(shù)的點擊、劃線或軟壓后,所述顯示屏的隔墊物的表面容易發(fā)生破損,隔墊物的表面上會脫落一定的顆粒物,所述顆粒會掉落在液晶層中,會使光線在該位置處的透射異常,從而產(chǎn)生亮點,即所謂Zara不良。因此,在按壓測試完成后,需要檢測觸摸屏是否滿足合格標準,具體地,若所述亮點的數(shù)量小于預定值則判定所述觸摸屏合格,若所述亮點的數(shù)量超出預定值則判定所述觸摸屏不合格。
[0005]現(xiàn)有技術中,一般在按壓測試完成后,由工作人員目視檢測顯示屏是否存在Zara不良;這樣的檢測方式存在以下兩個技術問題:
[0006]首先,不同工作人員目視檢測的標準不同,從而容易造成誤檢、漏檢以及過撿等,這使其檢測的準確性較差。
[0007]其次,在按壓測試完成后再進行檢測,使得檢測的即時性較差,即無法即時獲得在多少次按壓后所述亮點的數(shù)量超出預定值;實際中,對于不同用途的觸摸屏,判定合格的標準是不同的,在所述觸摸屏不符合某高標準的觸摸屏的情況下,上述檢測方式無法判斷所述觸摸屏是否滿足另一低標準的要求。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0008]本發(fā)明旨在至少解決現(xiàn)有技術中存在的技術問題之一,提出了一種在觸摸屏按壓測試中檢測不良的方法和裝置,其可以及時和準確地檢測觸摸屏是否在按壓測試過程中發(fā)生不良。
[0009]為實現(xiàn)本發(fā)明的目的而提供一種在觸摸屏按壓測試中檢測不良的方法,其包括:
[0010]SI,在按壓測試時,采集觸摸屏的每個按壓處被按壓后,該按壓處所在檢測區(qū)域的圖像;
[0011]S2,在所采集的圖像中識別異常點的數(shù)量;
[0012]S3,將所述異常點的數(shù)量與按壓測試所允許存在的異常點數(shù)量進行比較,并在所述異常點的數(shù)量超出允許存在的異常點數(shù)量時,將所述觸摸屏判定為不良。
[0013]其中,根據(jù)所述異常點的數(shù)量超出按壓測試所允許存在的異常點數(shù)量的值,判斷所述觸摸屏不良的級別。
[0014]其中,所述步驟S2中,還在所采集的圖像中識別每個異常點的尺寸,并根據(jù)尺寸的不同,將異常點分為多個級別;所述步驟S3中,將每個級別的異常點的數(shù)量與按壓測試所允許存在的該級別的異常點數(shù)量進行比較,并在任意級別的所述異常點的數(shù)量超出允許存在的異常點數(shù)量時,將所述觸摸屏判定為不良。
[0015]其中,根據(jù)各級別異常點的數(shù)量超出按壓測試所允許存在的該級別異常點數(shù)量的值,綜合判斷所述觸摸屏不良的級別。
[0016]其中,在判定所述觸摸屏為不良后報警。
[0017]其中,在判定所述觸摸屏為不良后報警,并提示所述判斷出的不良級別。
[0018]其中,在步驟SI中,在每次按壓所述按壓處后,采集所述按壓處所在檢測區(qū)域的圖像。
[0019]其中,步驟S2中,通過將步驟SI中所采集的圖像與標準圖像進行比對,來識別步驟SI中所采集的圖像中的異常點的數(shù)量;所述標準圖像為不包括異常點的按壓處所在檢測區(qū)域的圖像。
[0020]其中,在判定所述觸摸屏不良后,記錄所述按壓處被按壓的次數(shù)。
[0021]作為另一個技術方案,本發(fā)明還提供一種在觸摸屏按壓測試中檢測不良的裝置,其包括:
[0022]圖像采集模塊,所述圖像采集模塊用于在按壓測試時,采集觸摸屏的每個按壓處被按壓后,該按壓處所在檢測區(qū)域的圖像;
[0023]圖像識別模塊,所述圖像識別模塊用于在所述圖像采集模塊所采集的圖像中識別異常點的數(shù)量;
[0024]不良判斷模塊,所述不良判斷模塊用于將所述異常點的數(shù)量與按壓測試所允許存在的異常點數(shù)量進行比較,并在所述異常點的數(shù)量超出允許存在的異常點數(shù)量時,將所述觸摸屏判定為不良。
[0025]其中,所述不良判斷模塊還根據(jù)所述異常點的數(shù)量超出按壓測試所允許存在的異常點數(shù)量的值,判斷所述觸摸屏不良的級別。
[0026]其中,所述圖像識別模塊還在所采集的圖像中識別每個異常點的尺寸,并根據(jù)尺寸的不同,將異常點分為多個級別;所述不良判斷模塊將每個級別的異常點的數(shù)量與按壓測試所允許存在的該級別的異常點數(shù)量進行比較,并在任意級別的所述異常點的數(shù)量超出允許存在的異常點數(shù)量時,將所述觸摸屏判定為不良。
[0027]其中,所述不良判斷模塊還根據(jù)各級別異常點的數(shù)量超出按壓測試所允許存在的該級別異常點數(shù)量的值,綜合判斷所述觸摸屏不良的級別。
[0028]其中,還包括報警模塊,所述報警模塊用于在所述不良判斷模塊判定所述觸摸屏為不良后報警。
[0029]其中,還包括報警模塊,所述報警模塊用于在所述不良判斷模塊判定所述觸摸屏為不良后報警,并提示所述判斷出的不良級別。
[0030]其中,所述圖像采集模塊在每次按壓所述按壓處后,采集所述按壓處所在檢測區(qū)域的圖像。
[0031]其中,所述圖像識別模塊將圖像采集模塊所采集的圖像與標準圖像進行比對,來識別圖像采集模塊所采集的圖像中的異常點的數(shù)量;所述標準圖像為不包括異常點的按壓處所在檢測區(qū)域的圖像。
[0032]其中,還包括記錄模塊,所述記錄模塊用于在所述不良判斷模塊判定所述觸摸屏不良后,記錄所述按壓處被按壓的次數(shù)。
[0033]本發(fā)明具有以下有益效果:
[0034]本發(fā)明提供的在觸摸屏按壓測試中檢測不良的方法,其通過圖像采集、圖像識別和不良判斷等步驟實現(xiàn)對按壓測試中觸摸屏是否出現(xiàn)不良的自動檢測,避免了人眼目視檢測時存在的誤差,以及檢測標準不一致的問題,從而可以提高檢測的準確性,避免誤檢、漏檢及過檢等。同時,本發(fā)明中,在對觸摸屏的按壓測試過程中檢測,可以提高檢測的即時性,即:可以及時地確定所述觸摸屏被檢測為不良時,其被按壓的次數(shù),從而可以及時且方便地確定所述觸摸屏的抗壓性能和耐久性。
[0035]本發(fā)明提供的在觸摸屏按壓測試中檢測不良的裝置,通過所述圖像采集模塊采集圖像,所述圖像識別模塊在所采集圖像中識別異常點,所述不良判斷模塊判斷所識別異常點的數(shù)量與按壓測試所允許存在的異常點的數(shù)量之間的大小關系,實現(xiàn)自動檢測所述觸摸屏是否為不良;與現(xiàn)有技術中的人眼目視檢測相比,可以避免人眼目視檢測時存在的誤差,以及檢測標準不一致的問題,從而可以提高檢測的準確性,避免誤檢、漏檢及過檢等。同時,本發(fā)明中,在對觸摸屏的按壓測試過程中檢測,可以提高檢測的即時性,即:可以及時地確定所述觸摸屏被檢測為不良時,其被按壓的次數(shù),從而可以及時且方便地確定所述觸摸屏的抗壓性能和耐久性。
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